JPH06224551A - リフロー半田付け装置の温度制御方法 - Google Patents

リフロー半田付け装置の温度制御方法

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JPH06224551A
JPH06224551A JP2761593A JP2761593A JPH06224551A JP H06224551 A JPH06224551 A JP H06224551A JP 2761593 A JP2761593 A JP 2761593A JP 2761593 A JP2761593 A JP 2761593A JP H06224551 A JPH06224551 A JP H06224551A
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JP
Japan
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temperature
substrate
reflow
time
constant
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JP2761593A
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English (en)
Inventor
Yuukou Imai
佑攻 今井
Seiji Ichikawa
清司 市川
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板の機種が変わっても、リフロー時の基板
の温度プロファイルが規定範囲におさまるように自動的
に制御できる温度制御方法を提供する。 【構成】 加熱装置7Aを有するプリヒート部1A、加
熱装置7Bを有するリフロー部2Aは、それぞれ独立に
速度制御可能なコンベア3、4を備える。プリヒート部
1Aに設けられた赤外放射計6でプリヒート部での基板
の温度上昇値を検知する。薄い基板が搬入されて温度上
昇値が大きければリフロー部のコンベア4の速度を速
め、厚い基板が搬入されて温度上昇値が小さければ速度
を遅くする。コンベア速度を制御する代わりに、薄い基
板が搬入されて温度上昇値が大きければリフロー部の加
熱装置の加熱空気量を少なくし、厚い基板が搬入されて
温度上昇値が小さければ加熱空気量を多くするように制
御しても良い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板を移送し
ながらプリヒート部、リフロー半田付け部を備える連続
移送式リフロー半田付け装置の温度制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術及びその問題点】プリント基板(以下、基
板という。)への部品半田付け方法としてリフロー半田
付け方式が増えてきている。このリフロー半田付け方式
の従来一般的な例を図8でまず説明する。図8におい
て、21はマウンタで基板22に塗布したクリーム半田
の粘着力により、部品23を基板22にマウントする。
24はリフロー半田付け炉で、該リフロー半田付け炉2
4のプリヒート部25にコンベア26で搬送されてくる
基板22を一定の目的温度θP 、例えば135℃まで予
熱する。
【0003】リフロー部27では、前記基板22を図9
に示すような温度時間曲線(温度プロファイル)に沿っ
て、一旦クリーム半田が融ける温度まで加熱し、冷却し
てリフロー半田付けを行う。半田付けに要求される温度
時間特性は、目的温度θpから時間T1(30秒)以内
にクリーム半田が融ける温度θL 、例えば、230℃以
上、半田付けされる電子部品が破損に至らない許容温度
θH 、例えば、245℃以下に、時間T(10秒)以上
維持するように温度を制御しなければならない。この規
定温度から外れると、半田付け強度の低下や部品の熱破
損等の半田付け不良が発生するので、前記温度範囲を厳
密におさえる必要がある。
【0004】ところで、図10には、コンベア26の速
度とプリヒート部21で予熱される基板温度の関係を示
している。ここで、P1、P2、P3、P4(P1>P
2>P3>P4)は加熱源に加える電力を示す。図10
