JPH06177099A - 半導体ペレットの薄化方法 - Google Patents
半導体ペレットの薄化方法Info
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- JPH06177099A JPH06177099A JP4349894A JP34989492A JPH06177099A JP H06177099 A JPH06177099 A JP H06177099A JP 4349894 A JP4349894 A JP 4349894A JP 34989492 A JP34989492 A JP 34989492A JP H06177099 A JPH06177099 A JP H06177099A
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Abstract
導体ペレットの厚さを、容易に薄くできる半導体ペレッ
ト薄化方法を提供する。 【構成】ウェーハプロセスを終えたウェーハは、裏面研
削を行なわないで、ダイシングする。この研削しない厚
いままのペレットをテーピングした後、テーピングした
状態で、スライシングマシンにより、ペレット主面に平
行に研削して 2分割して薄くする。
Description
方法に関するもので、特にダイシングにより分離された
ペレットを、厚さの薄いペレットに研削加工する技術に
係るものである。
発熱量が増大していること、ICカード等パッケージの
薄型化の用途が拡大していること等により、薄化(例え
ば厚さ150〜 200μm )された半導体ペレットの需要は
増加している。。
に、ウェーハプロセスを終えたウェ―ハを、ダイシング
工程を行なう前に、ウェーハの状態で裏面研削技術を用
いて、薄くする方法が行なわれてきた。
を参照して以下説明する。
基台2上に、素子面側(素子が形成されている面側で、
以下表面と呼ぶ)1aを上にして載置される。ウェーハ
表面の損傷を防止するため、該表面1aに保護テープ3
を、ゴムローラ4を使用して貼り付ける。
してウェーハ1を基台(回転自在)5に載置し、ダイヤ
モンド砥石6を回転して、ウェーハ1の裏面を研削し、
同図(b′)に示すように、ウェーハ厚を薄くする。
上にして、ウェーハ1を基台6に載置し、剥離用テープ
7を重ね、押圧して、保護テープ3が剥離用テープの接
着層と一体化するように接着する。次に同図に示す矢線
F方向に剥離用テープ7を送引して、保護テープ3をウ
ェーハ1より剥離する。
に付着する異物や汚れを除去するため、公知の方法によ
り超音波洗浄及び乾燥を行なう。
ェーハリング9をセットし、裏面を上にしてウェーハ1
を載置する。ゴムローラ4を用い、ウェーハリング9及
びウェーハ1の裏面にダイシングシート10を貼着す
る。
シート10に貼着されたウェーハ1を、表面を上にして
ダイシング装置のチャックテーブル11上にセットす
る。次にダイヤモンドブレード砥石12を高速回転して
ダイシングを行なう。
するには限界があり、例えばその厚さが約 200μm 以下
になると、裏面研削中(図5(b′)に示す工程)及び
裏面研削後の工程でウェーハが割れやすい問題を有して
いる。
があるが、それにともないウェーハ薄化は、より困難な
状態になってきた。
に、半導体ペレットの厚さを薄型化する市場のニーズは
大きいが、その厚さを例えば200 μm 以下にしようとす
ると、従来技術では、裏面研削工程等でウェーハが割れ
やすいという問題があって、薄化がより困難になる。こ
の割れやすい問題は、ウェーハの口径が大きくなればな
るほど顕著に現われる。他方、ウェーハの大口径化は、
半導体装置の製造において、避けることのできない大き
な流れである。
ので、従来のウェーハの裏面研削中の割れ問題を解消
し、半導体ペレットの厚さを、容易に薄くできる半導体
ペレット薄化方法を提供することを目的とする。
より分離したペレットを搬送用テープに該ペレット主面
が接するように貼り付ける工程と、前記テープに貼り付
けたまま該ペレットを該ペレット主面に平行に研削して
2分割する工程とを含むことを特徴とする半導体ペレッ
トの薄化方法である。
上にデバイス群を形成して行くプロセス)を終えたウェ
ーハ(例えば厚さ約 600μm 程度)を、裏面研削せず
に、ダイシングを行ない、その後でダイシングにより分
離したペレットのうち良品ペレットのみをテーピング
(テープにペレットを貼ること)する。次にテーピング
されたペレットを主面に平行にスライシング装置または
これに準ずる装置で研削して 2分割する(換言すればペ
レットの厚さ方向を 2分割する)。
ないので、従来の該工程中のウェーハの割れ問題は解消
され、またあらかじめダイシングしてから裏面研削して
いない厚いペレットをスライシングにより薄化するの
で、薄化を容易に行なうことができる。
て以下説明する。
的な断面図である。基台8上に、ウェーハリング9及び
ウェーハプロセスを終えた厚さ約 600μm のウェーハ2
1をセットする。ウェーハ21は、表面21aが下にな
るように置く。有機物から成るダイシングシート10
を、ゴムローラ4により、ウェーハリング9及びウェー
ハ21の裏面21bに貼付する。
な断面図である。マウントされたウェーハ21は、表面
21aを上にしてチャックテーブル11上に真空吸引に
より固着される。ダイヤモンドブレード砥石12を高速
回転し、ウェーハを個々のペレットに分割するため、采
の目状(本実施例では約(10×10)mm2 )に、少なくと
もダイシングシート10が完全に切断されない深さの切
り溝を形成する。
な側面図である。符号14aは送り用テープリール、1
4bは巻き取り用テープリールで、ダイシングシート1
0上に整列配置された分離ペレットのうち、良品ペレッ
ト22のみを搬送用テープ13に移し替える。
説明するための模式図である。搬送用テープ13にテー
ピングされたペレット22(厚さ約 600μm )は、スラ
イシング装置により、テーピングされたままペレット主
面にほぼ平行に研削して 2分割され、厚さの薄いペレッ
ト23(厚さ約 100〜 200μm )が得られる。
トを切断し薄板を製造する公知の切断機(スライシンク
マシン)に準じた装置である。またスライシングは、ド
ーナツ状薄板の内周に、ダイヤモンド等の砥粒を固着し
た内周刃砥石(ダイヤモンドダイシングブレード)24
