JPH0619290B2 - 自己診断回路 - Google Patents
自己診断回路Info
- Publication number
- JPH0619290B2 JPH0619290B2 JP13543785A JP13543785A JPH0619290B2 JP H0619290 B2 JPH0619290 B2 JP H0619290B2 JP 13543785 A JP13543785 A JP 13543785A JP 13543785 A JP13543785 A JP 13543785A JP H0619290 B2 JPH0619290 B2 JP H0619290B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- output
- self
- diagnosis
- Prior art date
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- Amplifiers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、電子秤や組合せ計量装置等のアンプ回路系の
不良を自己診断できるようにした、自己診断回路に関す
る。
不良を自己診断できるようにした、自己診断回路に関す
る。
（従来技術） 電子秤や組合せ計量装置等の計量装置の故障には種々の
ものがあるが、特にアンプ回路系の故障は外部からは判
断がつかないために、許容範囲を超す計量誤差が生じて
いても、それに気付かずにそのままで使用してしまう危
険がある。
ものがあるが、特にアンプ回路系の故障は外部からは判
断がつかないために、許容範囲を超す計量誤差が生じて
いても、それに気付かずにそのままで使用してしまう危
険がある。
そこで、本出願人は、高精度で計量装置のアンプ回路系
の不良を自己診断できる回路の発明を、特願昭６０−５
５４２号において提案した。
の不良を自己診断できる回路の発明を、特願昭６０−５
５４２号において提案した。
第７図は、このような自己診断回路の原理を説明する回
路図である。図において、ロードセルのブリッジ１の出
力端は演算増幅器２の正負両入力端２ａ，２ｂにそれぞ
れ接続され、また演算増幅器での負入力端２ｂと出力端
２ｃとの間にはフィードバック抵抗Ｒｆが接続され、さ
らに演算増幅器２の正入力端２ａとアースとの間には、
上記フィードバック抵抗Ｒｆと同じ値の分圧抵抗Ｒｄが
接続されて、演算増幅器２とブリッジ１とで差動増幅回
路が形成される。
路図である。図において、ロードセルのブリッジ１の出
力端は演算増幅器２の正負両入力端２ａ，２ｂにそれぞ
れ接続され、また演算増幅器での負入力端２ｂと出力端
２ｃとの間にはフィードバック抵抗Ｒｆが接続され、さ
らに演算増幅器２の正入力端２ａとアースとの間には、
上記フィードバック抵抗Ｒｆと同じ値の分圧抵抗Ｒｄが
接続されて、演算増幅器２とブリッジ１とで差動増幅回
路が形成される。
バイアス抵抗Ｒは、スイッチＳＷとフィードバック抵抗
Ｒｆとの間に接続され、スイッチＳＷが閉じられると、
ブリッジ１の出力電流とバイアス抵抗Ｒを流れる電流が
フィードバック抵抗Ｒｆに流れ、演算増幅器は加算増幅
器として作用する。また、演算増幅器の出力側には、図
示しないちらつき防止用のローパスフィルタと、アナロ
グ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、種々
の演算処理を行なうマイクロコンピュータ等が接続され
る。
Ｒｆとの間に接続され、スイッチＳＷが閉じられると、
ブリッジ１の出力電流とバイアス抵抗Ｒを流れる電流が
フィードバック抵抗Ｒｆに流れ、演算増幅器は加算増幅
器として作用する。また、演算増幅器の出力側には、図
示しないちらつき防止用のローパスフィルタと、アナロ
グ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、種々
の演算処理を行なうマイクロコンピュータ等が接続され
る。
このような回路の自己診断（セルフチェック）は、バイ
