JPH06207963A - Production of test data for printed board - Google Patents

Production of test data for printed board

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JPH06207963A
JPH06207963A JP5003137A JP313793A JPH06207963A JP H06207963 A JPH06207963 A JP H06207963A JP 5003137 A JP5003137 A JP 5003137A JP 313793 A JP313793 A JP 313793A JP H06207963 A JPH06207963 A JP H06207963A
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data
probe
inspection
net
point
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Hiroyuki Yoshida
浩之 吉田
Keiji Hanada
恵二 花田
Kunio Oe
邦夫 大江
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To produce test data for printed board mounting electronic components effectively while avoiding interference between robots in a system where a facility performing electric tests, i.e., conduction test and short circuit test, is operated using a plurality of robots and probes. CONSTITUTION:Nest list information of a printed board is split with each net unit and a reference point is extracted from each net (step #2), test information providing pair information for the reference point and other point is formed in each net(step #2), a test probe is assigned according to a relationship of coordinate values(step #4), thus producing a board test data. Furthermore, in order to deal with two-sided board, the data is converted to allow simultaneous movement of a plurality of probes(step #5-#11).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板の導通,
短絡検査装置で使用する検査データを作成する方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
The present invention relates to a method for creating inspection data used in a short circuit inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】複数のXYロボットと各ロボットに付属
するプローブでプリント基板の導通,短絡検査を行なう
プリント基板検査設備で使用する検査データを作成する
従来の方法の一例について図面を参照しながら説明す
る。
2. Description of the Related Art An example of a conventional method for creating inspection data used in a printed circuit board inspection facility for inspecting continuity and short circuit of a printed circuit board by a plurality of XY robots and probes attached to each robot will be described with reference to the drawings. To do.

【0003】図9は、検査データを作成する従来の手順
を示したフロー図である。まず作業者は基板の設計情報
から、基板上の導通,短絡情報を取り出し(ステップ#
30)、各ロボットの動作範囲から干渉回避を考慮した
動きになるように入手で各ポイントをティーチング作業
で座標値を取り込み(ステップ#31)、プリント基板
検査用のデータを作成していく。
FIG. 9 is a flow chart showing a conventional procedure for creating inspection data. First of all, the operator extracts the continuity and short circuit information on the board from the board design information (step #
30), the coordinate values are acquired by the teaching work for each point by obtaining from the operation range of each robot so as to avoid interference, and the data for the printed circuit board inspection is created.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな方法では、複数のロボットがそれぞれに取り付けら
れたプローブを動かして検査するデータを作成するため
には、人間が各ロボットの干渉回避を考慮しながら1ポ
イントずつデータを作成するといった手間のかかる作業
が発生するといった問題点がある。また、作業者の熟練
度により作成する検査データの品質に大きな差があると
いった問題点がある。
However, in the method described above, in order to generate data to be inspected by moving the probes attached to each of a plurality of robots, a human being considers the avoidance of interference between the robots. However, there is a problem that a troublesome work such as creating data one point at a time occurs. There is also a problem that there is a large difference in the quality of inspection data created depending on the skill of the operator.

