JPH0618557A - プリント配線基板の動作確認・導通チェック装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】電子部品や電子回路を実装したプリント配線基
板の動作確認や導通をチェックするための装置におい
て、プローブを電子部品の形状やプリント配線基板のパ
ターンが如何に変わろうともその何れにも適用できるよ
うに配置する。 【構成】複数個のプローブをマトリックス状に配置して
マトリックス状プローブ１を構成し、このプローブをマ
トリックススイッチ回路を介して測定部に接続する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、電子部品や電子回路
を実装したプリント配線基板の動作確認や導通のチェッ
クを行うための装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子部品や電子回路を実装したプ
リント配線基板の動作確認や導通のチェックを行うため
にプローブと呼ばれる装置が使用される。図４はこのよ
うなプローブの側面断面図で、絶縁管２にコイルばね３
が内蔵され、このコイルばね３と絶縁管２を貫通して接
触針４が設けられ、この接触針４のフランジ部４Ａと絶
縁管２の上部とで圧縮性のコイルばね３を保持してい
る。接触針４の上部突出部４Ｂには図示せぬ信号線が接
続され、この信号線に測定部が接続されている。接触針
４の下部突出部４Ｃを図５に示すようにプリント配線基
板５に実装されている電子部品６の導出脚部６Ａに接触
させることにより測定部においてこの電子部品６の、即
ちプリント配線基板５の動作や導通が確認できる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このようなプローブを
使用してプリント配線基板の動作確認や導通テストを行
う場合、プリント配線基板５上の複数個の電子部品６の
露出脚部６Ａの表面にそれぞれプローブ１の接触針４の
下部突出部４Ｃを接触させるので、これら複数本のプロ
ーブ１をまとめて保持する治具を必要とする。この治具
はプリント配線基板の形状、即ち電子部品や導電パター
ンの形状に合わせてその都度製作しなければならないと
いう問題があり、かつ多数種類の治具を保管しなければ
ならないという煩わしさもあった。さらに最近では電子
部品の高密度実装に伴いプローブをプリント配線基板に
当てる際の位置精度が要求されている。

【０００４】また、これらプローブ１の接触針４の上部
突出部４Ｂには１本ずつ信号線を接続し、この信号線を
さらに測定部に接続しなければならず、特に電子部品の
導電ピンやパターンの増大に伴い信号線の数も増え、こ
の数多い信号線の処理や接続のための作業工数が多くな
るという問題があった。この発明の目的は上述した問題
点に鑑み、電子部品の形状、プリント配線基板の形状、
導電パターンの形状に関係なく適用できるプリント配線
基板の動作確認・導通チェック装置を提供することにあ
る。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明では、絶縁管
と、その中空部を貫通する接触針と、前記中空部に内蔵
され、その伸縮により前記接触針を上下動させるコイル
ばねとよりなるプローブの前記接触針をプリント配線基
板に搭載された電子部品や電子回路の導電部に接触さ
せ、前記接触針に接続した信号線を介して測定部に通電
して前記電子部品や電子回路の動作確認や導通のチェッ
クを行うものにおいて、プローブ複数個をマトリックス
状に配置してマトリックス状プローブを構成する。さら
に前記マトリックス状プローブをマトリックススイッチ
回路を介して測定部に接続する。

【０００６】

【作用】この発明によれば、プローブをマトリックス状
に配置してマトリックスプローブを構成したので、その
中の適宜のプローブを選んでプリント配線基板に押し当
てれば、プリント配線基板の形状に関わりなく高い位置
精度でその導体部分（電子部品の露出脚部など）に接触
針が接触して導通チェックや動作確認ができる。

【０００７】

【実施例】図１はこの発明の実施例を示すマトリックス
状プローブの斜視図で、図４に示すプローブ１を複数個
まとめてマトリックス状としたもので接触針４の上部突
出部４Ｂは省略してある。図２はこの発明の実施例であ
るプローブをプリント基板５の表面に押し当てた状態を
示すもので、図における左側の接触針４の下部突出部４
Ｃはプリント基板５に実装されている電子部品６の露出
脚部６Ａに接触して、図示せぬ信号線に導通するが右側
の接触針４は他の導電部に接触していないので導通しな
い。左側の接触針４と右側の接触針４は絶縁管２により
隔離絶縁されているので導通洩れはしない。

【０００８】図３はマトリックススイッチ回路とマトリ
ックス状プローブとを組み合わせた図で、（Ａ）は側面
図、（Ｂ）は（Ａ）のＰ矢視平面図である。７は行導体
で接触針４の下部突出部４Ｃと接続され、８は列導体で
プローブ４の上部突出部４Ｂに接続されている。図３
（Ｂ）に示されるＺなる位置の接触針４を選択しようと
するときはマトリックススイッチ回路の行導体７のＹ２
と列導体８のＸ１を指定すればよい。

【０００９】

【発明の効果】複数個のプローブをマトリックス状に配
置してマトリックス状プローブとしたことによりプリン
ト配線基板の形状、電子部品やパターンの形状如何に拘
らずその都度複数本のプローブを保持する治具を製作す
る必要はなく高い位置精度で導通チェックや動作確認が
行える。さらにマトリックス状プローブをマトリックス
スイッチ回路を介して測定部に接続したことにより接触
針と接続する信号線が少なくなり、たとえば、１０，０
００個所の測定ポイントがあれば従来の方法では１０，
０００本の信号線の配線が必要であるが、本発明によれ
ば行導体（信号線）１００本と列導体（信号線）１００
本の合計２００本の配線でこと足りる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例によるマトリックス状プロー
ブを示す斜視図

【図２】図１に示す状態のプローブの接触針がプリント
配線基板の表面に接触した状態の側面図

【図３】接触針に行導体と列導体とが接続された状態を
示す図で、（Ａ）は側面図、（Ｂ）は（Ａ）のＰ矢視平
面

【図４】単体プローブの側面要部断面図

【図５】単体プローブの接触針がプリント配線基板上の
電子部品の露出脚部に接触した状態の側面要部断面図

【符号の説明】

１ プローブ ２ 絶縁管 ４ 接触針 ４Ｃ 下部突出部 ７ 行導体 ８ 列導体

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】絶縁管と、その中空部を貫通する接触針
   と、前記中空部に内蔵され、その伸縮により前記接触針
   を上下動させるコイルばねとよりなるプローブの前記接
   触針をプリント配線基板に搭載された電子部品や電子回
   路の導電部に接触させ、前記接触針に接続した信号線を
   介して測定部に通電して前記電子部品や電子回路の動作
   確認や導通のチェックを行うものにおいて、プローブ複
   数個をマトリックス状に配置してマトリックス状プロー
   ブを構成したことを特徴とするプリント配線基板の動作
   確認・導通チェック装置。
2. 【請求項２】請求項１記載のものにおいて、マトリック
   ス状プローブをマトリックススイッチ回路を介して測定
   部に接続したことを特徴とするプリント配線基板の動作
   確認・導通チェック装置。