JPH0614982U - 近接センサ - Google Patents

近接センサ

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JPH0614982U
JPH0614982U JP5732192U JP5732192U JPH0614982U JP H0614982 U JPH0614982 U JP H0614982U JP 5732192 U JP5732192 U JP 5732192U JP 5732192 U JP5732192 U JP 5732192U JP H0614982 U JPH0614982 U JP H0614982U
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coil
proximity sensor
hole
circuit
detection
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JP5732192U
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English (en)
Inventor
文夫 礒部
Original Assignee
株式会社コパル
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 外乱の影響を受けにくく,正確に検査対象を
検出可能な近接センサを提供する。 【構成】 近接センサは,L形ヨーク片11,12から
なる対称L形ヨーク10,この対称L形ヨーク10に配
設され,励磁用コイル21と検出用コイル22からなる
センサコイル20,および,回路部50からなる。検査
対象としての球形金属体90が孔30を通過するとき,
励磁用コイル21で励磁されたL形ヨーク片11,12
と球形金属体90とが閉磁路を形成する。検出用コイル
22はこの閉磁路に流れる磁束の変化を検出して,球形
金属体90が孔30を通過したことを検出する。回路部
50が検出用コイル22の検出磁束変化を示す信号を外
部信号として出力する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は近接センサに関するものであり,特に,球形などの形状をなし,磁化 可能な透磁率の大きい物体の通過または接近を検出する近接センサにする。
【0002】
【従来の技術】
球形形状をした検出対象を検出する近接センサとして,たとえば,パチンコ機 械における入賞口をパチンコ玉が通過することを検出する近接センサ(近接スイ ッチ)が知られている(たとえば,特開平3−24819号公報)。 パチンコ玉の通過検出を目的とする近接センサは,接点式近接センサ,光学式 近接センサ,電磁誘導式近接センサなどが知られている。
【0003】 接点式近接センサは,パチンコ玉の入賞口の通過を可動片を変位させてその有 無を検出するが,接点部のチャタリングがあり信頼性が低いという問題がある。 光学式近接センサは入賞口の近傍に設けられた投光素子と受光素子との間の光 路をパチンコ玉が通過するときその光路を遮ることを検出するものであるが,外 乱光の影響をうけるという問題がある。 電磁誘導式近接センサは,パチンコ玉が金属体であることを利用してパチンコ 玉がセンサとしての入賞口の近傍に設けられたコイルに接近するときに発生する インダクタンスの変化を検出する。この方式の近接センサは,上述した問題がな く信頼性高く検出可能と言われている。
【0004】 図7に電磁誘導式近接センサの斜視図を示し,図8にその検出回路構成図を示 す。 この電磁誘導式近接センサは,薄板状の合成樹脂性のケース体12にパチンコ 玉14が通過する検出孔13を設け,この検出孔13の一部に検出回路19が組 み込まれ,また検出孔13の周囲に検出回路19の一部をなす発振回路191の 発振コイルLが配設されている。 発振回路191はたとえば,ハートレー形発振回路あるいはコルピッツ形発振 回路などが用いられ,パチンコ玉14が検出孔13から離れた位置にあるとき発 振回路191は発振し,パチンコ玉14が検出孔13に接近するとそ発振を止め る。 発振回路191が発振しているとき,積分回路192は互に正負の間で変化す る交流発振信号を積分するからその積分値は0であるが,発振回路191の発振 が停止するとその出力は基準電位に対してある電位となるから,積分回路192 がその電位を積分すると所定のレベルとなり,パチンコ玉14が検出孔13を通 過したことを検出できる。 積分回路192の出力信号でスイッチ193をオンにして抵抗器Rs の両端を 短絡させると,外付け回路195の両端T1−T2の間の電圧V0が変化するか ら,その電圧変化を検出してパチンコ玉14が検出孔13を通過したことを検出 する。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
上述した電磁誘導式近接センサにおいては,磁石などを接近させて意図的に誤 動作させることを防止するため,種々の対策が講じられているが,下記に述べる 問題がある。 まず,空芯コイルLを使用しているため,磁気漏洩が大きく,外乱を受けやす いという問題がある。 次いで,球形状のパチンコ玉14が検出孔13を通過する際,検出孔13が円 形であると,パチンコ玉14が回転してしまい,誤動作することがある。 さらに上述した近接センサにおいては,発振回路を用いており,さらに誤動作 を防止するための信号処理回路が複雑になるという問題を有している。
【0006】 したがって,本考案は上述した問題を解決し,パチンコ玉などの球形状検出対 象はをもちろん,その他の形状の透磁率の大きい検出対象の通過検出を正確に行 い得る近接センサを提供することを目的とする。 また本考案は信号処理回路を単純にすることが可能な近接センサを提供するこ とを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述した問題を解決し,上記目的を達成するため,本考案の近接センサは,透 磁率の大きい検出対象が通過する領域を有し,該検出対象がその領域を通過する とき磁路の一部を形成するように先端が開放されたU形または対称L形をなすヨ ークと,該ヨークを付勢するコイルと,該ヨーク内の磁束の変化を検出するコイ ルとを有し,該検出コイルが検出した磁束の変化から前記領域を通過する前記検 出対象の有無を検出する。