【0005】本発明は、人が判断しながら作成するとい
った時間のかかる工程を、コンピュータを使うことによ
り、誰が作成しても干渉回避を考慮した同じ品質のデー
タが効果的に作成できる方法を提供することを目的とす
る。
The present invention provides a method capable of effectively creating data of the same quality in consideration of interference avoidance by anyone using a computer for a time-consuming process of making judgments by a person. The purpose is to do.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の基板検査データの作成方法は、複数のXYロ
ボットとプローブを使用して電子部品を実装するプリン
ト基板の導通検査装置を動作させる検査データの作成方
法であって、プリント基板のネットリスト情報を各ネッ
ト単位で分割する第1工程と、各ネット内で基準となる
ポイントを抽出する第2工程と、各ネット内で基準のポ
イントと他のポイントのペア情報を作成する第3工程
と、座標値の関係からどのプローブで検査するのかを割
り当てる第4工程からなり、XYロボットの干渉回避を
考慮したデータを自動的に作成する特徴と、表側と裏側
にそれぞれ複数のプローブを有し、第4工程後に複数の
プローブを同時に動かせるように検査データを変換する
手順を備えたことを特徴としたプリント基板検査データ
作成方法である。
In order to achieve the above object, a method for creating board inspection data according to the present invention operates a continuity inspection apparatus for a printed board which mounts electronic components using a plurality of XY robots and probes. A method of creating inspection data, comprising: a first step of dividing the netlist information of the printed circuit board for each net, a second step of extracting a reference point in each net, and a reference step in each net. It consists of a third step of creating pair information of points and other points, and a fourth step of assigning which probe to inspect based on the relationship of coordinate values, and automatically creates data considering the interference avoidance of the XY robot. It has a plurality of probes on the front and back sides, and a procedure for converting the inspection data so that the probes can be moved simultaneously after the fourth step. A printed circuit board inspection data creation method and symptoms.

【0007】[0007]

【作用】本発明は上記した構成により、まず各ネット内
での検査データ(基準ポイントと他のポイントとの組合
わせデータ)の作成を行ない、次に座標値から使用する
プローブを決定することでプローブ干渉回避が可能にな
り、他のネットのデータと結合させることで容易に1枚
のプリント基板の導通,短絡検査データを作成すること
が可能となり、従来の人手1ポイントずつ座標値を確認
し、各ロボットの干渉回避を行なった検査データを作成
するといった時間のかかる作業工程が不要になり、短時
間で作業者の熟練度に関係なく品質の高いプリント基板
の導通,短絡検査データの作成が可能となる。
According to the present invention, the inspection data (combination data of the reference point and other points) in each net is first created by the above-mentioned configuration, and then the probe to be used is determined from the coordinate value. It becomes possible to avoid probe interference, and it is possible to easily create data for conducting and short-circuiting inspection of one printed circuit board by combining it with the data of other nets. It is possible to check coordinate values one by one with the conventional manual operation. This eliminates the need for time-consuming work processes such as creating inspection data that avoids interference between robots, and makes it possible to create high-quality printed circuit continuity and short-circuit inspection data in a short time regardless of the skill level of the operator. It will be possible.

【0008】[0008]

【実施例】実施例を説明する前に、本発明の基板検査デ
ータ作成方法で作成した基板検査データで動作する基板
検査機について説明する。図6は基板検査機の外観図で
ある。17は基板表面を検査するプローブを動かすXY
ロボット、18は基板表面プローブコンタクトユニッ
ト、19は基板裏面を検査するプローブを動かすXYロ
ボット、20は基板裏面プローブコンタクトユニット、
21は基板保持部である。プローブコンタクトユニット
の先にはプローブが取り付けられている。基板を基板保
持部に取り付けた後、設備を制御するコンピュータから
検査スタートの信号が送られると、上下にある各XYロ
ボットがそれぞれに取り付けてある4つのプローブを同
時に動かしプリント基板に接触させ電気を流すことによ
り導通,短絡の基板検査を実行するものである。以下に
記述する実施例の中に出てくるプローブ番号は、図7に
示すように、22をプローブ1、23をプローブ2、2
4をプローブ3、25をプローブ4と定義した場合のも
のである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Before describing the embodiments, a board inspection machine that operates with board inspection data created by the board inspection data creation method of the present invention will be described. FIG. 6 is an external view of the board inspection machine. Reference numeral 17 is XY for moving the probe for inspecting the substrate surface
Robot, 18 is a substrate front surface probe contact unit, 19 is an XY robot that moves a probe for inspecting the back surface of the substrate, 20 is a substrate back surface probe contact unit,
Reference numeral 21 is a substrate holding portion. A probe is attached to the tip of the probe contact unit. After mounting the board on the board holding part, when the inspection start signal is sent from the computer that controls the equipment, each of the XY robots above and below moves the four probes attached to it simultaneously to contact the printed board and turn on the electricity. By flowing it, the board inspection for conduction and short circuit is executed. As shown in FIG. 7, the probe numbers appearing in the examples described below are 22 for probe 1, 23 for probe 2, 2
4 is defined as probe 3 and 25 is defined as probe 4.