の(A)は、基板が厚い、部品が多い等の熱容量の大き
な基板の場合を示している。この関係を見ると、所要の
基板温度θを得るには、大きな電力P1が必要であるこ
とがわかる。
【0005】一方、図10の(B)は、薄い基板等の熱
容量の小さな基板の場合を示している。この関係を見る
と、所要の基板温度θを得るためには、小さな電力P3
でよいことがわかる。
【0006】このように、基板には材質、厚さ、実装さ
れている部品の種類、大きさ、数等によって多く機種が
あって、熱時定数(熱容量)が変わるから、リフロー炉
での温度上昇特性もそれぞれ異なり、プリヒート部、リ
フロー部での所要加熱量は基板の種類によって大きく変
化する。従来は機種が変わる毎にテストを繰り返し、前
記温度時間特性を満足する加熱条件を決めており、特
に、加熱源の温度を変えるときは、安定するまでに30
分程度かかるなど、その手間と多くの時間を費やさなけ
ればならなかった。
【0007】それは、前記プリヒート部25、リフロー
部27共通のコンベア26で基板22を搬送すると、温
度上昇値、継続時間を調節する自由度がないというのが
大きな原因であった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は、加熱
する対象である基板の機種が変わっても、リフロー時の
基板の温度時間特性が、規定範囲におさまるように自動
的に制御できるリフロー半田付け装置の温度制御方法を
提供する点にある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、それぞれ独立
に速度制御可能な基板搬送手段(コンベア)を有するプ
リヒート部及びリフロー部よりなるリフロー半田付け装
置の温度制御方法において、前記プリヒート部に設けら
れた基板温度測定手段によりプリヒート部での基板の温
度上昇値を検知し、前記温度上昇値が大きければ、前記
リフロー部において前記基板搬送手段の速度を速め、前
記温度上昇値が小さければ前記リフロー部において前記
基板搬送手段の速度を遅くする。また、前記温度上昇値
が大きければ、前記リフロー部において前記基板が一定
時間内に接触する加熱空気量を少なくなるように制御
し、前記温度上昇値が小さければ、前記基板が一定時間
内に接触する加熱空気量を多くなるように制御するよう
にしても良い。
【0010】
【実施例】本発明実施例を説明するに当たり、まず本発
明の原理を説明する。規定の温度以上の温度の一定流速
の加熱空気流等、一定の加熱条件で加熱される物体の温
度は、 (θt −θ0 )=(θmax −θ0 )(1−exp(−t/τ)) θt :加熱開始後時間tの基板温度 θ0 :基板初期温度 θmax :加熱空気温度 τ :物体の熱時定数=熱容量×伝熱抵抗 で表すことができる。
【0011】前記式から、基板初期温度θ0 から加熱空
気温度θmax の加熱空気で加熱開始後、任意の時間t1
における温度θt1がわかれば、物体の熱時定数がわかる
から、規定温度になる時間を知ることができる。そこ
で、基板の温度が規定温度に達する前に基板温度を測定
し、規定温度になる時間を推定し、それ以降は加熱空気
温度を規定温度であるようにすれば、物体の温度を容易
に規定温度に移行させることができる。
【0012】図1は、本発明によるリフロー半田付け炉
の温度制御方法の第1実施例の構成を示している。図1
において、1はプリヒート部、2はリフロー部、3、4
は基板5を搬送するそれぞれのコンベアで、独立に速度
制御可能であり、両コンベアは連接されて基板5を連続
的に搬送する。6は前記プリヒート部1に設けられた適
当な補正をした赤外放射計を使用した非接触型基板温度
計である。さらに、前記プリヒート部1、前記リフロー
部2は、何れも加熱空気により、基板5を所定の温度ま
で加熱する加熱方式を採用する。
【0013】前記プリヒート部1は、加熱室1A、定加
熱室1Bに分かれている。一定初期温度θO である基板
5は、前記加熱室1Aで目的温度θP より高い温度の加
熱空気で加熱され、加熱室1Bで前記目的温度θP の空
気で加熱される。
【0014】定加熱室1Bで前記目的温度θP の空気で
加熱された基板5は前記コンベア3で定加熱室1Bの出
口まで移送されて来ると、前記コンベア3と独立してそ
