JP2000035404A - 平面の未研磨領域検出装置 - Google Patents

平面の未研磨領域検出装置

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JP2000035404A
JP2000035404A JP10202206A JP20220698A JP2000035404A JP 2000035404 A JP2000035404 A JP 2000035404A JP 10202206 A JP10202206 A JP 10202206A JP 20220698 A JP20220698 A JP 20220698A JP 2000035404 A JP2000035404 A JP 2000035404A
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JP10202206A
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English (en)
Inventor
Haruyasu Hirako
晴庸 平子
Fumiaki Fukunaga
文昭 福永
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Daihatsu Motor Co Ltd
Original Assignee
Daihatsu Motor Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明に係る平面の未研磨領域検出装置は、平
面の研磨進度検査の客観性を高め、かつ、検査精度を向
上させることを目的とする。 【解決手段】本発明に係る平面の未研磨領域検出装置
は、平面に斜方照明を当てることによって、画像取り込
み手段によって主に乱反射する照明光を平面画像として
取り込み、未研磨領域の高い輝度値と、研磨済み領域や
穴部分の低い輝度値の間にしきい値を設けて2値化し、
未研磨領域の面積を算出し、研磨進度を求めるものであ
る。これによって検査を機械的に行うことによって、客
観的に研磨作業の進度を把握することができ、検査時間
を短縮することができるので、全数検査によって検査精
度の向上を図ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平面の未研磨部分
を検出する未研磨部分検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】自動車のATバルブプレートなど高い平
面度が要求される金属プレート部品は、ホーニング加工
等によってその表面が滑らかに研磨される。金属プレー
トの研磨装置は、例えば、水平なテーブルに金属プレー
トを複数枚並べて置き、その上からロール形状の砥石を
回転させつつ往復させ、複数枚の金属プレートを同時に
研磨するものである。
【0003】ところで、このような平面仕上げ加工を行
う際、加工されるプレート部品自体に反りなどの歪みが
あると、プレートの凹んでいる部分に未研磨部分が生じ
る可能性がある。特に、鋼板ロールから繰り出した鉄板
を所定形状に打ち抜いた平面プレートには、鉄板の巻き
癖や打抜き時の歪み等のために反りが生じるので、上述
したような未研磨部分が生じ易い。
【0004】そして、例えば、自動車のATバルブプレ
ートがこのような未研磨部分を残留したまま製品に組み
付けられると、バルブシール不良という重大な問題が生
じる。このため、ATバルブプレートの研磨作業は、こ
のような未研磨部分がなくなるまで行われ、未研磨部分
の有無は目視によって厳重に検査される。しかし、検査
効率を考慮し、検査は、抜き取り検査によって行われる
ことが多い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、未研磨
部分の有無を調べる検査は、目視によってなされるの
で、検査を行う人によって検査に個人差が生じる。
【0006】また、検査は、抜き取り検査によるので、
未研磨領域のある平面が検査を通ってしまう可能性があ
る。
【0007】そこで、本発明の平面の未研磨領域検出装
置は、平面の研磨進度の検査を機械的に行うことによっ
て、検査の客観性を高めると共に、全数検査を可能とし
検査精度を向上させることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係る平面の未研
磨領域検出装置は、平面の未研磨部分を検出する未研磨
領域検出装置において、平面の検査面と対向して配設さ
れ、検査面の平面画像を取込む画像取込手段と、平面の
検査面に斜方向の光を投射する照明手段と、画像取込手
段によって取込まれる平面の検査面の平面画像を入力画
像とし、未研磨部分表面の輝度値と研磨済み表面の輝度
値との間にしきい値を設けることによって、平面の平面
画像のうち未研磨部分表面を示す画素と、研磨済み表面
を示す画素とを区別する2値化処理手段とを有するもの
である。
【0009】また、研磨進度を判定するために、2値化
処理手段によって得られる2値化画像において、未研磨
部分表面と識別される領域の面積を算出することによっ
