JPH06229929A - 凹凸欠点検査方法 - Google Patents
凹凸欠点検査方法Info
- Publication number
- JPH06229929A JPH06229929A JP5034799A JP3479993A JPH06229929A JP H06229929 A JPH06229929 A JP H06229929A JP 5034799 A JP5034799 A JP 5034799A JP 3479993 A JP3479993 A JP 3479993A JP H06229929 A JPH06229929 A JP H06229929A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dark
- bright
- defect
- tile
- brightness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 タイル表面の凹欠点，凸欠点を正確且つ自動
的に判別できるような検査方法を提供することを目的と
する。 【構成】 検査対象物であるタイル１０の表面に対して
斜め方向から光照射するとともに、タイル１０の上方に
配置したＣＣＤカメラにて画像を取り込んだ上、画像処
理にてその輝度が平均輝度よりも一定以上高い輝度の明
部と一定以上低い輝度の暗部とを２値化反転処理，２値
化正転処理により何れも黒い塊（ラベル）として取り出
す。そしてそれら明部と暗部との各位値及び位置関係を
求め、それら明部と暗部とが対の関係で予め設定した所
定距離範囲内の近傍位置に位置していることを以て明
部，暗部の発生個所が凹凸欠点であると判定する。また
明部，暗部の位置関係に基づいて凹欠点と凸欠点とを識
別する。
的に判別できるような検査方法を提供することを目的と
する。 【構成】 検査対象物であるタイル１０の表面に対して
斜め方向から光照射するとともに、タイル１０の上方に
配置したＣＣＤカメラにて画像を取り込んだ上、画像処
理にてその輝度が平均輝度よりも一定以上高い輝度の明
部と一定以上低い輝度の暗部とを２値化反転処理，２値
化正転処理により何れも黒い塊（ラベル）として取り出
す。そしてそれら明部と暗部との各位値及び位置関係を
求め、それら明部と暗部とが対の関係で予め設定した所
定距離範囲内の近傍位置に位置していることを以て明
部，暗部の発生個所が凹凸欠点であると判定する。また
明部，暗部の位置関係に基づいて凹欠点と凸欠点とを識
別する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はタイルその他対象物の
表面の凹凸欠点検査方法に関する。
表面の凹凸欠点検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】タイル
の成形方法として、粉体原料をプレス型にてプレス成形
する乾式成形方法が広く行われている。この乾式プレス
成形において、成形物表面に塵等の異物が載っていたり
プレス型に傷が付いていたりして、成形物表面に突起や
窪みが生じることがあり、何れもタイル製品における欠
点の原因となる。
の成形方法として、粉体原料をプレス型にてプレス成形
する乾式成形方法が広く行われている。この乾式プレス
成形において、成形物表面に塵等の異物が載っていたり
プレス型に傷が付いていたりして、成形物表面に突起や
窪みが生じることがあり、何れもタイル製品における欠
点の原因となる。
【０００３】そこでタイル成形後において成形物表面に
おける凹凸欠点の有無を検査しているが、従来その検査
は作業者がサンプルを抜き取ってその表面状態を肉眼に
より目視観察することにより行っているのが実情であ
る。
おける凹凸欠点の有無を検査しているが、従来その検査
は作業者がサンプルを抜き取ってその表面状態を肉眼に
より目視観察することにより行っているのが実情であ
る。
【０００４】しかしながらこのような目視観察による場
合には作業者によるバラツキが発生し易いとともに、場
合により凹凸欠点を見逃すことがあり、とりわけこのよ
うな人手に頼った検査ではタイル検査工程を自動化する
ことができないといった問題がある。
合には作業者によるバラツキが発生し易いとともに、場