アス抵抗Ｒに流れる電流（例えば、基準分銅を載荷した
時のロードセルの出力に相当する電流）を、無載荷時の
ロードセルの出力に加え、その時のＡ／Ｄ変換器の出力
値から、アンプ回路系（プリアンプからＡ／Ｄ変換器の
入力端までの回路系）の不良を判断している。
アス抵抗Ｒに流れる電流（例えば、基準分銅を載荷した
時のロードセルの出力に相当する電流）を、無載荷時の
ロードセルの出力に加え、その時のＡ／Ｄ変換器の出力
値から、アンプ回路系（プリアンプからＡ／Ｄ変換器の
入力端までの回路系）の不良を判断している。
ところが、図のようにブリッジ回路の入力側に感温抵抗
（Ｒｍ１，Ｒｍ２）が挿入されているものにおいては、
その温度による抵抗値変化によって、ロードセルの両出
力端の電位（Ｖ）が変化する。このため、上記バイアス
電圧（Ｖｂｉａｓ）の変化により、セルフチェックの際
に流れるバイアス抵抗Ｒの電流が変化し、これが誤差と
なって現われる。即ち、 Ｖｅｘ＝Ｖｂｉａｓ＋Ｖ … ここに、Ｖｅｘは直流電圧で一定値、Ｖｂｉａｓ、Ｖは
いずれも変化する。
（Ｒｍ１，Ｒｍ２）が挿入されているものにおいては、
その温度による抵抗値変化によって、ロードセルの両出
力端の電位（Ｖ）が変化する。このため、上記バイアス
電圧（Ｖｂｉａｓ）の変化により、セルフチェックの際
に流れるバイアス抵抗Ｒの電流が変化し、これが誤差と
なって現われる。即ち、 Ｖｅｘ＝Ｖｂｉａｓ＋Ｖ … ここに、Ｖｅｘは直流電圧で一定値、Ｖｂｉａｓ、Ｖは
いずれも変化する。
そこで、前記発明では、温度によって変化するロードセ
ルの出力端の電位のドリフト量を検出し、この検出量で
セルフチェックの際に初段増幅器に加えられる電流（基
準分銅相当の電流）が一定になるように補正している。
ルの出力端の電位のドリフト量を検出し、この検出量で
セルフチェックの際に初段増幅器に加えられる電流（基
準分銅相当の電流）が一定になるように補正している。
第８図は、このような自己診断回路の一例を示す回路図
である。図に示すように、ブリッジ回路の出力側に、初
段増幅器２１、増幅器２２、抵抗Ｒ０１〜Ｒ０３等より
なる補正回路２０とドリフト量検出回路３とを接続す
る。
である。図に示すように、ブリッジ回路の出力側に、初
段増幅器２１、増幅器２２、抵抗Ｒ０１〜Ｒ０３等より
なる補正回路２０とドリフト量検出回路３とを接続す
る。
いま、補正回路の抵抗Ｒ０１〜Ｒ０３をドリフト量検出
回路の回路定数に応じて考えることができるものとする
と、この回路は次のように作用する。なおＲ０１＝Ｒ
０２＝Ｒ０３とする。
回路の回路定数に応じて考えることができるものとする
と、この回路は次のように作用する。なおＲ０１＝Ｒ
０２＝Ｒ０３とする。
（１）ドリフト量検出回路３は、Ａ端子、Ｂ端子から入
力したそれぞれの電圧からロードセルの出力端電圧のド
リフト量（Ａ−Ｂ）を検出し、これにＡ端子から入力し
たロードセルの出力電圧を加えて、〔Ａ＋（Ａ−Ｂ）〕
として出力する。但し、この出力信号の値は、ドリフト
量検出回路の回路定数に応じて変えることができるもの
である。
力したそれぞれの電圧からロードセルの出力端電圧のド
リフト量（Ａ−Ｂ）を検出し、これにＡ端子から入力し
たロードセルの出力電圧を加えて、〔Ａ＋（Ａ−Ｂ）〕
として出力する。但し、この出力信号の値は、ドリフト
量検出回路の回路定数に応じて変えることができるもの
である。
一方、補正回路２０においては、Ｃ端子からの入力電圧
（Ｃ）と、ドリフト量検出回路からの入力電圧〔Ａ＋
（Ａ−Ｂ）〕とに基づいて電流加算が行なわれ、その結
果、次のような出力電圧Ｖｏｕｔが得られる。
（Ｃ）と、ドリフト量検出回路からの入力電圧〔Ａ＋
（Ａ−Ｂ）〕とに基づいて電流加算が行なわれ、その結
果、次のような出力電圧Ｖｏｕｔが得られる。
−〔（Ｃ−Ｖ０）＋｛Ａ＋（Ａ−Ｂ）−Ｖ０｝〕… （２）通常状態では、ＳＷ１はオフ、ＳＷ２はオンとな
っており、ドリフト量検出回路のＡ端子、Ｂ端子にはそ
れぞれロードセルの出力端の電圧Ｖ０が入力される。従
って、ドリフト量検出回路からは、 Ａ＋（Ａ−Ｂ）＝Ｖ０＋（Ｖ０−Ｖ０）＝Ｖ０… の電圧が出力され、一方、補正回路のＣ端子にもロード
