JPH06231462A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクの記録層と光スポットとの非合焦
量に応じて記録時の半導体レーザの光出力を補正完了し
た直後から、正しく情報を記録する。 【構成】 光ディスクの記録層からの反射光量を光検出
器６５で検出し、演算器６６にてフォーカスエラー信号
ＦＥを生成する。信号ＦＥは絶対値化回路６７によって
絶対値化され、非合焦量の絶対値量ＦＥ２となる。非合
焦状態であれば、記録参照電圧設定回路６８は第１の所
定の参照電圧値ＶREC1を非合焦量の絶対値量ＦＥ２に応
じて高く補正する。時間計測回路１に入力される信号Ｍ
ＯＤ１は記録参照電圧設定回路６８が第１の所定の参照
電圧値ＶREC1を補正完了したと同時に”ＨＩＧＨ”か
ら”ＬＯＷ”に変化する。この変化に応じて時間計測回
路１は所定の時間まで時間を計測し、第１の所定の参照
電圧値ＶREC1より低い第２の参照電圧値ＶREC2がＶREC
として設定される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザの光をレ
ンズにより絞った光スポットを用いて、光ディスクの記
録層に情報を記録したり、あらかじめ記録されている情
報を再生・消去する光ディスク装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】図７は光ディスク装置を示したブロック
図である。図７を用いて従来の技術を説明する。

【０００３】図７を構成する５１は光ディスク、５２は
光ディスクの記録層、５３は半導体レーザ、５４は半導
体レーザ５３の光出力を制御する半導体レーザ駆動回
路、５５はコリメータ・レンズ、５６は記録層５２から
の反射光を検出する光検出器、５７は１／４波長板、５
８は対物レンズである。５９ａは対物レンズ５８を光デ
ィスク５１の半径方向に移動させるアクチュエータ、５
９ｂは対物レンズ５８を光ディスク５１の厚み方向に移
動させるアクチュエータ、６０は記録層５２からの反射
光を光検出器５６に入射させるビームスプリッタ、６１
は光検出器５６から光スポットと記録層５２との焦点の
ずれ量や、追従するトラック中心からのずれ量を検出す
る信号検出回路、６２はアクチュエータ５９ａを光ディ
スク５１の半径方向に駆動させるトラッキング駆動回
路、６３はアクチュエータ５９ｂを光ディスク５１の厚
み方向に駆動させるフォーカス駆動回路、６４は光ディ
スク５１を回転させるスピンドルモータである。

【０００４】以上のように構成された光ディスク装置に
ついて、以下その動作について説明する。

【０００５】半導体レーザ５３から、楕円状に拡がった
レーザ光は、コリメータ・レンズ５５によって平行光に
変換される。コリメータ・レンズ５５を通過したレーザ
光は、ビームスプリッタ６０と１／４波長板５７を通過
した後、対物レンズ５８により集光される。集光して形
成された光スポットにより光ディスク５１の記録層５２
に情報の記録を行う。対物レンズ５８により集光された
光スポットは、記録層５２によって反射され、１／４波
長板５７を通ってビームスプリッタ６０に入射する。

【０００６】その入射ビームは、ビームスプリッタ６０
によって反射され、光検出器５６に入る。光検出器５６
は４分割された光検出器を有し、公知である非点収差
法、プッシュプル法等により光スポットと記録層５２と
の焦点のずれ量や追従するトラック中心からのずれ量を
検出する。

【０００７】光検出器５６で検出された信号は信号検出
回路６１に入る。信号検出回路６１は、光スポットと記
録層５２との焦点ずれ量をフォーカスエラー信号（Ｆ
Ｅ）、追従するトラック中心からのずれ量をトラッキン
グエラー信号（ＴＥ）として出力する。スピンドルモー
タ６４は光ディスク５１を所定の回転数で回転させる。

【０００８】トラッキング駆動回路６２は、トラッキン
グエラー信号（ＴＥ）によって追従するトラック中心に
光スポットが位置するようにアクチュエータ５９ａを光
ディスク５１の半径方向に駆動させる。フォーカス駆動
回路６３は、フォーカスエラー信号（ＦＥ）によって光
スポットの焦点を常に記録層５２に一致させるようにア
クチュエータ５９ｂを光ディスク５１の厚み方向に駆動
させる。

