JPH06181919A - ヘリカルスキャンにおけるスキューアーティファクトの低減方法 - Google Patents
ヘリカルスキャンにおけるスキューアーティファクトの低減方法Info
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- JPH06181919A JPH06181919A JP34205992A JP34205992A JPH06181919A JP H06181919 A JPH06181919 A JP H06181919A JP 34205992 A JP34205992 A JP 34205992A JP 34205992 A JP34205992 A JP 34205992A JP H06181919 A JPH06181919 A JP H06181919A
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
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- Veterinary Medicine (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 １／４−１／４オフセット法を採用するＸ線
ＣＴにおいて、対向ビューデータによる補正を用いて、
一回転の列データより一回転の補正データを得ることが
できて、スキューアーティクトを低減し得る方法を実現
することである。 【構成】 ヘリカルスキャンデータＡ１１から補間デー
タＡ１３を求め、ヘリカルスキャンデータＢ１２との間
で補正係数をそれぞれ乗じて補正データＥ１９を求め
る。次にヘリカルスキャンデータＢ１２から補間データ
Ｂ１４を求め、ヘリカルスキャンデータＡ１１との間で
補正データＡ１５を求める。この補正データＡ１５と補
正データＥ１９とを用いてスライス位置のヘリカルイメ
ージを再構成する。
ＣＴにおいて、対向ビューデータによる補正を用いて、
一回転の列データより一回転の補正データを得ることが
できて、スキューアーティクトを低減し得る方法を実現
することである。 【構成】 ヘリカルスキャンデータＡ１１から補間デー
タＡ１３を求め、ヘリカルスキャンデータＢ１２との間
で補正係数をそれぞれ乗じて補正データＥ１９を求め
る。次にヘリカルスキャンデータＢ１２から補間データ
Ｂ１４を求め、ヘリカルスキャンデータＡ１１との間で
補正データＡ１５を求める。この補正データＡ１５と補
正データＥ１９とを用いてスライス位置のヘリカルイメ
ージを再構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線ＣＴのヘリカルスキ
ャンにおけるスキューアーティファクトの低減方法に関
する。
ャンにおけるスキューアーティファクトの低減方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴはＸ線を被検体の全周若しくは
半周に亘って照射し、被検体を透過したＸ線を検出して
画像を再構成し、得た断層像を画像表示装置に表示して
診断する装置である。
半周に亘って照射し、被検体を透過したＸ線を検出して
画像を再構成し、得た断層像を画像表示装置に表示して
診断する装置である。
【０００３】このＸ線ＣＴによる集団検診が、例えば、
肺癌の早期発見のために行われている。この肺癌の診断
のためには肺を短いピッチでスライスし、多くの断層像
の画像から判断する必要があり、時間的制約もあって、
１回の投影で多くの画像データが得られるヘリカルスキ
ャンによる撮像が行われる。
肺癌の早期発見のために行われている。この肺癌の診断
のためには肺を短いピッチでスライスし、多くの断層像
の画像から判断する必要があり、時間的制約もあって、
１回の投影で多くの画像データが得られるヘリカルスキ
ャンによる撮像が行われる。
【０００４】このヘリカルスキャンにおいて、従来のノ
ーマルスキャンと比べて挙げられる大きな特徴は、スキ
ャン中にテーブル移動が行われることであり、従って、
複数のスライス面に対し、短時間でのデータ収集が可能
なことである。それにより呼吸動の影響を最少限に抑え
ることができ、集団検診時に特に必要な造影効果や検査
効率の向上が期待されている。
ーマルスキャンと比べて挙げられる大きな特徴は、スキ
ャン中にテーブル移動が行われることであり、従って、
複数のスライス面に対し、短時間でのデータ収集が可能
なことである。それにより呼吸動の影響を最少限に抑え
ることができ、集団検診時に特に必要な造影効果や検査
効率の向上が期待されている。
【０００５】通常のヘリカルスキャンはスリップリング
機構によるガントリの連続回転と、患者の体軸方向への
定常若しくは可変速度での移動即ちテーブル移動とを同
期させることにより実現される。従って、データ採取中
にテーブルを移動させないノーマルスキャンと比較する
と、ヘリカルスキャンではデータ採取中にテーブルが移
動してスライス位置からずれるために、得られたイメー
ジにヘリカルスキャン特有のスキューアーティファクト
が発生する。
機構によるガントリの連続回転と、患者の体軸方向への
定常若しくは可変速度での移動即ちテーブル移動とを同
期させることにより実現される。従って、データ採取中
にテーブルを移動させないノーマルスキャンと比較する
と、ヘリカルスキャンではデータ採取中にテーブルが移
動してスライス位置からずれるために、得られたイメー
ジにヘリカルスキャン特有のスキューアーティファクト
が発生する。
【０００６】このスキューアーティファクトを低減する
ためには、ある方向からの撮影データ収集をテーブル位
置の異なる２点で行い、これら２つのデータを用いてイ
メージングしようとするスライス位置におけるデータを
前記２データによって補正して求めることが良いという
ことが判明した。
ためには、ある方向からの撮影データ収集をテーブル位
置の異なる２点で行い、これら２つのデータを用いてイ
メージングしようとするスライス位置におけるデータを
前記２データによって補正して求めることが良いという
ことが判明した。
【０００７】この補正データを求める方法として、Ｘ線
管と検出器とを２回転即ち７２０°に亘って回転させ
て、その回転角度がそれぞれ３６０°異なる点における
データにより補正データを求めていた。
管と検出器とを２回転即ち７２０°に亘って回転させ
て、その回転角度がそれぞれ３６０°異なる点における
データにより補正データを求めていた。
【０００８】この２回転による補正は３６０°毎のデー
タにより補正するので、軸方向の分解能が悪く、且つ、
小さな部分の検出も困難な場合がある。上記の欠点を除
き、スキューアーティファクトを低減させるために種々
