JPH06164556A - Transmission characteristic measuring device - Google Patents

Transmission characteristic measuring device

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JPH06164556A
JPH06164556A JP4337912A JP33791292A JPH06164556A JP H06164556 A JPH06164556 A JP H06164556A JP 4337912 A JP4337912 A JP 4337912A JP 33791292 A JP33791292 A JP 33791292A JP H06164556 A JPH06164556 A JP H06164556A
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signal
error
circuit
pseudo random
bit
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宏一 浜田
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Abstract

PURPOSE:To measure the delay characteristic of a transmission line through the use of a pseudo random signal and without being restricted by the period of the pseudo random signal. CONSTITUTION:A specified bit error by bit inversion is added to arbitrary timing after synchronism is established by a bit error addition circuit 14 and the pseudo random signal from a pseudo random signal generation circuit 11 is transmitted to a transmission line 1, and a transmission timing signal is outputted to a delay quantity detection circuit 29 at that time. The bit error of the signal, which is returned from the transmission line 1, is detected in an error detection circuit 23. A specified bit error detection circuit 26 receiving the error signal outputs a received timing signal to the delay quantity detection circuit 29 when the error signal coincides with the error signal corresponding to the specified bit error added by the bit error addition circuit 14. The delay quantity detection circuit 29 measures time till the received timing signal is received from time when a transmission timing signal is received, and detects the delay quantity of the transmission line 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル通信網にお
ける伝送回線あるいは伝送装置で生じる信号遅延量を測
定する伝送特性測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transmission characteristic measuring device for measuring a signal delay amount occurring in a transmission line or a transmission device in a digital communication network.

【0002】[0002]

【従来の技術】ディジタル信号を伝送するための伝送回
線1は、一般に図10に示すように、端末としての伝送
装置2、3の間を複数の伝送線4と中継器5を介して接
続されており、一方の伝送装置から送出される信号は、
回線固有の遅延量をともなって他方の伝送装置へ伝達さ
れる。この種の伝送回線の重要な伝送特性として信号遅
延量と信号誤り率があり、従来では、これら2つの特性
をともに測定できる伝送特性測定装置(以下、測定装置
と記す)が用いられている。
2. Description of the Related Art A transmission line 1 for transmitting a digital signal is generally connected between transmission devices 2 and 3 as terminals via a plurality of transmission lines 4 and a repeater 5, as shown in FIG. The signal sent from one transmission device is
It is transmitted to the other transmission device with a delay amount specific to the line. There are a signal delay amount and a signal error rate as important transmission characteristics of this kind of transmission line, and conventionally, a transmission characteristic measuring device (hereinafter referred to as a measuring device) capable of measuring both of these two properties is used.

【0003】伝送回線に対する遅延測定としては、一方
の伝送装置2に測定装置6を接続し、他方の伝送装置3
を折り返しモードにした状態で、測定装置6から送出し
た信号が伝送装置3で折り返されて戻ってくるまでの時
間を測定することによって、往復の遅延量を求める方法
が一般的である。また、誤り率測定の場合には、〔1〕
As a delay measurement for a transmission line, a measuring device 6 is connected to one transmission device 2 and the other transmission device 3 is connected.
A general method is to obtain the round-trip delay amount by measuring the time taken for the signal sent from the measuring device 6 to be returned and returned by the transmission device 3 in the return mode. In addition, in the case of error rate measurement, [1]
When

〔0〕の発生確率がほぼ等しい所定ビット周期の擬似
ランダム信号を伝送回線へ送出し、伝送回線から戻って
きた信号列と送出した信号とをビット単位で比較し、一
定時間あるいは所定周期内における誤りビット数を誤り
率として求める方法がとられる。
Pseudo-random signals with a predetermined bit period with which the occurrence probabilities of [0] are almost equal are sent out to the transmission line, and the signal sequence returned from the transmission line and the sent signal are compared in bit units, and within a fixed time or within a predetermined period. A method of determining the number of error bits as an error rate is used.

【0004】ディジタル回線の遅延量を測定するための
信号として、図11に示すように、クロック信号(a)
に同期して、t0時から〔1〕が連続する信号(b)を
測定信号として用いる方法が従来からあった。このよう
な測定信号を用いる場合には、この送信信号に対して受
信信号が
As a signal for measuring the delay amount of a digital line, a clock signal (a) is used as shown in FIG.
There has been a method of using a signal (b) in which [1] continues from t0 as a measurement signal in synchronization with. When using such a measurement signal, the received signal is

〔0〕から〔1〕に変化するタイミングt1を
検出し、t1−t0をこの回線の往復の遅延量として求
めている。
The timing t1 at which [0] changes to [1] is detected, and t1-t0 is obtained as the round trip delay amount of this line.

