JPH06161094A - 光化学的に安定なエキシマレーザー用遠紫外線ペリクル - Google Patents

光化学的に安定なエキシマレーザー用遠紫外線ペリクル

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JPH06161094A
JPH06161094A JP21118493A JP21118493A JPH06161094A JP H06161094 A JPH06161094 A JP H06161094A JP 21118493 A JP21118493 A JP 21118493A JP 21118493 A JP21118493 A JP 21118493A JP H06161094 A JPH06161094 A JP H06161094A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ロボット自動製造装置で用いることができる
バックライナーを有する、大気圧の差を通気解消する枠
を有するペリクルを与える。 【構成】 超研磨ホトマスク級ガラス基体上にニトロセ
ルロース基体を被覆し、前記ニトロセルロース基体を
0.5〜3.0μmの厚さを持つ膜とし、フルオロポリ
マーに清浄で非粘着性表面を与え、前記ニトロセルロー
ス膜の上にフルオロポリマー膜を約0.5〜3.0μm
の厚さに回転被覆し、前記フルオロポリマー膜に補修テ
ープをフルオロ接着剤で結合し、前記補修テープを有す
る前記ガラス・ニトロセルロース・フルオロポリマー・
フルオロ接着剤の組合せの上にステンレス鋼枠を取付
け、そして前記ニトロセルロース基体から前記フルオロ
ポリマー膜を剥がし、前記ステンレス鋼枠に付着した前
記フルオロポリマー膜を得るフルオロポリマー膜製造方
法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、粒状汚染物からホトマ
スクを保護するためのペリクル(pellicle)に関し、詳細
にはエキシマレーザーを用いた時に存在するような遠紫
外線(deep ultraviolet radiation)と共に用いるのに適
したペリクルに関する。
【0002】
【従来の技術】望ましい像が乱されないように、光学的
装置の焦点面より外側に粒状物質を留めるための保護カ
バーとしてペリクルが用いられている。ペリクルは、一
般にアルミニウム枠上に引張って取付けた薄い透明な膜
又はフイルムからなり、そのアルミニウム枠はホトマス
ク・レチクル上に気密に密封された塵の無い囲いを形成
するように取付けるものである。ペリクルは集積回路の
半導体製造で、ホトマスクを粒状汚染物から保護するこ
とと、マスク寿命を伸ばすための両方のために広く用い
られている。それらの主な機能は、ソフト欠陥を無く
し、ダイ(die)歩留りを向上させることにある。半導体
製造業者によるペリクルの使用は、ロン・イソコフ(Ron
Iscoff)による、「ペリクル1985;最新情報」(pel
licles 1985:An Update), Semiconductor Internationa
l, Apr. (1985) に詳細に論評されている。投影プリン
ト装置でもペリクルを用いており、シーア(Shea)その他
により1978年12月26日公告の米国特許第4,1
31,363号明細書に記載されている通りである。ペ
リクルの広範な種類及びそれらペリクルの形成方法は、
ウィン(Winn)による、夫々1983年4月5日及び19
85年8月20日に公告された米国特許第4,378,
953号及び第4,536,240号にも記載されてい
る。次の米国特許にもペリクルが記載されている:デュ
ポンに譲渡されているエドワードN.スクワイアー(Edw
ard N. Squire)による1990年11月27日公告の第
4,973,142号;デュポンに譲渡されているエド
ワードN.スクワイアーによる1990年8月14日公
告の第4,948,851号;エクソンに譲渡されてい
るギルバートH.ホング(Gilbert H. Hong)による19
91年4月1日公告の第5,008,156号;及び旭
化学に譲渡されているY.フクミツによる1987年4
月14日公告の第4,657,805号。
【0003】ペリクル製造にはニトロセルロースが広く
用いられている。しかし、ニトロセルロースは、248
nmで極めて吸収性であり、急速に劣化するので、24
8nm(又はそれより短い波長)のリトグラフ(lithogr
aphy)には適さない。また、ニトロセルロースの使用は
減少してきている。なぜなら、ニトロセルロースは極め
て引火性で、湿潤状態で保存しなければならないからで
ある。ニトロセルロースは吸湿性であり、そのため湿っ
た条件下では製造しにくい。従って、最終製品としてニ
トロセルロースのペリクルは水で濡れるとしわになり、
湿った条件下での保存或はクリーニングが問題になる。
ニトロセルロースペリクルの重要な問題点は、ニトロセ
ルロース材料自身が、遠紫外線を使用することに依存し
た最近の装置で使用するのに充分な程良く紫外線(U
V)を透過しないことである。紫外線による照射は、ニ
トロセルロースペリクル膜を変色し、従って、その透明
性を減少させることがある。260nmより低いと、変
色していないニトロセルロースでも入射光の70%未満
しか透過しない。ペリクルに用いた時のニトロセルロー
ス及びマイラー(MYLAR)のこの限界は、R.ハーシェル
(Hershel)による「ICマスクのペリクル保護」(Pelli
cle Pyotection of IC Masks)(ハーシェル・コンサル
ティング社のリポート)(1981年8月)に論じられ
ている。
【0004】集積回路を製造するのに用いられているリ
トグラフ法の進歩は、ペリクルと一緒に用いられる入射
紫外線の波長を短くすることに依存している。紫外線を
透過することができる広帯域ペリクルの開発は、I.E.ワ
ード(Ward)及びD.L.デューリー(Duly)による「光学的マ
イクロリトグラフIII :次期10年のための技術」(Opt
ical Microlithography III: Technology for the Next
Decade), SPIE, Vol.470, pp. 147-154 (1984)〔H.L.