のヘリカル用特種画像再構成アルゴリズムが検討されて
いる。１つの方法として、１回転（３６０°）のデータ
について、その対向ビューデータを用いて補正を行うア
ルゴリズムがある。
タにより補正するので、軸方向の分解能が悪く、且つ、
小さな部分の検出も困難な場合がある。上記の欠点を除
き、スキューアーティファクトを低減させるために種々
のヘリカル用特種画像再構成アルゴリズムが検討されて
いる。１つの方法として、１回転（３６０°）のデータ
について、その対向ビューデータを用いて補正を行うア
ルゴリズムがある。
【０００９】このアルゴリズムの説明の前に、或る位置
にあるＸ線管から照射されるＸ線による或る検出器のチ
ャンネルの採取するデータに対向する対向ビューデータ
を図５により説明する。図において、Ｐ（α1 ，θ1 ）
はＸ1 の位置にあるＸ線管からのＸ線を検出器Ａ１のチ
ャンネルＤ1 で検出するデータ、Ｐ（α2 ，θ2 ）はデ
ータＰ（α1 ，θ1 ）の対向ビューＸ2 Ｄ2 により検出
器Ｂ２のチャンネルＤ 2 で検出するデータである。ここ
で、Ｘ線管Ｘ1 ，検出器Ａ１が対向位置にある場合、Ｘ
線管Ｘ2 ，検出器Ｂ２とする。被検体領域３の中心をＯ
とし、Ｘ1 ＯとＸ1 Ｄ1 のなす角度をα1 とする。又、
Ｘ線管の軌跡の円の中心線をＳＯとし、ＳＯとＸ1 Ｄ1
とのなす角をθ1 とする。ここで中心線とは角度を０°
と定めた位置と円の中心Ｏとを結んだ線分である。
にあるＸ線管から照射されるＸ線による或る検出器のチ
ャンネルの採取するデータに対向する対向ビューデータ
を図５により説明する。図において、Ｐ（α1 ，θ1 ）
はＸ1 の位置にあるＸ線管からのＸ線を検出器Ａ１のチ
ャンネルＤ1 で検出するデータ、Ｐ（α2 ，θ2 ）はデ
ータＰ（α1 ，θ1 ）の対向ビューＸ2 Ｄ2 により検出
器Ｂ２のチャンネルＤ 2 で検出するデータである。ここ
で、Ｘ線管Ｘ1 ，検出器Ａ１が対向位置にある場合、Ｘ
線管Ｘ2 ，検出器Ｂ２とする。被検体領域３の中心をＯ
とし、Ｘ1 ＯとＸ1 Ｄ1 のなす角度をα1 とする。又、
Ｘ線管の軌跡の円の中心線をＳＯとし、ＳＯとＸ1 Ｄ1
とのなす角をθ1 とする。ここで中心線とは角度を０°
と定めた位置と円の中心Ｏとを結んだ線分である。
【００１０】Ｘ線管Ｘ2 について、同様に、Ｘ2 ＯとＸ
2 Ｄ2 のなす角をα2 、ＳＯとＸ2Ｄ2 のなす角をθ2
とすれば、この対向ビューＸ1 Ｄ1 とＸ2 Ｄ2 との関係
は次式の通りである。
2 Ｄ2 のなす角をα2 、ＳＯとＸ2Ｄ2 のなす角をθ2
とすれば、この対向ビューＸ1 Ｄ1 とＸ2 Ｄ2 との関係
は次式の通りである。
【００１１】 θ2 ＝θ1 ＋１８０° …（１） α2 ＝−α1 …（２） 次に、Ｘ線ビームとその対向ビームとを用いて補正デー
タを求める方法を説明する。図６はヘリカルスキャンに
おいて、１回転データによる補正データを求める方法の
説明図である。図において、４はヘリカルスキャンの軌
跡で、点Ｐ1 と点Ｐ2 とは対向チャネルの関係にあり、
２点で得られるデータはＰ（α1 ，θ1）及びＰ
（α2 ，θ2 ）である。ＱはデータＰ（α1 ，θ1 ）と
データＰ（α2，θ2 ）とを用いて画像再構成しようと
するスライス位置で、点Ｐ1 から距離ｂ、点Ｐ2 から距
離ａの位置にある。Ｑ点における補正データＰＱ（α，
θ）を求めるための補正係数をω（α1 ，θ1 ），ω
（α2 ，θ2 ）とすれば ω（α1 ，θ1 ）＝ａ／（ａ＋ｂ）＝１−ω（α2 ，θ2 ） …（３） ω（α2 ，θ2 ）＝ｂ／（ａ＋ｂ）＝１−ω（α1 ，θ1 ） …（４） （３）式，（４）式からＱ点における補間データＰＱ
（α，θ）は次式で求められる。
タを求める方法を説明する。図６はヘリカルスキャンに
おいて、１回転データによる補正データを求める方法の
説明図である。図において、４はヘリカルスキャンの軌
跡で、点Ｐ1 と点Ｐ2 とは対向チャネルの関係にあり、
２点で得られるデータはＰ（α1 ，θ1）及びＰ
（α2 ，θ2 ）である。ＱはデータＰ（α1 ，θ1 ）と
データＰ（α2，θ2 ）とを用いて画像再構成しようと
するスライス位置で、点Ｐ1 から距離ｂ、点Ｐ2 から距
離ａの位置にある。Ｑ点における補正データＰＱ（α，
θ）を求めるための補正係数をω（α1 ，θ1 ），ω
（α2 ，θ2 ）とすれば ω（α1 ，θ1 ）＝ａ／（ａ＋ｂ）＝１−ω（α2 ，θ2 ） …（３） ω（α2 ，θ2 ）＝ｂ／（ａ＋ｂ）＝１−ω（α1 ，θ1 ） …（４） （３）式，（４）式からＱ点における補間データＰＱ
（α，θ）は次式で求められる。
【００１２】 ＰＱ（α1 ，θ1 ）＝ＰＱ（α2 ，θ2 ） ＝ω（α1 ，θ1 ）×Ｐ（α1 ，θ1 ）＋ω（α2 ，θ2 ）×Ｐ（α2 ，θ2 ） ＝ω（α1 ，θ1 ）×Ｐ（α1 ，θ1 ）＋｛１−ω（α1 ，θ1 ）｝ ×Ｐ（α2 ，θ2 ） ＝｛１−ω（α2 ，θ2 ）｝×Ｐ（α1 ，θ1 ）＋ω（α2 ，θ2 ） ×Ｐ（α2 ，θ2 ） …（５） （５）式によって対向データを用いて補正データを求め
ることにより、スキューアーティファクトを低減させる
ことができる。但し、この方法では３６０°回転による
データ採取ではあるが、１８０°分の補正データしか得
られないため、データ処理の過程で高周波域強調のフィ
ルタを使用するとノイズが強調されるという問題はあ
る。
ることにより、スキューアーティファクトを低減させる
ことができる。但し、この方法では３６０°回転による
データ採取ではあるが、１８０°分の補正データしか得
られないため、データ処理の過程で高周波域強調のフィ
ルタを使用するとノイズが強調されるという問題はあ
る。
【００１３】前記（５）式の対向データにより補正デー
タを求める方法と同等の他の方法を次に説明する。これ
は補正データＰＱ′（α1 ，θ1 ）とＰＱ′（α2 ，θ
2 ）とを予め加算することなく別々に求め、画像再構成
時に加算して完全な補正データを求めるものである。
タを求める方法と同等の他の方法を次に説明する。これ
は補正データＰＱ′（α1 ，θ1 ）とＰＱ′（α2 ，θ
2 ）とを予め加算することなく別々に求め、画像再構成
時に加算して完全な補正データを求めるものである。
【００１４】 ＰＱ′（α1 ，θ1 ）＝ω（α1 ，θ1 ）×Ｐ（α1 ，θ1 ） ＰＱ′（α2 ，θ2 ）＝ω（α2 ，θ2 ）×Ｐ（α2 ，θ2 ） …（６） 上記（６）式により求めた補正データＰＱ′（α1 ，θ
1 ）とＰＱ′（α2 ，θ2 ）とを用いて、従来のフルリ
コンによってイメージの再構成を行う。（６）式で求め
られる補正データは逆投影法による画像再構成時点で加
算されることにより、完全な補正データとして用いられ