セルの出力端の電圧Ｖ０が入力される。この結果、補正
回路による加算出力は、次のように表わされる。
っており、ドリフト量検出回路のＡ端子、Ｂ端子にはそ
れぞれロードセルの出力端の電圧Ｖ０が入力される。従
って、ドリフト量検出回路からは、 Ａ＋（Ａ−Ｂ）＝Ｖ０＋（Ｖ０−Ｖ０）＝Ｖ０… の電圧が出力され、一方、補正回路のＣ端子にもロード
セルの出力端の電圧Ｖ０が入力される。この結果、補正
回路による加算出力は、次のように表わされる。
−〔（Ｃ−Ｖ０）＋｛Ａ＋（Ａ−Ｂ）−Ｖ０｝〕＝（Ｖ０−Ｖ０）＋｛Ｖ０＋
（Ｖ０−Ｖ０）−Ｖ０｝＝０… 従って、通常状態においては、ロードセルの出力は、ド
リフト量検出回路や補正回路等の影響を受けずに、初段
増幅器に入力される。
（Ｖ０−Ｖ０）−Ｖ０｝＝０… 従って、通常状態においては、ロードセルの出力は、ド
リフト量検出回路や補正回路等の影響を受けずに、初段
増幅器に入力される。
（３）セルフチェックを行うときには、ＳＷ１をオン、
ＳＷ２をオフに切換える。これによってドリフト量検出
回路のＡ端子にはＶ０の電圧が、Ｂ端子には例えば１／
２Ｖｅｘの電圧（任意の電圧値で良い）が、それぞれ入
力される。その結果、 Ａ＋（Ａ−Ｂ）＝Ｖ０＋（Ｖ０−Ｖｅｘ／２） ＝２Ｖ０−Ｖｅｘ／２… の電圧が、ドリフト量検出回路から出力される。
ＳＷ２をオフに切換える。これによってドリフト量検出
回路のＡ端子にはＶ０の電圧が、Ｂ端子には例えば１／
２Ｖｅｘの電圧（任意の電圧値で良い）が、それぞれ入
力される。その結果、 Ａ＋（Ａ−Ｂ）＝Ｖ０＋（Ｖ０−Ｖｅｘ／２） ＝２Ｖ０−Ｖｅｘ／２… の電圧が、ドリフト量検出回路から出力される。
一方、補正回路のＣ端子には、｛Ｒ２／（Ｒ１＋
Ｒ２）｝Ｖｅｘの電圧が入力されているので、補正回路
による加算出力は、 −〔（Ｃ−Ｖ０）＋｛Ａ＋（Ａ−Ｂ）−Ｖ０）｝］＝〔｛Ｒ２／（Ｒ１＋
Ｒ２）｝Ｖｅｘ−Ｖ０〕＋｛２Ｖ０−Ｖｅｘ／２−Ｖ０｝＝−｛Ｒ２／（Ｒ１＋
Ｒ２）−（１／２）｝Ｖｅｘ… となる。
Ｒ２）｝Ｖｅｘの電圧が入力されているので、補正回路
による加算出力は、 −〔（Ｃ−Ｖ０）＋｛Ａ＋（Ａ−Ｂ）−Ｖ０）｝］＝〔｛Ｒ２／（Ｒ１＋
Ｒ２）｝Ｖｅｘ−Ｖ０〕＋｛２Ｖ０−Ｖｅｘ／２−Ｖ０｝＝−｛Ｒ２／（Ｒ１＋
Ｒ２）−（１／２）｝Ｖｅｘ… となる。
このように、セルフチェックを行なうときにはロードセ
ルの出力端電圧Ｖ０の影響のない式の一定電圧を、初
段増幅器から出力させることができるので、この電圧
を、基準分銅載荷時のロードセルの出力（両出力端の電
位差）に相当するように設定しておけば、温度の影響を
受けない、精密かつ正確なセルフチェックを行なうこと
ができる。
ルの出力端電圧Ｖ０の影響のない式の一定電圧を、初
段増幅器から出力させることができるので、この電圧
を、基準分銅載荷時のロードセルの出力（両出力端の電
位差）に相当するように設定しておけば、温度の影響を
受けない、精密かつ正確なセルフチェックを行なうこと
ができる。
第９図は、従来の自己診断回路の他の例の回路図であ
る。この例においては、第８図の抵抗Ｒ０１、Ｒ０２、
Ｒ０３のかわりに、共通の抵抗Ｒ０を接続し、ドリフト
量検出回路には、増幅器２３と２４を２段縦続して接続
している。
る。この例においては、第８図の抵抗Ｒ０１、Ｒ０２、
Ｒ０３のかわりに、共通の抵抗Ｒ０を接続し、ドリフト
量検出回路には、増幅器２３と２４を２段縦続して接続
している。
（従来技術の問題点） このような従来の自己診断回路においては、温度による
誤差を少なくするために、第９図の印で囲った部分の
抵抗として、絶対温度特性の優れた超精密抵抗を多数使
用する必要があり、このため、コストが高くなるという
問題があった。
誤差を少なくするために、第９図の印で囲った部分の
抵抗として、絶対温度特性の優れた超精密抵抗を多数使
用する必要があり、このため、コストが高くなるという
問題があった。
（発明の目的） 本発明は、上記のような従来技術の問題点の解消を目的
とし、自己診断回路は、相対温度特性の優れた抵抗ネッ
トワークで回路抵抗を構成して、コストを引き下げた自