【０００９】さらに、図８を用いて半導体レーザ駆動回
路５４について詳しく説明する。図８は従来の半導体レ
ーザ駆動回路５４の一例を示す回路図である。

【００１０】図８を構成する６５は光ディスク５１の記
録層５２からの反射光を検出する光検出器、６６は光検
出器６５により検出した反射光を演算してフォーカスエ
ラー信号ＦＥを生成する演算器、６７はフォーカスエラ
ー信号ＦＥを絶対値化する絶対値化回路、６８は光スポ
ットと記録層５２との非合焦量に応じて半導体レーザ駆
動回路５４の記録時の参照電圧ＶRECを設定する記録参
照電圧設定回路、５３は半導体レーザ、６９は半導体レ
ーザ５３に組み込まれている光検出器、７０は電流電圧
変換器、７１は誤差アンプ、７２は電流源、７３は変調
段である。

【００１１】次に、この回路の記録時の動作について説
明する。まず、光検出器６９が半導体レーザ５３の後面
出射光をモニタし、半導体レーザ５３の光出力に応じた
モニタ電流ＩMを生じる。モニタ電流ＩMは、電流電圧変
換器７０によってモニタ電圧ＶMに変換される。モニタ
電圧ＶMは誤差アンプ７１によって記録参照電圧設定回
路６８で設定された参照電圧ＶRECと比較される。そし
て誤差アンプ７１は、半導体レーザ５３の駆動電圧ＶLD
を出力する。駆動電圧ＶLDは電流源７２によって駆動電
流ＩLDに変換され、所定の光出力で半導体レーザ５３を
光らせる。

【００１２】ここで、記録参照電圧設定回路６８の動作
について説明する。まず光検出器６５が、公知の非点収
差法等により記録層５２からの反射光を検出する。そし
て演算器６６は、検出された反射光を演算しフォーカス
エラー信号ＦＥを生成する。このフォーカスエラー信号
ＦＥは、絶対値化回路６７によって絶対値化される。こ
の絶対値化回路６７の出力ＦＥ２は、光スポットと記録
層５２との非合焦量の絶対値量として記録参照電圧設定
回路６８にはいる。記録参照電圧設定回路６８では、記
録時に所定の光出力を得るための参照電圧ＶRECを非合
焦量の絶対値量ＦＥ２に応じて高くするよう補正してい
た。

【００１３】図９は、記録参照電圧設定回路６８で設定
された参照電圧ＶRECによる記録層５２上での光スポッ
トの半径方向の定性的な光強度の分布を示した図であ
る。

【００１４】一般的に追記型や書換型の光ディスク５１
に情報の記録を行う場合、図９のａの斜線部に示すよう
に所定の光スポット径ｄ内で発生する所定の光エネルギ
ーを記録層５２に与える熱記録方式が取られている。

【００１５】記録時にフォーカス駆動回路６３が追従で
きないような外部振動等により光スポットと記録層５２
とが非合焦状態となった場合、参照電圧ＶRECが一定値
であれば光スポットの光強度分布は図９のｂに示すよう
に合焦状態より低い光強度分布をなす。

【００１６】そのため、所定の光スポット径内で発生す
る所定の光エネルギーを記録層５２に与えることができ
ず、記録参照電圧設定回路６８において図９のｃに示す
ような光出力を得るよう非合焦量の絶対値量ＦＥ２に応
じて参照電圧ＶRECを高くするよう補正していた。

【００１７】そして情報の記録は、変調段７３で半導体
レーザ５３の光出力を記録データにより変調させて行わ
れる。

【００１８】フォーカス駆動回路６３は、光ディスク５
１の面振れ等による非合焦量を補正し、常に所定の光ス
ポット径ｄ内で発生する所定の光エネルギーを記録層５
２に与えるようにアクチュエータ５９ｂを駆動してい
た。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の光
ディスク装置では、フォーカス駆動回路が追従できない
ような外部振動等により光スポットと記録層とが非合焦
状態となった場合、記録時の半導体レーザの光出力を非
合焦量の絶対値量に応じて高くするよう補正していた。

【００２０】そのため、光スポットと記録層とが非合焦
状態から合焦状態となり光出力を補正完了した直後で
は、非合焦量に応じて高く補正された光出力の予熱の影
響により正しく情報が記録されないという問題を有して
いた。

【００２１】本発明はかかる点に鑑み、記録時に非合焦
量に応じて半導体レーザの光出力を補正完了した直後か
ら、正しく情報を記録する光ディスク装置を提供するこ
とを目的とする。