て、研磨加工の進度を判定する判定手段とを有するもの
としてもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る平面の未研磨
領域検出装置の一実施形態について図面に基づいて説明
する。
【0011】図1に示すように、この平面の未研磨領域
検出装置は、複数のバルブ穴が形成されたATバルブプ
レート10の未研磨領域を検出するもので、カメラ12
と、照明14と、画像処理装置16とを有する。なお、
図1において、一点鎖線は照明からの照明光を示し、破
線は正反射光を示し、二点鎖線は乱反射光を示す。
【0012】ATバルブプレート10は、傷検査装置の
所定位置において検査面を下向きにして水平に配設され
る。カメラ12は、ATバルブプレート10の検査面の
平面図を撮像できるように、ATバルブプレート10と
正対して配設される。照明14は、ATバルブプレート
10の検査面に斜めから光を投射し、かつ、その照明光
の正反射光が直接カメラ12に入射しないように、AT
バルブプレート10の斜め下方において、2個の照明1
4がカメラ12を挟んで対称に配置される。
【0013】図2,3に示すように、ATバルブプレー
ト10の研磨済み表面10bは、砥石によって微少な傷
10b1がほぼ均一に形成されている。照明光(o)
は、砥石によって微少な傷の深さが小さいので、ほぼ正
反射(p)しカメラ12に直接入射しないが、この微少
な傷によって乱反射する光の一部(q)がカメラに入射
する。このため、研磨済みの表面10bは、やや暗い反
射光が得られ、ほぼ均一な輝度値で認識される。
【0014】一方、ATバルブプレート10の未研磨表
面10cは、凹凸10c1のある金属面がそのままの状
態で残っている。照明光(o)は、金属面の凹凸10c
1に当たって乱反射しその一部が直接カメラに進入す
る。この金属面の凹凸10c1は、研磨によって形成さ
れる微少な傷よりもかなり深いので、乱反射によってカ
メラ12に直接進入する光(r)の量も研磨済み表面1
0bに比べて多い。このため、未研磨表面10cは、研
磨済み表面10bよりも高い輝度値になる。
【0015】また、ATバルブプレート10のバルブ穴
10dでは、照明光(o)がバルブ穴10dを通ってA
Tバルブプレート10の裏側に抜けてしまう(s)の
で、最も輝度値が低くなる。
【0016】これによって、図4に示すようにカメラ1
2に取り込まれる画像は、未研磨表面10cは輝度値が
高く、研磨済み表面10bは輝度値がやや低く、バルブ
穴10dは輝度値が最も低く認識される。
【0017】次に、この画像を画像処理装置16に入力
する。
【0018】画像処理装置16は、まずグレー処理を行
う。グレー処理は、カメラに取り込まれた有彩画像を白
黒の濃淡画像(グレー画像)に変換するもので、これに
より図5に示すように各画素は輝度値の情報のみを持つ
ものとなる。
【0019】次に、2値化処理を行う。2値化処理は、
ある一定の輝度値をしきい値として設定し、例えば、し
きい値よりも輝度の高い画素を黒と、しきい値よりも輝
度の低い画素を白とすることによって、画像中のすべて
の画素を白又は黒で分けるものである。ここでは未研磨
表面の輝度値と研磨済み表面の輝度値との間にしきい値
(b)を設定し、上述のグレー画像を2値化処理する。
これにより、図6に示すように、グレー画像において未
研磨領域を示すしきい値よりも輝度値の高い画素を黒
(21)、研磨済み表面及びバルブ穴を示すしきい値よ
りも輝度値の低い画素を白(22)とする2値化画像が
得られる。
【0020】次に、画像処理装置16は、2値化画像の
黒色領域(21)の面積を算出する。これによって、未
研磨表面10cの面積が算出でき、ATバルブプレート
10の総面積に対する未研磨領域10cの割合を求め、
研磨作業の進度を客観的に把握することができる。ま
た、グレー処理→2値化処理→未研磨領域の算出といっ
た一連の処理を、画像処理装置が自動的に行うようにプ
ログラムしておくことによって、上述した未研磨領域の
検出作業において、カメラで画像を取り込んだ後は瞬時
に研磨進度が分かるので、検査時間が短縮でき、全数検
査によって個々のATバルブプレートを検査することが
可能となり、検査精度の向上を図ることができる。
【0021】以上、本発明の一実施形態について説明し
たが、本発明に係る平面の未研磨領域検出装置はこれに
限定されるものではない。
【0022】ATバルブプレート10の研磨作業は、プ
レートの両面で行われるので、検査は両面で行われる。
このため、未研磨領域検出装置(12,14,16)は
ATバルブプレート10の両面で同時に行えるように、
ATバルブプレート10の両側に設定してもよい。ただ
し、ATバルブプレートのように穴の開いたプレートで
は、片側の照明光が反対側に抜けるため、検査は片面ず
つ行われる。
【0023】上述の装置では、ATバルブプレートにお
いて未研磨表面を検出することを目的としているが、本
発明の平面の未研磨領域検出装置における検査対象は、
ATバルブプレートに限定されず、種々の平面プレート
又は種々の平面研磨領域にも適用できる。また、穴の有
無にも関係なく適用できる。