合により凹凸欠点を見逃すことがあり、とりわけこのよ
うな人手に頼った検査ではタイル検査工程を自動化する
ことができないといった問題がある。
【０００５】タイルの乾式プレス成形においては成形条
件の如何によって成形物に種々の欠点が発生するため、
その欠点の有無，種類，大きさ等に基づいて成形条件を
適正に且つ自動的に制御することが本発明者によって考
えられているが、そのためには検査工程を自動化してプ
レス装置ないしその制御装置に情報をフィードバックす
る必要がある。しかるに人手による肉眼での検査ではこ
れを実現することが困難となる。
件の如何によって成形物に種々の欠点が発生するため、
その欠点の有無，種類，大きさ等に基づいて成形条件を
適正に且つ自動的に制御することが本発明者によって考
えられているが、そのためには検査工程を自動化してプ
レス装置ないしその制御装置に情報をフィードバックす
る必要がある。しかるに人手による肉眼での検査ではこ
れを実現することが困難となる。
【０００６】尚、対象物表面をＣＣＤカメラにて撮像し
て凹凸欠点を検査する方法が従来公知であるが、この種
従来の方法は、得られた画像に影が有るか無いかで凹凸
を判定しており、凹欠点と凸欠点とを識別できていない
のが実情である。
て凹凸欠点を検査する方法が従来公知であるが、この種
従来の方法は、得られた画像に影が有るか無いかで凹凸
を判定しており、凹欠点と凸欠点とを識別できていない
のが実情である。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本願の発明はこのような
課題を解決するために成されたものである。而して本願
の発明は、検査対象物の表面に対して斜め方向から光照
射するとともに該検査対象物の上方に配置した画像セン
サにて反射光を受光し、画像処理にてその輝度が平均輝
度よりも一定以上高い輝度の明部と一定以上低い輝度の
暗部とを検出するとともにそれら明部と暗部との各位値
及び位置関係を求め、それら明部と暗部とが対の関係で
予め設定した所定距離範囲内の近傍位置に位置している
ことをもって明部，暗部の発生個所が凹凸欠点であると
判定することを特徴とする（請求項１）。
課題を解決するために成されたものである。而して本願
の発明は、検査対象物の表面に対して斜め方向から光照
射するとともに該検査対象物の上方に配置した画像セン
サにて反射光を受光し、画像処理にてその輝度が平均輝
度よりも一定以上高い輝度の明部と一定以上低い輝度の
暗部とを検出するとともにそれら明部と暗部との各位値
及び位置関係を求め、それら明部と暗部とが対の関係で
予め設定した所定距離範囲内の近傍位置に位置している
ことをもって明部，暗部の発生個所が凹凸欠点であると
判定することを特徴とする（請求項１）。
【０００８】また本願の別の発明は、前記検出した明
部，暗部を２値化反転，２値化正転処理して抽出した上
所定の処理を施すことを特徴とする（請求項２）。
部，暗部を２値化反転，２値化正転処理して抽出した上
所定の処理を施すことを特徴とする（請求項２）。
【０００９】本願の更に別の発明は、前記明部が前記照
明側に、前記暗部がその反対側に位置していることをも
ってそれら明部，暗部の発生個所が凸欠点であり、また
暗部が照明側に、明部がその反対側に位置していること
をもってそれら明部，暗部の発生個所が凹欠点であると
判定することを特徴とする（請求項３）。
明側に、前記暗部がその反対側に位置していることをも
ってそれら明部，暗部の発生個所が凸欠点であり、また
暗部が照明側に、明部がその反対側に位置していること
をもってそれら明部，暗部の発生個所が凹欠点であると
判定することを特徴とする（請求項３）。
【００１０】
【作用及び発明の効果】以上のように本発明は、検査対
象物の表面画像を画像センサにて取り込んだ上、画像処
理によって、輝度が設定高値よりも高い明部と設定低値
よりも低い暗部とを検出し、それら明部と暗部とが対の
関係で所定距離範囲内に有るときかかる明部，暗部の発
生個所を凹凸欠点と判定するもので、本発明によれば凹
凸欠点部を正確に判別することができる。
象物の表面画像を画像センサにて取り込んだ上、画像処
理によって、輝度が設定高値よりも高い明部と設定低値
よりも低い暗部とを検出し、それら明部と暗部とが対の