の速度が制御され、前記コンベア3に連接されたコンベ
ア4に転送され、以後リフロー部2をコンベア4で移送
される。
【0015】前記リフロー部2は、加熱室2A、定加熱
室2B、冷却室2Cに分かれている。基板5は加熱室2
Aで規定温度θR より高い温度の加熱空気で加熱され、
定加熱室2Bでは規定温度θR の空気で加熱されて、そ
の後冷却室2Cで冷却される。
【0016】次に、前記構成を備えるリフロー半田炉に
おいて、基板5を規定温度の温度時間曲線(温度プロフ
ァイル)に合致するよう、リフロー半田付けする動作を
図2に示す温度時間曲線で説明する。この温度時間曲線
において時間軸は、図1に示すリフロー半田炉内を標準
速度で搬送される基板5の温度変化の基板5の位置にも
対応して示してある。
【0017】コンベア3で搬送されてきた初期温度θ0
である基板5(xの位置)は、前記加熱室1Aで目的温
度θP よりも高い温度の加熱空気で加熱されながら移送
され、加熱室1Aに設置した非接触基板温度計6で時間
y (yの位置)における温度θy が測定される。
【0018】さらに、基板5は定加熱室1Bで目的温度
θP に加熱され、リフロー炉2の加熱室2Aに進んで、
規定温度θR より高い加熱空気により加熱される(zの
位置)。この時の基板5の移送速度は、前記プリヒート
部1の前記基板温度計6で測定された基板温度θy から
後述する速度制御部により求められた熱時定数または相
当量に基づいて制御される。その結果、基板5が加熱室
2Aを通過する時点で、基板5は規定温度範囲に入るよ
うに制御される。
【0019】すなわち、熱時定数τが大きいときは、コ
ンベア4の速度を遅くし、熱時定数τが小さいときは、
コンベア4の速度を速めるように制御する。この速度は
予め熱時定数との関係を求めて決めることができる。
【0020】前記加熱室2Aでの加熱温度は、熱時定数
が最も大きい基板(厚い基板)でも規定の時間(T1)
以内に、規定内の最低温度θL 以上に加熱できる温度で
あることが必要であり、熱時定数の小さい基板(薄い基
板)では、規定時間内に規定温度θR に加熱可能であ
る。
【0021】基板5は、引き続き前記定加熱室2Bで前
記規定温度θR で、規定時間(T2)以上定温加熱され
るので、若干の温度過不足も急速に修正され、規定の温
度時間曲線に沿ったリフロー半田付けを実現できる。
【0022】前記図2の温度時間曲線において、a→b
1→c→d1→e1は何ら制御しないとき、熱時定数の
大きい厚い基板の場合についての基板の温度変化の例で
あり、a→b2→c→d2→e2は薄い基板についての
基板の温度変化の例であるが、これを本発明の前記実施
例のように温度制御することにより、a→b→c→d→
eに代表される規定温度時間曲線に合致するようになす
ことができる。
【0023】コンベアで搬送される基板の制御される速
度、すなわちコンベアの速度は一様である必要はなく、
加熱室2Aに移送される時点及び定加熱室2Bに移送す
る時点では高速で、加熱室2Aの中央部では低速または
停止でもよく、規定温度より高い温度の加熱空気と接す
る時間を制御すればよい。基板温度測定用の赤外放射計
6は加熱室1Aに設置する例で説明したが、さらに定加
熱室1Bにも設けて2点で基板温度を測定すると、熱時
定数の算定がより正確になる。
【0024】図3は、前記第1実施例のリフロー部2の
コンベア4の速度を制御するブロック構成図を示してい
る。図3において説明を分かり易くするために、定加熱
室1B、定加熱室2B及び冷却室2Cは、その図示を省
略してある。図3において、プリント基板5A、5B、
5Cを移送するコンベアがプリヒート部1の加熱室1A
のコンベア3とリフロー部2の加熱室2Aのコンベア4
とに分けて設けられており、各コンベア3、4がそれぞ
れ独立した駆動源8A、8Bで駆動され、それぞれ独立
した制御装置9、10によって速度制御されるようにな
っている。
【0025】また、プリヒート部1の加熱室1Aには、
基板の表面温度を非接触で測定する赤外線放射計6が設
けられており、これにより基板の表面温度の平均値を検
出するようになっている。この検出信号は前記制御装置
9に入力されており、該制御装置9は、検出した基板の
温度に基づいて、コンベア3の速度を制御するととも
に、熱風による加熱装置7Aの温度をも制御する。