ることになる。
1 ）とＰＱ′（α2 ，θ2 ）とを用いて、従来のフルリ
コンによってイメージの再構成を行う。（６）式で求め
られる補正データは逆投影法による画像再構成時点で加
算されることにより、完全な補正データとして用いられ
ることになる。
【００１５】このようにして最終的に対向ビューデータ
を用いた補正データを求めることにより、スキューアー
ティファクトを低減させることができる。
を用いた補正データを求めることにより、スキューアー
ティファクトを低減させることができる。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近時１／４
−１／４オフセット法というデータ収集の方法が採用さ
れるようになっている。このデータの収集方法は、例え
ば、第３世代と称せられるローテート／ローテート方式
のＸ線ＣＴでは、被検体を中間に置いて互いに対向する
Ｘ線源と多チャネルの検出器を被検体の周りで回転させ
て他方向のデータを収集する場合、Ｘ線源から回転の中
心を通って多チャネル検出器の中央チャネルに照射され
るＸ線が、チャネル間隔即ちサンプル間隔の１／４だけ
ずれた点に入射するように検出器を位置決めしてデータ
を収集する方法を用いている。この方法が１／４−１／
４オフセット方式である。
−１／４オフセット法というデータ収集の方法が採用さ
れるようになっている。このデータの収集方法は、例え
ば、第３世代と称せられるローテート／ローテート方式
のＸ線ＣＴでは、被検体を中間に置いて互いに対向する
Ｘ線源と多チャネルの検出器を被検体の周りで回転させ
て他方向のデータを収集する場合、Ｘ線源から回転の中
心を通って多チャネル検出器の中央チャネルに照射され
るＸ線が、チャネル間隔即ちサンプル間隔の１／４だけ
ずれた点に入射するように検出器を位置決めしてデータ
を収集する方法を用いている。この方法が１／４−１／
４オフセット方式である。
【００１７】この方法によって得られるデータ群は、対
向するＸ線照射点において、一方向からのＸ線照射によ
って得られるものと対向位置からのＸ線照射によって得
られるものとの間には検出器のチャネル間隔、即ちサン
プル間隔の１／２だけのずれがあるので、そのような関
係にあるデータを組み合わせると、検出器のチャネル間
隔即ちサンプル間隔が１／２に細かくなったのと等価な
データに基づいて画像再構成することになり、空間分解
能が高くアーティファクトの少ない画像を得ることがで
きる。
向するＸ線照射点において、一方向からのＸ線照射によ
って得られるものと対向位置からのＸ線照射によって得
られるものとの間には検出器のチャネル間隔、即ちサン
プル間隔の１／２だけのずれがあるので、そのような関
係にあるデータを組み合わせると、検出器のチャネル間
隔即ちサンプル間隔が１／２に細かくなったのと等価な
データに基づいて画像再構成することになり、空間分解
能が高くアーティファクトの少ない画像を得ることがで
きる。
【００１８】しかしながら、このような１／４−１／４
オフセット法によるデータには、正確な対向ビューがな
いので、スキューアーティファクト低減のために（５）
式，（６）式のアルゴリズムをそのまま使用してスライ
ス位置のずれを補正した補正データを求めて画像再構成
しようとしてもアーティファクトの低減ができなかっ
た。
オフセット法によるデータには、正確な対向ビューがな
いので、スキューアーティファクト低減のために（５）
式，（６）式のアルゴリズムをそのまま使用してスライ
ス位置のずれを補正した補正データを求めて画像再構成
しようとしてもアーティファクトの低減ができなかっ
た。
【００１９】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、１／４−１／４オフセット法を採用す
るＸ線ＣＴにおいて、対向ビユーデータを用いて補正デ
ータを得ることができ、スキューアーティファクトを低
減することのできるヘリカルスキャンにおけるスキュー
アーティファクトの低減方法を実現することにある。
で、その目的は、１／４−１／４オフセット法を採用す
るＸ線ＣＴにおいて、対向ビユーデータを用いて補正デ
ータを得ることができ、スキューアーティファクトを低
減することのできるヘリカルスキャンにおけるスキュー
アーティファクトの低減方法を実現することにある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決する第
１の発明は、１／４−１／４オフセット方式を採用する
Ｘ線ＣＴによって行うヘリカルスキャンにおけるスキュ
ーアーティファクトの低減方法であって、最初の半回転
によって得られる第１のヘリカルスキャンデータのほぼ
対向位置にあるオフセットされた第２のヘリカルスキャ
ンデータから隣接データ間の平均操作により補間して前
記第１のヘリカルスキャンデータの正確な対向データで
ある第２の補間データを演算して求める段階と、スライ
ス位置に対する前記第１のヘリカルスキャンデータ段階
と前記第２の補間データとの距離の比に対応する補正係
数をそれぞれ前記各データに乗じて加算し、第１の補正
データを求める段階と、から成り、得られた第１の補正
データを用いてハーフリコンアルゴリズムによりヘリカ
ルイメージを再構成することを特徴とするものである。
１の発明は、１／４−１／４オフセット方式を採用する
Ｘ線ＣＴによって行うヘリカルスキャンにおけるスキュ
ーアーティファクトの低減方法であって、最初の半回転
によって得られる第１のヘリカルスキャンデータのほぼ
対向位置にあるオフセットされた第２のヘリカルスキャ
ンデータから隣接データ間の平均操作により補間して前
記第１のヘリカルスキャンデータの正確な対向データで
ある第２の補間データを演算して求める段階と、スライ
ス位置に対する前記第１のヘリカルスキャンデータ段階
と前記第２の補間データとの距離の比に対応する補正係
数をそれぞれ前記各データに乗じて加算し、第１の補正
データを求める段階と、から成り、得られた第１の補正
データを用いてハーフリコンアルゴリズムによりヘリカ
ルイメージを再構成することを特徴とするものである。
【００２１】第２の発明は、１／４−１／４オフセット
方式を採用するＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャン
におけるスキューアーティファクトの低減方法であっ
て、最初の半回転によって得られる第１のヘリカルスキ
ャンデータにスライス位置への距離に対応する第１の補
正係数を乗じて第２の補正データを演算して求める段階
と、前記第１のヘリカルスキャンデータのほぼ対向位置
にあるオフセットされた第２のヘリカルスキャンデータ
