JPH0621029Y2 - 試験用ケーブル - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は、主として交流破壊試験用およびインパルス
破壊試験用のケーブルに関するものである。

［従来の技術と考案が解決しようとする課題］ ［１］ケーブルについて： 第４図の試験用ケーブル１０′のように、通常のケーブ
ル線心を適当な長さに切断して用いる。

なお、１２はケーブル導体、１４は内部半導電層、１６
はケーブル絶縁層、１８は外部半導電層である。

［２］交流破壊試験にいて： (1)水端末の場合： 第５図のように、試験用ケーブル１０′の中央部２０の
上に電極３０を形成する（たとえば鉛テープによる）。

端部２２の外部半導電層１８を除去し、その上に水端末
３２を組立て、純水３４を循環させ、導体１２〜電極３
０間にに試験電圧３５を印加する。

(2)水端末の問題点： 水端末の組立てに時間がかかる。

電極３０を形成した中央部２０（有効部分）でなく
て、端部２２で破壊することがある。特に外部半導電層
１８の端部（Ａで示した）で破壊が起き易い。

中央部２０以外で破壊が起きると、再試験しなければな
らない。

(3)水端末３２の他に、 絶縁テープや油浸紙でストレスリリーフコーン（以下
ストコン）を作成したり、 ストコンを作成後、碍子で保護する、 などの端末処理法もある。

しかし、これらの場合も、ストコンの作成に技術が必
要、端部２２で破壊が起きる、などの問題があった。

［３］インパルス破壊試験について： (1)試験方法： 第６図のように、この場合も、中央部２０の上に電極３
０を形成する。

端部２２の外部半導電層１８は、そのまま抵抗端末とし
て使用するので、除去しないでおき、その上に半導電性
テープを巻き所定の抵抗値を得て、導体１２〜電極３０
間に試験電圧３５を印加する。

(2)その問題点： 端部２２、特にＢで示す付近で破壊が起き易い。

上記のように、中央部２０（有効部）以外で破壊が起き
ると、再試験しなければならない。

［課題を解決するための手段］ この考案は、上記のような問題のない試験用ケーブルの
提供を目的とするもので、ケーブルの構造を、第１図の
ようにする。すなわち、 (1)ケーブル絶縁層１６の厚さを、中央部２０において
は所定の値であるが、端部２２においては中央部２０よ
り大にし、かつ中央部２０から端部２２に移る部分で次
第に大になるようにし、 (2)そのようにしたケーブル絶縁層１６の上に外部半導
電層１８を設ける。

［その説明］ 第１図において、１０は試験用ケーブルの全体である。

その中央部２０においては、ケーブル絶縁層１６の厚さ
は、そのケーブルの電圧により決まる所定の厚さであ
る。

この中央部２０が試験のときの有効部分になる。

端部２２においては、ケーブル絶縁層１６の厚さを、30
〜50%程度、中央部２０よりも大にする。

それから、中央部２０から端部２２に移る部分（テーパ
部２４）では、ケーブル絶縁層１６の厚さが次第に大き
くなるようにする。

具体的数値例を示すと、3.3kVの場合で、全長が7m、中
央部２０の長さが2m、中央部２０のケーブル絶縁層１６
の厚さが2.5mm、端部２２のケーブル絶縁層１６の厚さ
が3.5mm、である。

なお、ケーブル押出し時に、押出し機の回転数を調整す
ることにより、ケーブル絶縁層１６の厚さを、中央部２
０と端部２２とで、変えることができる。

［試験用ケーブルの使用法］ ［１］交流破壊試験の場合： 第２ａ図に概略を示す。

(1)試験方法： 中央部２０上に、鉛テープなどにより電極３０を形成す
ることは従来と同じである。

端部２２の外部半導電層１８を除去する。テーパ部２４
の外部半導電層１８は残しておく。

中央部２０から下の部分を、水槽３６の水３８に浸す。

水３８の上に絶縁油４０を入れ、その中にテーパ部２４
と端部２２の下部を浸す。

以上のようにしておいて、導体１２〜電極３０間に試験
電圧３５を印加する。

(2)作用： 第２ｂ図に模型的に示したように、ケーブル絶縁層１６
の余剰肉厚部分１６ａと外部半導電層１８の先端１８ａ
とが、従来のストコンと同じ作用をする。

そのため、外部半導電層１８の端部への電界の集中が緩
和され、従来のように、外部半導電層１８の端部での破
壊が非常に起きにくくなる。

［２］インパルス破壊試験の場合： 第３図に概略を示す。

(1)試験方法： 従来の場合と同様に、端部２２の外部半導電層１８を除
去する必要はない。なお、所定の抵抗値を得るために、
その上に半導電性テープを巻く場合がある。

中央部２０上に電極３０を形成するが、このとき、電極
３０はテーパ部２４の上まで形成する。

(2)作用： 端部２２においては、ケーブル絶縁層１６の厚さが大で
あるため、端部２２における絶縁破壊はほぼ皆無とな
る。

［考案の効果］ ケーブル絶縁層１６の厚さが、中央部２０においては所
定の値であるが、端部２２においては中央部２０より大
で、中央部２０から端部２２に移る部分で次第に大にな
っており、そのようにしたケーブル絶縁層１６の上に外
部半導電層１８が設けられているので、この試験用ケー
ブル自体が、初めからストコンに相当するものを持って
いると同じことになる。そのため、 (1)水端末３２などの煩雑な端末処理が不要になる。

(2)絶縁破壊が中央部２０でのみ発生するようになる。
したがって電極有効部の破壊データが得られる。

(3)再試験が不要になる。

【図面の簡単な説明】

第１〜３図は本考案の実施例にかかるもので、 第１図は一部縦断側面図、 第２ａ図は交流破壊試験の説明図で、 第２ｂ図はその作用の説明図、 第３図はインパルス破壊試験の説明図、 第４図は従来の試験用ケーブルの説明図、 第５図は従来の交流破壊試験の説明図、 第６図は従来のインパルス破壊試験の説明図。 １０，１０′：試験用ケーブル、１２：導体 １４：内部半導電層、１６：ケーブル絶縁層 １８：外部半導電層、２０：中央部 ２２：端部、２４：テーパ部 ３０：電極、３２：水端末 ３４：純水、３５：試験電圧 ３６：水槽、３８：水 ４０：絶縁油

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 牧野 幸平 東京都江東区木場１丁目５番１号 藤倉電 線株式会社内 (72)考案者 永井 健二 東京都江東区木場１丁目５番１号 藤倉電 線株式会社内

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】ケーブル絶縁層１６の厚さが、中央部２０
   におては所定の値であるが、端部２２においては中央部
   ２０より大で、中央部２０から端部２２に移る部分で次
   第に大になっており、そのようにしたケーブル絶縁層１
   ６の上に外部半導電層１８が設けられている、試験用ケ
   ーブル。