【0005】しかし、この方法では、実際の回線上では
発生することのない〔1〕が連続する信号によって測定
しているため、回線の実動作上での真の遅延量を測定で
きず、また、この方法では、先頭の〔1〕を受信したタ
イミングで遅延量を求めているので、回線自身で発生す
る誤りビットの影響を直接受けてしまい、誤り率の高い
回線に対する測定が困難であるという問題がある。
However, according to this method, since the signal [1] which does not occur on the actual line is measured by the continuous signal, the true delay amount in the actual operation of the line cannot be measured, and In this method, since the delay amount is obtained at the timing when the first [1] is received, it is directly influenced by the error bit generated in the line itself, and it is difficult to measure the line having a high error rate. There's a problem.

【0006】これを解決するために、特開平4−192
830号公報には、図12に示すように、擬似ランダム
信号内の特定のビットパターンA〔010011〕を伝
送回線へ送出したタイミングt0と、このビットパター
ンAが受信されたタイミングt1との時間差で回線の遅
延量を求める技術が本願出願人によって提案されてい
る。この技術では、擬似ランダム信号をそのまま利用し
ているので、実際に回線に発生する信号列とほぼ同等な
条件で真の遅延量の測定ができ、しかも所定ビット長の
パターンの一致を検出するので、回線による誤りの影響
が確率的に少なくて済む。
In order to solve this, Japanese Patent Laid-Open No. 4-192
In Japanese Patent Laid-Open No. 830, as shown in FIG. 12, a time difference between a timing t0 when a specific bit pattern A [010011] in a pseudo-random signal is sent to a transmission line and a timing t1 when this bit pattern A is received is calculated. The applicant of the present application has proposed a technique for determining the delay amount of a line. In this technique, since the pseudo-random signal is used as it is, the true delay amount can be measured under the condition almost equal to the signal train actually generated in the line, and moreover, the coincidence of the pattern of the predetermined bit length is detected. , The influence of the error due to the line is stochastically small.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところが、この方法で
は、擬似ランダム信号の1周期で1回必ず発生する特定
パターンを用いているので、回線の遅延時間が擬似ラン
ダム信号の周期より長い場合、前周期の特定パターンの
受信タイミングより現周期の送信タイミングの方が前に
なってしまい、正しい遅延時間を測定できず、擬似ラン
ダム信号の周期によって測定できる遅延量が制限されて
しまうという問題があった。
However, in this method, since the specific pattern that always occurs once in one period of the pseudo random signal is used, when the line delay time is longer than the period of the pseudo random signal, The transmission timing of the current cycle precedes the reception timing of the specific pattern of the cycle, so that the correct delay time cannot be measured, and the measurable delay amount is limited by the cycle of the pseudo-random signal. .

【0008】本発明は、この課題を解決し、擬似ランダ
ム信号の周期に制限されずに、回線の遅延量を測定でき
る伝送特性測定装置を提供することを目的としている。
It is an object of the present invention to solve this problem and to provide a transmission characteristic measuring apparatus capable of measuring the delay amount of a line without being limited by the period of a pseudo random signal.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明の伝送特性測定装置は、所定ビット周期の擬似
ランダム信号を出力する擬似ランダム信号発生回路
(1)と、前記擬似ランダム信号発生回路から出力され
る擬似ランダム信号にビット反転による特定のビット誤
りを任意のタイミングに付加して測定信号として被試験
伝送回線へ送出するとともに、該ビット誤りの送出タイ
ミングに同期した送信タイミング信号を出力するビット
誤り付加回路(14)と、前記被試験伝送回線を往復し
た前記測定信号を受け、該測定信号に含まれる擬似ラン
ダム信号の各ビットデータが、前記擬似ランダム信号発
生回路から出力された擬似ランダム信号の各ビットデー
タに一致するか否かを検出する誤り検出回路(23)
と、前記誤り検出回路からの誤り信号を受け、該誤り信
号が、前記ビット誤り付加回路で付加された特定のビッ
ト誤りに対応する誤り信号と一致したとき、受信タイミ
ング信号を出力する特定ビット誤り検出回路(26)
と、前記ビット誤り付加回路から送信タイミング信号が
出力されてから、前記特定ビット誤り検出回路から受信
タイミング信号が出力されるまでの時間差によって、前
記被試験伝送回線の信号遅延量を検出する遅延量検出回
路(29)とを備えている。
In order to achieve the above object, a transmission characteristic measuring apparatus of the present invention comprises a pseudo random signal generating circuit (1) for outputting a pseudo random signal of a predetermined bit period, and the pseudo random signal generating circuit. A specific bit error due to bit inversion is added to the pseudo random signal output from the circuit at an arbitrary timing and sent as a measurement signal to the transmission line under test, and a transmission timing signal synchronized with the transmission timing of the bit error is output. A bit error adding circuit (14) for receiving the measurement signal that has reciprocated through the transmission line under test, and each bit data of the pseudo random signal included in the measurement signal is output from the pseudo random signal generation circuit. Error detection circuit (23) for detecting whether or not each bit data of the random signal matches
And a specific bit error that receives an error signal from the error detection circuit and outputs a reception timing signal when the error signal matches an error signal corresponding to the specific bit error added by the bit error addition circuit. Detection circuit (26)
And a delay amount for detecting the signal delay amount of the transmission line under test by the time difference from the transmission timing signal output from the bit error addition circuit to the reception timing signal output from the specific bit error detection circuit. And a detection circuit (29).