に乗ずる前記第１の補正係数に対応する第２の補正係数
から隣接係数間で平均操作して補間された第３の補正係
数を演算して求める段階と、前記第２のヘリカルスキャ
ンデータに前記第３の補正係数を乗じて、オフセットさ
れた位置における第３の補正データを演算して求める段
階と、から成り、前記第２の補正データと前記第３の補
正データとからフルリコンアルゴリズムによりヘリカル
イメージを再構成することを特徴とするものである。
方式を採用するＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャン
におけるスキューアーティファクトの低減方法であっ
て、最初の半回転によって得られる第１のヘリカルスキ
ャンデータにスライス位置への距離に対応する第１の補
正係数を乗じて第２の補正データを演算して求める段階
と、前記第１のヘリカルスキャンデータのほぼ対向位置
にあるオフセットされた第２のヘリカルスキャンデータ
に乗ずる前記第１の補正係数に対応する第２の補正係数
から隣接係数間で平均操作して補間された第３の補正係
数を演算して求める段階と、前記第２のヘリカルスキャ
ンデータに前記第３の補正係数を乗じて、オフセットさ
れた位置における第３の補正データを演算して求める段
階と、から成り、前記第２の補正データと前記第３の補
正データとからフルリコンアルゴリズムによりヘリカル
イメージを再構成することを特徴とするものである。
【００２２】第３の発明は、１／４−１／４オフセット
方式を採用するＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャン
におけるスキューアーティファクトの低減方法であっ
て、最初の半回転によって得られる第１のヘリカルスキ
ャンデータのほぼ対向位置にあるオフセットされた第２
のヘリカルスキャンデータから隣接データ間の平均操作
により補間して、正確な対向位置にある第２の補間デー
タを演算して求める段階と、スライス位置に対する前記
第１のヘリカルスキャンデータと前記第２の補間データ
との距離の比に対応する補正係数をそれぞれ前記各デー
タに乗じて加算し、第１の補正データを演算して求める
段階と、前記第１の補正データから隣接データ間の平均
操作により補間して前記第１の補正データに対しオフセ
ット位置にある第４の補正データを演算して求める段階
と、から成り、前記第１の補正データと前記第４の補正
データとからフルリコンアルゴリズムによりヘリカルイ
メージを再構成することを特徴とするものである。
方式を採用するＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャン
におけるスキューアーティファクトの低減方法であっ
て、最初の半回転によって得られる第１のヘリカルスキ
ャンデータのほぼ対向位置にあるオフセットされた第２
のヘリカルスキャンデータから隣接データ間の平均操作
により補間して、正確な対向位置にある第２の補間デー
タを演算して求める段階と、スライス位置に対する前記
第１のヘリカルスキャンデータと前記第２の補間データ
との距離の比に対応する補正係数をそれぞれ前記各デー
タに乗じて加算し、第１の補正データを演算して求める
段階と、前記第１の補正データから隣接データ間の平均
操作により補間して前記第１の補正データに対しオフセ
ット位置にある第４の補正データを演算して求める段階
と、から成り、前記第１の補正データと前記第４の補正
データとからフルリコンアルゴリズムによりヘリカルイ
メージを再構成することを特徴とするものである。
【００２３】第４の発明は、１／４−１／４オフセット
方式を採用するＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャン
におけるスキューアーティファクトの低減方法であっ
て、最初の半回転によって得られる第１のヘリカルスキ
ャンデータから隣接データ間の平均操作によって第１の
補間データを演算して求める段階と、後半の半回転によ
って得られる第２のヘリカルスキャンデータから隣接デ
ータ間の平均操作によって第２の補間データを演算して
求める段階と、スライス位置に対する前記第１のヘリカ
ルスキャンデータと前記第２の補間データとの距離の比
に対応する補正係数をそれぞれ前記各データに乗じて加
算し、第１の補正データを演算して求める段階と、前記
第２のヘリカルスキャンデータと前記第１の補間データ
との距離の比に対応する補正係数をそれぞれ前記各デー
タに乗じて加算し、前記第１の補正データに対しオフセ
ット位置にある第５の補正データを演算して求める段階
と、から成り、前記第１の補正データと前記第５の補正
データとからフルリコンアルゴリズムによりヘリカルイ
メージを再構成することを特徴とするものである。
方式を採用するＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャン
におけるスキューアーティファクトの低減方法であっ
て、最初の半回転によって得られる第１のヘリカルスキ
ャンデータから隣接データ間の平均操作によって第１の
補間データを演算して求める段階と、後半の半回転によ
って得られる第２のヘリカルスキャンデータから隣接デ
ータ間の平均操作によって第２の補間データを演算して
求める段階と、スライス位置に対する前記第１のヘリカ
ルスキャンデータと前記第２の補間データとの距離の比
に対応する補正係数をそれぞれ前記各データに乗じて加
算し、第１の補正データを演算して求める段階と、前記
第２のヘリカルスキャンデータと前記第１の補間データ
との距離の比に対応する補正係数をそれぞれ前記各デー
タに乗じて加算し、前記第１の補正データに対しオフセ
ット位置にある第５の補正データを演算して求める段階
と、から成り、前記第１の補正データと前記第５の補正
データとからフルリコンアルゴリズムによりヘリカルイ
メージを再構成することを特徴とするものである。
【００２４】
【作用】最初の半回転において得られたデータに対し、
オフセットされた対向ビューデータを隣接データ間で平
均操作により補間して前記データの正確な対向ビューデ
ータとして、スライス位置に対応する補正係数をそれぞ
れに乗じて、補正データを得る。
オフセットされた対向ビューデータを隣接データ間で平
均操作により補間して前記データの正確な対向ビューデ
ータとして、スライス位置に対応する補正係数をそれぞ
れに乗じて、補正データを得る。
【００２５】又はオフセットされた対向ビューデータに
対し、補正係数間で平均操作により補間して、最初の半
回転によるデータに対しオフセット位置にあるデータと
して求め、スライス位置への距離に対応する補正係数を
乗じて補正データを得る。
対し、補正係数間で平均操作により補間して、最初の半