【００２２】

【課題を解決するための手段】第１の発明は、記録時に
前記半導体レーザの光出力を第１の所定の光出力に設定
する光出力制御手段と、光検出手段の出力により記録層
と光スポットとの非合焦量を検出するフォーカスエラー
信号生成手段と、前記フォーカスエラー信号生成手段の
出力を絶対値化する絶対値化手段と、前記光出力制御手
段により設定された第１の所定の光出力を前記絶対値化
手段の出力レベルに応じて補正する第１の光出力補正手
段と、前記第１の光出力補正手段が前記絶対値化手段の
出力レベルに応じて第１の所定の光出力を補正完了した
ことを検出する補正完了検出手段と、前記補正完了検出
手段が第１の所定の光出力を補正完了したことを検出し
てから所定の時間を計測する時間計測手段と、前記時間
計測手段の出力により前記半導体レーザの光出力を第１
の所定の光出力より低い第２の所定の光出力に設定する
第２の光出力補正手段とを有している。

【００２３】また第２の発明は、前記絶対値化手段の出
力レベルのピーク値を検出するピーク値検出手段と、前
記ピーク値検出手段の出力レベルに応じて前記時間計測
手段の所定の時間を選択する時間選択手段とを有してい
る。

【００２４】また第３の発明は、前記絶対値化手段の出
力レベルのピーク値を検出するピーク値検出手段と、前
記ピーク値検出手段の出力レベルに応じて第２の所定の
光出力のレベルを選択する光出力選択手段とを有してい
る。

【００２５】

【作用】第１の発明の構成により、光検出手段で検出さ
れた記録層からの反射光によりフォーカスエラー信号を
生成する。そして、フォーカスエラー信号は絶対値化手
段により絶対値化される。絶対値化手段の出力は、非合
焦量の絶対値量として第１の光出力補正手段に入力され
る。この第１の光出力補正手段は、光出力制御手段によ
り設定された第１の所定の光出力を光スポットと記録層
との非合焦量に応じて補正する。補正完了検出手段は、
第１の光出力補正手段が非合焦量に応じて第１の所定の
光出力を補正完了したことを検出する。これと同時に時
間計測手段は、所定の時間を計測し始める。第２の光出
力補正手段は時間計測手段が所定の時間を計測する間、
半導体レーザの光出力を第１の所定の光出力より低い第
２の所定の光出力に設定する。これにより、非合焦量に
応じて補正された光出力による予熱の影響を低減し、正
しく情報を記録できる。

【００２６】また第２の発明の構成により、絶対値化手
段の出力レベルのピーク値をピーク値検出手段により検
出する。そして時間選択手段は、時間計測手段が計測す
る所定の時間をピーク値検出手段の出力レベルに応じて
選択する。時間計測手段は、第１の光出力補正手段によ
り第１の所定の光出力を補正完了した直後から選択され
た所定の時間を計測し始める。そして第２の光出力補正
手段は選択された所定の時間を計測する間、半導体レー
ザの光出力を第２の所定の光出力に設定する。

【００２７】また第３の発明の構成により、絶対値化手
段の出力レベルのピーク値をピーク検出手段により検出
する。光出力選択手段は、ピーク値検出手段の出力レベ
ルに応じて第２の所定の光出力を選択する。そして第２
の光出力補正手段は、第１の光出力補正手段により第１
の所定の光出力を補正完了した直後から所定時間を計測
する間、半導体レーザの光出力を選択された第２の所定
の光出力に設定する。

【００２８】

【実施例】本発明の光ディスク装置は、半導体レーザ駆
動回路５４の具体的構成に特徴を持たせたものである。

【００２９】まず、第１の発明の一実施例について説明
する。図１は第１の発明の半導体レーザ駆動回路であ
る。図８に示した従来の半導体レーザ駆動回路５４に、
新たに加えた構成要素を中心に説明する。