【0010】[0010]

【作用】このように構成したため、本発明の伝送特性測
定装置では、擬似ランダム信号発生回路から出力された
擬似ランダム信号にビット反転による特定の誤りが任意
のタイミングに付加されて被試験伝送回線へ送出され、
その特定のビット誤りの送出時に送出タイミング信号が
出力される。被試験伝送回線を往復した測定信号に含ま
れる擬似ランダム信号の各ビットデータと、前記擬似ラ
ンダム信号発生回路から出力された擬似ランダム信号の
各ビットデータとの一致、不一致が誤り検出回路で検出
される。特定ビット誤り検出回路は、誤り検出回路から
受けた誤り信号が、前記ビット誤り付加回路で付加され
た特定ビットの誤りに対応する誤り信号と一致したと
き、受信タイミング信号を出力する。送信タイミング信
号と受信タイミング信号を受けた遅延量検出回路は、そ
の時間差から被試験伝送回線の信号遅延量を検出する。
With this configuration, in the transmission characteristic measuring apparatus of the present invention, a specific error due to bit inversion is added to the pseudo random signal output from the pseudo random signal generating circuit at an arbitrary timing, and the pseudo random signal is transmitted to the transmission line under test. Sent out,
A transmission timing signal is output when the specific bit error is transmitted. The error detection circuit detects a match or mismatch between each bit data of the pseudo random signal included in the measurement signal that travels back and forth through the transmission line under test and each bit data of the pseudo random signal output from the pseudo random signal generation circuit. It The specific bit error detection circuit outputs a reception timing signal when the error signal received from the error detection circuit matches the error signal corresponding to the error of the specific bit added by the bit error addition circuit. The delay amount detection circuit which receives the transmission timing signal and the reception timing signal detects the signal delay amount of the transmission line under test from the time difference.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】図1は一実施例の伝送特性測定装置10の
構成を示している。この測定装置は、伝送回線の遅延量
とともに誤り率を測定する機能を備え、誤り測定のため
の擬似ランダム信号を用いて遅延量の測定を行なう。
FIG. 1 shows the configuration of a transmission characteristic measuring apparatus 10 of one embodiment. This measuring device has a function of measuring the error rate as well as the delay amount of the transmission line, and measures the delay amount using a pseudo random signal for error measurement.

【0013】図1において、擬似ランダム信号発生回路
11は、2N −1ビット(Nは2以上の整数)を1周期
とする擬似ランダム信号(a)を繰り返し出力するもの
であり、例えば図2にN=4の場合を示すように、4段
シフトレジスタ回路を形成する4(=N)個のフリップ
フロップ121 〜124 とEX−OR回路13とから構
成され、終段のフリップフロップ124 の出力と初段の
フリップフロップ121 の出力との排他的論理和を初段
のフリップフロップ121 に入力することで、15ビッ
トを1周期とする擬似ランダム信号を、終段のフリップ
フロップ124からクロック信号に同期させてビット誤
り付加回路14へ出力している。
In FIG. 1, the pseudo-random signal generating circuit 11 repeatedly outputs a pseudo-random signal (a) having 2 N -1 bit (N is an integer of 2 or more) as one cycle. As shown in the case of N = 4, 4 (= N) flip-flops 12 1 to 12 4 forming a 4-stage shift register circuit and an EX-OR circuit 13 are provided, and the final stage flip-flop 12 is formed. By inputting the exclusive OR of the output of 4 and the output of the first-stage flip-flop 12 1 to the first-stage flip-flop 12 1 , a pseudo-random signal having 15 bits as one cycle is generated in the final-stage flip-flop 12 4. Is output to the bit error adding circuit 14 in synchronization with the clock signal.

【0014】ビット誤り付加回路14は、この擬似ラン
ダム信号に特定のビット誤りを付加して出力するもの
で、例えば図3に示すように、EX−OR回路15と誤
りパターン発生回路16から構成され、誤りパターン発
生回路16から例えば〔1〕が4ビット連続する誤りパ
ターン信号をEX−OR回路15に入力して、その4ビ
ット期間だけ論理が反転された擬似ランダム信号を遅延
測定用の測定信号として出力し、誤りパターン信号が
The bit error addition circuit 14 adds a specific bit error to this pseudo random signal and outputs it. For example, as shown in FIG. 3, it is composed of an EX-OR circuit 15 and an error pattern generation circuit 16. , An error pattern signal in which [1] is continuous for 4 bits is input to the EX-OR circuit 15 from the error pattern generation circuit 16, and a pseudo-random signal whose logic is inverted only during the 4-bit period is a measurement signal for delay measurement. And the error pattern signal is

〔0〕の間は、擬似ランダム信号発生回路11からの擬
似ランダム信号をそのまま出力する。
During [0], the pseudo random signal from the pseudo random signal generation circuit 11 is output as it is.