【0026】そして加熱室1Aにおいて、一定初期温度
θO の基板は目的温度θP より高い温度の加熱空気で加
熱されるように制御装置9で加熱装置7Aの加熱空気温
度が制御される。この目的温度θP より高い温度の加熱
空気で加熱された基板の表面温度は前記赤外線放射計6
で測定され、この測定された温度を移送されてきた基板
の温度データとして前記制御装置9に入力される。この
測定された温度データは基板の熱容量によって異なって
いることは前記説明から明らかである。
【0027】前記目的温度θP より高い温度の加熱空気
で加熱された基板は定加熱室1Bに移送されて前記目的
温度θP に加熱され、リフロー部の加熱室2Aに進んで
規定温度θR より高い温度で加熱される。この時の基板
のコンベア4による移送速度は、前記プリヒート部の加
熱室1Aの前記基板温度計6で測定された基板温度から
前記制御装置9から温度データを制御装置10が取り込
んで、該温度データに基づく熱時定数または相当量に基
づいて駆動装置8Bを駆動しコンベア4の速度を制御す
る。その結果、基板5Cは加熱室2Aを通過する時点で
規定温度範囲に入るように制御される。
【0028】このように前記実施例は、プリヒート部に
設けられた基板温度測定手段により、プリヒート部での
基板の温度上昇値を検知し、前記温度上昇値が高けれ
ば、リフロー部において、基板を加熱する時間を短く、
低ければ加熱時間を長くして基板温度が一定になるよう
に制御するようにしたものである。そして、加熱時間の
制御は、実際にはリフロー部で基板を移送するコンベア
の速度を制御するか、または基板移送を停止する時間を
制御することにより行われる。
【0029】次に、リフロー半田付け炉の基板温度制御
方法の第2の実施例を以下に説明する。この実施例は、
プリヒート部に設けられた基板温度測定手段により、プ
リヒート部で一定条件で加熱された基板の温度上昇値を
検知し、温度上昇が大きければ、リフロー部において、
基板が一定時間内に接触する加熱空気風量を少なくなる
ように制御し、低ければ多くなるように制御して基板温
度を一定化するようにしたものである。
【0030】以下この実施例の原理を説明する。前記式
において、任意の時間tにおいて、それぞれ規定する温
度θt を得るためには、熱時定数τを一定にしておく必
要があり、加熱対象の熱容量が変わった時は、伝熱抵抗
を変えてやれば目的を満足することがわかる。また、初
期温度、加熱空気温度が既知であって、時間tにおける
温度θt がわかれば、熱時定数τ、さらに熱容量を知る
ことができる。加熱空気による場合の伝熱抵抗は、加熱
対象と加熱空気との単位時間あたりの接触量によって決
まり、風速によって伝熱抵抗を変えることができ、また
接触する時間率を変えても同様な効果が得られる。
【0031】以下に前記原理に基づく実施例を図4で説
明する。図4はこの実施例のリフロー半田炉の構成を示
している。図4において、1はプリヒート部、2はリフ
ロー部、3、4は基板5を搬送するそれぞれのコンベア
で、独立に速度制御可能であり、両コンベアは連接され
て基板5を連続的に搬送する。6Aは前記プリヒート部
1に設けられた適当な補正をした赤外放射計を使用した
非接触型基板温度計である。さらに、前記プリヒート部
1、前記リフロー部2は、何れも加熱空気により、基板
5を所定の温度まで加熱する加熱方式を採用する。
【0032】前記プリヒート部1は、前室11A、加熱
室11B、定加熱室11Cに分かれている。前室11A
は基板温度を一定の室温に設定し、前記加熱室11Bで
は目的温度θP より高い温度の加熱空気で加熱される。
定加熱室11Cでは目的温度θP の空気で加熱する。
【0033】定加熱室11Cで前記目的温度θP の空気
で加熱された基板5は前記コンベア3で定加熱室1Cの
出口まで移送されて来ると、前記連接されたコンベア4
に移り、以後リフロー部2を移送される。前記リフロー
部2は、加熱室12A、冷却室12Bに分かれている。
基板5は加熱室12Aで厳密に制御された加熱空気で、
規定の時間、規定の温度時間曲線に合致するよう加熱さ
れて、その後冷却室12Bで冷却される。
【0034】前記構成により、基板5を規定の温度時間
曲線に合致するよう、リフロー半田付けする動作を図5