回転によるデータに対しオフセット位置にあるデータと
して求め、スライス位置への距離に対応する補正係数を
乗じて補正データを得る。
【００２６】上記により得られた補正データは画像再構
成されてスライス位置におけるイメージとされる。
成されてスライス位置におけるイメージとされる。
【００２７】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の方法の実施例
を詳細に説明する。次に、実施例において用いる用語の
定義及び前提条件を説明する。検出器のチャネルの数を
８００個とし、被検体周りの１周のビュー数を１０００
ビューとする。Ｘ線管の位置が０°〜１８０°において
Ｘ線を検出する検出器のチャネル番号をＩとし、１８０
°〜３６０°における検出器のチャネル番号をＩＩとす
る。又、Ｘ線管の位置が０°〜１８０°におけるビュー
番号をＪとしてＪ＝１〜５００，１８０°〜３６０°に
おけるビュー番号をＪＪとしてＪＪ＝５０１〜１０００
とする。
を詳細に説明する。次に、実施例において用いる用語の
定義及び前提条件を説明する。検出器のチャネルの数を
８００個とし、被検体周りの１周のビュー数を１０００
ビューとする。Ｘ線管の位置が０°〜１８０°において
Ｘ線を検出する検出器のチャネル番号をＩとし、１８０
°〜３６０°における検出器のチャネル番号をＩＩとす
る。又、Ｘ線管の位置が０°〜１８０°におけるビュー
番号をＪとしてＪ＝１〜５００，１８０°〜３６０°に
おけるビュー番号をＪＪとしてＪＪ＝５０１〜１０００
とする。
【００２８】従って、（５）式，（６）式における補正
係数ω（α，θ），ヘリカルスキャンデータＰ（α，
θ）と補正データＰＱ（α，θ）を次のように置き換え
る。ビュー番号１〜５００において ω（α1 ，θ1 ）→ω（Ｉ，Ｊ） Ｐ（α1 ，θ1 ）→Ｐ（Ｉ，Ｊ） ＰＱ（α1 ，θ1 ）→ＰＱ（Ｉ，Ｊ） …（７） ビュー番号５０１〜１０００において ω（α2 ，θ2 ）→ω（ＩＩ，ＪＪ） Ｐ（α2 ，θ2 ）→Ｐ（ＩＩ，ＪＪ） ＰＱ（α2 ，θ2 ）→ＰＱ（ＩＩ，ＪＪ） …（８） 又、補正係数ωとヘリカルスキャンデータＰに対し平均
操作による修正を加えた場合、次のように表示する。
係数ω（α，θ），ヘリカルスキャンデータＰ（α，
θ）と補正データＰＱ（α，θ）を次のように置き換え
る。ビュー番号１〜５００において ω（α1 ，θ1 ）→ω（Ｉ，Ｊ） Ｐ（α1 ，θ1 ）→Ｐ（Ｉ，Ｊ） ＰＱ（α1 ，θ1 ）→ＰＱ（Ｉ，Ｊ） …（７） ビュー番号５０１〜１０００において ω（α2 ，θ2 ）→ω（ＩＩ，ＪＪ） Ｐ（α2 ，θ2 ）→Ｐ（ＩＩ，ＪＪ） ＰＱ（α2 ，θ2 ）→ＰＱ（ＩＩ，ＪＪ） …（８） 又、補正係数ωとヘリカルスキャンデータＰに対し平均
操作による修正を加えた場合、次のように表示する。
【００２９】 補正係数：ω→ωω ヘリカルスキャンデータ：Ｐ→ＰＰ …（９） 次にこのような１／４−１／４オフセット方式におい
て、オフセットされたデータを修正して正確な対向ビュ
ーのデータを求める方法を図７に示す。その修正は次の
ように行われる。
て、オフセットされたデータを修正して正確な対向ビュ
ーのデータを求める方法を図７に示す。その修正は次の
ように行われる。
【００３０】図７において、実線の矢印は実測データを
示し、破線の矢印は補間データ（隣接チャネル間で平均
操作を行ったデータ）を示している。１１はビュー番号
が０〜５００におけるヘリカルスキャンデータＡ，１２
はビュー番号が５０１〜１０００におけるヘリカルスキ
ャンデータＢである。又、１３はビュー番号が０〜５０
０における補間データＡ、１４はビュー番号が５０１〜
１０００における補間データＢである。
示し、破線の矢印は補間データ（隣接チャネル間で平均
操作を行ったデータ）を示している。１１はビュー番号
が０〜５００におけるヘリカルスキャンデータＡ，１２
はビュー番号が５０１〜１０００におけるヘリカルスキ
ャンデータＢである。又、１３はビュー番号が０〜５０
０における補間データＡ、１４はビュー番号が５０１〜
１０００における補間データＢである。
【００３１】補間データＡ１３は次式に従ってヘリカル
スキャンデータＡ１１の平均操作によって得られる。 ＰＰ（Ｉ，Ｊ）＝（Ｐ（Ｉ，Ｊ）＋Ｐ（Ｉ−１，Ｊ））／２ …（１０） 補間データＢ１４は次式に従ってヘリカルスキャンデー
タＢ１２の平均操作によって得られる。
スキャンデータＡ１１の平均操作によって得られる。 ＰＰ（Ｉ，Ｊ）＝（Ｐ（Ｉ，Ｊ）＋Ｐ（Ｉ−１，Ｊ））／２ …（１０） 補間データＢ１４は次式に従ってヘリカルスキャンデー
タＢ１２の平均操作によって得られる。
【００３２】 ＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）＝（Ｐ（ＩＩ，ＪＪ）＋Ｐ（ＩＩ−１，ＪＪ））／２ …（１１） このようにして、Ｐ（Ｉ，Ｊ）とＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）及
びＰ（ＩＩ，ＪＪ）とＰＰ（Ｉ，Ｊ）の間に対向ビュー
の関係が成り立つ。ここで、 ＪＪ＝Ｊ＋５００，ＩＩ＝８００−Ｉ＋１，又、Ｉ＝８
００−ＩＩ＋１ 上記のように、１／４−１／４オフセット方式のＸ線Ｃ
Ｔにおいては、オフセットされた対向ビューのデータを
補間して対向ビューデータを求めた上で、補正データを
求めることができる。
びＰ（ＩＩ，ＪＪ）とＰＰ（Ｉ，Ｊ）の間に対向ビュー
の関係が成り立つ。ここで、 ＪＪ＝Ｊ＋５００，ＩＩ＝８００−Ｉ＋１，又、Ｉ＝８
００−ＩＩ＋１ 上記のように、１／４−１／４オフセット方式のＸ線Ｃ
Ｔにおいては、オフセットされた対向ビューのデータを
補間して対向ビューデータを求めた上で、補正データを
求めることができる。
【００３３】（実施例１）上記の前提条件に基づいて実
施例の説明を行う。図１は本発明のヘリカルスキャンに
おけるスキューアーティファクト低減方法の実施例１の
説明図である。図において、図７と同一の部分には同一
の符合を付してある。図中、１５は本実施例によって得
られたビュー番号１〜５００における補正データＡであ
る。
施例の説明を行う。図１は本発明のヘリカルスキャンに
おけるスキューアーティファクト低減方法の実施例１の
説明図である。図において、図７と同一の部分には同一
の符合を付してある。図中、１５は本実施例によって得
られたビュー番号１〜５００における補正データＡであ
る。
【００３４】この実施例１ではビュー番号１〜５００に
おいて得られたヘリカルスキャンデータＢ１２から（１
１）式によって補間データＢ１４のＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）