ストーベル(Stover)編集〕に記載されている。ワード及
びデューリーは、光学的干渉を減少させるため、ペリク
ルの少なくとも一方の側に被覆した非反射性層を記述し
ている。そのような光学的干渉はペリクル内の光の内部
反射によって起こされるのが典型的であり、ペリクルの
透過スペクトルの振動現象により証明されている。この
特別な問題に対し提案されている解決法は、非反射性被
覆を適用し、膜の厚さを制御することを含んでいる。反
射性被覆はペリクルの表面によく付着しない。その場
合、不完全な接着により非反射性被覆の亀裂及び剥離が
屡々起こり、そのためペリクルが破壊される結果にな
る。
【0005】フクミツその他による1987年4月14
日公告の米国特許第4,657,805号明細書には、
ペリクルのための非反射性層として働らかせるため、薄
いフルオロポリマー膜を使用することが記載されてい
る。フルオロポリマー膜の多数の層を芯層のペリクル上
に被覆し、種々の層の屈折率を内部反射及び散乱を減少
するように選択した5層ペリクル構造体を形成してい
る。
【0006】ウォードの紫外線透過性ペリクルは、一連
の三つの特許に一層完全に記載されている。1984年
11月13日公告の米国特許第4,482,591号明
細書には、ポリビニルブチラール樹脂(PBR)からな
るペリクルが記載されており、ウェーハからペリクルを
取り外す除去すのに接着剤側を有するリング使用するこ
とが記載されている。1985年2月15日公告の米国
特許第4,499,231号明細書には、PBR及びコ
ロイド状シリカの分散物からなるペリクルが記載されて
いる。1984年10月9日公告の米国特許第4,47
6,172号明細書には、シラン部分を含むPBR誘導
体からなるペリクルが記載されている。
【0007】ペリクルを製造するのに用いられる方法に
は問題も存在する。例えば、不活性基体上に重合体溶液
を付着させ、次にその溶媒を蒸発させることによりペリ
クルを形成するのが典型的である。これにより不活性基
体上に被覆されたペリクルが残る。基体からそのデリケ
ートなペリクルを剥がすのは困難であるが、その方法に
とって必要な工程である。ウィンによる米国特許第4,
536,240号明細書には、この仕事をペリクルに枠
を結合し、次に基体からペリクルを剥がすことにより行
う方法が記載されている。この手順に関連して、フルオ
ロポリマー溶液を適用する前に基体に適当な剥離剤を適
用し、それによってペリクルを剥がすのに役立たせるこ
とができる。しかし、この方法は剥離工程中、多数のペ
リクルが切り裂かれる結果を与えている。
【0008】デューリーその他は、1985年6月18
日公告の米国特許第4,523,974号明細書で、酸
化したウェーハの表面に金の膜を適用し、その金の膜の
上にポリメチルメタクリレート(PMMA)の薄い層を
被覆し、そのPMMA及び金の層をウェーハから剥が
し、そして金層を食刻除去する諸工程を含むPMMAか
らペリクルを製造する方法を開示している。
【0009】最近10年間のマイクロリトグラフの傾向
は、紫外線の波長が益々短くなる方向にある。ステッパ
ー(stepper)輻射線は436nmの水銀G線から365
nmのI線に変化している。最新のステッパーは、24
8nmのフッ化クリプトン放射線及び194nmのXE
−Fを用いて、約0.3μの大きさの特定サイズを描い
ている。
【0010】マイクロリトグラフ法で用いられるマスク
のきれいさを保護する効果的な手段として、ホトマスク
工業ではペリクルがよく受入れられている。マスクをペ
リクル化し、マスク上のIC設計の像をウェーハに転写
するのに用いた場合、それらペリクルは塵から保護する
覆いとして役立つのみならず、リトグラフ像を投影する
光学装置の一部分としても働く。ペリクル膜は遠紫外
線、例えば、エキシマレーザー・ステッパーのための1
94nm及び248nmの波長に対して光化学的に安定
でなければならない。ペリクル膜は大きなウェーハ収率
を確実に与えるように遠紫外線範囲まで高度に透明でな
ければならない。ペリクル膜は処理されるウェーハに欠
陥を生じないように非常に清浄でなければならない。ペ
リクル膜は適当な接着剤を有するアルミニウム枠に取付
けることができなければならず、0.5μm〜5.0μ
mの典型的な厚さでさえも、組み立てたペリクルが通常
の使用に対し充分耐えるように強いものでなければなら
ない。
【0011】フルオロポリマーがアルミニウム枠を有す
る遠紫外線ペリクルに有用なものとして従来法で記述さ
れているが、それにも拘わらず、高収率でフルオロポリ
マー膜を注型製造する方法、大気圧が変動した時、取り
込まれた空気による破裂が起きないようにしたペリク
ル、及び自動製造装置で用いられるロボットと共働する
バックライナーに対する必要性が存在している。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、フルオロポリマー膜を注型製造する方法を与えるこ
とである。本発明の更に別な目的は、ペリクル膜の破裂
を起こさないように大気圧の差を通気解消するペリクル
枠を与えることである。本発明の他の目的は、自動製造
装置で用いられるロボットと両立することができるバッ
クライナーを有するペリクルを与えることである。
【0013】
【課題を解決するための手段】簡単に述べると、本発明
の一つの態様は、ニトロセルロース基体上に回転(spin)
被覆し、然る後、分離したフルオロポリマー膜、その分
離したフルオロポリマー膜が永久的に結合された通気性
アルミニウム枠、及びその枠をバックライナーへ何回で
も取付け及び取り外しを行うことができる粘着性接着剤
を有するアルミニウム枠へ固定された堅い剥離バックラ
イナーを有するペリクルである
【0014】本発明の一つの利点は、基体から分離する
間に損傷を受けるフルオロポリマー膜が極めて少ないた
め、経済的に製造することができるペリクルを与えるこ
とである。
【0015】本発明の更に別な利点は、大気圧の変動に
より内部又は外部へ破裂することのないペリクルを与え
ることである。
【0016】本発明の更に別な利点は、自動製造装置で
用いられるロボットと両立することができるペリクルを
与えることができることである。