【0024】また、上述の装置では、未研磨表面を検出
しているが、本発明においては「未研磨」とは、該当す
る研磨作業において研磨がなされていないことをいう。
例えば、粒度の大きな研磨作業を行った後に、粒度の小
さい研磨作業を行う場合は、細かい研磨がなされていな
いことを「未研磨」という。
【0025】この場合、本発明に係る平面の未研磨領域
検出装置は、粒度の細かい研磨作業の行われた「研磨済
み」表面の輝度値と、粒度の大きな研磨作業による「未
研磨」表面の輝度値との間に、しきい値を設定して2値
化処理を行うことによって、粒度の細かい研磨作業が行
われていない「未研磨」領域の検出に適用することがで
きる。
【0026】
【発明の効果】本発明に係る平面の未研磨領域検出装置
は、平面に斜方照明を当てることによって、主に乱反射
する照明光を平面画像として取り込み、乱反射する光の
量が多い未研磨領域の高い輝度値と、乱反射する光の量
が少ない研磨済み領域や穴部分の低い輝度値との間にし
きい値を設け、2値化処理手段によって未研磨領域の面
積を算出するので、検査を機械的に行うことによって客
観的に研磨作業の進度を把握することができる。
【0027】また、画像を取り込んだ後の一連の処理
を、自動的に行うようにプログラムしておくことがで
き、検査時間を短縮することができるので、全数検査に
よって検査精度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る平面の未研磨領域検
出装置の概略図。
【図2】ATバルブプレートの平面図。
【図3】ATバルブプレートの表面の概略図。
【図4】本発明の一実施形態における取り込み画像の輝
度値を示す図面。
【図5】本発明の一実施形態におけるATバルブプレー
トのグレー画像を示す図面。
【図6】本発明の一実施形態におけるATバルブプレー
トプレートの2値化処理画像を示す図面。
【符号の説明】
10 ATバルブプレート 10b 研磨済み領域 10c 未研磨領域 10d バルブ穴 12 カメラ 14 照明 16 画像処理装置
フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA11 AA49 BB25 BB26 DD06 FF04 HH12 JJ03 JJ26 KK01 QQ04 2G051 AA07 AA90 AB07 AC12 AC21 BB01 CA04 CB05 EA11 EA16 EB01 EC01 ED09

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】平面の未研磨部分を検出する未研磨領域検
    出装置において、 上記平面の検査面と対向して配設され、上記検査面の平
    面画像を取込む画像取込手段と、 上記平面の検査面に斜方向の光を投射する照明手段と、 上記画像取込手段によって取込まれる平面の検査面の平
    面画像を入力画像とし、未研磨部分表面の輝度値と研磨
    済み表面の輝度値との間にしきい値を設けることによっ
    て、平面の平面画像のうち未研磨部分表面を示す画素
    と、研磨済み表面を示す画素とを区別する2値化処理手
    段とを有することを特徴とする平面の未研磨領域検出装
    置。
  2. 【請求項2】平面の未研磨部分を検出する未研磨領域検
    出装置において、 上記平面の検査面と対向して配設され、上記検査面の平
    面画像を取込む画像取込手段と、 上記平面の検査面に斜方向の光を投射する照明手段と、 上記画像取込手段によって取込まれる平面の検査面の平
    面画像を入力画像とし、未研磨部分表面の輝度値と研磨
    済み表面の輝度値との間にしきい値を設けることによっ
    て、平面の平面画像のうち未研磨部分表面を示す画素
    と、研磨済み表面を示す画素とを区別する2値化処理手
    段と、 上記2値化処理手段によって得られる2値化画像におい
    て、未研磨部分表面と識別される領域の面積を算出する
    ことによって、研磨加工の進度を判定する判定手段とを
    有することを特徴とする平面の未研磨領域検出装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001347038A (ja) * 2000-06-07 2001-12-18 Fuji Shoji:Kk 遊技機検査装置
JP2005047647A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Toshiba Elevator Co Ltd エレベータ巻上機のギア検査方法
CN103512886A (zh) * 2012-06-14 2014-01-15 北汽福田汽车股份有限公司 用于测量工件表面畸变的测量仪
CN117288459A (zh) * 2023-11-24 2023-12-26 齐鲁工业大学(山东省科学院) 一种基于管道内水下航行器的蝶阀检测方法及系统

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Effective date: 20030109