JPH0618232A - 非接触断面画像処理装置 - Google Patents
非接触断面画像処理装置Info
- Publication number
- JPH0618232A JPH0618232A JP19755792A JP19755792A JPH0618232A JP H0618232 A JPH0618232 A JP H0618232A JP 19755792 A JP19755792 A JP 19755792A JP 19755792 A JP19755792 A JP 19755792A JP H0618232 A JPH0618232 A JP H0618232A
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- Japan
- Prior art keywords
- laser micrometer
- weather strip
- cross
- computer
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- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 非接触で短時間に精度の高い断面形状の変化
を把握することが出来、開発の次段階への移行を早める
ことが出来る非接触断面画像処理装置を提供する。 【構成】 ウエザーストリップ１０を中心とする円軌道
上を回転するレーザーマイクロメーター２１、レーザー
マイクロメーター制御装置２２、レーザーマイクロメー
ター２１の検出結果を演算するなど装置全体を制御する
コンピューター２３、前記レーザーマイクロメーター２
１の検出値に基づきコンピューター２３の支援を得て断
面形状の変化を画像するＣＴＲ２５、更に正規の断面形
状の図面を画像データとしてコンピュター２３に取込む
イメージリーダー２４及びそれらの画像を紙面に出力す
るためのプロッター２６よりなる非接触断面画像処理装
置である。
を把握することが出来、開発の次段階への移行を早める
ことが出来る非接触断面画像処理装置を提供する。 【構成】 ウエザーストリップ１０を中心とする円軌道
上を回転するレーザーマイクロメーター２１、レーザー
マイクロメーター制御装置２２、レーザーマイクロメー
ター２１の検出結果を演算するなど装置全体を制御する
コンピューター２３、前記レーザーマイクロメーター２
１の検出値に基づきコンピューター２３の支援を得て断
面形状の変化を画像するＣＴＲ２５、更に正規の断面形
状の図面を画像データとしてコンピュター２３に取込む
イメージリーダー２４及びそれらの画像を紙面に出力す
るためのプロッター２６よりなる非接触断面画像処理装
置である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、車両のボディ開口縁
（特にその曲がり部等）に取付けたウエザーストリップ
等の中空状押出品の断面形状の変化を非接触で検出し、
画像として表示可能な非接触断面画像処理装置に関する
ものである。
（特にその曲がり部等）に取付けたウエザーストリップ
等の中空状押出品の断面形状の変化を非接触で検出し、
画像として表示可能な非接触断面画像処理装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】自動車のボディ開口縁に取付け、ボディ
と窓ガラス・ドアパネル等と隙を塞ぐ中空状押出品のウ
エザーストリップは、ボディ開口縁に沿うよう曲げて取
付けているため、位置によって断面形状が変化する。し
たがって、ウエザーストリップの開発段階では、その曲
げによる断面形状の変化を把握することは、断面設計の
良否を左右する重要な作業である。特にコアメタルで補
強したウエザーストリップ（マルチプレックス）はスト
レッチベンドするため、全体的に伸びの影響を受け、曲
がり部分の断面形状の変化は一層複雑であって、その断
面形状の変化を把握することは極めて重要である。ウエ
ザーストリップはゴムで作られており、曲がり部を切断
して、その断面形状を観察することは出来ず、従来、図
１に示すように、曲がり部を囲んだ型枠に即硬化性シリ
コーンを流込み、硬化させた後、分割して、型枠から取
出し、再度組合わせ、観察したい部分を面直に切断し、
拡大投影させる等して、元の断面形状と比較している。
と窓ガラス・ドアパネル等と隙を塞ぐ中空状押出品のウ
エザーストリップは、ボディ開口縁に沿うよう曲げて取
付けているため、位置によって断面形状が変化する。し
たがって、ウエザーストリップの開発段階では、その曲
げによる断面形状の変化を把握することは、断面設計の
良否を左右する重要な作業である。特にコアメタルで補
強したウエザーストリップ（マルチプレックス）はスト
レッチベンドするため、全体的に伸びの影響を受け、曲
がり部分の断面形状の変化は一層複雑であって、その断
面形状の変化を把握することは極めて重要である。ウエ
ザーストリップはゴムで作られており、曲がり部を切断
して、その断面形状を観察することは出来ず、従来、図
１に示すように、曲がり部を囲んだ型枠に即硬化性シリ
コーンを流込み、硬化させた後、分割して、型枠から取
出し、再度組合わせ、観察したい部分を面直に切断し、
拡大投影させる等して、元の断面形状と比較している。
【０００３】しかしながら、上記従来のウエザーストリ
ップの曲げによる断面形状の変化の観察手段は、結果を
得るまで数日を要し、そのため次の段階への移行が、そ
れだけ遅れると言う問題点がある。
ップの曲げによる断面形状の変化の観察手段は、結果を
得るまで数日を要し、そのため次の段階への移行が、そ
れだけ遅れると言う問題点がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、上記従来のウエザーストリップの曲げによる断面