関係で所定距離範囲内に有るときかかる明部，暗部の発
生個所を凹凸欠点と判定するもので、本発明によれば凹
凸欠点部を正確に判別することができる。
【００１１】前述した従来の方法、即ちＣＣＤカメラに
て検査対象物の表面状態を撮像し、ただ単にそこに現わ
れた影、つまり輝度の低い部分を凹凸欠点と判定する方
法の場合には、対象物表面に存在する黒っぽい斑点も拾
ってしまい、これを凹凸欠点と誤認してしまう恐れがあ
るが、本発明の方法においてはこのような黒っぽい斑点
の場合、明部と暗部とが対の関係で近傍位置に現われる
といったことがないので、これを凹凸欠点と誤認する恐
れは無く、凹凸欠点のみを正確に他から判別することが
できる。
て検査対象物の表面状態を撮像し、ただ単にそこに現わ
れた影、つまり輝度の低い部分を凹凸欠点と判定する方
法の場合には、対象物表面に存在する黒っぽい斑点も拾
ってしまい、これを凹凸欠点と誤認してしまう恐れがあ
るが、本発明の方法においてはこのような黒っぽい斑点
の場合、明部と暗部とが対の関係で近傍位置に現われる
といったことがないので、これを凹凸欠点と誤認する恐
れは無く、凹凸欠点のみを正確に他から判別することが
できる。
【００１２】本発明によれば、対象物表面の凹凸欠点の
検査工程を自動化することが可能であり、また作業者の
目視による検査と異なって検査上のバラツキを生じない
し、また欠点を見逃してしまうといったことも防止でき
る。
検査工程を自動化することが可能であり、また作業者の
目視による検査と異なって検査上のバラツキを生じない
し、また欠点を見逃してしまうといったことも防止でき
る。
【００１３】請求項２の発明は上記明部，暗部を２値化
反転又は２値化正転処理して抽出するもので、このよう
にすればその後の処理が容易となる。
反転又は２値化正転処理して抽出するもので、このよう
にすればその後の処理が容易となる。
【００１４】請求項３の発明は、上記明部と暗部とが凹
形状又は凸形状に対応した所定の位置関係をもって現わ
れることから、これを利用して凹欠点と凸欠点とを判別
するものである。
形状又は凸形状に対応した所定の位置関係をもって現わ
れることから、これを利用して凹欠点と凸欠点とを判別
するものである。
【００１５】即ち凸形状であれば照明側に明部が、逆の
側に暗部が現われ、また凹形状であれば明部と暗部との
位置関係がその逆となることから、これら明部と暗部と
の位置関係を求めてこれにより凹形状か凸形状かを判定
するもので、本方法によれば凸欠点と凹欠点とを明確に
識別することができる。
側に暗部が現われ、また凹形状であれば明部と暗部との
位置関係がその逆となることから、これら明部と暗部と
の位置関係を求めてこれにより凹形状か凸形状かを判定
するもので、本方法によれば凸欠点と凹欠点とを明確に
識別することができる。
【００１６】
【実施例】次に本発明の実施例を図面に基づいて詳しく
説明する。図２において１０はプレス成形後の生素地状
態のタイルであって、試料台１２の水平な面上に載せら
れている。
説明する。図２において１０はプレス成形後の生素地状
態のタイルであって、試料台１２の水平な面上に載せら
れている。
【００１７】１４はタイル１０の表面に対して斜めに光
を照射すべく同表面に対して所定角度をもって配置され
た照明器具で、１６はタイル表面の上方に垂直下向きに
配置されたＣＣＤカメラである。
を照射すべく同表面に対して所定角度をもって配置され
た照明器具で、１６はタイル表面の上方に垂直下向きに
配置されたＣＣＤカメラである。
【００１８】本例の方法では、照明器具１４によりタイ
ル１０表面に対して斜めに光を照射しつつ、垂直下向き
且つタイル表面に向けたＣＣＤカメラ１６にてタイル表
面の画像を取り込む。
ル１０表面に対して斜めに光を照射しつつ、垂直下向き
且つタイル表面に向けたＣＣＤカメラ１６にてタイル表
面の画像を取り込む。
【００１９】図１は得られた画像の特定方向の濃淡輝度
分布曲線と試料（タイル１０）の断面形状との関係を示
したものである。ここで濃淡輝度分布曲線とは、画像の
濃淡輝度を分割（この例では２５６分割）してグラフ化
した曲線である。図から明らかなようにタイル１０表面
に凹凸欠点があると、濃淡輝度分布曲線においてこれに
対応するピークが現われる。而して凸欠点１８において