【0009】以下に本発明の一実施例を図面を参照しな
がら説明する。図1は、両面基板用の導通,短絡検査デ
ータの一連の作成手順を示したフローチャートである。
まずCADから基板上の結線情報であるネットリストを
出力し(ステップ#1)、コンピュータ内に登録する。
このネットリストには、ネット各称、検査ポイントの存
在する基板面(表,裏)、ピン名称、検査ポイントの座
標値(X,Y)、検査方式(導通検査,短絡検査)の各
情報が登録されている。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a flow chart showing a series of procedures for creating continuity / short circuit inspection data for a double-sided board.
First, the CAD outputs a net list which is the connection information on the board (step # 1) and registers it in the computer.
In this netlist, each net name, board surface (front and back) on which inspection points exist, pin names, inspection point coordinate values (X, Y), and inspection method (continuity inspection, short-circuit inspection) are included. It is registered.

【0010】コンピュータ内部では、ネットリスト内を
ネット単位で分割し、更に各ネット内で表面のポイント
と裏面のポイントに分割し、それぞれの中の導通検査ポ
イントで最もX座標値の小さいもの(X座標値が同じ場
合はY座標値の小さいもの)を基準ポイントとして抽出
(ステップ#2)。図2は基準ポイントを抽出する具体
例である。1はネットリスト内でネット単位で分割され
た後の状態である。図2では、データを簡略化して記述
しており、左からネット名、基板面、測定ランドのX座
標、Y座標、検査区分(導通:0,短絡:S)のみ表現
している。1の状態から表面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内(2)、裏面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内(3)、表面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内(4)、裏面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内(5)でそれぞれX座標値による昇順ソ
ートを行う。6はソート結果である。このデータで表面
に存在する導通検査用のポイントでX座標値が最小のも
の(7)と、裏面に存在する導通検査用のポイントでX
座標値が最小のもの(8)を基準ポイントとして抽出す
る。
Inside the computer, the net list is divided into nets, and further, each surface is divided into a front surface point and a back surface point, and the continuity inspection point in each of them has the smallest X coordinate value (X If the coordinate values are the same, the one with the smaller Y coordinate value) is extracted as the reference point (step # 2). FIG. 2 is a specific example of extracting the reference points. 1 is a state after being divided in net units in the net list. In FIG. 2, the data is simplified and described, and only the net name, the substrate surface, the X coordinate, the Y coordinate of the measurement land, and the inspection category (conduction: 0, short circuit: S) are shown from the left. From the state of 1 in the point data for continuity inspection existing on the front surface (2), in the point data for continuity inspection existing on the back surface (3), in the point data for short circuit inspection existing on the front surface (4), back surface Within the point data for short circuit inspection existing in (5), ascending order is performed by the X coordinate value. 6 is a sorting result. In this data, the point for the continuity test existing on the front surface has the smallest X coordinate value (7), and the point for the continuity test existing on the back surface shows X.
The one with the smallest coordinate value (8) is extracted as the reference point.