を求め、これをヘリカルスキャンデータＡ１１のＰ
（Ｉ，Ｊ）の対向ビューデータとして、次に示す（１
２）式のアルゴリズムによって補正データＡ１５のＰＱ
（Ｉ，Ｊ）を求めるものである。
おいて得られたヘリカルスキャンデータＢ１２から（１
１）式によって補間データＢ１４のＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）
を求め、これをヘリカルスキャンデータＡ１１のＰ
（Ｉ，Ｊ）の対向ビューデータとして、次に示す（１
２）式のアルゴリズムによって補正データＡ１５のＰＱ
（Ｉ，Ｊ）を求めるものである。
【００３５】 ＰＱ（Ｉ，ｊ）＝ω（Ｉ，Ｊ）×Ｐ（Ｉ，Ｊ） ＋（１−ω（Ｉ，Ｊ）×ＰＰ（ＩＩ，ＪＪ） …（１２） この実施例では５０１〜１０００ビューにおけるオフセ
ットされたデータを隣接データ間で平均操作を行うこと
により、１〜５００ビューにおけるデータの対向ビュー
データにすることにより、スキューアーティファクトの
低減を計ることができる。
ットされたデータを隣接データ間で平均操作を行うこと
により、１〜５００ビューにおけるデータの対向ビュー
データにすることにより、スキューアーティファクトの
低減を計ることができる。
【００３６】この場合、補正データＡ１５のＰＱ（Ｉ，
Ｊ）は１〜５００ビューにおけるハーフスキャンデータ
であって、画像構成においては、ハーフスキャンデータ
を用いたイメージの再構成を行うものであるため、高周
波域強調のフィルタをリコン時に使用することはできな
い（ここで使用できないというのは使用すると悪影響が
あることを意味する）。
Ｊ）は１〜５００ビューにおけるハーフスキャンデータ
であって、画像構成においては、ハーフスキャンデータ
を用いたイメージの再構成を行うものであるため、高周
波域強調のフィルタをリコン時に使用することはできな
い（ここで使用できないというのは使用すると悪影響が
あることを意味する）。
【００３７】（実施例２）図２は本発明のヘリカルスキ
ャンにおけるスキューアーティファクトの低減方法の実
施例２の説明図である。図において、図１と同等の部分
には同一の符号を付してある。図中、１６はヘリカルス
キャンデータＡ１１のＰ（Ｉ，Ｊ）から求めたＰＱ′
（Ｉ，Ｊ）である補正データＢ、１７はヘリカルスキャ
ンデータＢ１２のＰ（ＩＩ，ＪＪ）から求めたＰＱ′
（ＩＩ，ＪＪ）である補正データＣである。
ャンにおけるスキューアーティファクトの低減方法の実
施例２の説明図である。図において、図１と同等の部分
には同一の符号を付してある。図中、１６はヘリカルス
キャンデータＡ１１のＰ（Ｉ，Ｊ）から求めたＰＱ′
（Ｉ，Ｊ）である補正データＢ、１７はヘリカルスキャ
ンデータＢ１２のＰ（ＩＩ，ＪＪ）から求めたＰＱ′
（ＩＩ，ＪＪ）である補正データＣである。
【００３８】補正データＢ１６のＰＱ′（Ｉ，Ｊ）と補
正データＣ１７のＰＱ′（ＩＩ，ＪＪ）とは次式により
求められる。 ＰＱ′（Ｉ，Ｊ）＝ω（Ｉ，ｊ）×Ｐ（Ｉ，Ｊ） …（１３） ＰＱ′（ＩＩ，ＪＪ）＝ωω（ＩＩ，ＪＪ）×Ｐ（ＩＩ，ＪＪ）…（１４） ここで、ωω（ＩＩ，ＪＪ）は隣接補正係数の平均操作
により求めた補正係数で、次式で表わされる。
正データＣ１７のＰＱ′（ＩＩ，ＪＪ）とは次式により
求められる。 ＰＱ′（Ｉ，Ｊ）＝ω（Ｉ，ｊ）×Ｐ（Ｉ，Ｊ） …（１３） ＰＱ′（ＩＩ，ＪＪ）＝ωω（ＩＩ，ＪＪ）×Ｐ（ＩＩ，ＪＪ）…（１４） ここで、ωω（ＩＩ，ＪＪ）は隣接補正係数の平均操作
により求めた補正係数で、次式で表わされる。
【００３９】 ωω（ＩＩ，ＪＪ）＝（ω（ＩＩ，ＪＪ）＋ω（ＩＩ−１，ＪＪ））／２ …（１５） 補正データＢ１６と補正データＣ１７とは画像再構成時
に加算されて完全な補正データが得られる。
に加算されて完全な補正データが得られる。
【００４０】この実施例２では、補間された補正係数を
用いて対向データと等価なデータを作ることにより、フ
ルリコンアルゴリズムによってヘリカルイメージの再構
成を行うものである。このように補正データＣ１７を対
向ビューデータとすることによりスキューアーティファ
クトを低減させることができる。
用いて対向データと等価なデータを作ることにより、フ
ルリコンアルゴリズムによってヘリカルイメージの再構
成を行うものである。このように補正データＣ１７を対
向ビューデータとすることによりスキューアーティファ
クトを低減させることができる。
【００４１】この方法による対向ビューデータは、ヘリ
カルスキャンデータの平均操作によるものではなく、補
正係数を平均操作して得た補正係数を用いて求めるもの
であるため、空間周波数が上がらず、高周波域強調のフ
ィルタを使用することはできない。実施例１に比べてヘ
リカルスキャンデータについて平均操作を行っていない
ので、空間分解能は良くなるが、ランダムノイズの標準
偏差は大きくなる。
カルスキャンデータの平均操作によるものではなく、補
正係数を平均操作して得た補正係数を用いて求めるもの
であるため、空間周波数が上がらず、高周波域強調のフ
ィルタを使用することはできない。実施例１に比べてヘ
リカルスキャンデータについて平均操作を行っていない
ので、空間分解能は良くなるが、ランダムノイズの標準
偏差は大きくなる。
【００４２】（実施例３）図３は本発明の実施例３の説
明図である。図において、図１と同等の部分には同一の
符号を付してある。図中、１８は隣接する補正データＡ
１５間の平均操作により補間して得たＰＰＱ（ＩＩ，Ｊ
Ｊ）で表される補正データＤである。ここで、ＰＰＱは
Ｑ点における補正データＰＱを平均操作による補間の結
果得た補正データを意味する。
明図である。図において、図１と同等の部分には同一の
符号を付してある。図中、１８は隣接する補正データＡ
１５間の平均操作により補間して得たＰＰＱ（ＩＩ，Ｊ
Ｊ）で表される補正データＤである。ここで、ＰＰＱは
Ｑ点における補正データＰＱを平均操作による補間の結
果得た補正データを意味する。
【００４３】補正データＡ１５は実施例１の補正データ
と同様に、（１２）式により求められる。重複をいとわ
ず次に補正データを求める式を示す。 ＰＱ（Ｉ，Ｊ）＝ω（Ｉ，Ｊ）×Ｐ（Ｉ，Ｊ） ＋（１−ω（Ｉ，Ｊ））×ＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）…（１２） ＰＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）＝（ＰＱ（Ｉ，Ｊ）＋ＰＱ（Ｉ−１，Ｊ））／２ …（１６） 得られたフルスキャンの補正データＡ１５のＰＱ（Ｉ，
Ｊ）と、ＰＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）とを用いて、フルリコン