は、照明側のほぼ半分（図中左側のほぼ半分）が光を多
く受けてこれを反射する結果先ず上向きのピークが現わ
れた後、続いて下向きのピークが現われ、また逆に凹欠
点２０においては、照明側に影ができる結果先ず下向き
のピークが現われ、次いで上向きのピークが現われる。
分布曲線と試料（タイル１０）の断面形状との関係を示
したものである。ここで濃淡輝度分布曲線とは、画像の
濃淡輝度を分割（この例では２５６分割）してグラフ化
した曲線である。図から明らかなようにタイル１０表面
に凹凸欠点があると、濃淡輝度分布曲線においてこれに
対応するピークが現われる。而して凸欠点１８において
は、照明側のほぼ半分（図中左側のほぼ半分）が光を多
く受けてこれを反射する結果先ず上向きのピークが現わ
れた後、続いて下向きのピークが現われ、また逆に凹欠
点２０においては、照明側に影ができる結果先ず下向き
のピークが現われ、次いで上向きのピークが現われる。
【００２０】そこで本例の方法では、タイル１０表面の
平坦な面に対応する輝度Ｐ0よりも高い輝度Ｐ1，低い輝
度Ｐ2をそれぞれ設定し、それら輝度Ｐ1よりも輝度の高
い明部２２と、Ｐ2よりも輝度の低い暗部２４とを検出
した上、２値化処理する。
平坦な面に対応する輝度Ｐ0よりも高い輝度Ｐ1，低い輝
度Ｐ2をそれぞれ設定し、それら輝度Ｐ1よりも輝度の高
い明部２２と、Ｐ2よりも輝度の低い暗部２４とを検出
した上、２値化処理する。
【００２１】具体的には、画像における暗部を２値化正
転処理し、また明部を２値化反転処理する。ここで２値
化正転処理とは、検出された設定値Ｐ2よりも輝度の低
い暗部２４の輝度をすべて黒（輝度０）とし、他をすべ
て白（輝度２５５）とする処理を云い、また２値化反転
処理とは、設定値Ｐ1よりも輝度の高い明部をすべて黒
（輝度０）とし、これよりも濃い部分をすべて白（輝度
２５５）とする処理を云う。
転処理し、また明部を２値化反転処理する。ここで２値
化正転処理とは、検出された設定値Ｐ2よりも輝度の低
い暗部２４の輝度をすべて黒（輝度０）とし、他をすべ
て白（輝度２５５）とする処理を云い、また２値化反転
処理とは、設定値Ｐ1よりも輝度の高い明部をすべて黒
（輝度０）とし、これよりも濃い部分をすべて白（輝度
２５５）とする処理を云う。
【００２２】図３はこのような画像処理を施した結果得
られた画像パターン（但し凹欠点２０に対応する部分の
もの）を示したもので、図中２０ａが２値化正転処理の
結果得られた黒い塊（以下ラベルと呼ぶ）で、２０ｂが
２値化反転処理にて得られた黒い塊（ラベル）である。
られた画像パターン（但し凹欠点２０に対応する部分の
もの）を示したもので、図中２０ａが２値化正転処理の
結果得られた黒い塊（以下ラベルと呼ぶ）で、２０ｂが
２値化反転処理にて得られた黒い塊（ラベル）である。
【００２３】本方法では次にこれらラベル２０ａ，２０
ｂの中心座標（ｘ1，ｙ1），（ｘ´1，ｙ´1）を求めた
上、それらが予め設定した距離範囲内の近傍位置に有る
場合、これらラベル２０ａ，２０ｂが凹凸欠点によるも
のであると判定する。即ち近傍位置に２つのラベル２０
ａ，２０ｂが対となって現われていることをもってこれ
らを凹凸欠点に起因するものと判定する。これはタイル
１０表面に凹欠点又は凸欠点が在ると画像上に明部と暗
部とが必ず対となって現われることに基づくものであ
る。
ｂの中心座標（ｘ1，ｙ1），（ｘ´1，ｙ´1）を求めた
上、それらが予め設定した距離範囲内の近傍位置に有る
場合、これらラベル２０ａ，２０ｂが凹凸欠点によるも
のであると判定する。即ち近傍位置に２つのラベル２０
ａ，２０ｂが対となって現われていることをもってこれ
らを凹凸欠点に起因するものと判定する。これはタイル
１０表面に凹欠点又は凸欠点が在ると画像上に明部と暗
部とが必ず対となって現われることに基づくものであ
る。
【００２４】またその際に２値化正転処理にて得られた
ラベル２０ａが照明側（図ではＸ軸において原点側）に
現われ、また２値化反転処理にて得られたラベル２０ｂ
がその反対側に現われている場合には、これを凹欠点に
基づくものと判定し、その逆の場合には凸欠点に基づく
ものと判定する。
ラベル２０ａが照明側（図ではＸ軸において原点側）に
現われ、また２値化反転処理にて得られたラベル２０ｂ