【0011】次に各々のネット内で、抽出した基準ポイ
ントと他のポイントを組合せ検査箇所の情報を作成する
(ステップ#3)。図3は、検査情報作成のフローチャ
ートである。まず、データを1行読み込んだ後(ステッ
プ#12)、前行のネット名と同じかどうかを比較する
(ステップ#13)。新しいネット名の場合、ポイント
が表面のポイントの場合のプローブ1、裏面のポイント
の場合プローブ3とプローブ番号を決定し仮の基準ポイ
ントとする(ステップ#14〜ステップ#18)。同じ
ネット名の場合は、表裏どちらのポイントかによってプ
ローブ番号を決定する。基準ポイントが表面でかつ現在
の読み込み行のポイントが表面の場合プローブ2、基準
ポイントが表面でかつ現在の読み込み行が裏面の場合プ
ローブ3、基準ポイントが裏面でかつ現在の読み込み行
が表面の場合プローブ2、基準ポイントが裏面でかつ現
在の読み込み行が裏面の場合プローブ4に割り付ける
(ステップ#19〜ステップ#28)。但し、前行が表
面のポイントで現在読み込み行のポイントが裏面のポイ
ントの場合は(逆の場合もあり)、基準ポイントデータ
を裏面(または表面)のものに更新している。この処理
は、表面のポイントどおしまたは裏面のポイントどおし
をできるだけペアにすることで4プローブ同時に検査可
能になるようにし、検査動作時間を短くするためであ
る。この処理を最終行まで繰返し(ステップ#29)、
各プローブにポイントを振り分けた検査情報を作成す
る。この一連の動作により導通検査部の干渉回避が考慮
されたデータに変換されることになる。短絡検査部は、
プローブ1とプローブ2に割り付けられた座標値を比較
し、X1>X2ならずX1,Y1とX2,Y2の座標値
を入れ替える。プローブ3とプローブ4も同様に行うこ
とで全検査ポイントの干渉回避が実現できる。具体的な
データによる処理結果を図4に示す。ステップ#2で作
成したデータ(9)より表面の基準ポイントは他の表面
のポイントと組合わせ(10)、裏面の基準ポイントは
裏面のポイントと組合わせるように作成する(11)。
但し導通検査用のポイントが表面から裏面(または裏面
から表面)へとつながっている場合(スルーホール存在
時)は、表面の基準ポイントと裏面の基準ポイントとの
組合わせにする(12)。この一連の処理で検査箇所の
情報が作成される(13)。図3中のXまたはYの後の
数字はプローブ番号を示している。ここで図6に示すよ
うなプローブ番号定義になっている場合、X1の座標値
≦X2の座標値、X3の座標値≦X4の座標値でなけれ
ば各プローブが干渉するため、この条件に合っていない
組合せデータのみX1,Y1座標とX2,Y2座標の入
れ替えまたは、X3,Y3座標とX4,Y4座標の入れ
替えを行う(ステップ#4)。
Next, in each net, the extracted reference point and other points are combined to create information on the inspection location (step # 3). FIG. 3 is a flowchart of the inspection information creation. First, after reading one line of data (step # 12), it is compared whether it is the same as the net name of the previous line (step # 13). In the case of a new net name, the probe 1 is determined when the point is a front surface point, and the probe number is determined in the case of a back surface point, and the probe number is determined as a temporary reference point (steps # 14 to # 18). If the net name is the same, the probe number is decided depending on whether the point is on the front or back. Probe 2 if the reference point is the front side and the point of the current read line is the front side. Probe 3 if the reference point is the front side and the current read line is the back side. If the reference point is the back side and the current read line is the front side. When the probe 2, the reference point is the back surface and the current read line is the back surface, it is assigned to the probe 4 (steps # 19 to # 28). However, when the preceding line is the front side point and the current read line point is the back side point (there may be the reverse), the reference point data is updated to the back side (or front side). This process is intended to shorten the inspection operation time by making it possible to inspect four probes at the same time by forming pairs of points on the front surface or points on the back surface as much as possible. This process is repeated until the last line (step # 29),
Create inspection information by allocating points to each probe. Through this series of operations, the data is converted into data in which the interference avoidance of the continuity inspection unit is considered. The short circuit inspection section
The coordinate values assigned to the probe 1 and the probe 2 are compared, and the coordinate values of X1, Y1 and X2, Y2 are exchanged instead of X1> X2. By similarly performing the probe 3 and the probe 4, it is possible to avoid interference at all inspection points. The processing result by concrete data is shown in FIG. From the data (9) created in step # 2, the reference point on the front side is combined with the point on the other surface (10), and the reference point on the back side is combined with the point on the back side (11).
However, when the point for continuity inspection is connected from the front surface to the back surface (or from the back surface to the front surface) (when there is a through hole), the front surface reference point and the back surface reference point are combined (12). Information on the inspection location is created by this series of processing (13). The number after X or Y in FIG. 3 indicates the probe number. If the probe numbers are defined as shown in FIG. 6, each probe interferes unless the coordinate value of X1 ≦ the coordinate value of X2 and the coordinate value of X3 ≦ the coordinate value of X4. Only the uncombined data is replaced with the X1, Y1 coordinates and the X2, Y2 coordinates or with the X3, Y3 coordinates and the X4, Y4 coordinates (step # 4).