形状の変化の観察手段は、型枠に即硬化性シリコーンを
流込み、硬化させることを含むため、結果を得るまで数
日を要し、そのため次の段階への移行がそれだけ遅れる
ことである。
点は、上記従来のウエザーストリップの曲げによる断面
形状の変化の観察手段は、型枠に即硬化性シリコーンを
流込み、硬化させることを含むため、結果を得るまで数
日を要し、そのため次の段階への移行がそれだけ遅れる
ことである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】図２乃至図４を参考にし
て説明する。本発明は、ウエザーストリップ１０を中心
とする円軌道上を回転するレーザーマイクロメーター２
１、レーザーマイクロメーター制御装置２２、レーザー
マイクロメーター２１の検出結果を演算するなど装置全
体を制御するコンピューター２３、前記レーザーマイク
ロメーター２１の検出値に基づきコンピューター２３の
支援を得て断面形状の変化を画像化するＣＴＲ２５、更
に正規の断面形状の図面を画像データとしてコンピュタ
ー２３に取込むイメージリーダー２４、及びそれらの画
像を紙面に出力するためのプロッター２６よりなる非接
触断面画像処理装置てある。
て説明する。本発明は、ウエザーストリップ１０を中心
とする円軌道上を回転するレーザーマイクロメーター２
１、レーザーマイクロメーター制御装置２２、レーザー
マイクロメーター２１の検出結果を演算するなど装置全
体を制御するコンピューター２３、前記レーザーマイク
ロメーター２１の検出値に基づきコンピューター２３の
支援を得て断面形状の変化を画像化するＣＴＲ２５、更
に正規の断面形状の図面を画像データとしてコンピュタ
ー２３に取込むイメージリーダー２４、及びそれらの画
像を紙面に出力するためのプロッター２６よりなる非接
触断面画像処理装置てある。
【０００６】
【実施例】先ず図２によって説明すると、１０はウエザ
ーストリップ、２０はそのウエザーストリップ１０の断
面形状を画像化する非接触断面画像処理装置であって、
そのウエザーストリップの同一断面上の凹凸を検出する
レーザーマイクロメーター２１、レーザーマイクロメー
ター制御装置２２、レーザーマイクロメーター２１の検
出結果を演算するなど装置全体を制御するパソコン等コ
ンピューター２３、前記レーザーマイクロメーター２１
の検出値に基づきコンピューター２３の支援を得て断面
形状の変化を画像化するＣＴＲ２５、更に正規の断面形
状の図面を画像データとしてコンピュター２３に取込む
イメージリーダー２４及びそれらの画像を紙面に出力す
るためのプロッター２６よりなる。
ーストリップ、２０はそのウエザーストリップ１０の断
面形状を画像化する非接触断面画像処理装置であって、
そのウエザーストリップの同一断面上の凹凸を検出する
レーザーマイクロメーター２１、レーザーマイクロメー
ター制御装置２２、レーザーマイクロメーター２１の検
出結果を演算するなど装置全体を制御するパソコン等コ
ンピューター２３、前記レーザーマイクロメーター２１
の検出値に基づきコンピューター２３の支援を得て断面
形状の変化を画像化するＣＴＲ２５、更に正規の断面形
状の図面を画像データとしてコンピュター２３に取込む
イメージリーダー２４及びそれらの画像を紙面に出力す
るためのプロッター２６よりなる。
【０００７】なお、レーザーマイクロメーター２１は、
図２に示すように、ウエザーストリップ１０を中心にし
て円軌道上を回転可能に、環状回転板２７に取付ける
か、或いは図３に示すようにさらに直線状往復動可能に
直線軌道２８に取付けたうえ前記環状回転板２７に取付
けるかするが、これに限定されるものではない。また、
本装置にはレーザーマイクロメーター２１の位置をコン
ピューター２３にフィードバックするエンコーダ（図示
省略）も組込んである。
図２に示すように、ウエザーストリップ１０を中心にし
て円軌道上を回転可能に、環状回転板２７に取付ける
か、或いは図３に示すようにさらに直線状往復動可能に
直線軌道２８に取付けたうえ前記環状回転板２７に取付
けるかするが、これに限定されるものではない。また、
本装置にはレーザーマイクロメーター２１の位置をコン
ピューター２３にフィードバックするエンコーダ（図示
省略）も組込んである。
【０００８】レーザーマイクロメーター２１による読取
データーの処理について、図４により説明すると、レー
ザーマイクロメーター２１の回転円軌道の中心を原点と
するｘ，ｙ座標に関して、ｘ軸に対する回転角θiにお
けるウエザーストリップの外面の座標値ｘi，ｙiは次の
式で示すことが出来る。すなわち、 ｘi＝（Ｒ−ｌk−ｄi）ｃｏｓθi ｙi＝（Ｒ−ｌk−ｄi）ｓｉｎθi
データーの処理について、図４により説明すると、レー
ザーマイクロメーター２１の回転円軌道の中心を原点と
するｘ，ｙ座標に関して、ｘ軸に対する回転角θiにお
けるウエザーストリップの外面の座標値ｘi，ｙiは次の
式で示すことが出来る。すなわち、 ｘi＝（Ｒ−ｌk−ｄi）ｃｏｓθi ｙi＝（Ｒ−ｌk−ｄi）ｓｉｎθi
【０００９】但し Ｒ ：レーザーマイクロメーター回転半径 θi：ｘ軸に対する回転角 ｌk：レーザーマイクロメーター円軌道から同心基準円
迄の距離 ｄi：基準円からウエザーストリップ外面迄の読取距離 Ｒ−ｌk−ｄi：原点からウエザーストリップ外面迄の距
離
迄の距離 ｄi：基準円からウエザーストリップ外面迄の読取距離 Ｒ−ｌk−ｄi：原点からウエザーストリップ外面迄の距
離
【００１０】精度の高い環状回転板２７に取付けたレー
ザーマイクロメーター２１を使って、各回転角θiに対
するｄiを検出することにより、上記式によりコンピュ
ーター２３の支援を得てウエザーストリップの外面の各
座標値ｘi，ｙiを非接触で求めることが出来、さらにそ