【0017】本発明のこれら及び他の目的及び利点は、
種々の図面に例示した好ましい態様についての次の詳細
な記述を読むことにより、当業者には確かに明らかにな
るであろう。
【0018】〔好ましい態様についての詳細な記述〕図
1は、全体的に参照番号10で示した本発明のペリクル
の一態様を例示している。ペリクル10は、無定形フル
オロポリマー膜12、通気口16を有するアルミニウム
枠14、サム(thumb)タブ20及び接着ステッカー21
を有するバックライナー18からなる。膜12に有用な
許容可能なフルオロポリマー材料には、テトラフルオロ
エチレン(TFE)・ヘキサフルオロプロピレン(HF
P)共重合体、フッ化ビニリデン単独重合体、フッ化ビ
ニリデン(VdF)・TFE共重合体、TFE・ペルフ
ルオロアルキルビニルエーテル共重合体、及びVdF・
エチレン共重合体が含まれる。好ましいフルオロポリマ
ーは、溶媒に可溶性で、回転被覆法により均一な膜に成
形することができるものである。ペリクル10は、19
3nmのエキシマレーザー輻射線を用いた用途で使用で
きるように考えられている。ここに列挙した膜12のた
めの材料はそのような用途に適したものである。数多く
の適用環境には248nmの紫外線が含まれ、ここで挙
げた膜12のための材料はそのような用途に対しても適
している。そのような輻射線は膜12を劣化することが
あるので、膜12の好ましい厚さは、0.5μの薄さの
ものから3μの厚いものまでの範囲にある。
【0019】デュポンは、ペリクル製造に関連した少な
くとも二種類のフルオロポリマー材料を開発しており、
それらを商業的に入手できるようにしている。例えば、
いずれもエドワードN.スクワイアーによる1990年
11月27日公告の米国特許第4,973,142号及
び1990年8月14日公告の米国特許第4,948,
851号を参照されたい。最初の無定形フルオロポリマ
ーはデュポンから「AF−2400」として市販されて
おり、それはペルフルオロ−2,2−ジメチル−1,3
−ジオキシド(PDD)とテトラフルオロエチレン(T
FE)との、PDD85%、TFE15%の共重合体で
ある。この共重合体のガラス転移温度は240℃であ
る。第二の無定形フルオロポリマーは「AF−160
0」として販売されており、それはPDDを65%、T
FEを35%にしたPDDとTFEとの共重合体であ
る。この後者の共重合体のガラス転移温度は160℃で
ある。一般にPDDの濃度が大きい程、堅さは大きくな
り、ガラス転移温度は高くなる。これらの共重合体の両
方共、3M社のFCフルオリナート(FLUORINERT)液体
(例えば、56℃の沸点を有するFC72、及び155
℃の沸点を有するFC40)に可溶性である。AF−1
600は、FC72:FC40(1:3)の混合物中に
8〜10%の濃度まで入れて調製することができ、AF
−2400は2〜3%の濃度に調製することができる。
AF−1600は許容可能なペリクル膜を形成するのに
適切な溶解度を示している。旭ガラスは、「CYTO
P」と言う名称でペルフルオロ−シクロ−オキシ−脂肪
族単独重合体を市販しており、それは108℃のガラス
転移温度を有し、過フッ素化液体に一層容易に溶解す
る。しかし、それが形成する膜はAF−1600及びA
F−2400から作られたもの程堅くはない。それにも
拘わらず、AF−1600及びCYTOPは、190〜
500nmの範囲の紫外線を含む適用環境に適してい
る。
【0020】そのようなフルオロポリマーに関する更に
別の情報として、フクミツその他による1987年4月
14日公告の米国特許第4,657,805号を挙げ
る。回転被覆に関する更に別の情報として、R.ウィン
による1985年8月20日公告の米国特許第4,53
6,240号を挙げる。
【0021】枠16は典型的には3.75in×4.7
5inである。枠16の周囲の材料は、約0.25in
×0.0625inである。通気口16は、空気は枠1
4を通過させるが、汚染物は通過させず、そのため膜1
2及びバックライナー18の両方を枠14に密封する
か、又はペリクル10をホトマスク・レチクル上に使用
した時、大気圧が変化しても膜12を内部又は外部へ破
裂させる傾向を持たない。膜12を枠14に永久的に密
封するのに高強度紫外線硬化性セメントを用いるのが好
ましい。枠14とバックライナー18との間に一時的な
密封部を形成し、何度でも枠14に対するバックライナ
ー18の取付け及び取り外しを行えるようにするのに、
反復付着可能な型の粘着性接着剤を用いる。(そのよう
な接着剤は3M社黄色POST−ITノートパッドで用
いられているもののように、素人にもよく知られてい
る)。ステッカー21は両側が別な色で識別されてお
り、例えば、一方の側が金色で、他方の側が銀色になっ
ている。そのような色による識別は、バックライナー1
8の同じ側をいつも枠14へ戻すのに、使用者にとって
役立つものである。
【0022】ペリクル10は、持運び用容器底22の中
に入れて輸送するのが好ましく、その容器底は一対のフ
ィンガーノッチ24及び一対のサム・タブノッチ26を
有する。ペリクル10を棚28の上に乗せ、持運び用容
器底22内に配置する。持運び用容器の透明な透視プラ
スチック蓋30が持運び用容器底22の上に嵌まり、ペ
リクル10を使用者が見ることができ、輸送中に保護す
ることができる。持運び用容器底22及び蓋30は、そ
の蓋30を開け、ペリクル10を取り出し、枠14から
バックライナー18を分離することができるロボット自
動操縦装置と両立することができるものである。バック
ライナー18は、枠14上の接着剤からバックライナー
18をロボット真空持ち上げ機によって持ち上げて除く
ことができるのに充分な堅さを持っている。そのような
堅さにより、自動装置によってバックライナー18の折
れ曲がり、皺寄り又は伸びを起こすことなく、バックラ
イナー18を除去することができる。次にペリクル10
をロボット操作によりホトマスクレチクルに取付ける。
バックライナー18は枠14内の、膜12の背後にある
内部空気が、好ましくは清浄な室内環境で行われるホト
マスク上への最終的取付けまで汚染から保護する。この
機能は特に重要である。なぜなら、ホトマスクに伴われ
る光学装置の焦点面内に存在するようになるのは、ホト