【0012】上記状態のデータを表面のポイントと表面
のポイントとの組み合わせ、裏面のポイントと裏面のポ
イントとの組み合わせ、表面のポイントと裏面のポイン
トとの組み合わせの3のパターンに分類する(ステップ
#5)。表面のポイントと表面のポイントとの組み合わ
せになったデータと裏面のポイントと裏面のポイントと
の組み合わせになったデータは同時に4つのプローブを
動作させて検査することが可能なため、同時に2箇所
(測定ポイント4箇所)検査可能な検査データ変換する
(ステップ#6)。
The data of the above state is classified into three patterns of a combination of front surface points and front surface points, a combination of rear surface points and rear surface points, and a combination of front surface points and rear surface points (step # 5). Data that is a combination of points on the front surface and points on the front surface and data that is a combination of points on the back surface and points on the back surface can be inspected by operating four probes at the same time. (4 measurement points) Convert inspection data that can be inspected (step # 6).

【0013】次に表面のポイントと裏面のポイントとの
組み合わせは、表面側のポイントをX座標値を昇順にソ
ート(X座標値が同じところはY座標値昇順ソート)し
中央値を抽出し(ステップ#7)、別々のプローブに振
り分ける(ステップ#8)。同様の処理を裏面側のポイ
ントにも行なう(ステップ#9)。図4は、図1のステ
ップ#7からステップ#9までの内容を示したものであ
る。14は振り分け前のデータ、15は表面、裏面それ
ぞれにおける中央値抽出時の例、16は振り分け後のデ
ータを示す。
Next, regarding the combination of the points on the front side and the points on the back side, the points on the front side are sorted in ascending order of X coordinate values (where the X coordinate values are the same, ascending order of Y coordinate values), and the median value is extracted ( In step # 7), the probes are distributed to different probes (step # 8). The same process is performed for the points on the back side (step # 9). FIG. 4 shows the contents of steps # 7 to # 9 in FIG. 14 is data before distribution, 15 is an example at the time of extracting the median value on each of the front surface and the back surface, and 16 is data after distribution.

【0014】ステップ#9までの処理でできたデータに
対し、プローブ1とプローブ3の組み合わせとプローブ
2とプローブ4の組み合わせは同時にプローブを動作さ
せることが可能なため、ステップ#6と同様に同時に2
箇所(測定ポイント4箇所)検査する検査データに変換
する。同様にプローブ1プローブ4の組み合わせとプロ
ーブ2とプローブ3の組み合わせも同時に検査可能なデ
ータに変換する(ステップ#10)。ここでステップ#
6、ステップ#10で作成したデータを結合し、基板検
査データを作成する(ステップ#11)。これにより両
面基板を検査する検査データの作成が終了する。図8
は、作成された基板検査データの座標点の軌跡を示して
いる。図中の番号は、移動順に示す。
With respect to the data generated by the processing up to step # 9, the combination of probe 1 and probe 3 and the combination of probe 2 and probe 4 can simultaneously operate the probes. Two
Converts to the inspection data to be inspected (4 measurement points). Similarly, the combination of probe 1 and probe 4 and the combination of probe 2 and probe 3 are simultaneously converted into inspectable data (step # 10). Step here #
6. Combine the data created in step # 10 to create board inspection data (step # 11). This completes the creation of the inspection data for inspecting the double-sided board. Figure 8
Shows the locus of the coordinate points of the created board inspection data. The numbers in the figure indicate the order of movement.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上のように本発明は、CADよりネッ
トリスト情報を受け取り、コンピュータ内部で自動的に
検査ポイントの座標値の関係からプローブを割り付け、
各ロボットの干渉回避を行うプログラムを持たせること
により、ティーチングにより1ポイントずつデータを取
り込み、人間がロボット干渉回避を考慮して検査データ
作成を行うといった時間がかかりミスも発生する工程を
排除し、短時間でデータ作成者による品質の差のない基
板検査データの作成が可能となる。
As described above, according to the present invention, the netlist information is received from the CAD, and the probe is automatically allocated in the computer from the relation of the coordinate values of the inspection points.
By providing a program to avoid interference of each robot, data is acquired point by point by teaching, eliminating the time-consuming and error-prone process of human beings creating inspection data in consideration of robot interference avoidance. It is possible for the data creator to create the board inspection data with no difference in quality in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例におけるプリント基板検査デ
ータ作成方法の一実施例を示すフローチャート図
FIG. 1 is a flowchart showing an embodiment of a printed circuit board inspection data creating method according to an embodiment of the present invention.