の温度時間曲線とともに説明する。なお、図5の温度時
間曲線は、標準速度で搬送される基板5の温度変化を、
加熱室等と対応せしめたものである。
【0035】コンベア3で搬送される基板5は、前室1
1Aで初期温度θO (xの位置)に安定化され、加熱室
11Bで目的温度θP よりも高い温度の加熱空気で加熱
されながら移送され、基板温度計6で所定時間における
基板温度θy が測定される(yの位置)。さらに、基板
5は加熱室11Cで目的温度θP に加熱され、リフロー
炉2の加熱室12Aに進んで、規定温度θR より高い加
熱空気により加熱される(zの位置)。
【0036】この時の加熱空気風量は、プリヒート部1
の基板温度計6で測定された基板温度θt から後述する
風量制御部により、熱時定数τまたは相当量に基づいて
制御され、その結果、基板5は規定の温度時間曲線に合
致するように加熱される。すなわち、熱時定数が大きい
ときは(基板が厚い)伝熱抵抗を小さくするために加熱
室2Aの風量を増し、熱時定数が小さいときは(基板が
薄い)、風量を減らすように制御される。この風量は、
予め熱時定数との関係を求めて決めることができる。
【0037】この実施例の場合は、図3における前記第
1の実施例において、コンベア4の速度を制御する代わ
りに、制御装置10は、制御装置9における基板温度θ
y のデータを取り込んで、該データに基づいて加熱装置
7Bの加熱空気風量を制御する。
【0038】図5の温度時間曲線において、a→b1→
c→d1→e1はなんら制御しないとき、熱時定数の大
きい厚い基板の場合についての基板の温度変化の例であ
り、a→b2→c→d2→e2は薄い基板についての基
板の温度変化の例であるが、これを前記第2実施例のよ
うに加熱空気風量により温度制御することにより、a→
b→c→d→eに代表される規定温度時間曲線に合致す
るようになすことができる。
【0039】前記加熱空気風量の制御は、加熱室12A
内に設置した加熱装置7Bの送風機の回転数の変化、風
量弁の開閉度等によって可能であり、また短時間で開閉
する風量弁の開放時間率、移動する基板に吹き付ける空
気流路の幅を変化させ、基板が加熱空気と接触する時間
を制御するようにしてもよい。
【0040】またリフロー部2の加熱室12Aにも基板
温度計6Bを設けて、該基板温度計6Bにより加熱中の
基板温度を測定し、もし規定値より僅かに高ければコン
ベア4の速度を若干速め、低ければ遅めるなどして時間
特性に大きな影響を与えることなく、さらに精密に制御
することができるが、この基板温度計6Bは必要に応じ
て設ければ良く、無くても良いものである。
【0041】非接触基板温度計としては前記第1実施例
と同様に適当な補正をした赤外線放射計が適しており、
さらに加熱室11Bに一基設けて2点で測定すると、熱
時定数の算定が正確になる。また、前記前室11Aは、
基板5の初期温度θ0 が安定に管理されていれば不要で
ある。
【0042】以上前記第2実施例は、伝熱抵抗を制御す
るために風量を調節するものであるが、次に、リフロー
半田付け炉のプリヒート部で、基板を一定条件で加熱
し、一定温度までに到達する所要時間が長ければ、リフ
ロー部において、基板を加熱する加熱空気風量を多く、
所要時間が短ければ少なくなるように制御して、半田付
け温度を一定化するリフロー半田付け炉の温度制御方法
の実施例について説明する。
【0043】この第3実施例の原理は、前記第2実施例
の原理と基本的に変わるところはない。すなわち、前記
式において、加熱対象が変わっても、任意の時間tにお
いて、それぞれ規定する温度θt を得るためには、熱時
定数τを一定にしておく必要があり、加熱対象の熱容量
が変わった時は、伝熱抵抗を変えて熱時定数τを一定に
してやれば目的を満足することがわかる。また、初期温
度、加熱空気温度が既知であって、時間tにおける温度
θt がわかれば、熱時定数τ、さらに熱容量を知ること
ができる。加熱空気による場合の伝熱抵抗は、加熱対象
と加熱空気との単位時間あたりの接触量によって決ま
り、風速によって伝熱抵抗を変えることができ、また接
触する時間率を変えても同様な効果が得られる。
【0044】図6において、1はプリヒート部、2はリ
フロー部、3、4は基板5を搬送するそれぞれのコンベ
アで、独立に速度制御可能であり、両コンベアは連接さ