マスクと膜12との間の領域だからである。焦点面内に
塵或は何等かの汚染があると、光学的異常性を生じ、そ
れがウェーハ処理欠陥を生ずることになる。ペリクル1
0の外側、従って焦点面の外側の塵又は汚染は、そのよ
うな欠陥を生ずる程のシャープな焦点を結ぶことはでき
ない。
【0023】図2A、2B及び2Cは、一対の孔40及
び42及び側壁14内の溝44を有する通気口16の構
造を例示している。孔40及び孔42は溝44の両端近
くに存在するのが好ましく、それによって通気口16を
通る空気の流れは、溝44の長さに亙って通過しなけれ
ばならない。従って、孔40及び42は壁14を真っす
ぐに通過しているのではなく、一方がペリクル空洞内部
から、他方が外側環境から夫々溝44中に通じた孔にな
っているようにずれている。孔40及び42は0.2〜
0.6mmの内径を有するのが典型的であり、溝44は
0.7mmの内側幅を有する。溝44の長さ及び深さ
は、溝44内に別法として配置してもよいフィルター材
料46(図2B及び2Cにのみ示されている)を嵌め込
むことができるように作られていてもよい。溝44の幾
何学的内部構造は、或る利点が得られるように修正して
もよい。例えば、溝44の長さを増大することにより、
粒子補足能力を増大することができ、特に枠14とバッ
クライナー18との間に使用した接着剤が溝44の一つ
の境界を形成する場合にはそうである。粒子は溝44を
ジグザク型に成形することによりその通過が阻止される
であろう。溝44内の粒子の空気による速度は、溝44
を角状に成形することにより減少させることもできる。
発明者の試験により、ペリクル10は、高い飛行高度の
商業的定期航空機の貨物室内に入れると、そのような航
空機の通常の上昇及び下降速度に充分対応した速さで通
気口16を通って圧力差を放出解消することができ、膜
12が損なわれるには至らないことが示されている。フ
ィルター46のために選択された材料は、必要な気孔孔
径で大きな流量を支えなければならない。横からの応力
に対し良好な抗張力及び破壊抵抗を有することが重要で
ある。フィルター46は3.0μmの、湿分の吸収によ
る濡れを起こしにくい疎水性材料であるポリテトラフル
オロエチレンのフィルターからなっていてもよい。フル
オロポアー社(Fluoropore Co.)はそのようなフィルター
材料を製造し、商業的にそれを販売している。フィルタ
ー46は枠14に接着剤、例えば、3M社の接着剤49
52により取付け、壁が少なくとも1mmの厚さになる
ようにする。接着剤は、ペリクル10を洗浄する前に、
使用後少なくとも30分間硬化させるべきである。
【0024】ペリクル膜12は、表Iに列挙した工程に
従い、再使用可能なニトロセルロース基体上に製造す
る。
【0025】 表I 工程 内容 1 超研磨ホトマスク級ソーダ・石灰・ガラス基体上にニトロセルロースの 膜を付着する。ニトロセルロースとガラス基体の両方共、実質的にどの ような欠陥又は汚染でも含んでいてはならない。ニトロセルロースは膜 状、即ち、約0.5〜3.0μmの厚さに付着させ、清浄で非粘着性の 表面を持つべきである。 2 ニトロセルロース膜の上に、CYTOP又は無定形フルオロポリマー1 600又は2400の如きフルオロポリマーの膜を約0.5〜3.0μ mの厚さに付着させる。そのような膜厚を得るためによく調製したスピ ナー(spinner)を用いてもよい。 3 フルオロポリマー膜の周縁をフルオロ材料、例えば、KEL−F−80 0により補修テープ片に結合する。 4 ガラス、ニトロセルロース、フルオロポリマー、及びフルオロ接着剤膜 の積層体の上に補修テープでステンレス鋼枠を取付ける。 5 膜、補修テープ及びステンレス鋼枠の組合せを剥がす。 6 膜、補修テープ及びステンレス鋼枠の組合せのフルオロポリマー膜だけ をアルミニウム枠に取付ける。 7 ステンレス鋼枠及び補修テープをアルミニウム枠の周囲の外側からトリ ミングし、ぴんと張ったフルオロポリマー膜をアルミニウム枠の上に伸 ばすようにする。
【0026】表Iに記載した方法の最初の四つの工程に
より、図3に例示した構造が得られ、それはソーダ・石
灰・ガラス基体50、ニトロセルロース中間層52、フ
ルオロポリマー層54、フルオロ接着剤層56、補修テ
ープ層58、及びステンレス鋼枠60からなる。補修テ
ープ層58を持ち上げて離すと、層54、56、58及
び枠60は一緒に留まり、層52から離れ、その層はガ
ラス基体50の上に留まり、典型的には再使用するのに
充分な良好な状態のままになっている。従来法は本発明
とは少なくとも二つの点で異なっている。第一は、本発
明では、ガラス基体50にニトロセルロース層52を被
覆し、然る後、フルオロポリマーの付加的層54を適用
していることである。これにより、フルオロポリマー層
54がニトロセルロース対フルオロポリマー界面で一層
容易に分離すると言う事実を利用することができる。も
しフルオロポリマー層54を直接ガラス50に付着させ
ると、ガラス対フルオロポリマー界面は非常に分離しに
くくなり、膜は恐らく分離しようとすると裂けるであろ
う。従来法は種々の溶媒を使用することによりそのよう
な目的を解決している。第二に、フルオロ接着剤56を
フルオロポリマー54に適用し、補修テープ58とステ
ンレス鋼枠60との組合せを用いて膜を持ち上げること
ができるようにする。補修テープは、3Mコマーシャル
・オフィス・サプライ・ディビジョン(Commercial Off
ice Supply Division)(ミネソタ州セントポール、55
144−1000)から販売されているスコッチ(SCOTC
H)(商標名)ブランドのマジックテープ(Magic Tape)
(商標名)810でもよい。フルオロポリマー54を次
に枠14(図1)の如きアルミニウム枠に移し、ステン
レス鋼枠60からトリミングした後、図1の膜12とし
て示したもののようにする。
【0027】ここに記載したペリクル膜12の製造方法
は、本発明者であるギルバートH.ホングによる199
1年4月16日公告の米国特許第5,008,156号
に記載したものに関連しており、その特許の記載は参考
のためここに入れてある。一般に、幾つかの従来法は、
重合体を溶媒に入れた被覆溶液を調製することから始ま