【００３０】図１において、１は時間計測回路、２，３
はアナログスイッチ、４はインバータである。

【００３１】以上のように構成された半導体レーザ駆動
回路の記録時の動作について、図２の信号波形図を併用
して説明する。

【００３２】まず、光ディスクの記録層からの反射光量
を光検出器６５で検出し、演算器６６にて図２（ａ）に
示すようなフォーカスエラー信号ＦＥが生成される。

【００３３】そしてフォーカスエラー信号ＦＥは、絶対
値化回路６７によって絶対値化され非合焦量の絶対値量
ＦＥ２として記録参照電圧設定回路６８に入る。

【００３４】光ディスクの記録層と光スポットとが非合
焦状態であれば、記録参照電圧設定回路６８は第１の所
定の参照電圧値ＶREC1を非合焦量の絶対値量ＦＥ２に応
じて高く補正する。それと同時に、記録参照電圧設定回
路６８は第１の所定の参照電圧値ＶREC1の補正動作を行
っている間は図２（ｃ）に示すように信号ＭＯＤ１に”
ＨＩＧＨ”を出力する。

【００３５】このとき信号ＭＯＤ２は、図２（ｄ）に示
すように”ＬＯＷ”を出力しており、アナログスイッチ
２は”ＯＮ”の状態であり、アナログスイッチ３は”Ｏ
ＦＦ”の状態にある。

【００３６】そして半導体レーザ駆動回路の参照電圧値
ＶRECには、記録参照電圧設定回路６８により非合焦量
に応じて補正された参照電圧値が設定される。

【００３７】一方、信号ＭＯＤ１は時間計測回路１に入
力される。信号ＭＯＤ１は、記録参照電圧設定回路６８
が第１の所定の参照電圧値ＶREC1を補正完了したと同時
に”ＨＩＧＨ”から”ＬＯＷ”に変化する。

【００３８】このとき時間計測回路１は、所定の時間ｔ
１まで時間を計測し始める。また、時間計測回路１は所
定の時間ｔ１まで計測すると同時に、所定の時間ｔ１ま
で計測する間信号ＭＯＤ２に図２（ｄ）に示すようなパ
ルスを出力する。

【００３９】この信号ＭＯＤ２により、アナログスイッ
チ２は”ＯＦＦ”状態、アナログスイッチ３は”ＯＮ”
状態となり半導体レーザ駆動回路の参照電圧値ＶRECに
は第１の所定の参照電圧値ＶREC1より低い第２の参照電
圧値ＶREC2が設定される。

【００４０】このときの、半導体レーザ駆動回路の参照
電圧値ＶRECのレベル波形を図２（ｅ）に示す。

【００４１】そして半導体レーザ駆動回路は、この参照
電圧値ＶRECに略比例した光出力で半導体レーザ５３を
光らせる。

【００４２】このように、記録時に光ディスクと光ディ
スクの記録層との非合焦量に応じて半導体レーザの光出
力を補正完了した直後の光出力を所定時間低く設定する
ことにより非合焦量に応じて補正された光出力による予
熱の影響を低減し、正しく情報を記録できる。

【００４３】次に、第２の発明の一実施例について説明
する。図３は第２の発明の半導体レーザ駆動回路の実施
例である。ここでは第１の発明の実施例に新たに加えた
構成要素を中心に説明する。

【００４４】図３において、５は比較器、６はタイミン
グ発生回路、８，１１はアナログスイッチ、９はダイオ
ード、１０はホールドコンデンサである。

【００４５】以上のように構成された半導体レーザ駆動
回路の記録時の動作について、図４の信号波形図を併用
して説明する。

【００４６】まず図４（ａ）に示すフォーカスエラー信
号ＦＥは、絶対値化回路６７で絶対値化される。そし
て、図４（ｂ）に示す絶対値化回路６７の出力ＦＥ２は
比較器５にて比較レベルＶDFと比較され、比較器５は図
４（ｃ）に示すような絶対値化回路６７の出力ＦＥ２の
ピーク値を検出しホールドするための信号ＨＯＬＤを出
力する。

【００４７】信号ＨＯＬＤは”ＨＩＧＨ”でアナログス
イッチ８，１１をＯＮ状態にし、ダイオード９とホール
ドコンデンサ１０により絶対値化回路６７の出力ＦＥ２
のピーク値を検出しホールドする。

【００４８】ホールドされたピーク値は時間選択回路７
に入力され、時間選択回路７はホールドされたピーク値
のレベルに応じて時間計測回路１の所定の時間ｔを選択
する。

【００４９】すなわち時間選択回路７は、ホールドされ
たピーク値のレベルが高ければ長い時間ｔを選択する。

【００５０】タイミング発生回路６は、図４（ｃ）に示
す信号ＨＯＬＤの立ち下がりよりやや速い立ち上がりを
持つ図４（ｄ）に示すような信号ＳＥＴを時間計測回路
１に出力する。