れて基板5を連続的に搬送する。6C及び6Dは、前記
プリヒート部1とリフロー部2に設けられた適当な補正
をした赤外放射計を使用した非接触型基板温度計であ
る。さらに、前記プリヒート部1、前記リフロー部2
は、何れも前記各実施例と同様に加熱空気により、基板
5を所定の温度まで加熱する加熱方式を採用する。
【0045】プリヒート部1は、加熱室13A、定加熱
室13Bに分かれている。加熱室13Aではプリヒート
する目的温度θP より高い温度の加熱空気で加熱する。
定加熱室13Bでは目的温度θP の空気で加熱する。
【0046】リフロー部2は加熱室14A、定加熱室1
4Bに分かれており、基板5は加熱室14Aにおいて、
リフローする規定温度θR 以上の加熱空気で定速搬送さ
れながら規定の時間、規定の温度時間曲線に合致するよ
うに加熱され、定加熱室14Bで規定温度θR で加熱さ
れる。
【0047】前記構成により、基板5を規定の温度時間
曲線に合致するよう、リフロー半田付けする動作を図7
の温度時間曲線とともに説明する。なお、図7の温度時
間曲線は移送される基板5の温度変化を、加熱室等と対
応せしめたものである。
【0048】コンベア3で搬送され、一定初期温度θ0
(xの位置)の基板5は、前記加熱室13Aの基板温度
計6Cで基板温度が測定されながら加熱される(yの位
置)。基板温度がプリヒート目的温度θP になると、基
板5は定加熱室13Bに移送され、前記目的温度θP
引き続き加熱される。この際、加熱室13Aから定加熱
室13Bへの移送は間欠的である。
【0049】基板5はリフロー炉2の加熱室14Aに移
送され、前記規定温度θR より高い加熱空気により加熱
される(zの位置)。この時の加熱空気量は、前記プリ
ヒート部1で測定し、後述する制御装置が備える記憶装
置に記憶されている基板温度が目的温度になるまでの所
要時間から求められる熱時定数τに見合う量に制御され
る。
【0050】熱時定数τが大きいときは、伝熱抵抗を小
さくするため加熱室14Aの加熱風量を増し、熱時定数
が小さいときは、風量を減らすように制御される。この
風量は、予め熱時定数との関係を求めて決めることがで
きる。
【0051】この第3実施例の場合は、前記図3に示す
温度制御システムにおいて、プリヒート目的温度θP
なる時間を制御装置9で計測し、制御装置9が備えるメ
モリに記憶する。例えば、定速で移送されてきた基板の
温度を基板温度計6で検出し、検出した温度が目的温度
θP に達していない場合は熱容量の大きい基板であり、
コンベア3を停止させる等して前記目的温度に達するま
で加熱し、制御装置9は、基板が加熱室13Aで加熱を
開始されてから前記目的温度θP に達するまでの時間を
計測して記憶する。この計測された時間データに基づい
て制御装置10は、加熱装置7Bの加熱風量を増すよう
に制御する。
【0052】図7は、この実施例の温度時間曲線を示し
ており、該温度時間曲線において、a→b1→c→d1
→e1はなんら制御しないとき、熱時定数の大きい厚い
基板の場合についての基板の温度変化の例であり、a→
b2→c→d2→e2は薄い基板についての基板の温度
変化の例であるが、これを本発明の前記実施例のように
温度制御することにより、c→d→eに代表される規定
温度時間曲線に合致するようになすことができる。また
b、b1及びb2からcへは間欠駆動で移動することを
意味する。この間欠駆動は、制御装置9により前記目的
温度に達する時間データに基づいて駆動装置8Aを駆動
し、基板を一定加熱室13Bへ移す。
【0053】そして、基板はコンベア4で定速で搬送さ
れ、加熱室14Aの出口までに、規定温度θR まで加熱
された基板5は、定加熱室14Bに移送され、規定温度
θRで加熱される。加熱室14Aでの加熱時間は、コン
ベア4で厳密に制御する必要があるが、定加熱室13
B、14Bでの加熱時間は許容幅は広いので速度が変わ
っても悪影響を与えることはない。
【0054】前記風量の制御は、加熱室内に設置した送
風機の回転数の変化、風量弁の開閉度等によって可能で
あり、また短時間で開閉する風量弁の開放時間率、移動
する基板に吹き付ける空気流路の幅を変化させ、基板が
加熱空気と接触する時間を制御するようにしてもよく、
この点は前記第2実施例と変わるところはない。