っている。この溶液は、汚染物を除去するため0.2μ
以下の気孔孔径を持つフィルターを通して濾過し、それ
によって最終フイルムの透明性を改良する。空気によっ
て運ばれる汚染物を避けるため、ペリクル製造中クラス
100(又はそれ以上)の清浄な室を用いる。濾過後、
フルオロポリマー溶液を、慣用的回転被覆法を用いて超
平坦な円滑で欠陥のない基体に適用する。(回転被覆は
重合体膜を得るために半導体工業で広く用いられてお
り、欠陥のない被覆を得るための許容された工業的実施
法の殆どはペリクル製造に適用することができる)。典
型的には、約1000rpmの速度を用いて2〜3μの
高品質ペリクルが得られる。ソーダ・石灰・ガラスの基
体が好ましい。使用する前にガラス基体を洗剤と共に脱
イオン水で洗浄することにより奇麗にする。次に基体を
多量の脱イオン水で濯ぐ。次に超音波撹拌を用いてイソ
プロピルアルコールで2回目の濯ぎを行う。基体を塩素
化フルオロカーボン、例えば、フレオンを用いて脱グリ
ースタンク中で乾燥する。環境を考慮に入れて、他の種
類の化学的脱グリース剤が好ましい。回転被覆した後、
超清浄炉中で約60〜90℃で約30分間加熱すること
により、全ての残留溶媒をペリクル膜から除去する。こ
の加熱は、フルオロポリマーの応力を減少させることに
より膜の抗張力を増大する働きがある。付加的回転被覆
工程により、付加的層を追加してもよい。或る用途で
は、乾燥した後、ペリクル膜をガラス基体から剥がし、
然る後、四角な枠に取付ける。これによって膜の破壊を
減少させることによりペリクル膜の収率が向上する。四
角な枠はステンレス鋼から作るのが典型的であり、ペリ
クル膜の大きさにより、約20ミルの厚さ及び6〜7i
nの内側の大きさを有する。一般に四角な枠は、3Mス
コッチブランドのマジックテープの如き接着テープによ
りペリクル膜へ取付ける。一方の側にガラス基体、他方
の側に四角の枠を有する膜組立体を、脱イオン水中に約
5分間浸漬するか、又はそれを噴霧する。ペリクル膜と
ガラスとの界面の接着不良は、脱イオン水の分離作用に
より起こされる。ペリクル膜はガラス基体から剥がれる
が、四角枠には依然として付着したままになる。穏やか
に加熱するか、又は周囲の蒸発加熱により、水滴をペリ
クル膜の表面から除去する。剥がして乾燥した後、ペリ
クル膜を枠に移すことができる。これは、永久的接着剤
が予め適用されている枠の上に、ペリクル膜を有する四
角枠を置くことにより行われる。永久的接着剤が硬化し
た後、ペリクル膜を、枠に沿って過剰の膜材料をトリミ
ング除去することにより四角枠から分離し、縁が取付け
られたペリクル膜を生ずる。典型的な用途として、ペリ
クル膜の厚さは0.85μか又は2.83μになるよう
に選択される。幾つかの変更の中で、ペリクル膜の厚さ
を光学的干渉効果を減少させるか、又は膜の強度を調節
するため変化させる。
【0028】フルオロポリマーは、一般に3M社による
フルリナート(FLURINERT)の如き過フッ素化流体に溶解
することができる。しかし、フルオロ接着剤は、例え
ば、メチルエチルケトン、エトキシ酢酸エチル又はプロ
ピレン酢酸メチルのような慣用的溶媒に溶解する材料か
らなるのが好ましい。良好な結果は、KEL−F800
(3M社)を用いて得られており、ペンウォールト(Pen
nwalt)によるKYNAR7201及び9301は許容可
能な結果を与えることが判明している。第二の層は、既
に回転被覆した第一層を侵食しない溶媒により溶解でき
なければならない。
【0029】多層非反射性被覆遠紫外線ペリクル膜12
は、第一フルオロポリマー層、高屈折率、例えば、1.
435の屈折率を持つ第二フルオロ接着剤層、及び第三
フルオロポリマー層からなる構造を用いて作ることがで
きる。例えば、第一層はAF−1600からなり、第二
層はKEL−Fからなり、第三層はAF−1600から
なる。
【0030】発明者により二種類の実験が行われた。緩
和実験は膜を距離dx膨らませ、次にdxを0に近づけ
るのに必要な時間(dtreturn)を測定することを含ん
でいた。一定dx、即ち通気実験は、ペリクル膜12が
与えられたdxまで膨らむまでそれを加圧し、圧力差
(dP)を測定し、次に真空バルブを通って圧力低下速
度を調節することにより膜12をどれだけ長くdxに維
持することができるか、その時間(dtvent)を測定す
ることを含んでいた。この実験では、ペリクル12の空
洞は、屡々殆ど完全に排気された。実験は、膜効率及び
苛酷な条件下での可能な負荷に関して最も悪いシナリオ
に類似させるため、清浄でない室内環境で行われた。緩
和データーは、通気時間が測定するのに長過ぎて不適切
になる程通気口が狭くなったフィルター付きペリクル膜
12からの平均流量の大まかな推定値を与える。通気デ
ーターにより、与えられた一定の圧力での通気口を通る
平均流量及びこの平行を維持すのに必要な圧力低下率を
計算することができる。四つの異なったペリクル膜12
を用いた:通気口16として3mmの直径の孔を有する
エクソン・テクノロジー社(カリフォルニア州サンホ
セ)のNI−108−63−B−G、通気口16として
一つの溝及び四つの0.5mm直径の孔を有するエクソ
ン・テクノロジー社のPE−107−31−A−T、通
気口16として溝がなく、1.0mm、0.7mm、
0.7mm、及び0.2mmの直径の四つの孔を有する
エクソン・テクノロジー社のPB−107−31−A−
T、通気口16として0.6mmの内径を有する二つの
凹んだ孔を有するエクソン・テクノロジー社のPE−1
07−31−A−T、及びエクソン・テクノロジー社の
CA−122V−40−B−T。
【0031】三つの種類の接着剤を用いた:3M社の4
47(10ミルのゴム系)、ノルウッド(Norwood)のK
C8031(30ミル)、及び3M社4952(45ミ
ル、アクリル系)。後者の二つの接着剤は、約0.0
7″×0.018″の通気口16のための孔、0.7m
mの最小側壁厚さを有する長方形の形に切断した。これ
により使用可能なフィルター面積が増大する。なぜな
ら、フィルター膜が空気流の進行を妨げるからである。
【0032】五つの異なったミリポアー膜フィルターを
フィルター46(図2B及び2C)として用いた:0.