【００５１】時間計測回路１は、この信号ＳＥＴの立ち
上がりで時間選択回路７で選択された所定の時間ｔをセ
ットする。

【００５２】そして図４（ｅ）の信号ＭＯＤ１は、記録
参照電圧設定回路６８により第１の所定の参照電圧値Ｖ
REC1を補正完了したと同時に”ＨＩＧＨ”から”ＬＯ
Ｗ”に変化する。

【００５３】これにより時間計測回路１は、時間選択回
路７で選択された所定の時間ｔまで計測を開始すると同
時に、所定の時間ｔまで計測する間信号ＭＯＤ２に図４
（ｆ）に示すようなパルスを出力する。

【００５４】この信号ＭＯＤ２によりアナログスイッチ
３はＯＮ状態、アナログスイッチ２はＯＦＦ状態となり
半導体レーザ駆動回路の参照電圧ＶRECには図４（ｇ）
に示すような第１の所定の参照電圧値ＶREC1より低い第
２の所定の参照電圧値ＶREC2が設定される。

【００５５】これにより、非合焦量に応じて補正された
光出力の予熱による影響を低減し、かつ記録層上での発
熱量を最適量にして情報を記録することができる。

【００５６】次に、第３の発明の一実施例について説明
する。図５は第３の発明の半導体レーザ駆動回路の実施
例である。ここでは第２の発明の実施例に新たに加えた
構成要素を中心に説明する。

【００５７】図５において、１２は補正参照電圧選択回
路である。以上のように構成された半導体レーザ駆動回
路の記録動作について、図６の信号波形図を併用して説
明する。

【００５８】第３の発明は第２の発明の実施例と同様
に、まず図６（ａ）に示すフォーカスエラー信号ＦＥは
絶対値化回路６７で絶対値化される。そして、図６
（ｂ）に示す絶対値化回路６７の出力ＦＥ２は、比較器
５にて比較レベルＶDFと比較され、比較器５は図６
（ｃ）に示すような絶対値化回路６７の出力ＦＥ２のピ
ーク値を検出しホールドするための信号ＨＯＬＤを出力
する。

【００５９】信号ＨＯＬＤは”ＨＩＧＨ”でアナログス
イッチ８，１１をＯＮにし、ダイオード９とホールドコ
ンデンサ１０より絶対値化回路６７の出力ＦＥ２のピー
ク値を検出しホールドする。

【００６０】ホールドされたピーク値は補正参照電圧選
択回路１２に入力され、補正参照電圧選択回路１２は検
出しホールドされたピーク値のレベルに応じて第２の参
照電圧値ＶREC2のレベルを選択する。

【００６１】すなわち補正参照電圧選択回路１２は、ホ
ールドされたピーク値のレベルが高い程第２の参照電圧
値ＶREC2のレベルに低いレベルを選択する。

【００６２】そして図６（ｄ）の信号ＭＯＤ１は、記録
参照電圧設定回路６８により第１の所定の参照電圧値Ｖ
REC1を補正完了したと同時に”ＨＩＧＨ”から”ＬＯ
Ｗ”に変化する。

【００６３】これにより、時間計測回路１は所定の時間
ｔ１まで計測を開始すると同時に、所定の時間ｔ１まで
計測する間信号ＭＯＤ２に、図６（ｅ）に示すようなパ
ルスを出力する。

【００６４】この信号ＭＯＤ２により、アナログスイッ
チ３はＯＮ状態、アナログスイッチ２はＯＦＦ状態とな
る。そして、半導体レーザ駆動回路の参照電圧ＶRECに
は、図６（ｆ）に示すような第１の所定の参照電圧値よ
り低くかつ、絶対値回路６７の出力ＦＥ２のピーク値の
レベルに応じて低くなるような第２の参照電圧値ＶREC2
を設定する。

【００６５】これにより、非合焦量に応じて補正された
光出力の予熱による影響を低減し、かつ記録層上での発
熱量を最適量にして情報を記録することができる。

【００６６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、記
録時に半導体レーザの光出力を第１の所定の光出力に設
定する光出力制御手段と、光検出手段の出力により記録
層と光スポットとの非合焦量を検出するフォーカスエラ
ー信号生成手段と、フォーカスエラー信号生成手段の出
力を絶対値化する絶対値化手段と、光出力制御手段によ
り設定された第１の所定の光出力を絶対値化手段の出力
レベルに応じて補正する第１の光出力補正手段と、第１
の光出力補正手段が絶対値化手段の出力レベルに応じて
第１の所定の光出力を補正完了したことを検出する補正
完了検出手段と、補正完了検出手段が第１の所定の光出
力を補正完了したことを検出してから所定の時間を計測
する時間計測手段と、時間計測手段の出力により前記半
導体レーザの光出力を第１の所定の光出力より低い第２
の所定の光出力に設定する第２の光出力補正手段とを備
えることにより、非合焦量に応じて補正された光出力に
よる予熱の影響を低減し、正しく情報を記録できる。