【0015】誤りパターン発生回路16は、同期確定信
号の入力またはスイッチ17のオン操作によって1クロ
ック周期長だけ
The error pattern generation circuit 16 receives only one clock cycle length by inputting a synchronization confirmation signal or turning on the switch 17.

〔0〕の信号をタイマ回路18から4段
シフトレジスタを形成するフリップフロップ191 〜1
4 の初段へ入力し、この
The signal of [0] is flipped from the timer circuit 18 to flip-flops 19 1 to 19 forming a 4-stage shift register.
Input to the first stage of 9 4

〔0〕の信号を1クロックず
つシフトさせて、ナンド回路20から4クロック周期長
の誤りパターン信号を出力している。なお、この誤りパ
ターン信号は、その立ち下がりタイミングをこの測定信
号の送出タイミングとする送信タイミング信号(b)と
して、後述する遅延量検出回路29へ出力されている。
The signal of [0] is shifted by one clock, and the NAND circuit 20 outputs an error pattern signal having a 4-clock cycle length. The error pattern signal is output to the delay amount detection circuit 29, which will be described later, as a transmission timing signal (b) whose falling timing is the transmission timing of the measurement signal.

【0016】このようにして4ビット連続する誤りビッ
トを含む測定信号(c)は、信号送信回路21を介して
被試験伝送回線1へ送出される。なお、この信号送出の
際、測定信号を受信するためのクロック信号成分を含ん
で送出している。
In this way, the measurement signal (c) containing error bits of 4 consecutive bits is sent to the transmission line under test 1 via the signal transmission circuit 21. It should be noted that, at the time of this signal transmission, a clock signal component for receiving the measurement signal is included and transmitted.

【0017】被試験伝送回線1は、前述したようにこの
測定装置からの信号を折り返す状態に予め設定されてい
て、その回線の折り返しによって往復した信号は、信号
受信回路22でクロック成分(受信クロック信号)が抽
出されて受信され、誤り検出回路23へ入力される。
The transmission line under test 1 is preset to return the signal from the measuring device as described above, and the signal reciprocated by the return of the line is clocked by the signal receiving circuit 22 (reception clock). Signal) is extracted and received, and is input to the error detection circuit 23.

【0018】誤り検出回路23は、擬似ランダム信号発
生回路11と同一の擬似ランダム信号を参照信号として
発生する参照信号発生回路24と、参照信号発生回路2
4からの参照信号(e)と信号受信回路22で受信され
たランダム信号(d)との一致、不一致の判定をビット
単位に行なうビット誤り検出回路25とによって構成さ
れている。
The error detecting circuit 23 includes a reference signal generating circuit 24 for generating the same pseudo random signal as the pseudo random signal generating circuit 11 as a reference signal, and the reference signal generating circuit 2.
4 and the random signal (d) received by the signal receiving circuit 22. The bit error detecting circuit 25 determines whether the reference signal (e) and the random signal (d) received by the signal receiving circuit 22 are in units of bits.

【0019】参照信号発生回路24は、一例を図2に示
した擬似ランダム信号発生回路11と同一に構成された
ランダム信号発生部と、信号受信回路22で受信された
ランダム信号の先頭Nビット(前記例では4ビット)の
信号を初期値としてランダム信号発生部の各フリップフ
ロップに初期設定する初期設定部(ともに図示せず)と
を有しており、初期設定された後にランダム信号発生部
から出力される擬似ランダム信号を参照信号としてビッ
ト誤り検出回路25へ出力して、受信された信号に対し
て参照信号を同期させている。なお、初期設定されたビ
ットデータに伝送回線による誤りが含まれていると、ビ
ット誤り検出回路25から誤り信号が出力されるので、
参照信号発生回路24は、初期設定後に例えばNビット
連続して誤りが発生しなくなるまで、あるいは誤り率が
所定以下となるまで、初期値の再設定を継続的に行な
い、Nビット連続して誤りが発生しないとき、あるいは
誤り率が所定以下になったときに、同期確定信号を出力
する。
The reference signal generating circuit 24 includes a random signal generating section having the same structure as that of the pseudo random signal generating circuit 11 shown in FIG. 2, and the first N bits of the random signal received by the signal receiving circuit 22 ( (In the above example, a 4-bit signal is used as an initial value, and each flip-flop of the random signal generation unit is initialized with an initialization unit (both not shown). The output pseudo random signal is output to the bit error detection circuit 25 as a reference signal, and the reference signal is synchronized with the received signal. If the initially set bit data contains an error due to the transmission line, the bit error detection circuit 25 outputs an error signal.
The reference signal generation circuit 24 continuously resets the initial value until, for example, N bits continue to generate no errors after the initial setting, or until the error rate becomes a predetermined value or less, and N bits continue to generate an error. When the error does not occur, or when the error rate falls below a predetermined level, the synchronization confirmation signal is output.