2μm気孔孔径のフルオロポアー(高密度ポリエチレン
裏打を有するPTFE)、0.5μmのフルオロポア
ー、1.0μmのフルオロポアー、3.0μmのフルオ
ロポアー(ポリプロピレン裏打を有するPTFE)、及
び8.0μmのMF−ミリポアー(混合セルロースエス
テル)。これらの膜は全て大きな円板から適当な大きさ
に切断した。
【0033】ペリクル10は、3分間で10000フィ
ート上昇する商業的飛行機の非加圧貨物室内に入れて輸
送されている間、荷積みに耐えることができるのが好ま
しい。これは、1秒間に0.058inHg(inHg
/s)の空気圧力平均低下速度を生ずる。ペリクル10
について、1inHgより小さなdPが観察されてお
り、それは膜12の0.5mmより小さい偏向を生ずる
であろう。潜在的圧力低下速度は、0.067inHg
/s位の高さになるであろうが、殆どの貨物便は、少な
くとも部分的に加圧されており、恐らく実際の速度は遥
かに小さい。
【0034】通気口40及び42については実際上最適
孔径はないであろう。なぜなら、ミクロンオーダーの気
孔孔径を持つ膜フィルターは空気流を、その非阻害流の
数%しか阻害しないからである。孔40及び42の孔径
は、出来るだけ大きいのがよいが、孔40及び42の周
りの枠14上に少なくとも約1mmの間隔を接着剤のた
めに残すようにする。別法として、孔40及び42の孔
径は、孔の数を増大して補うことができる限り、比較的
小さくすることができる。
【0035】ミリポアー社が製造する多くの膜フィルタ
ーの中で、MF−ミリポアー及びフルオロポアーの系統
だけが、気孔孔径及び大きな流量についての必要な条件
を満足することが見出されている。MF−ミリポアーフ
ィルターはこの用途に適しているようには見えない。な
ぜなら、それらは抗張力が不充分で、非常に小さな横か
らの応力で破壊するからである。一方フルオロポアーフ
ィルターは、裂けることなく延伸することができる。更
に、それらは疎水性材料であるポリテトラフルオロエチ
レンから作られ、従って湿分の吸収による濡れを起こし
にくい。気孔孔径により、湿潤した膜は奇麗にするのに
1〜20psiの圧力差を必要とすることがある。試験
した三つのフルオロポアーフィルターの中で、3.0μ
mのフィルターが、実現可能な流量に関して最もよい性
能を示した。しかし、このフィルターを用いた実際の製
造では、幾つかの問題が起きた。例えば、フィルターの
ポリプロピレン支持体側が繊維質で、摩耗すると脱落
し、堅いPTFE表面がノルウッド及び3M社4952
接着剤の両方に対し接着性が弱く、フィルター46は応
力の下で剥がれることがある。接着は他の三つのフルオ
ロポアーフィルターの方が、それらの柔軟性のために一
層よいものであった。3.0μmのフィルターのPTF
E側も、他のものよりも一層繊維質であるように見え、
応力下で時々引き剥がされる傾向をもたらしている。
0.2μm、0.5μm、及び1.0μmのフルオロポ
アーフィルターは、全てウエブ状HDPE裏打により支
持されている。殆どの場合、この裏打は流量に影響を与
えないが、小さな通気口(半径0.1mm)の場合に
は、この材料はPTFE膜から注意深く引き剥がされる
べきであり、そうすることができる。
【0036】接着剤の形状は、通気口40及び42とほ
ぼ同じ孔径の孔を有する3M社447の6mm×5mm
のものからなっていた。他の試験では、一層大きく長方
形の孔を有するノルウッド及び3M社4952に変え
た。なぜなら、一層大きな有効なフィルター面積は、部
分的に流れを妨げることはなく、一層大きな厚さによ
り、孔からの流れを一層完全に生じさせ、有効表面積を
一層よく利用する結果になるからである。製造で解決し
なければならない多くの問題がある。主な問題は、孔4
0及び42の正確な切断である。例えば、3.1mmの
間隔を有するペリクル10の場合、接着剤は3.1mm
の幅であるが、孔40及び42は1.7mmの内径であ
る。これにより各側に0.7mmの壁が可能になる。ノ
ルウッドの30ミル(0.76mm)の場合、壁の高さ
は大略その幅に等しい。3M社4952の場合、壁はそ
れらの厚さよりも0.4mm高い。両方共スポンジ状発
泡接着剤であり、その結果奇麗に且つ正確に切断するの
が極めて難しい材料である。更に、接着剤を切断した
後、フィルター46をその接着剤に正確に適用し、次に
枠14へ接着剤を適用する付加的問題が存在する。他の
問題には、4952の脱ガスの可能性、フィルター対接
着剤結合の時間による耐久性、持ち上がったフィルター
素子と現在存在するペリクル取扱い及び取付け固定具と
の両立性が含まれる。
【0037】それにも拘わらず、流れに関する現在の最
良の解決法は、壁が少なくとも1mmの厚さになるよう
に3M社4952接着剤片で枠14に付着させたフィル
ター46のための3.0μmのフルオロポアーフィルタ
ーと組合せて、通気口16中に、2〜4個の大きな孔径
の孔(0.4mm〜0.5mm)を含ませることである
ように見える。3M社4952の結合強度は、72時間
に亙って対数関数的に増大すると思われるので、ペリク
ル10の完成組立体は、洗浄する前に、少なくとも半時
間静かに放置しておいた。可能な修正及び形状:
【0038】別の態様として、通気口16を凹んだ孔に
よって置き換える。両面テープ、又はエポキシ接着剤を
用いて小さな円状のフィルターを内部に取付け、そのフ
ィルター材料が枠14の表面と同じ面になるか、又はそ
れより下になるようにする。これによって現在あるペリ
クル固定具との両立性についての潜在的問題を解決する
ことができ、同様に通気口16中のフィルター46の偶
然的剥離に関する問題を軽減することができる。なぜな
ら、凹んだフィルターは、それが凹所内部に取付けられ
たならば、掃き出すことは出来なくなるからである。
【0039】本発明を現在好ましい態様に関して記述し
てきたが、その記述は限定的なものと解釈すべきでない
ことは分かるであろう。上記記載を読めば、当業者には
種々の変更及び修正が必ず明らかになるであろう。従っ
て、本発明の本質及び範囲内に入る全ての変更及び修正
は特許請求の範囲に含まれるものと解釈すべきである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のペリクル及び持運び用容器の組立体の
バラバラにした斜視図である。
【図2】2Aは図1のペリクルの枠の一部分にある通気
口の斜視図であり、2Bは2Aの通気口の上面図であ
り、2Cは2Aの通気口の側面図である。
【図3】図1のペリクルのフルオロポリマー膜の、回転
被覆により形成されたガラス基体上のニトロセルロース
から分離する前の断面図である。
【符号の説明】
10 ペリクル 12 膜 14 枠 16 通気口 18 バックライナー 21 ステッカー 22 持運び用容器底 28 棚 30 蓋 40 通気口 42 通気口 46 フィルター 50 ガラス基体 52 ニトロセルロース層 54 フルオロポリマー層 56 フルオロ接着剤層 58 補修テープ層 60 ステンレス鋼枠

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 再使用可能なニトロセルロース基体上に
    フルオロポリマー膜を形成し、次にそのフルオロポリマ
    ー膜を分離する方法において、 超研磨ホトマスク級ソーダ・石灰・ガラス基体上にニト
    ロセルロース基体を被覆し、前記ニトロセルロース基体
    と前記ガラス基体の両方が欠陥又は汚染物を全く含まな
    いようにし、前記ニトロセルロース基体を0.5〜3.