【００６７】また、絶対値化手段の出力レベルのピーク
値を検出するピーク値検出手段と、ピーク値検出手段の
出力レベルに応じて時間計測手段の所定の時間を選択す
る時間選択手段とを備えることにより、非合焦量に応じ
て補正された光出力の予熱による影響を低減し、かつ記
録層上での発熱量を最適量にして情報を記録することが
できる。

【００６８】また、絶対値化手段の出力レベルのピーク
値を検出するピーク値検出手段と、ピーク値検出手段の
出力レベルに応じて第２の所定の光出力のレベルを選択
する光出力選択手段とを備えることにより、非合焦量に
応じて補正された光出力の予熱による影響を低減し、か
つ記録層上での発熱量を最適量にして情報を記録するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の発明の実施例の半導体レーザ駆動回路の
構成を示す回路図

【図２】同第１の発明の実施例の動作を示す信号波形図

【図３】第２の発明の実施例の半導体レーザ駆動回路の
構成を示す回路図

【図４】同第２の発明の実施例の動作を示す信号波形図

【図５】第３の発明の実施例の半導体レーザ駆動回路の
構成を示す回路図

【図６】同第３の発明の実施例の動作を示す信号波形図

【図７】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図

【図８】従来の半導体レーザ駆動回路の構成を示す回路
図

【図９】従来の半導体レーザ駆動回路による記録層上で
の光スポットの半径方向の定性的な光強度の分布を示し
た特性図

【符号の説明】

１ 時間計測回路 ２，３ アナログスイッチ ４ インバータ ５ 比較器 ６ タイミング発生回路 ７ 時間選択回路 ８，１１ アナログスイッチ ９ ダイオード １０ ホールドコンデンサ １２ 補正参照電圧選択回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基板に記録層を設けた光ディスクと、前
   記光ディスクを所定の回転数で回転させるスピンドル制
   御手段と、光源となる半導体レーザと、前記半導体レー
   ザの出射光を収束させ前記記録層に光スポットを与える
   光学手段と、前記光学手段に含まれる対物レンズを光軸
   方向に微動させるフォーカス制御手段と、前記対物レン
   ズを前記記録層と平行に微動させるトラッキング制御手
   段と、前記記録層からの反射光を検出する光検出手段と
   を有する光ディスク装置であって、 記録時に前記半導体レーザの光出力を第１の所定の光出
   力に設定する光出力制御手段と、前記光検出手段の出力
   により前記記録層と光スポットとの非合焦量を検出する
   フォーカスエラー信号生成手段と、前記フォーカスエラ
   ー信号生成手段の出力を絶対値化する絶対値化手段と、
   前記光出力制御手段により設定された第１の所定の光出
   力を前記絶対値化手段の出力レベルに応じて補正する第
   １の光出力補正手段と、前記第１の光出力補正手段が前
   記絶対値化手段の出力レベルに応じて第１の所定の光出
   力を補正完了したことを検出する補正完了検出手段と、
   前記補正完了検出手段が第１の所定の光出力を補正完了
   したことを検出してから所定の時間を計測する時間計測
   手段と、前記時間計測手段の出力により前記半導体レー
   ザの光出力を前記第１の所定の光出力より低い第２の所
   定の光出力に設定する第２の光出力補正手段とを備えた
   光ディスク装置。
2. 【請求項２】 時間計測手段は、絶対値化手段の出力レ
   ベルのピーク値を検出するピーク値検出手段と、前記ピ
   ーク値検出手段の出力に応じて所定の時間を選択する時
   間選択手段とを備えた請求項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 第２の光出力補正手段は、絶対値化手段
   の出力レベルのピーク値を検出するピーク値検出手段
   と、前記ピーク値検出手段の出力に応じて第２の所定の
   光出力を選択する光出力選択手段とを備えた請求項１ま
   たは２記載の光ディスク装置。