アルゴリズムによってヘリカルイメージの再構成を行
う。本実施例の方法によれば、補正して得た対向ビュー
データを使用しているので、スキューアーティファクト
を低減させることができる。
と同様に、（１２）式により求められる。重複をいとわ
ず次に補正データを求める式を示す。 ＰＱ（Ｉ，Ｊ）＝ω（Ｉ，Ｊ）×Ｐ（Ｉ，Ｊ） ＋（１−ω（Ｉ，Ｊ））×ＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）…（１２） ＰＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）＝（ＰＱ（Ｉ，Ｊ）＋ＰＱ（Ｉ−１，Ｊ））／２ …（１６） 得られたフルスキャンの補正データＡ１５のＰＱ（Ｉ，
Ｊ）と、ＰＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）とを用いて、フルリコン
アルゴリズムによってヘリカルイメージの再構成を行
う。本実施例の方法によれば、補正して得た対向ビュー
データを使用しているので、スキューアーティファクト
を低減させることができる。
【００４４】この実施例による方法は、実施例１及び実
施例２と比較して、ヘリカルスキャンデータＰ（ＩＩ，
ＪＪ）と、補正データＰＱ（Ｉ，Ｊ）の両方に対して補
間を行っているので、同一のリコン用のフィルタに対し
てイメージが滑らかになる。
施例２と比較して、ヘリカルスキャンデータＰ（ＩＩ，
ＪＪ）と、補正データＰＱ（Ｉ，Ｊ）の両方に対して補
間を行っているので、同一のリコン用のフィルタに対し
てイメージが滑らかになる。
【００４５】この実施例においては高周波域強調のフィ
ルタを使用して行う画像再構成が可能である。 （実施例４）図４は本発明の実施例４の説明図である。
図において、図１及び図７と同等の部分には同一の符号
を付してある。図中、１９はヘリカルスキャンデータＢ
１２と、ヘリカルスキャンデータＡ１１の隣接データ間
の平均操作によって得た補間データＡ１３とによって補
正された補正データＥである。
ルタを使用して行う画像再構成が可能である。 （実施例４）図４は本発明の実施例４の説明図である。
図において、図１及び図７と同等の部分には同一の符号
を付してある。図中、１９はヘリカルスキャンデータＢ
１２と、ヘリカルスキャンデータＡ１１の隣接データ間
の平均操作によって得た補間データＡ１３とによって補
正された補正データＥである。
【００４６】補正データＡ１５と補正データＥ１９は次
式により求められる。 ＰＱ（Ｉ，Ｊ）＝ω（Ｉ，Ｊ）×Ｐ（Ｉ，Ｊ） ＋（１−ω（Ｉ，Ｊ））×ＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）…（１２） ＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）＝（１−ω（ＩＩ，ＪＪ）×ＰＰ（Ｉ，Ｊ） ＋ω（ＩＩ，ＪＪ）×Ｐ（ＩＩ，ＪＪ） …（１７） 得られたフルスキャンの補正データＡ１５のＰＱ（Ｉ，
Ｊ）と、補正データＥ１９のＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）とを用
いて、フルリコンアルゴリズムによってヘリカルイメー
ジの再構成を行う。本実施例の方法によれば、１〜５０
０ビューのヘリカルスキャンデータの平均操作によるデ
ータと５０１〜１０００ビューのヘリカルスキャンデー
タ、及び５０１〜１０００ビューのヘリカルスキャンデ
ータの平均操作によるデータと１〜５００ビューのヘリ
カルスキャンデータとをそれぞれ対向ビューデータとし
て補正されたデータによりフルリコンアルゴリズムを用
いてヘリカルイメージの再構成を行っているので、スキ
ューアーティファクトを低減させることができる。
式により求められる。 ＰＱ（Ｉ，Ｊ）＝ω（Ｉ，Ｊ）×Ｐ（Ｉ，Ｊ） ＋（１−ω（Ｉ，Ｊ））×ＰＰ（ＩＩ，ＪＪ）…（１２） ＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）＝（１−ω（ＩＩ，ＪＪ）×ＰＰ（Ｉ，Ｊ） ＋ω（ＩＩ，ＪＪ）×Ｐ（ＩＩ，ＪＪ） …（１７） 得られたフルスキャンの補正データＡ１５のＰＱ（Ｉ，
Ｊ）と、補正データＥ１９のＰＱ（ＩＩ，ＪＪ）とを用
いて、フルリコンアルゴリズムによってヘリカルイメー
ジの再構成を行う。本実施例の方法によれば、１〜５０
０ビューのヘリカルスキャンデータの平均操作によるデ
ータと５０１〜１０００ビューのヘリカルスキャンデー
タ、及び５０１〜１０００ビューのヘリカルスキャンデ
ータの平均操作によるデータと１〜５００ビューのヘリ
カルスキャンデータとをそれぞれ対向ビューデータとし
て補正されたデータによりフルリコンアルゴリズムを用
いてヘリカルイメージの再構成を行っているので、スキ
ューアーティファクトを低減させることができる。
【００４７】本実施例では上記の様な補正を行っている
ので、同一のリコン用フィルタに対してイメージは滑ら
かになる。又、この方法では従来のすべてのリコン用の
フィルタをそのまま使用することができ、即ち高周波域
強調のフィルタを使用する画像再構成が可能である。
ので、同一のリコン用フィルタに対してイメージは滑ら
かになる。又、この方法では従来のすべてのリコン用の
フィルタをそのまま使用することができ、即ち高周波域
強調のフィルタを使用する画像再構成が可能である。
【００４８】以上説明したように、本実施例１，２，
３，４によれば１／４−１／４オフセット方式において
も、対向ビューデータを用いてデータの補正を行うこと
ができるようになり、スキューアーティファクトの低減
したヘリカルスキャンを行うことができるようになっ
た。
３，４によれば１／４−１／４オフセット方式において
も、対向ビューデータを用いてデータの補正を行うこと
ができるようになり、スキューアーティファクトの低減
したヘリカルスキャンを行うことができるようになっ
た。
【００４９】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように本考案によ
れば、１／４−１／４オフセット法を採用するＸ線ＣＴ
において、オフセットされた対向ビューデータを隣接デ
ータ間で補間することにより対向データを作り、スライ
ス位置に対する距離に応じた按分比例により補正データ
を得て、ヘリカルスキャンにおいてスキューアーティフ
ァクトを低減させることができるようになった。
れば、１／４−１／４オフセット法を採用するＸ線ＣＴ
において、オフセットされた対向ビューデータを隣接デ
ータ間で補間することにより対向データを作り、スライ
ス位置に対する距離に応じた按分比例により補正データ