がその反対側に現われている場合には、これを凹欠点に
基づくものと判定し、その逆の場合には凸欠点に基づく
ものと判定する。
【００２５】＜具体的判定例＞つぎに本例の方法を用い
て具体的にタイル表面の凹欠点と凸欠点とを判別した検
査例につき詳述する。
て具体的にタイル表面の凹欠点と凸欠点とを判別した検
査例につき詳述する。
【００２６】図４に示しているように表面に斑点３０，
凹欠点３２，凸欠点３４を人為的に形成したタイル（試
料）１０を作成し、その表面に斜め方向から照明を当て
つつ、タイル１０の表面の画像を下向きにセットしたＣ
ＣＤカメラ１６にて取り込む。
凹欠点３２，凸欠点３４を人為的に形成したタイル（試
料）１０を作成し、その表面に斜め方向から照明を当て
つつ、タイル１０の表面の画像を下向きにセットしたＣ
ＣＤカメラ１６にて取り込む。
【００２７】図５（Ａ）はこの時の生画像を示してい
る。但し図中Ｘ軸，Ｙ軸の単位は画素数である（１画素
は０．１ｍｍ程度）。
る。但し図中Ｘ軸，Ｙ軸の単位は画素数である（１画素
は０．１ｍｍ程度）。
【００２８】図５（Ｂ）はＹ＝１５０（斑点３０，凹欠
点３２，凸欠点３４は何れもほぼ直線上に位置するよう
に形成してある。）上の濃淡輝度分布曲線を示したもの
で、図から明らかなようにタイル表面における平坦面の
輝度は約８５であり、そして斑点３０においては下向き
のピーク（暗部）のみが現われ、また凹欠点３２におい
ては照明側（Ｘ軸原点側）に先ず下向きのピーク（暗
部）が現われ、続いて上向きのピーク（明部）が現われ
ている。更に凸欠点３４においては逆に先ず上向きのピ
ーク（明部）が、続いて下向きのピーク（暗部）が現わ
れている。
点３２，凸欠点３４は何れもほぼ直線上に位置するよう
に形成してある。）上の濃淡輝度分布曲線を示したもの
で、図から明らかなようにタイル表面における平坦面の
輝度は約８５であり、そして斑点３０においては下向き
のピーク（暗部）のみが現われ、また凹欠点３２におい
ては照明側（Ｘ軸原点側）に先ず下向きのピーク（暗
部）が現われ、続いて上向きのピーク（明部）が現われ
ている。更に凸欠点３４においては逆に先ず上向きのピ
ーク（明部）が、続いて下向きのピーク（暗部）が現わ
れている。
【００２９】そこで輝度の上限値Ｐ1，下限値Ｐ2をそれ
ぞれＰ1＝１２０，Ｐ2＝４０に設定し、下限値４０より
も輝度の低い暗部を検出して２値化正転処理を行った。
図６（Ａ）はこの結果得られた画像パターンを示すもの
で、そこには欠点３０，３２，３４に対応するラベル３
０ａ，３２ａ，３４ａがそれぞれ現われている。これら
各ラベル３０ａ，３２ａ，３４ａの面積の中心座標の算
出値は表１の如くであった。
ぞれＰ1＝１２０，Ｐ2＝４０に設定し、下限値４０より
も輝度の低い暗部を検出して２値化正転処理を行った。
図６（Ａ）はこの結果得られた画像パターンを示すもの
で、そこには欠点３０，３２，３４に対応するラベル３
０ａ，３２ａ，３４ａがそれぞれ現われている。これら
各ラベル３０ａ，３２ａ，３４ａの面積の中心座標の算
出値は表１の如くであった。
【００３０】
【表１】
【００３１】続いて上記上限値１２０よりも輝度の高い
明部を検出して２値化反転処理を行った。この結果得ら
れた画像パターンが図６（Ｂ）に示されている。
明部を検出して２値化反転処理を行った。この結果得ら
れた画像パターンが図６（Ｂ）に示されている。
【００３２】図に示しているようにこの２値化反転処理
では、斑点３０に起因するラベルは現われておらず、凹
欠点３２，凸欠点３４に対応するラベル３２ｂ，３４ｂ
のみが現われている。これらラベル３２ｂ，３４ｂの面
積，中心座標値はそれぞれ表２に示す如くであった。
では、斑点３０に起因するラベルは現われておらず、凹
欠点３２，凸欠点３４に対応するラベル３２ｂ，３４ｂ
のみが現われている。これらラベル３２ｂ，３４ｂの面
積，中心座標値はそれぞれ表２に示す如くであった。
【００３３】
【表２】
【００３４】次にＸ軸上の距離Δｘ：２０，Δｙ：５を
設定し、各ラベルがΔｘ≦２０，Δｙ≦５の距離範囲内
に有るかどうかを検索したところ、凹欠点３２に起因す
るラベル３２ａと３２ｂ及び凸欠点３４に起因するラベ
ル３４ａと３４ｂとがその範囲内、つまり近傍位置にあ