れに基づいてイメージリーダー２４により断面形状の変
化を画像としてＣＲＴ２５或いはプロッター２６に出力
させることが出来る。
ザーマイクロメーター２１を使って、各回転角θiに対
するｄiを検出することにより、上記式によりコンピュ
ーター２３の支援を得てウエザーストリップの外面の各
座標値ｘi，ｙiを非接触で求めることが出来、さらにそ
れに基づいてイメージリーダー２４により断面形状の変
化を画像としてＣＲＴ２５或いはプロッター２６に出力
させることが出来る。
【００１１】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されるため、
従来、曲がり部を囲んだ型枠に即硬化性シリコーンを流
込み、硬化させた後、分割して、型枠から取出し、再度
組合わせ、観察したい部分を面直に切断し、拡大投影さ
せる等して、元の断面形状と比較していたものに比べ
て、非接触で短時間に精度の高い断面形状の変化を把握
することが出来、開発の次段階への移行を早めることが
出来る。
従来、曲がり部を囲んだ型枠に即硬化性シリコーンを流
込み、硬化させた後、分割して、型枠から取出し、再度
組合わせ、観察したい部分を面直に切断し、拡大投影さ
せる等して、元の断面形状と比較していたものに比べ
て、非接触で短時間に精度の高い断面形状の変化を把握
することが出来、開発の次段階への移行を早めることが
出来る。
【図１】従来例の作業要領を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施例の機器構成図である。
【図３】他の実施例を示す要部正面図である。
【図４】本発明のデーター処理原理図である。
１０ ウエザーストリップ ２０ 非接触断面画像処理装置 ２１ レーザーマイクロメーター ２２ レーザーマイクロメーター制御装置 ２３ コンピューター ２４ イメージリーダー ２５ ＣＲＴ ２６ プロッター ２７ 環状回転板 ２８ 直線軌道
Claims (2)
- 【請求項１】 ウエザーストリップ（１０）を中心とす
る円軌道上を回転するレーザーマイクロメーター（２
１）、レーザーマイクロメーター制御装置（２２）、レ
ーザーマイクロメーター（２１）の検出結果を演算する
など装置全体を制御するコンピューター（２３）、前記
レーザーマイクロメーター（２１）の検出値に基づきコ
ンピューター（２３）の支援を得て断面形状の変化を画
像化するＣＴＲ（２５）、及びこの画像を紙面に出力す
るためのプロッター（２６）よりなる非接触断面画像処
理装置。 - 【請求項２】 ウエザーストリップ（１０）を中心とす
る円軌道上を回転するレーザーマイクロメーター（２
１）、レーザーマイクロメーター制御装置（２２）、レ
ーザーマイクロメーター（２１）の検出結果を演算する
など装置全体を制御するコンピューター（２３）、前記
レーザーマイクロメーター（２１）の検出値に基づきコ
ンピューター（２３）の支援を得て断面形状の変化を画
像化するＣＴＲ（２５）、更に正規の断面形状の図面を
画像データとしてコンピュター（２３）に取込むイメー
ジリーダー（２４）、及びそれらの画像を紙面に出力す
るためのプロッター（２６）よりなる非接触断面画像処
理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19755792A JPH0618232A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 非接触断面画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19755792A JPH0618232A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 非接触断面画像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618232A true JPH0618232A (ja) | 1994-01-25 |
Family
ID=16376479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19755792A Pending JPH0618232A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 非接触断面画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0618232A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07260440A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Ngk Insulators Ltd | 外形形状測定方法及び装置 |
| CN104640666A (zh) * | 2012-09-17 | 2015-05-20 | 西门子公司 | 大型变速齿轮和制造大型变速齿轮的方法 |
-
1992
- 1992-06-30 JP JP19755792A patent/JPH0618232A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07260440A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Ngk Insulators Ltd | 外形形状測定方法及び装置 |
| CN104640666A (zh) * | 2012-09-17 | 2015-05-20 | 西门子公司 | 大型变速齿轮和制造大型变速齿轮的方法 |
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