を得て、ヘリカルスキャンにおいてスキューアーティフ
ァクトを低減させることができるようになった。
【００５０】又、補正係数を隣接係数間で補間すること
により補間された補正係数を得てオフセットされた対向
データを作って画像再構成することによりスキューアー
ティファクトを低減させることができるようになり、実
用上の効果は大きい。
により補間された補正係数を得てオフセットされた対向
データを作って画像再構成することによりスキューアー
ティファクトを低減させることができるようになり、実
用上の効果は大きい。
【図１】本発明の一実施例である実施例１のデータ間の
関係を示す説明図である。
関係を示す説明図である。
【図２】本発明の実施例２のデータ間の関係を示す説明
図である。
図である。
【図３】本発明の実施例３のデータ間の関係を示す説明
図である。
図である。
【図４】本発明の実施例４のデータ間の関係を示す説明
図である。
図である。
【図５】前半の半回転におけるデータと、これの対向ビ
ューのデータとの関係を示す図である。
ューのデータとの関係を示す図である。
【図６】ヘリカルスキャンにおいて１回転データによる
補正データを求める方法の説明図である。
補正データを求める方法の説明図である。
【図７】オフセットされたデータを補正して対向ビュー
データを求める方法の説明図である。
データを求める方法の説明図である。
１１ ヘリカルスキャンデータＡ １２ ヘリカルスキャンデータＢ １３ 補間データＡ １４ 補間データＢ １５ 補正データＡ １６ 補正データＢ １７ 補正データＣ １８ 補正データＤ １９ 補正データＥ
Claims (4)
- 【請求項１】 １／４−１／４オフセット方式を採用す
るＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャンにおけるスキ
ューアーティファクトの低減方法であって、 ほぼ半回転によって得られる第１のヘリカルスキャンデ
ータ（１１）のほぼ対向位置にあるオフセットされた第
２のヘリカルスキャンデータ（１２）から隣接データ間
の平均操作により補間して前記第１のヘリカルスキャン
データ（１１）の正確な対向データである第２の補間デ
ータ（１４）を演算して求める段階と、 スライス位置に対する前記第１のヘリカルスキャンデー
タ（１１）と前記第２の補間データ（１４）との距離の
比に対応する補正係数（ω（Ｉ，Ｊ），１−ω（Ｉ，
Ｊ））をそれぞれ前記各データに乗じて加算し、第１の
補正データ（１５）を求める段階と、から成り、得られ
た第１の補正データ（１５）を用いてイメージを再構成
することを特徴とするヘリカルスキャンにおけるアーテ
ィファクトの低減方法。 - 【請求項２】 １／４−１／４オフセット方式を採用す
るＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャンにおけるスキ
ューアーティファクトの低減方法であって、 ほぼ半回転によって得られる第１のヘリカルスキャンデ
ータ（１１）にスライス位置への距離に対応する第１の
補正係数（ω（Ｉ，Ｊ））を乗じて第２の補正データ
（１６）を演算して求める段階と、 前記第１のヘリカルスキャンデータ（１１）のほぼ対向
位置にあるオフセットされた第２のヘリカルスキャンデ
ータ（１２）に乗ずる前記第１の補正係数（ω（Ｉ，
Ｊ））に対応する第２の補正係数（ω（ＩＩ，ＪＪ））
から隣接係数間で平均操作して補間された第３の補正係
数（ωω（ＩＩ，ＪＪ））を演算して求める段階と、 前記第２のヘリカルスキャンデータ（１２）に前記第３
の補正係数（ωω（ＩＩ，ＪＪ））を乗じて、オフセッ
トされた位置における第３の補正データ（１７）を演算
して求める段階と、から成り、前記第２の補正データ
（１６）と前記第３の補正データ（１７）とからイメー
ジを再構成することを特徴とするヘリカルスキャンにお
けるアーティファクトの低減方法。 - 【請求項３】 １／４−１／４オフセット方式を採用す
るＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャンにおけるスキ
ューアーティファクトの低減方法であって、 ほぼ半回転によって得られる第１のヘリカルスキャンデ
ータ（１１）のほぼ対向位置にあるオフセットされた第
２のヘリカルスキャンデータ（１２）から隣接データ間
の平均操作により補間して、正確な対向位置にある第２
の補間データ（１４）を演算して求める段階と、 スライス位置に対する前記第１のヘリカルスキャンデー
タ（１１）と前記第２の補間データ（１４）との距離の
比に対応する補正係数（ω（Ｉ，Ｊ），１−ω（Ｉ，
Ｊ））をそれぞれ前記各データに乗じて加算し、第１の
補正データ（１５）を演算して求める段階と、 前記第１の補正データ（１５）から隣接データ間の平均
操作により補間して前記第１の補正データ（１５）に対
しオフセット位置にある第４の補正データ（１８）を演
算して求める段階と、から成り、前記第１の補正データ
（１５）と前記第４の補正データ（１８）とからイメー
ジを再構成することを特徴とするヘリカルスキャンにお
けるアーティファクトの低減方法。 - 【請求項４】 １／４−１／４オフセット方式を採用す
るＸ線ＣＴによって行うヘリカルスキャンにおけるスキ
ューアーティファクトの低減方法であって、 ほぼ半回転によって得られる第１のヘリカルスキャンデ
ータ（１１）から隣接データ間の平均操作によって第１
の補間データ（１３）を演算して求める段階と、 後半の半回転によって得られる第２のヘリカルスキャン
データ（１２）から隣接データ間の平均操作によって第
２の補間データ（１４）を演算して求める段階と、 スライス位置に対する前記第１のヘリカルスキャンデー
タ（１１）と前記第２の補間データ（１４）との距離の
比に対応する補正係数（ω（Ｉ，Ｊ），１−ω（Ｉ，
Ｊ））をそれぞれ前記各データに乗じて加算し、第１の
補正データ（１５）を演算して求める段階と、 前記第２のヘリカルスキャンデータ（１２）と前記第１
の補間データ（１３）との距離の比に対応する補正係数
（ω（ＩＩ，ＪＪ），１−ω（ＩＩ，ＪＪ））をそれぞ
れ前記各データに乗じて加算し、前記第１の補正データ
（１５）に対しオフセット位置にある第５の補正データ
（１９）を演算して求める段階と、から成り、前記第１
の補正データ（１５）と前記第５の補正データ（１９）
とからイメージを再構成することを特徴とするヘリカル
スキャンにおけるアーティファクトの低減方法。
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1992
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