JPH06168690A - 試料像表示方法 - Google Patents

試料像表示方法

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Publication number
JPH06168690A
JPH06168690A JP4318085A JP31808592A JPH06168690A JP H06168690 A JPH06168690 A JP H06168690A JP 4318085 A JP4318085 A JP 4318085A JP 31808592 A JP31808592 A JP 31808592A JP H06168690 A JPH06168690 A JP H06168690A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
sheet number
operator
cpu10
addition
Prior art date
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Pending
Application number
JP4318085A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadaaki Kohama
禎晃 小浜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP4318085A priority Critical patent/JPH06168690A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 オペレータの負荷を軽くし、操作性を向上さ
せた試料像表示方法を得る。 【構成】 試料像をフレームメモリに取り込む際、あら
かじめ設定されたフレーム加算枚数まで加算平均しなが
ら取り込み、その加算結果をリアルタイムで画像表示す
る試料像表示方法に於いて、所定時間の間、試料像の画
像情報の変化が起きる操作が成されなかった時には(ス
テップ24)、自動的に加算平均枚数を所定の加算枚数
に増加させる(ステップ25)試料像表示方法である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子顕微鏡などのスロ
ースキャン画像情報を扱う装置に用いるに好適な試料像
表示方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の試料像表示方法を備えた装置の構
成を図2に示す。電子顕微鏡1の試料室2内には、ステ
ージ3および2次電子検出器4が載置されており、試料
5は、ステージ3の上に装着されている。試料5の電子
顕微鏡画像情報は、試料から発生する2次電子を2次電
子検出器4が収集し、画像信号増幅器6を経由して、画
像処理装置7に供給される。
【0003】電子顕微鏡1の電子光学系制御回路8およ
びステージ制御回路9は、ホストCPU10の統轄制御
下にあり、オペレータは、ホストCPU10から電子顕
微鏡1を操作できる。画像信号処理装置7に送られた画
像情報は、電子光学系制御回路8から画像処理装置7に
同時に送られる画像アドレス情報と同期してデジタル変
換され、フレームメモリ11に格納される。その際、フ
レームメモリ11に格納される画像データには、あらか
じめホストCPU10から設定された加算枚数値に基づ
いて、リアルタイムで加算平均処理が実行される。フレ
ームメモリ11内に格納された画像データは、画像デー
タ格納動作とは非同期の充分に早い周期でアナログ変換
され、CRT12に常時出力され試料像が表示される。
【0004】例えば、試料像取込み再開の指令が、加算
枚数N枚という条件でホストCPU10から画像処理装
置7に伝達されると、画像処理装置7は、まず1枚の画
像をそのままフレームメモリ11に格納し、2枚目の画
像データ格納の際には、1枚目の画像との加算平均値で
書換えていく。3枚目の画像データ格納の際には、3枚
の画像データが各々、1/3の重みを持つように、フレ
ームメモリ11の画像データを書換えて行く。以後、N
枚目の画像データを1/Nの重みで加算する動作がフレ
ームのエンドまで到達すると、結果としてそこまでのN
枚の画像の加算平均画像が表示されることになる。(N
+1)枚目以降の画像データは、常に1/Nの重み付け
でフレームメモリ11に格納されていき、試料像表示
は、常に新しい画像情報を、1/Nの重み付けで加えて
いくようになる。
【0005】従来のこの種装置におけるホストCPU1
0の動作フローチャートの一例を図3に示す。オペレー
タが例えば加算枚数2枚で画像の取込み表示をホストC
PU10に支持すると(ステップ30)、ホストCPU
10は画像処理装置7にその旨の指示を出す(ステップ
31)。次にオペレータがホストCPU10に画像の移
動を指示すると(ステップ32)、ホストCPU10は
ステージ制御回路9に同様の指示を出す(ステップ3
3)。オペレータがステージ移動が完了した事を確認し
た後、もっとS/Nの良い画像を得ようとするために
は、例えば加算枚数を32枚に指示する必要がある。オ
ペレータが加算枚数32枚をホストCPU10に指示す
ると(ステップ35)、ホストCPU10から画像処理
装置7へ加算枚数32の画像取込みの指示を行なう(ス
テップ35)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記の如き、従来の技
術に於いては、以下に述べるような問題点があった。例
えば、頻繁に画像移動を行なっている時など、画像の変
化を早く知りたい時は、加算枚数を1枚程度の少ない数
にしておく必要があり(例えば、図3のステップ3
0)、画像の状態を固定した後に、よりS/Nの良い試
料像観察を行ないたい場合には、あらためて加算枚数を
増やして画像の再取込みの指令を出す操作をする必要が
あった(例えば、図3のステップ34)。
【0007】本発明はこの様な問題点に鑑みてなされた
もので、上記のような操作において、オペレータの負荷
を軽くし、操作性を向上させる事を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的の為に本発明で
は、一定時間の間、試料像の画像情報の変化が起きる操
作がオペレータより成されなかった時には、自動的に加
算平均枚数を多く設定するようにした。
【0009】
【作用】本発明によれば、オペレータが、加算枚数の少
ない状態で試料像の調整を行なった後、しばらくの間何
もしないと、自動的に加算枚数を増やしていくので、オ
ペレータは何も操作しないで良好なS/Nの試料像を観
察することができる。
【0010】
【実施例】本発明の実施例が適用される装置の構成は図
2と同等であって、電子顕微鏡1の試料室2内には、ス
テージ3および2次電子検出器4が載置されており、試
料5は、ステージ3の上に装着されている。試料5の電
子顕微鏡画像情報は、試料から発生する2次電子を2次