己診断回路を提供するものである。
とし、自己診断回路は、相対温度特性の優れた抵抗ネッ
トワークで回路抵抗を構成して、コストを引き下げた自
己診断回路を提供するものである。
（発明の概要） 本発明の自己診断回路は、荷重に比例した電気信号を増
幅する演算回路と、計量モードと自己診断モードとの切
換用スイッチと、計量モードにおいては、上記演算回路
の非反転入力端子電圧（基準電圧）と等しい信号を出力
し、自己診断モードにおいては、上記基準電圧に一定の
スパン相当電圧を加えた信号を出力する差動増幅回路と
を備え、該差動増幅回路の出力を上記演算回路に入力し
て、該差動増幅回路の出力と上記基準電圧との差を出力
するように構成したことを特徴とするものである。
幅する演算回路と、計量モードと自己診断モードとの切
換用スイッチと、計量モードにおいては、上記演算回路
の非反転入力端子電圧（基準電圧）と等しい信号を出力
し、自己診断モードにおいては、上記基準電圧に一定の
スパン相当電圧を加えた信号を出力する差動増幅回路と
を備え、該差動増幅回路の出力を上記演算回路に入力し
て、該差動増幅回路の出力と上記基準電圧との差を出力
するように構成したことを特徴とするものである。
（実施例） 以下、図により本発明の一実施例について説明する。第
１図は、本発明の一実施例を示す回路図である。この実
施例では、差動増幅回路２０を、基準電圧発生用の演算
増幅器２２，２３，２４の、第１段目の加算回路２１′
とにより構成する。そして、加算回路２１′に接続され
る三つの抵抗Ｒｙと、演算増幅器２４（反転回路）に接
続される二つの抵抗Ｒｙ並びに基準電圧発生用の二つの
抵抗Ｒｙは、各々同一のパッケージに配置される、相対
的温度特性の良好な抵抗ネットワークを使用する。又
は、全体を、同一パッケージに配置した相対温度特性の
良好な抵抗ネットワークを使用する。
１図は、本発明の一実施例を示す回路図である。この実
施例では、差動増幅回路２０を、基準電圧発生用の演算
増幅器２２，２３，２４の、第１段目の加算回路２１′
とにより構成する。そして、加算回路２１′に接続され
る三つの抵抗Ｒｙと、演算増幅器２４（反転回路）に接
続される二つの抵抗Ｒｙ並びに基準電圧発生用の二つの
抵抗Ｒｙは、各々同一のパッケージに配置される、相対
的温度特性の良好な抵抗ネットワークを使用する。又
は、全体を、同一パッケージに配置した相対温度特性の
良好な抵抗ネットワークを使用する。
また、演算回路２１に接続される抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２に
は、絶対温度特性の良好な超精密抵抗を用いて、温度変
動に対するスパン及び自己診断の精度を改善している。
なお、演算増幅器２２に接続される基準抵抗Ｒｒ１，Ｒ
ｒ２は、計量装置の種類や計量精度に応じて任意に選定
されるものであり、その抵抗値も、相対温度特性の良好
なものを用いる。
は、絶対温度特性の良好な超精密抵抗を用いて、温度変
動に対するスパン及び自己診断の精度を改善している。
なお、演算増幅器２２に接続される基準抵抗Ｒｒ１，Ｒ
ｒ２は、計量装置の種類や計量精度に応じて任意に選定
されるものであり、その抵抗値も、相対温度特性の良好
なものを用いる。
第２図は、第１の実施例の回路を、計量モードで用いる
場合の回路図で、ロードセルに接続されるＩＮの信号線
に接続されるスイッチＳＷ２をオン、分圧抵抗側に接続
されるスイッチＳＷ１をオフにする。すると、ロードセ
ルの出力電圧（Ｖ０）は、演算増幅器２２，２３，２４
と、加算回路２１′、演算回路２１の非反転入力端子に
それぞれ加えられ、これにより各演算増幅器２２，
２３，２４、加算回路２′のそれぞれの出力電圧は、各
演算増幅器を理想演算増幅器と考えた場合第２図に示す
ようにそれぞれＶ０となる。したがって、Ｒｘ１＝Ｒｘ
２とした場合の演算回路２１の出力は、差動増幅回路２
０の影響を受けない荷重に比例した出力電圧Ｖｏｕｔそ
のものとなる。尚、この場合のスイッチＳＷ１，ＳＷ２
は、半導体スイッチを用いることもできるが、マニュア