【図2】本実施例では行っている各ネット内の基準ポイ
ントの抽出方法を示した説明図
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a method of extracting reference points in each net, which is performed in this embodiment.

【図3】プローブ割り当て方法のフローチャート図FIG. 3 is a flowchart of a probe allocation method.

【図4】本実施例で行っている基準ポイントと他のポイ
ントから検査情報を作成する内容を説明した説明図
FIG. 4 is an explanatory diagram explaining the contents of creating inspection information from reference points and other points, which is performed in this embodiment.

【図5】本実施例では行っている表面から裏面につなが
っている導通部の検査データの変換内容を説明した説明
FIG. 5 is an explanatory diagram explaining the conversion contents of the inspection data of the conductive portion connected from the front surface to the back surface, which is performed in this embodiment.

【図6】本実施例で使用している基板検査機の概略斜視
FIG. 6 is a schematic perspective view of a substrate inspection machine used in this embodiment.

【図7】本実施例で使用している基板検査機に取り付け
てあるプローブの番号を定義した説明図
FIG. 7 is an explanatory diagram in which the number of the probe attached to the board inspection machine used in this embodiment is defined.

【図8】本実施例で作成した基板検査データの軌跡図FIG. 8 is a trajectory diagram of board inspection data created in this embodiment.

【図9】基板検査データ作成における従来例を示したフ
ローチャート図
FIG. 9 is a flowchart showing a conventional example in creating board inspection data.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,6,9 ネットリスト 17,19 XYロボット 18,20 コンタクトユニット 21 基板保持部 22,23,24 プローブ 1, 6, 9 Netlist 17, 19 XY robot 18, 20 Contact unit 21 Substrate holder 22, 23, 24 Probe

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のXYロボットとプローブを使用し
て電子部品を実装するプリント基板の導通検査装置を動
作させる検査データの作成方法であって、プリント基板
のネットリスト情報を各ネット単位で分割する第1工程
と、各ネット内で基準となるポイントを抽出する第2工
程と、各ネット内で基準のポイントと他のポイントのペ
ア情報を作成する第3工程と、座標値の関係からどのプ
ローブで検査するのかを割り当てる第4工程からなるプ
リント基板検査データ作成方法。
1. A method of creating inspection data for operating a continuity inspection device for a printed circuit board, which mounts electronic components using a plurality of XY robots and probes, wherein the net list information of the printed circuit board is divided for each net. From the relationship between the first step, the second step of extracting a reference point in each net, the third step of creating pair information of the reference point and other points in each net, and the coordinate value A printed circuit board inspection data creating method comprising a fourth step of allocating whether to inspect with a probe.
【請求項2】 両面基板に対して、表側と裏側にそれぞ
れ複数のプローブを有し、第4工程後に複数のプローブ
を同時に動かせるように検査データを変換する工程を備
えたことを特徴とする請求項1記載のプリント基板検査
データ作成方法。
2. The double-sided substrate has a plurality of probes on the front side and the back side, respectively, and further comprises a step of converting inspection data so that the plurality of probes can be moved simultaneously after the fourth step. Item 1. A printed circuit board inspection data creating method according to Item 1.
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