【0020】ビット誤り検出回路25からの誤り信号
(f)は、特定ビット誤り検出回路26へ入力されてい
る。特定ビット誤り検出回路26は、同期確定後にビッ
ト誤り検出回路25から出力される誤り信号列を受け、
この誤り信号列がビット誤り付加回路14で付加した誤
りパターンと一致したとき、受信タイミング信号(g)
を出力する。
The error signal (f) from the bit error detection circuit 25 is input to the specific bit error detection circuit 26. The specific bit error detection circuit 26 receives the error signal sequence output from the bit error detection circuit 25 after the synchronization is established,
When this error signal sequence matches the error pattern added by the bit error adding circuit 14, the reception timing signal (g)
Is output.

【0021】図4は、前記したように4ビット連続した
誤りがビット誤り付加回路14によって付加される場合
に対応した特定ビット誤り検出回路26の回路構成例を
示しており、4段シフトレジスタを形成する4個のフリ
ップフロップ271 〜274に、誤りのあることを示す
〔1〕の誤り信号がビット誤り検出回路25から4ビッ
ト連続して入力されると、各フリップフロップ271
274 の出力が全て〔1〕となり、その出力を入力とす
るアンド回路28から、〔1〕の受信タイミング信号が
受信クロックに同期してその1周期分出力されることに
なる。
FIG. 4 shows an example of the circuit configuration of the specific bit error detection circuit 26 corresponding to the case where an error of continuous 4 bits is added by the bit error addition circuit 14 as described above. When the error signal [1] indicating that there is an error is continuously input from the bit error detection circuit 25 to the four flip-flops 27 1 to 27 4 formed by 4 bits, the flip-flops 27 1 to 27 1 to 27 4 are formed .
All of the outputs of 27 4 are [1], and the AND circuit 28 which receives the output thereof outputs the reception timing signal of [1] for one cycle thereof in synchronization with the reception clock.

【0022】ビット誤り付加回路14からの送信タイミ
ング信号と特定ビット誤り検出回路26からの受信タイ
ミング信号は、遅延量検出回路29へ入力されている。
The transmission timing signal from the bit error addition circuit 14 and the reception timing signal from the specific bit error detection circuit 26 are input to the delay amount detection circuit 29.

【0023】遅延量検出回路29は、例えば図5に示す
構成によって、送信タイミング信号が入力されてから受
信タイミング信号が入力されるまでの時間を測定して被
試験伝送回線の遅延量(遅延時間)を検出する。即ち、
RS型のフリップフロップ等で構成されるセット・リセ
ット回路30の出力(h)を送信タイミング信号の立ち
下がり時に〔1〕にセットすることによって、単位時間
信号発生回路31からの周期1μSの単位時間パルスを
アンド回路32を通過させ、その通過信号を計数入力信
号(i)として計数回路33で計数を開始させる。そし
て、受信タイミング信号の立ち下がり時にセット・リセ
ット回路30の出力を
The delay amount detection circuit 29 has a configuration shown in FIG. 5, for example, to measure the time from the input of the transmission timing signal to the input of the reception timing signal to measure the delay amount (delay time) of the transmission line under test. ) Is detected. That is,
By setting the output (h) of the set / reset circuit 30 composed of an RS type flip-flop or the like to [1] at the time of the fall of the transmission timing signal, the unit time of the unit time signal generation circuit 31 of 1 μS The pulse passes through the AND circuit 32, and the passing signal is used as the count input signal (i) to start counting by the counting circuit 33. Then, at the fall of the reception timing signal, the output of the set / reset circuit 30

〔0〕にリセットして計数を終了
させて、このリセット後の計数回路33の計数結果を遅
延時間として出力する。遅延量検出回路29で検出され
た遅延量は、遅延量表示器34によって数値表示され
る。
The count is ended by resetting to [0], and the count result of the count circuit 33 after this reset is output as a delay time. The delay amount detected by the delay amount detection circuit 29 is numerically displayed by the delay amount display 34.

【0024】次に前述したようにN=4の擬似ランダム
信号に4ビット長のビット誤りを付加する場合の動作
を、図6のタイミング図に従って説明する。なお、この
説明では、測定装置自身の遅延時間を考えないものとす
る。
Next, the operation of adding a 4-bit length bit error to the N = 4 pseudo-random signal as described above will be described with reference to the timing chart of FIG. In this description, the delay time of the measuring device itself is not considered.

【0025】擬似ランダム信号発生回路11からの擬似
ランダム信号(a)は、〔B1、B2、…、B14、B
15〕の15ビットを1周期として繰り返し出力される
(B1〜B15は
The pseudo random signal (a) from the pseudo random signal generating circuit 11 is [B1, B2, ..., B14, B
15] are repeatedly output as one cycle (B1 to B15 are

〔0〕または〔1〕)。[0] or [1]).