【0055】また、リフロー部2の加熱室14Aにも基
板温度計6Dを設けて、該基板温度計6Dにより加熱中
の基板温度を測定し、もし規定値より僅かに高ければコ
ンベア4の速度を若干速め、低ければ遅めるなどして時
間特性に大きな影響を与えることなく、さらに精密に制
御することができるが、この基板温度計6Dは必要に応
じて設ければ良く、無くても良いものである。さらに、
前記加熱室13Aの前に、初期温度θ0 に管理されてい
る前室を設け、基板5の温度を安定させるようにする
と、熱時定数の設定がより正確になる。
【0056】
【発明の効果】以上、本発明によれば、プリヒート部と
リフロー部の基板搬送手段の速度を独立に制御可能とし
たから、プリヒート部とリフロー部の速度の自由度が増
え、基板の厚さが変わっても、自動的に規定の温度時間
曲線に合致させることができるようになり、多種多様な
基板にも手間のかからないリフロー半田付け炉を実現で
きる。
【0057】また、基板温度の自動制御を瞬間的に対応
することが可能となり、基板一枚毎に機種が変わって
も、待ち時間が少なく少量多機種でも効率的なリフロー
半田付けが可能となる。さらに、従来、機種切り換えの
手間や時間ロスを避けるため、基板厚さ毎に設備してい
たが、本発明では一台でも対応できるから、設備稼働効
率が高まり、基板を振り分け移送する設備や手間を省け
るという効果も大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明第1実施例の構成図である。
【図2】本発明第1実施例の温度プロファイルである。
【図3】本発明第1実施例の制御装置の構成図である。
【図4】本発明第2実施例の構成図である。
【図5】本発明第2実施例の温度プロファイルである。
【図6】本発明第3実施例の構成図である。
【図7】本発明第3実施例の温度プロファイルである。
【図8】従来装置の構成図である。
【図9】従来装置の温度プロファイルである。
【図10】作用効果の説明に供する特性図である。
【符号の説明】
1 プリヒート部 2 リフロー部 3、4 コンベア 5 プリント基板 6 基板温度計 1A、2A 加熱室 1B、2B 定加熱室 2C 冷却室

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 それぞれ独立に速度制御可能な基板搬送
    手段を有するプリヒート部及びリフロー部よりなるリフ
    ロー半田付け装置の温度制御方法において、前記プリヒ
    ート部に設けられた基板温度測定手段によりプリヒート
    部での基板の温度上昇値を検知し、前記温度上昇値が大
    きければ、前記リフロー部において前記基板搬送手段の
    速度を速め、前記温度上昇値が小さければ前記リフロー
    部において前記基板搬送手段の速度を遅くして基板温度
    が一定になるように制御することを特徴とするリフロー
    半田付け装置の温度制御方法。
  2. 【請求項2】 基板搬送手段、プリヒート部及びリフロ
    ー部よりなるリフロー半田付け装置の温度制御方法おい
    て、前記プリヒート部に設けられた基板温度測定手段に
    より、プリヒート部で一定条件で加熱された基板の温度
    上昇値を検知し、前記温度上昇値が大きければ、前記リ
    フロー部において前記基板が一定時間内に接触する加熱
    空気量を少なくなるように制御し、前記温度上昇値が小
    さければ、前記基板が一定時間内に接触する加熱空気量
    を多くなるように制御することを特徴とするリフロー半
    田付け装置の温度制御方法。
  3. 【請求項3】 前記基板温度測定手段は、前記プリヒー
    ト部における前記基板の加熱開始後所定時間における基
    板の温度と基板の初期温度の差を測定することを特徴と
    する請求項2記載のリフロー半田付け装置の温度制御方
    法。
  4. 【請求項4】 前記プリヒート部において基板が所定温
    度に達する所要時間に基づいて、前記リフロー部におけ
    る加熱空気量を制御することを特徴とする請求項2記載
    のリフロー半田付け装置の温度制御方法。
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