ルスイッチを用いてもよい。
場合の回路図で、ロードセルに接続されるＩＮの信号線
に接続されるスイッチＳＷ２をオン、分圧抵抗側に接続
されるスイッチＳＷ１をオフにする。すると、ロードセ
ルの出力電圧（Ｖ０）は、演算増幅器２２，２３，２４
と、加算回路２１′、演算回路２１の非反転入力端子に
それぞれ加えられ、これにより各演算増幅器２２，
２３，２４、加算回路２′のそれぞれの出力電圧は、各
演算増幅器を理想演算増幅器と考えた場合第２図に示す
ようにそれぞれＶ０となる。したがって、Ｒｘ１＝Ｒｘ
２とした場合の演算回路２１の出力は、差動増幅回路２
０の影響を受けない荷重に比例した出力電圧Ｖｏｕｔそ
のものとなる。尚、この場合のスイッチＳＷ１，ＳＷ２
は、半導体スイッチを用いることもできるが、マニュア
ルスイッチを用いてもよい。
第３図は、計量装置の自己診断モードにおける回路図
で、計量モードの場合とは反対に、スイッチＳＷ２をオ
フ、スイッチＳＷ１をオンにする。すると、演算増幅器
２２の非反転入力端子電圧は、 ｛但し、Ｖ１はスパン相当電圧 である｝演算増幅器２３の非反転入力端子電圧は、 演算増幅器２４、加算回路２１′、演算回路２１のそれ
ぞれの非反転入力端子電圧は、それぞれＶ０となるの
で、演算増幅器２４の出力電圧は、 演算増幅器２２の出力電圧は、 となる。したがって、加算回路２１′では、 の演算が行われ、その出力電圧（Ｖ１＋Ｖ０）が抵抗Ｒ
ｘ２を介して演算回路２１の反転入力端子に印加され
る。したがって演算回路２１においては、ロードセルの
荷重に比例した信号Ｖoutを考慮に入れて、 Ｖout＋｛（Ｖ１＋Ｖ０）−Ｖ０｝＝Ｖ１＋Ｖout （但し、Ｒｘ１＝Ｒｘ２）の演算が行われて、荷重に比
例した出力Ｖoutとは無関係な一定電圧Ｖ１（スパン相
当電圧）が演算回路２１で加算されて出力される。
で、計量モードの場合とは反対に、スイッチＳＷ２をオ
フ、スイッチＳＷ１をオンにする。すると、演算増幅器
２２の非反転入力端子電圧は、 ｛但し、Ｖ１はスパン相当電圧 である｝演算増幅器２３の非反転入力端子電圧は、 演算増幅器２４、加算回路２１′、演算回路２１のそれ
ぞれの非反転入力端子電圧は、それぞれＶ０となるの
で、演算増幅器２４の出力電圧は、 演算増幅器２２の出力電圧は、 となる。したがって、加算回路２１′では、 の演算が行われ、その出力電圧（Ｖ１＋Ｖ０）が抵抗Ｒ
ｘ２を介して演算回路２１の反転入力端子に印加され
る。したがって演算回路２１においては、ロードセルの
荷重に比例した信号Ｖoutを考慮に入れて、 Ｖout＋｛（Ｖ１＋Ｖ０）−Ｖ０｝＝Ｖ１＋Ｖout （但し、Ｒｘ１＝Ｒｘ２）の演算が行われて、荷重に比
例した出力Ｖoutとは無関係な一定電圧Ｖ１（スパン相
当電圧）が演算回路２１で加算されて出力される。
第４図は、本発明の第２の実施例の回路図である。この
場合には、演算増幅器２３の構成が第１の実施例とは相
違している。
場合には、演算増幅器２３の構成が第１の実施例とは相
違している。
第５図は、第２の実施例の計量モードにおける回路図
で、第２図の場合と同様に、スイッチＳＷ２をオン、ス
イッチＳＷ１をオフにしている。また、この時の各部の
電圧は、図示の通りである。（但し、Ｒｘ１＝Ｒｘ２の
場合） 第６図は、第２の実施例の自己診断モードにおける回路
図で、この場合にも第３図の例と同様に、スイッチＳＷ
２をオフ、スイッチＳＷ１をオンにしている。また、こ
の時の各部の電圧は、図示の通りである。（但し、Ｒｘ
１＝Ｒｘ２の場合） なお、以上の各実施例において、演算増幅器２１′，２
２，２３，２４は、それぞれ市販のローコストの演算増
幅器を使用し、抵抗ネットワークの回路抵抗Ｒｙと共に
一体化された回路素子として構成することができる。
で、第２図の場合と同様に、スイッチＳＷ２をオン、ス
イッチＳＷ１をオフにしている。また、この時の各部の
電圧は、図示の通りである。（但し、Ｒｘ１＝Ｒｘ２の
場合） 第６図は、第２の実施例の自己診断モードにおける回路
図で、この場合にも第３図の例と同様に、スイッチＳＷ
２をオフ、スイッチＳＷ１をオンにしている。また、こ