【0026】この擬似ランダム信号は、誤り検出回路2
3が同期確定していない間、図6の(c)のように、ビ
ット誤り付加回路14から信号送信回路21を介してそ
のまま伝送回線1へ送出され、未知の遅延時間後に、
(d)のように信号受信回路22によって受信され、誤
り検出回路23で参照信号(e)とのビット誤りが検出
される。ここで、(f)のように、参照信号B12〜B
15と受信信号とが4ビット連続して誤りがなく、t0
時に同期が確定したとすると、誤りパターン信号(送信
タイミング信号)が、(b)のようにその直後の送信側
クロックに同期したt1時に立ち上がって4ビット連続
して〔1〕となる。したがって、この間伝送回線1に
は、B6〜B9を反転させた誤りビットE6〜E9が送
出される。また、送信タイミング信号(b)の立ち下が
り時t2には、遅延量検出回路29が(h)のようにセ
ット状態となり、単位時間パルスの計数が(i)のよう
に開始される。
This pseudo random signal is supplied to the error detection circuit 2
While 3 is not determined to be synchronous, as shown in FIG. 6C, the bit error addition circuit 14 sends the signal as it is to the transmission line 1 via the signal transmission circuit 21, and after an unknown delay time,
As shown in (d), the signal is received by the signal receiving circuit 22, and the error detecting circuit 23 detects a bit error with the reference signal (e). Here, as in (f), the reference signals B12 to B12
There is no error in 15 bits and the received signal for 4 consecutive bits, and t0
Assuming that the synchronization is fixed at this time, the error pattern signal (transmission timing signal) rises at time t1 synchronized with the clock on the transmission side immediately after that as shown in FIG. Therefore, during this period, error bits E6 to E9 are transmitted to the transmission line 1 by inverting B6 to B9. Further, at the time t2 of the fall of the transmission timing signal (b), the delay amount detection circuit 29 enters the set state as shown in (h), and the unit time pulse counting is started as shown in (i).

【0027】回線自身による誤りがないとし、送信され
た誤りビットE6〜E9が伝送回線の遅延時間分遅れて
受信されると、ビット誤り検出回路25から〔1〕の誤
り信号(f)がt3時から4ビット連続して出力され
る。このため、受信タイミング信号は、(g)のように
4ビット目の誤り信号に同期して立ち上がり、t4時に
立ち下がる。遅延量検出回路29は、この受信信号を受
けてt4時にリセット状態(h)となり、単位時間パル
スの計数が終了する。t2からt4までの計数値Dは、
伝送回線の往復の遅延量として遅延量表示器34に数値
表示され、この表示から伝送回線1の遅延量がDμS
(マイクロ秒)であることがわかる。
When there is no error due to the line itself and the transmitted error bits E6 to E9 are received with a delay of the transmission line delay time, the error signal (f) of [1] from the bit error detection circuit 25 is t3. 4 bits are continuously output from the time. Therefore, the reception timing signal rises in synchronization with the fourth-bit error signal as shown in (g) and falls at t4. The delay amount detection circuit 29 receives the received signal and enters the reset state (h) at t4, and the counting of the unit time pulse is completed. The count value D from t2 to t4 is
A numerical value is displayed on the delay amount display 34 as the round trip delay amount of the transmission line. From this display, the delay amount of the transmission line 1 is DμS.
It can be seen that it is (microsecond).

【0028】なお、この誤りビットは単発的に付加され
るので、伝送回線の遅延量が擬似ランダム信号の1周期
(この場合15×クロック周期)より長い場合であって
も、正確に遅延量を測定できる。また、回線自身による
誤りがt3からt4の期間に発生しない限り、その誤り
による測定への影響は無い。
Since the error bit is added sporadically, even if the delay amount of the transmission line is longer than one period (15 × clock period in this case) of the pseudo-random signal, the delay amount can be accurately set. Can be measured. Also, unless an error due to the line itself occurs during the period from t3 to t4, the error has no effect on the measurement.

【0029】また、t3からt4の間に回線自身による
誤りが偶然に発生して、特定のビット誤りのいずれかが
正しいビットに戻ってしまった場合には、この同期確定
後の1回の遅延測定は失敗することになるが、このよう
な場合には、スイッチ17をオン操作して特定のビット
誤りの再付加を行なえばよい。また、同期確定後に自動
的に特定のビット誤りを付加せずに、スイッチ17の操
作のみで遅延測定を起動するようにしてもよく、さらに
タイマを用いて同期確定後から所定の時間が経過したと
きに自動的にビット誤りを付加したり、擬似ランダム信
号数周期分の間隔で自動的に誤りを付加するようにして
もよく、そのタイミングは任意でよい。また、特定のビ
ット誤りを前記実施例のように4ビット連続したものと
しないで、5ビット連続にしたり、あるいは正しいビッ
トの前後に複数ビットずつ誤りを付加することもでき
る。
Further, if an error by the line itself happens by accident between t3 and t4 and any one of the specific bit errors returns to the correct bit, one delay after the synchronization is established. Although the measurement will fail, in such a case, the switch 17 may be turned on to add a specific bit error again. Further, the delay measurement may be started only by operating the switch 17 without automatically adding a specific bit error after the synchronization is established, and a predetermined time has elapsed since the synchronization was established by using a timer. Sometimes, bit errors may be automatically added, or errors may be automatically added at intervals of several cycles of the pseudo random signal, and the timing may be arbitrary. Further, the specific bit error may not be continuous 4 bits as in the above embodiment, but may be continuous 5 bits or an error may be added by a plurality of bits before and after a correct bit.