    0μmの厚さを持つ膜とし、フルオロポリマーに清浄で
    非粘着性表面を与え、 前記ニトロセルロース膜の上にフルオロポリマー膜を約
    0.5〜3.0μmの厚さに回転被覆し、 前記フルオロポリマー膜に補修テープをフルオロ接着剤
    で結合し、 前記補修テープを有する前記ガラス・ニトロセルロース
    ・フルオロポリマー・フルオロ接着剤の組合せの上にス
    テンレス鋼枠を取付け、そして前記フルオロポリマー膜
    を前記ステンレス鋼枠に付着させたまま、前記ニトロセ
    ルロース基体から前記フルオロポリマー膜を剥がす、諸
    工程からなるフルオロポリマー膜製造方法。
  2. 【請求項2】 内部空洞、第一及び第二表面を有する周
    囲枠で、該第一及び第二表面が、前記枠周囲と一緒にな
    って前記内部空洞の体積を完全に境界付ける第一及び第
    二面内に夫々横たわっている周囲枠、 前記枠の第一表面に取付けたフルオロポリマー膜、及び
    前記内部空洞とペリクルの外部環境との間の空気圧力差
    を解消するための通気機構、を具えた遠紫外線ペリク
    ル。
  3. 【請求項3】 通気機構が、枠内に形成された溝及びそ
    の溝と内部空洞との間の孔及び前記溝とペリクルの外側
    の環境との間の孔からなる請求項2に記載のペリクル。
  4. 【請求項4】 通気機構が、ポリテトラフルオロエチレ
    ンを含むミクロンオーダーの気孔孔径をもつフィルター
    材料を更に有する請求項3に記載のペリクル。
  5. 【請求項5】 通気機構が、内部空洞とペリクルの外側
    の環境との間の、枠中のさら孔内に取付けたフィルター
    を有する請求項2に記載のペリクル。
  6. 【請求項6】 遠紫外線波長の光と組合せて用いるため
    のペリクルにおいて、 空気から汚染物を濾過し、ペリクル内の空気圧を等しく
    するための通気機構を有するアルミニウム枠、及びニト
    ロセルロース基体上に回転被覆することにより形成し、
    次に前記ニトロセルロースから分離し、アルミニウム枠
    に取付けた純粋フルオロポリマーの膜、からなるペリク
    ル。
  7. 【請求項7】 膜及び枠が永久的結合剤により一緒に接
    合されており、そして前記枠の、前記膜とは反対側に粘
    着性接着剤を有し、バックライナーを、それが剥がされ
    るまで枠上に維持し、何度でも再付着することができ
    る、請求項6に記載のペリクル。
  8. 【請求項8】 ペリクルの内部空間を汚染しないように
    密封し、枠上に、剥がされるまで保持され、何度でも再
    付着することができるバックライナー部材を更に有する
    請求項6に記載のペリクル。
  9. 【請求項9】 190〜500nmの遠紫外線範囲で操
    作するのに適したペリクルにおいて、 内部空洞及び第一及び第二表面を有する周囲枠で、前記
    第一及び第二表面が、前記枠周囲と一緒になって前記内
    部空洞の体積を完全に境界付けている第一及び第二面内
    に夫々横たわっている周囲枠、及び前記枠の前記第一表
    面に取付けられた0.5〜3μmの厚さの膜で、ペルフ
    ルオロ−2,2−ジメチル−1,3−ジオキシド(PD
    D)とテトラフルオロエチレン(TFE)との、PDD
    85%及びTFE15%の共重合体からなる膜、を有す
    るペリクル。
  10. 【請求項10】 内部空洞とペリクルの外部環境との間
    の空気圧力差を解消し、膜を破壊から保護する通気機構
    を更に有する請求項9に記載のペリクル。
  11. 【請求項11】 190〜500nmの遠紫外線範囲で
    操作するのに適したペリクルにおいて、 内部空洞及び第一及び第二表面を有する周囲枠で、前記
    第一及び第二表面が前記枠周囲と一緒になって前記内部
    空洞の体積を完全に境界付けている第一及び第二面内に
    夫々横たわっている周囲枠、及び前記枠の前記第一表面
    に取付けられた0.5〜3μmの厚さの膜で、ペルフル
    オロ−シクロ−オキシ−脂肪族単独重合体からなる膜、
    を有するペリクル。
  12. 【請求項12】 内部空洞とペリクルの外部環境との間
    の空気圧力差を解放し、膜を破壊から保護するための通
    気機構を更に有する請求項11に記載のペリクル。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0696760A1 (en) * 1994-08-11 1996-02-14 Mitsui Petrochemical Industries, Ltd. Mask protective device
JP2015064416A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 信越化学工業株式会社 ペリクル

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3089153B2 (ja) * 1993-12-13 2000-09-18 信越化学工業株式会社 リソグラフィー用ペリクル
US5529819A (en) * 1995-04-17 1996-06-25 Inko Industrial Corporation Pellicle assembly with vent structure
JP3234854B2 (ja) * 1995-08-28 2001-12-04 アルプス電気株式会社 多層膜フィルタ及びその製造方法
US5741576A (en) * 1995-09-06 1998-04-21 Inko Industrial Corporation Optical pellicle with controlled transmission peaks and anti-reflective coatings
US5814381A (en) * 1997-04-04 1998-09-29 Inko Industrial Corporation Pellicle assembly having a vented frame
US6342292B1 (en) * 1997-12-16 2002-01-29 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Organic thin film and process for producing the same
KR20020006670A (ko) * 1999-03-12 2002-01-24 시마무라 테루오 노광장치 및 노광방법, 그리고 디바이스 제조방법
US6436586B1 (en) * 1999-04-21 2002-08-20 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Pellicle with a filter and method for production thereof
US6239863B1 (en) * 1999-10-08 2001-05-29 Silicon Valley Group, Inc. Removable cover for protecting a reticle, system including and method of using the same
US6770404B1 (en) * 1999-11-17 2004-08-03 E. I. Du Pont De Nemours And Company Ultraviolet and vacuum ultraviolet transparent polymer compositions and their uses
US6492067B1 (en) 1999-12-03 2002-12-10 Euv Llc Removable pellicle for lithographic mask protection and handling
US6847434B2 (en) * 2000-02-10 2005-01-25 Asml Holding N.V. Method and apparatus for a pellicle frame with porous filtering inserts
FR2812450B1 (fr) * 2000-07-26 2003-01-10 France Telecom Resine, bi-couche de resine pour photolithographie dans l'extreme ultraviolet (euv) et procede de photolithogravure en extreme ultraviolet (euv)
DE60219844T2 (de) * 2001-03-01 2008-01-17 Asml Netherlands B.V. Verfahren zur Übernahme einer lithographischen Maske
US6646720B2 (en) * 2001-09-21 2003-11-11 Intel Corporation Euv reticle carrier with removable pellicle
US6906783B2 (en) * 2002-02-22 2005-06-14 Asml Holding N.V. System for using a two part cover for protecting a reticle
US7008487B1 (en) * 2002-03-04 2006-03-07 Micron Technology, Inc. Method and system for removal of contaminates from phaseshift photomasks