を高速回転(約30,000r.p.m )して行なわれる。内周刃
砥石24は、図示してないがリング状の取り付け部を備
え、該取り付け部は装置全体の中では、固定して設置さ
れる。すなわち切断刃は高速回転するが、砥石24の切
断面の位置は固定している。
空ポンプに接続した多孔質材から成る相対する吸着面2
5a、25bと、図示してないが一方の吸着面25aを
他方の吸着面25bに対し近接、離間するように移動さ
せる手段とを備えている。ペレット保持治具25及び搬
送用テープ13を含むペレット供給、収納手段(図示な
し)は、上下及び左右に移動できる移動台に搭載され、
移動台を移動することにより、被加工ペレット22を砥
石24の内周刃に近接してスライスする。
限定されない。切断刃に外周刃を使用することもできる
し、切断刃に純水を噴き付けて冷却する手段等、公知の
スライシングマシンに準じた所要手段を設けることもで
きる。また上記薄化方法は、シリコン以外にGa As そ
の他の化合物半導体にも適用できる。
下にすることが困難であったが、本技術により 100μm
厚と極薄のペレットが製作できるようになった。
さらには今後12インチと大口径化が予想されるが、本技
術はあらかじめダイシングしてから、ペレットをスライ
シングして薄化を行なうので、ウェーハ口径が大きくな
っても、裏面研削中の割れ問題はなく、薄化を容易に行
なうことができる。
を使用し、スライスのための研削代を 100〜 150μm と
すれば、 2分割されたそれぞれのペレット厚は約 200μ
m となる。したがって、ウェーハの両主面に、それそび
れデバイスを形成しておけば、スライシングにより 2分
割したペレットのそれぞれを利用することが可能とな
り、飛躍的にコスト低減を図ることができる。
は、ウェーハの裏面研削を行なわず、ダイシングにより
分離したペレットを、スライスして 2分割することによ
り薄化する。これにより、従来のウェーハの裏面研削中
の割れ問題は解消され、半導体ペレットの厚さを容易に
薄くできる半導体の薄化方法を提供することができた。
示す断面図である。
る。
を、また同図(b)及び(b′)はこれに続く工程を示
すそれぞれ断面図である。
式的に示す断面図である。
式的に示す断面図である。
Claims (1)
- 【請求項1】ダイシングにより分離したペレットを搬送
用テープに該ペレット主面が接するように貼り付ける工
程と、前記テープに貼り付けたまま該ペレットを該ペレ
ット主面に平行に研削して 2分割する工程とを含むこと
を特徴とする半導体ペレットの薄化方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4349894A JPH06177099A (ja) | 1992-12-02 | 1992-12-02 | 半導体ペレットの薄化方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4349894A JPH06177099A (ja) | 1992-12-02 | 1992-12-02 | 半導体ペレットの薄化方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06177099A true JPH06177099A (ja) | 1994-06-24 |
Family
ID=18406831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4349894A Pending JPH06177099A (ja) | 1992-12-02 | 1992-12-02 | 半導体ペレットの薄化方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06177099A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997021243A1 (en) * | 1995-12-04 | 1997-06-12 | Hitachi, Ltd. | Method for processing semiconductor wafer, method for manufacturing ic card, and carrier |
CN113078092A (zh) * | 2021-03-23 | 2021-07-06 | 浙江集迈科微电子有限公司 | 一种超薄芯片的拿取方法 |
-
1992
- 1992-12-02 JP JP4349894A patent/JPH06177099A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997021243A1 (en) * | 1995-12-04 | 1997-06-12 | Hitachi, Ltd. | Method for processing semiconductor wafer, method for manufacturing ic card, and carrier |
US6342434B1 (en) | 1995-12-04 | 2002-01-29 | Hitachi, Ltd. | Methods of processing semiconductor wafer, and producing IC card, and carrier |
US6573158B2 (en) | 1995-12-04 | 2003-06-03 | Hitachi, Ltd. | Methods of processing semiconductor wafer and producing IC card, and carrier |
US6589855B2 (en) | 1995-12-04 | 2003-07-08 | Hitachi, Ltd. | Methods of processing semiconductor wafer and producing IC card, and carrier |
CN113078092A (zh) * | 2021-03-23 | 2021-07-06 | 浙江集迈科微电子有限公司 | 一种超薄芯片的拿取方法 |
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