【0030】また、特定のビット誤りの前後のビット
に、回線による誤りが発生したときには、受信タイミン
グが正規のタイミングに対してずれるが、この場合に
は、付加した誤りビット長より長い誤りが検出されたと
き、この受信信号を無視して再測定を行ったり、あるい
は複数回の遅延測定による平均化処理を行なうことで対
処してもよい。
When an error occurs in the bit before and after the specific bit error due to the line, the reception timing deviates from the normal timing. In this case, an error longer than the added error bit length is detected. In this case, the received signal may be ignored and remeasurement may be performed, or an averaging process based on a plurality of delay measurements may be performed.

【0031】また、この実施例では、N=4の擬似ラン
ダム信号に4ビット長のビット誤りを付加する場合につ
いて説明したが、両者を等しくする理由はなく、例えば
N=32の擬似ランダム信号に8ビット長のビット誤り
を付加してもよく、この場合でも、擬似ランダム信号発
生回路11および誤り検出回路23の参照信号発生回路
24をN=32に対応した構成に変え、ビット誤り付加
回路14および特定ビット誤り検出回路26を8ビット
長に対応する構成に変えるだけで全く同様に適用でき
る。
In this embodiment, the case where a 4-bit length bit error is added to the N = 4 pseudo-random signal has been described, but there is no reason to make the two equal, and for example, a pseudo-random signal with N = 32 is used. A bit error having an 8-bit length may be added. Even in this case, the reference signal generation circuit 24 of the pseudo random signal generation circuit 11 and the error detection circuit 23 is changed to a configuration corresponding to N = 32, and the bit error addition circuit 14 is added. And the specific bit error detection circuit 26 can be applied in exactly the same manner only by changing it to a structure corresponding to the 8-bit length.

【0032】また、回線自身の誤り率の状態に応じて、
付加する誤りビットの長さを可変することも可能であ
る。図7は、付加する誤りビットの長さを誤りビット長
設定回路35によって可変できるようにした測定装置1
0′を示している。
Further, according to the error rate state of the line itself,
It is also possible to change the length of the error bit to be added. FIG. 7 shows a measuring apparatus 1 in which the length of the error bit to be added can be changed by the error bit length setting circuit 35.
0'is shown.

【0033】この場合には、図8、図9のようにビット
誤り付加回路14′および特定ビット誤り検出回路2
6′内のフリップフロップ191 〜19M 、271 〜2
M の段数を最大M段までとし、誤りビット長設定回路
35からビット長P(P<M)が指定されたとき、P+
1段以降のフリップフロップをセット信号発生回路3
6、37によって常時セット状態に保持するように構成
すれば、回線状態に応じた任意のビット長の誤りの付加
とその検出が可能となる。
In this case, as shown in FIGS. 8 and 9, the bit error addition circuit 14 'and the specific bit error detection circuit 2 are provided.
Flip-flops 19 1 to 19 M and 27 1 to 2 in 6 '
When the maximum number of M stages is 7 M and the bit length P (P <M) is designated by the error bit length setting circuit 35, P +
The flip-flops of the first and subsequent stages are set in the signal generation circuit 3
If it is constituted by 6 and 37 so that it is always kept in the set state, it becomes possible to add and detect an error of an arbitrary bit length according to the line state.

【0034】また、上記実施例では、測定装置自身の遅
延時間を考えないで説明していたが、測定装置自身の遅
延時間D0 は、信号送信回路21と信号受信回路22と
を直結した状態で、前記実施例と同様の遅延測定によっ
て求めることができるので、伝送回線を測定したときの
遅延時間Dから測定装置自身の遅延時間D0 を減じるよ
うにすれば、伝送回線だけの遅延を測定できる。この減
算は、計数回路33に〔−D0 〕を予めプリセットして
おいたり、D0 分だけ計数時間を短縮したり、あるいは
計数結果DからD0 を演算によって減じる等の方法が適
用できる。
In the above embodiment, the delay time of the measuring apparatus itself was not considered, but the delay time D 0 of the measuring apparatus itself is the state in which the signal transmitting circuit 21 and the signal receiving circuit 22 are directly connected. Since it can be obtained by the same delay measurement as in the above-mentioned embodiment, the delay of only the transmission line can be measured by subtracting the delay time D 0 of the measuring device itself from the delay time D when measuring the transmission line. it can. This subtraction can be or previously preset [-D 0] to the counting circuit 33, a method such as reducing or shortening the D 0 minutes by counting time, or from the count result D by calculating the D 0 is applied.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上説明したように本発明の伝送特性測
定装置は、擬似ランダム信号にビット反転による特定の
ビット誤りを任意のタイミングに付加した信号を測定信
号として伝送回線へ送出し、そのときの送信タイミング
から、伝送回線で折り返されてきた信号のビット誤りが
送出時に付加されたビット誤りと一致したときの受信タ
イミングまでの時間を測定することによって、伝送回線
の遅延量を測定している。
As described above, the transmission characteristic measuring apparatus of the present invention sends a signal obtained by adding a specific bit error due to bit inversion to a pseudo random signal at an arbitrary timing to a transmission line as a measurement signal, and at that time. The delay amount of the transmission line is measured by measuring the time from the transmission timing of to the reception timing when the bit error of the signal returned on the transmission line matches the bit error added at the time of transmission. .