US7014961B2 (en) * 2002-10-02 2006-03-21 Yazaki Corporation Photomask assembly incorporating a porous frame
EP1429186A3 (en) * 2002-12-09 2006-06-07 ASML Holding N.V. Pellicle frame with porous inserts or heightened bonding surfaces
US6822731B1 (en) * 2003-06-18 2004-11-23 Asml Holding N.V. Method and apparatus for a pellicle frame with heightened bonding surfaces
US7316869B2 (en) 2003-08-26 2008-01-08 Intel Corporation Mounting a pellicle to a frame
US7504192B2 (en) * 2003-12-19 2009-03-17 Sematech Inc. Soft pellicle for 157 and 193 nm and method of making same
US7709180B2 (en) * 2003-12-19 2010-05-04 Sematech, Inc. Soft pellicle and method of making same
US20050202252A1 (en) * 2004-03-12 2005-09-15 Alexander Tregub Use of alternative polymer materials for "soft" polymer pellicles
JP4655043B2 (ja) * 2004-11-30 2011-03-23 旭硝子株式会社 モールド、および転写微細パターンを有する基材の製造方法
WO2006113859A2 (en) * 2005-04-20 2006-10-26 Yazaki Corporation Photomask assembly incorporating a metal/scavenger pellicle frame
JP2006301525A (ja) * 2005-04-25 2006-11-02 Shin Etsu Chem Co Ltd ペリクルフレーム
EP1978405A1 (en) * 2007-04-04 2008-10-08 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Pellicle and method for preparing the same
US8268514B2 (en) * 2009-01-26 2012-09-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Pellicle mounting method and apparatus
JP5479868B2 (ja) * 2009-12-02 2014-04-23 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル及びその取付方法
TW201308425A (zh) * 2011-08-05 2013-02-16 Tian-Xing Huang 光罩淨化裝置及光罩淨化方法
US9857680B2 (en) * 2014-01-14 2018-01-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Cleaning module, cleaning apparatus and method of cleaning photomask
JP6308676B2 (ja) * 2014-12-18 2018-04-11 信越化学工業株式会社 リソグラフィ用ペリクル容器。
US20210300635A1 (en) * 2020-03-24 2021-09-30 Gudeng Precision Industrial Co., Ltd Container system

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3607491A (en) * 1969-11-14 1971-09-21 Gen Tire & Rubber Co Flexible poromeric sheet material with a suede finish
US4131363A (en) * 1977-12-05 1978-12-26 International Business Machines Corporation Pellicle cover for projection printing system
US4948851A (en) * 1981-08-20 1990-08-14 E. I. Du Pont De Nemours And Company Amorphous copolymers of perfluoro-2,2-dimethyl-1,3-dioxole
US4973142A (en) * 1981-08-20 1990-11-27 E. I. Du Pont De Nemours And Company Amorphous copolymers of perfluoro-2,2-dimethyl-1,3-dioxole
US4536240A (en) * 1981-12-02 1985-08-20 Advanced Semiconductor Products, Inc. Method of forming thin optical membranes
US4378953A (en) * 1981-12-02 1983-04-05 Advanced Semiconductor Products Thin, optical membranes and methods and apparatus for making them
US4523974A (en) * 1983-02-14 1985-06-18 The Perkin-Elmer Corporation Method of fabricating a pellicle cover for projection printing system
JPS6083032A (ja) * 1983-10-13 1985-05-11 Asahi Chem Ind Co Ltd 光透過性に優れたフオトマスク用防塵カバ−
US4833051A (en) * 1984-08-20 1989-05-23 Nippon Kogaku K.K. Protective device for photographic masks
US4737387A (en) * 1986-07-07 1988-04-12 Yen Yung Tsai Removable pellicle and method
CH671770A5 (ja) * 1986-11-06 1989-09-29 Gdf Ges Dentale Forsch
US5008156A (en) * 1986-11-07 1991-04-16 Exion Technology, Inc. Photochemically stable mid and deep ultraviolet pellicles
KR960000490B1 (ko) * 1987-07-10 1996-01-08 미쓰이세키유가가쿠고교 가부시기가이샤 반사 방지형 펠리클막 및 그 제조 방법
JP2642637B2 (ja) * 1987-08-18 1997-08-20 三井石油化学工業 株式会社 防塵膜
US4883716A (en) * 1988-08-01 1989-11-28 Chemical Fabrics Corporation Method for manufacture of cast fluoropolymer-containing films at high productivity
US5061024C1 (en) * 1989-09-06 2002-02-26 Dupont Photomasks Inc Amorphous fluoropolymer pellicle films
US5229229A (en) * 1990-04-27 1993-07-20 Tosoh Corporation Pellicle having reflection-preventing function
US5168001A (en) * 1991-05-20 1992-12-01 E. I. Du Pont De Nemours And Company Perfluoropolymer coated pellicle
JPH0516159A (ja) * 1991-07-12 1993-01-26 Shin Etsu Chem Co Ltd 樹脂薄膜の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0696760A1 (en) * 1994-08-11 1996-02-14 Mitsui Petrochemical Industries, Ltd. Mask protective device
US5601955A (en) * 1994-08-11 1997-02-11 Mitsui Petrochemical Industries, Ltd. Mask protective device
JP2015064416A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 信越化学工業株式会社 ペリクル

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