るとの結果を得た。即ちラベル３２ａと３２ｂ及びラベ
ル３４ａと３４ｂとが凹凸形状に起因するものであるこ
とが判明した。
設定し、各ラベルがΔｘ≦２０，Δｙ≦５の距離範囲内
に有るかどうかを検索したところ、凹欠点３２に起因す
るラベル３２ａと３２ｂ及び凸欠点３４に起因するラベ
ル３４ａと３４ｂとがその範囲内、つまり近傍位置にあ
るとの結果を得た。即ちラベル３２ａと３２ｂ及びラベ
ル３４ａと３４ｂとが凹凸形状に起因するものであるこ
とが判明した。
【００３５】引き続いて対の関係にある３２ａと３２ｂ
及び３４ａと３４ｂとの中心座標を比較した。この結果 ラベル３２ａのｘ座標＜ラベル３２ｂのｘ座標 ラベル３４ａのｘ座標＞ラベル３４ｂのｘ座標 の関係が得られた。
及び３４ａと３４ｂとの中心座標を比較した。この結果 ラベル３２ａのｘ座標＜ラベル３２ｂのｘ座標 ラベル３４ａのｘ座標＞ラベル３４ｂのｘ座標 の関係が得られた。
【００３６】これによりラベル３２ａ，３２ｂの生成原
因である欠点が凹欠点であり、またラベル３４ａ，３４
ｂの生成原因である欠点が凸欠点であると判定できた。
因である欠点が凹欠点であり、またラベル３４ａ，３４
ｂの生成原因である欠点が凸欠点であると判定できた。
【００３７】尚この例ではＸ軸方向に照明を当ててお
り、凹凸部の影はＸ軸方向に長く延びるため、ラベル近
傍位置の設定距離範囲をＸ軸方向に長く、Ｙ軸方向に短
くとっているが、これはあくまで一つの例である。
り、凹凸部の影はＸ軸方向に長く延びるため、ラベル近
傍位置の設定距離範囲をＸ軸方向に長く、Ｙ軸方向に短
くとっているが、これはあくまで一つの例である。
【００３８】以上の説明から明らかなように、本例の方
法によれば凹凸欠点の発生個所及び凹欠点であるか凸欠
点であるかの判別を正確に行うことができ、またラベル
の面積に基づいて欠点の大きさも求めることができる。
法によれば凹凸欠点の発生個所及び凹欠点であるか凸欠
点であるかの判別を正確に行うことができ、またラベル
の面積に基づいて欠点の大きさも求めることができる。
【００３９】以上本発明の実施例を詳述したがこれはあ
くまで一例示である。例えば上例では２値化正転処理と
２値化反転処理とを行うことによって明部，暗部ともに
黒いラベルに転化しているが、２値化反転処理の代わり
に第二の照明を第一の照明と反対側且つ逆に設けておい
て、第一の照明にて明部として現われたものを、照明を
第二の照明に切り替えることによってこれを影として
（暗部として）表し、２値化反転処理を省略するといっ
たことも可能である。
くまで一例示である。例えば上例では２値化正転処理と
２値化反転処理とを行うことによって明部，暗部ともに
黒いラベルに転化しているが、２値化反転処理の代わり
に第二の照明を第一の照明と反対側且つ逆に設けておい
て、第一の照明にて明部として現われたものを、照明を
第二の照明に切り替えることによってこれを影として
（暗部として）表し、２値化反転処理を省略するといっ
たことも可能である。
【００４０】また上例ではタイル１０の上面の凹凸検査
を行っているが、本発明はタイルの側面の検査、Ｒ（湾
曲）形状の角部（エッジ部）の検査に適用することも可
能である。
を行っているが、本発明はタイルの側面の検査、Ｒ（湾
曲）形状の角部（エッジ部）の検査に適用することも可
能である。
【００４１】更に本発明を生素地状態のタイルのみなら
ず焼成後の製品タイルその他対象物の検査に適用するこ
とも可能である等、本発明はその主旨を逸脱しない範囲
において、当業者の知識に基づき様々な変更を加えた態
様で実施可能である。
ず焼成後の製品タイルその他対象物の検査に適用するこ
とも可能である等、本発明はその主旨を逸脱しない範囲
において、当業者の知識に基づき様々な変更を加えた態
様で実施可能である。
【図１】本発明の一実施例において得た濃淡輝度分布曲
線とタイル表面形状との関係を示す図である。
線とタイル表面形状との関係を示す図である。
【図２】同実施例方法の説明図である。
【図３】同実施例方法において行った２値化処理の結果
得られた画像パターンの図である。
得られた画像パターンの図である。
【図４】同実施例方法に従う具体的判定例の説明図であ
る。
る。
【図５】同判定例において得たタイル表面の生画像と濃
淡輝度分布曲線とを示す図である。