【0036】このため、擬似ランダム信号とほぼ同等な
ランダム特性をもつ測定信号を伝送回線へ送出すること
ができ、実際の回線の信号に近い条件で正確な遅延測定
ができる。また、特定のビット誤りを付加するタイミン
グが任意であるため、擬似ランダム信号の周期による制
限をうけない遅延測定を行うことができる。
Therefore, it is possible to send a measurement signal having a random characteristic almost equal to that of the pseudo-random signal to the transmission line, and it is possible to accurately measure the delay under the condition close to the signal of the actual line. Further, since the timing of adding the specific bit error is arbitrary, it is possible to perform the delay measurement without being limited by the period of the pseudo random signal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a circuit configuration of a main part of one embodiment.

【図3】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a circuit configuration of a main part of one embodiment.

【図4】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a circuit configuration of a main part of one embodiment.

【図5】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of a circuit configuration of a main part of one embodiment.

【図6】一実施例の動作を説明するための各部のタイミ
ング図である。
FIG. 6 is a timing chart of each unit for explaining the operation of the embodiment.

【図7】本発明の他の実施例を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図8】図7の要部の回路構成を示す回路図である。8 is a circuit diagram showing a circuit configuration of a main part of FIG.

【図9】図7の要部の回路構成を示す回路図である。9 is a circuit diagram showing a circuit configuration of a main part of FIG.

【図10】伝送回線と測定装置との接続図である。FIG. 10 is a connection diagram between a transmission line and a measuring device.

【図11】従来の遅延測定の方法を示すタイミング図で
ある。
FIG. 11 is a timing diagram showing a conventional delay measurement method.

【図12】擬似ランダム信号を用いた従来の他の遅延測
定の方法を示すタイミング図である。
FIG. 12 is a timing diagram showing another conventional delay measurement method using a pseudo-random signal.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 伝送回線 10 伝送特性測定装置 11 擬似ランダム信号発生回路 14 ビット誤り付加回路 23 誤り検出回路 24 参照信号発生回路 25 ビット誤り検出回路 26 特定ビット誤り検出回路 29 遅延量検出回路 1 Transmission Line 10 Transmission Characteristic Measurement Device 11 Pseudo Random Signal Generation Circuit 14 Bit Error Addition Circuit 23 Error Detection Circuit 24 Reference Signal Generation Circuit 25 Bit Error Detection Circuit 26 Specific Bit Error Detection Circuit 29 Delay Amount Detection Circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】所定ビット周期の擬似ランダム信号を出力
する擬似ランダム信号発生回路(1)と、 前記擬似ランダム信号発生回路から出力される擬似ラン
ダム信号にビット反転による特定のビット誤りを任意の
タイミングに付加して測定信号として被試験伝送回線へ
送出するとともに、該ビット誤りの送出タイミングに同
期した送信タイミング信号を出力するビット誤り付加回
路(14)と、 前記被試験伝送回線を往復した前記測定信号を受け、該
測定信号に含まれる擬似ランダム信号の各ビットデータ
が、前記擬似ランダム信号発生回路から出力された擬似
ランダム信号の各ビットデータに一致するか否かを検出
する誤り検出回路(23)と、 前記誤り検出回路からの誤り信号を受け、該誤り信号
が、前記ビット誤り付加回路で付加された特定のビット
誤りに対応する誤り信号と一致したとき、受信タイミン
グ信号を出力する特定ビット誤り検出回路(26)と、 前記ビット誤り付加回路から送信タイミング信号が出力
されてから、前記特定ビット誤り検出回路から受信タイ
ミング信号が出力されるまでの時間差によって、前記被
試験伝送回線の信号遅延量を検出する遅延量検出回路
(29)とを具備した伝送特性測定装置。
1. A pseudo random signal generating circuit (1) for outputting a pseudo random signal having a predetermined bit period, and a specific bit error due to bit inversion in a pseudo random signal output from the pseudo random signal generating circuit at an arbitrary timing. To the transmission line under test as a measurement signal, and outputs a transmission timing signal synchronized with the transmission timing of the bit error, and a measurement circuit that reciprocates through the transmission line under test. An error detection circuit (23) that receives a signal and detects whether or not each bit data of the pseudo random signal included in the measurement signal matches each bit data of the pseudo random signal output from the pseudo random signal generation circuit. ) And an error signal from the error detection circuit, and the error signal is added by the bit error addition circuit. A specific bit error detection circuit (26) that outputs a reception timing signal when it matches an error signal corresponding to a specific bit error, and the specific bit error detection after the transmission timing signal is output from the bit error addition circuit. A transmission characteristic measuring device comprising: a delay amount detection circuit (29) for detecting a signal delay amount of the transmission line under test based on a time difference until a reception timing signal is output from the circuit.
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