電子検出器4が収集し、画像信号増幅器6を経由して、
画像処理装置7に供給される。
【0011】電子顕微鏡1の電子光学系制御回路8およ
びステージ制御回路9は、ホストCPU10の統轄制御
下にあり、オペレータは、ホストCPU10から電子顕
微鏡1を操作できる。画像処理装置7に送られた画像情
報は、電子光学系制御回路8から画像処理装置7に同時
に送られる画像アドレス情報と同期してデジタル変換さ
れ、フレームメモリ11に格納される。その際、フレー
ムメモリ11に格納される画像データには、あらかじめ
ホストCPU10から設定された加算枚数値に基づい
て、リアルタイムで加算平均処理が実行される。フレー
ムメモリ11内に格納された画像データは、画像データ
格納動作とは非同期の充分に早い周期でアナログ変換さ
れ、CRT12に常時出力され試料像が表示される。
【0012】例えば、試料像取込み再開の指令が、加算
枚数N枚という条件でホストCPU10から画像処理装
置7に伝達されると、画像処理装置7は、まず1枚の画
像をそのままフレームメモリ11に格納し、2枚目の画
像データ格納の際には、1枚目の画像との加算平均値で
書換えていく。3枚目の画像データ格納の際には、3枚
の画像データが各々、1/3の重みを持つように、フレ
ームメモリ11の画像データを書換えて行く。以後、N
枚目の画像データを1/Nの重みで加算する動作がフレ
ームのエンドまで到達すると、結果としてそこまでのN
枚の画像の加算平均画像が表示されることになる。(N
+1)枚目以降の画像データは、常に1/Nの重み付け
でフレームメモリ11に格納されていき、試料像表示
は、常に新しい画像情報を、1/Nの重み付けで加えて
いくようになる。
【0013】本実施例では、一定時間の間、試料像の画
像情報の変化が起きる操作、例えば電子顕微鏡1の倍率
変更、角度変更、視野移動などが、オペレータより成さ
れなかったことを、ホストCPU10が検知した時に
は、ホストCPU10は自動的に画像処理装置7に加算
処理の加算平均枚数を所定の加算枚数に増加する指示を
伝達する。
【0014】次に、具体的にホストCPU10で実施さ
れる実施例の動作フローチャートを図1に示して以下説
明する。オペレータが加算枚数2枚で画像取込みを指示
すると(ステップ20)、ホストCPU10は、画像処
理装置7にその旨を伝達する(ステップ21)。オペレ
ータが画像移動の指示を行なうと(ステップ22)、ホ
ストCPU10は、その旨をステージ制御回路9へ伝達
する(ステップ23)。
【0015】ステージ移動終了後、一定時間の間、オペ
レータから、画像情報の変化が起きる操作がなければ
(ステップ24)、ホストCPU10は、自動的に加算
枚数が32枚(所定の加算枚数)になるように、画像処
理装置7に指示を与える(ステップ25)。なお、ステ
ップ24で使われる一定時間の値及び所定の加算枚数
は、あらかじめ装置固定の定数であってもよいし、オペ
レータがホストCPU10に登録するようにしてもよ
い。
【0016】また、加算枚数2枚の状態から、加算枚数
32枚の状態へ移行する時には、あらためて1枚目から
画像を取り直してもよいし、連続的に3枚目から行なう
ようにしてもよい。
【0017】
【発明の効果】以上の様に本発明によれば、オペレータ
が、加算枚数の少ない状態で試料像の調整を行なった
後、しばらくの間なにもしないと、自動的に加算枚数を
増やしていくので、操作性と試料像の観察性が向上す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のホストCPUの動作フロー
チャートである。
【図2】従来及び本発明に適用される試料像表示装置の
一例を示すブロック図である。
【図3】従来のホストCPUの動作フローチャートの一
例である。
【符号の説明】
1 電子顕微鏡 2 試料室 3 ステージ 4 2次電子検出器 5 試料 6 画像信号増幅器 7 画像処理装置 8 電子光学系制御回路 9 ステージ制御回路 10 ホストCPU 11 フレームメモリ 12 CRT

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料像をフレームメモリに取り込む際、
    あらかじめ設定されたフレーム加算枚数まで加算平均し
    ながら取り込み、その加算結果をリアルタイムで画像表
    示する試料像表示方法に於いて、所定時間の間、試料像
    の画像情報の変化が起きる操作が成されなかった時に
    は、 自動的に加算平均枚数を所定の加算枚数に増加させる試
    料像表示方法。
JP4318085A 1992-11-27 1992-11-27 試料像表示方法 Pending JPH06168690A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4318085A JPH06168690A (ja) 1992-11-27 1992-11-27 試料像表示方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4318085A JPH06168690A (ja) 1992-11-27 1992-11-27 試料像表示方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06168690A true JPH06168690A (ja) 1994-06-14

Family

ID=18095318

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4318085A Pending JPH06168690A (ja) 1992-11-27 1992-11-27 試料像表示方法

Country Status (1)

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JP (1) JPH06168690A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2693457A3 (en) * 2012-07-31 2015-01-28 Fei Company Sequencer for combining automated and manual-assistance jobs in a charged particle beam device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2693457A3 (en) * 2012-07-31 2015-01-28 Fei Company Sequencer for combining automated and manual-assistance jobs in a charged particle beam device

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