淡輝度分布曲線とを示す図である。
【図６】同判定例において行った２値化処理の結果得ら
れた画像パターンの図である。
れた画像パターンの図である。
１０ タイル １４ 照明器具 １６ ＣＣＤカメラ １８，３４ 凸欠点 ２０，３２ 凹欠点 ２０ａ，２０ｂ，３０ａ，３２ａ，３２ｂ，３４ａ，３
４ｂ ラベル ２２ 明部 ２４ 暗部
４ｂ ラベル ２２ 明部 ２４ 暗部
Claims (3)
- 【請求項１】 検査対象物の表面に対して斜め方向から
光照射するとともに該検査対象物の上方に配置した画像
センサにて反射光を受光し、画像処理にてその輝度が平
均輝度よりも一定以上高い輝度の明部と一定以上低い輝
度の暗部とを検出するとともにそれら明部と暗部との各
位値及び位置関係を求め、それら明部と暗部とが対の関
係で予め設定した所定距離範囲内の近傍位置に位置して
いることをもって明部，暗部の発生個所が凹凸欠点であ
ると判定することを特徴とする凹凸欠点検査方法。 - 【請求項２】 前記検出した明部，暗部を２値化反転，
２値化正転処理して抽出した上所定の処理を施すことを
特徴とする請求項１に記載の凹凸欠点検査方法。 - 【請求項３】 前記明部が前記照明側に、前記暗部がそ
の反対側に位置していることをもってそれら明部，暗部
の発生個所が凸欠点であり、また暗部が照明側に、明部
がその反対側に位置していることをもってそれら明部，
暗部の発生個所が凹欠点であると判定することを特徴と
する請求項１又は２に記載の凹凸欠点検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5034799A JPH06229929A (ja) | 1993-01-30 | 1993-01-30 | 凹凸欠点検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5034799A JPH06229929A (ja) | 1993-01-30 | 1993-01-30 | 凹凸欠点検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06229929A true JPH06229929A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=12424296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5034799A Pending JPH06229929A (ja) | 1993-01-30 | 1993-01-30 | 凹凸欠点検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06229929A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0915165A (ja) * | 1995-06-29 | 1997-01-17 | Asia Electron Inc | 特徴点抽出装置 |
| JP2012058134A (ja) * | 2010-09-10 | 2012-03-22 | Daido Steel Co Ltd | 凹部の検査方法と凹部の検査装置 |
| JP2015210150A (ja) * | 2014-04-25 | 2015-11-24 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 |
| KR101687710B1 (ko) * | 2015-09-10 | 2016-12-19 | 한국원자력연구원 | 이물질 탐지 장치 및 그 방법 |
| JP2017009522A (ja) * | 2015-06-25 | 2017-01-12 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 |
| JP2018155548A (ja) * | 2017-03-16 | 2018-10-04 | コニカミノルタ株式会社 | 欠陥検査方法、欠陥検査プログラム、および欠陥検査装置 |
| CN110715935A (zh) * | 2019-11-11 | 2020-01-21 | 佛山市新石器机器人有限公司 | 一种瓷砖缺陷检测设备及方法 |