の時の各部の電圧は、図示の通りである。（但し、Ｒｘ
１＝Ｒｘ２の場合） なお、以上の各実施例において、演算増幅器２１′，２
２，２３，２４は、それぞれ市販のローコストの演算増
幅器を使用し、抵抗ネットワークの回路抵抗Ｒｙと共に
一体化された回路素子として構成することができる。
（発明の効果） 以上説明したように、本発明は、自己診断回路を差動増
幅回路で構成したので、回路を構成する抵抗は相対温度
特性の良好なもので良く、したがって、従来の自己診断
回路よりもコストの低減を図ることができる。
幅回路で構成したので、回路を構成する抵抗は相対温度
特性の良好なもので良く、したがって、従来の自己診断
回路よりもコストの低減を図ることができる。
第１図〜第３図は本発明の第１の実施例の回路図、第４
図〜第６図は本発明の第２の実施例の回路図、第７図は
原理を説明する回路図、第８図、第９図は従来例の回路
図である。 １……ロードセル、２０……差動増幅回路、２１……演
算回路。
図〜第６図は本発明の第２の実施例の回路図、第７図は
原理を説明する回路図、第８図、第９図は従来例の回路
図である。 １……ロードセル、２０……差動増幅回路、２１……演
算回路。
Claims (1)
- 【請求項１】荷重に比例した電気信号を増幅する演算回
路と、計量モードと自己診断モードとの切換用スイッチ
と、計量モードにおいては、上記演算回路の非反転入力
端子電圧（基準電圧）と等しい信号を出力し、自己診断
モードにおいては、上記基準電圧に一定のスパン相当電
圧を加えた信号を出力する差動増幅回路とを備え、該差
動増幅回路の出力を上記演算回路に入力して、該差動増
幅回路の出力と、上記基準電圧との差を出力するように
構成したことを特徴とする自己診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13543785A JPH0619290B2 (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 自己診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13543785A JPH0619290B2 (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 自己診断回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61294318A JPS61294318A (ja) | 1986-12-25 |
| JPH0619290B2 true JPH0619290B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=15151698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13543785A Expired - Lifetime JPH0619290B2 (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 自己診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619290B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10300539B4 (de) * | 2003-01-09 | 2007-05-24 | Daimlerchrysler Ag | Schaltung und Verfahren zur Erfassung von Isolationsfehlern |
-
1985
- 1985-06-21 JP JP13543785A patent/JPH0619290B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61294318A (ja) | 1986-12-25 |
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