-
1993
- 1993-01-30 JP JP5034799A patent/JPH06229929A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0915165A (ja) * | 1995-06-29 | 1997-01-17 | Asia Electron Inc | 特徴点抽出装置 |
| JP2012058134A (ja) * | 2010-09-10 | 2012-03-22 | Daido Steel Co Ltd | 凹部の検査方法と凹部の検査装置 |
| JP2015210150A (ja) * | 2014-04-25 | 2015-11-24 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 |
| JP2017009522A (ja) * | 2015-06-25 | 2017-01-12 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 |
| KR101687710B1 (ko) * | 2015-09-10 | 2016-12-19 | 한국원자력연구원 | 이물질 탐지 장치 및 그 방법 |
| JP2018155548A (ja) * | 2017-03-16 | 2018-10-04 | コニカミノルタ株式会社 | 欠陥検査方法、欠陥検査プログラム、および欠陥検査装置 |
| CN110715935A (zh) * | 2019-11-11 | 2020-01-21 | 佛山市新石器机器人有限公司 | 一种瓷砖缺陷检测设备及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5444480A (en) | Method of inspecting solid body for foreign matter | |
| CN110296997B (zh) | 基于机器视觉的陶瓷瓦的缺陷检测方法及装置 | |
| KR20160108644A (ko) | 디바이스 결함 검출장치 | |
| JPH06229929A (ja) | 凹凸欠点検査方法 | |
| KR102000907B1 (ko) | 페라이트 외관 비전 검사방법 | |
| JP4184511B2 (ja) | 金属試料表面の欠陥検査方法及び装置 | |
| JP4146678B2 (ja) | 画像検査方法および装置 | |
| TWI427263B (zh) | 突起之高度測定方法、突起之高度測定裝置、程式 | |
| JP2002310917A (ja) | 欠陥検出方法及び装置 | |
| JPH03175343A (ja) | 外観検査による欠陥抽出方法 | |
| JP3454162B2 (ja) | 穴のある平面プレートの傷検査装置 | |
| JPH11101750A (ja) | 異物検出方法 | |
| JPH1010053A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2001174238A (ja) | 欠陥検出方法 | |
| WO2023120243A1 (ja) | 表面検査装置、表面検査方法、欠陥自動修理システム及びプログラム | |
| JPH0949717A (ja) | ワーク表面キズ検出方法及び装置 | |
| JP3609136B2 (ja) | 半導体装置の検査方法及び装置 | |
| JP2000105831A (ja) | 表面欠陥検査装置及び方法 | |
| JP2000035404A (ja) | 平面の未研磨領域検出装置 | |
| JPH0382940A (ja) | 円筒形ワークの内面欠陥検出方法 | |
| JP2002365025A (ja) | 研磨面の検出判定方法 | |
| JP2003215048A (ja) | 欠陥部分検出方法 | |
| JP2696737B2 (ja) | 画像処理による板状体の寸法測定システム | |
| JP3132931B2 (ja) | 傷検査装置 | |
| JP2640400B2 (ja) | 画像処理による板状体の寸法算出装置 |