【0008】 特定的には,前記検出対象は球形をなし,前記コイルが前記ヨークに配設され ている前記領域は前記球形検出対象を通過させるように,前記ヨークの長手方向 に沿って楕円または長穴として形成されている。
【0009】
【作用】
本考案の近接センサの検出原理は,検出対象となる透磁率の大きい物体がヨー クの検出対象通過領域を通過するとき,ヨークと協働して閉磁路を形成するか否 かを検出する。励磁コイルがヨークを励磁しておく。検出対象が上記領域に入り 込まないときは磁路は開放している。検出対象が上記領域を通過するときヨーク と協働して閉磁路を形成する。検出コイルはその閉磁路に流れる磁束の変化を検 出して,上記領域を検出対象が通過したことを検出する。
【0010】
【実施例】
図1に本考案の近接センサの断面図を示す。図2は図1に示した近接センサの ヨークおよびコイルの分解図である。 近接センサは,2つのL形ヨーク片11,12を一体化した対称L形ヨーク1 0と,L形ヨーク片11,12の合成部分に配設されるセンサコイル20と,対 称L形ヨーク10の空隙に配設され検出対象であるパチンコ玉などの球形金属体 90が通過する孔30が設けられた非透磁性樹脂部材40と,回路部50と,こ れらを一体化した樹脂製センサケース(枠)60から構成されている。 1対のL形ヨーク片11,12は透磁率の大きい磁性体金属で形成されている 。球形金属体90も透磁率の大きい金属,たとえば,鉄で作られている。 孔30は球形金属体90が通過可能な大きさを有しており,この例では対称L 形ヨーク10の両L形ヨーク片11,12の長手方向に沿った長穴である。 センサコイル20は2重コイル21,22から構成され,内側の励磁用コイル 21には電流が印加されて対称L形ヨーク10を磁化させ,外側の検出用コイル 22は対称L形ヨーク10に流れる磁束を検出するように構成されている。
【0011】 図3は図1に示した近接センサの動作を示す図である。 図3(A)は図1に示した近接センサを図示A方向からみた正面図であり球形 金属体90が孔30から離間している状態を示し,図3(B)は図1の図を簡略 化して示した図であって球形金属体90が孔30を通過する状態を示し,図3( C)は図3(A),(B)の線X−Xにおける断面図を示す。 球形金属体90が孔30から離間しているとき,L形ヨーク片11,12で形 成される磁路は孔30において,開放している。このとき,検出用コイル22に 流れる磁束は多くなる。 球形金属体90が孔30を通過するとき,L形ヨーク片11,球形金属体90 ,L形ヨーク片12,L形ヨーク片11で構成される閉磁路が形成され,検出用 コイル22に流れる磁束は少ない。 実際には,図4に示すように,球形金属体90が孔30に近づくにつれて,検 出用コイル22に流れる電流が増加し,球形金属体90が孔30の中心を通ると き,検出用コイル22に流れる電流が最大になり,球形金属体90が孔30から 離れるにつれて,検出用コイル22の電流は減少する。つまり,検出用コイル2 2に流れる電流は滑らかなパルス状の電流となる。このパルス状の波形は球形金 属体90が孔30を通過する速度に応じて変化する。 したがって,検出用コイル22にこのパルス状の電流が流れるか否かを検出す れば,球形金属体90が孔30を通過しているか否かを検出できる。
【0012】 図5に検出用コイル22で検出した磁束から球形金属体90が孔30を通過し ていることを検出する回路部50の回路構成を示す。 抵抗器51は検出用コイル22の磁束に対応する電流を電圧に変換する。比較 回路52が抵抗器51の電圧と基準電圧VREFとを比較して抵抗器51の端子 電圧が基準電圧VREFを越えたとき,球形金属体90が孔30を通過したこと を示す検出信号を外部回路に出力する。 比較回路52の後段に波形整形回路53,および,ラッチ回路54を設けても よい。外部回路(図示せず)は,検出信号を入力したとき,ラッチ回路54をリ セットする。 近接センサの外部回路は比較回路52またはラッチ回路54からのパルス信号 を入力して,孔30を球形金属体90が通過したことを検出する。
【0013】 以上に述べた近接センサによれば,球形金属体90が孔30を通過すると,1 パルスの検出信号が出力されるから,そのパルスを計数すれば,容易に孔30を 通過した球形金属体90を知ることができる。 また図5に示したように,回路部50は簡単な構成の回路で構成されている。 さらに,この近接センサは上述した従来の電磁誘導式近接センサのように外部 から磁石などを作用させることによる誤動作の影響を受けないから,誤動作に対 して信頼性が高い。誤動作させるには,孔30に瞬間的に球形金属体90と同等 の透磁率の大きい物体を通過させなければならないから,事実上,意図的に誤動 作させることができない。
【0014】 さらに,孔30は対向的に配設されるL形ヨーク片11,12の間に,球形金 属体90が孔30を通過するとき閉磁路を形成するように形成されればよく,球 形金属体90の回転などによってその検出は影響を受けない。 そのような孔30としては,図1に示した長孔である必要はなく,楕円形など にすることもできる。
【0015】 図6に本考案の第2実施例しての近接センサの構成を示す。 この近接センサは図1に示した対称L形ヨーク10に代えてU形ヨーク70を 用い,センサコイル80も図1に示したセンサコイル20に代えてU形ヨーク7 0に対応させて形状をしている。また,孔30は図1に示した長孔に代えて,楕 円形孔30aにしている。 回路部50は図5に示した回路を用いる。 この実施例においても,上述した第1実施例と同様,球形金属体90が楕円形 孔30aを通過することを検出できる。
【0016】 検出対象として球形金属体90を用いた例について述べたが,本考案において は,検出対象の形状には制限されない。たとえば,孔30を通過するとき,孔3 0を嵌合的に通過可能な形状をし,対称L形ヨーク10あるいはU形ヨーク10 と協働して閉磁路を形成可能な材料で製造されていれば,球形である必要はない 。もちろん,孔30も楕円,長孔に限らず,球形金属体90に合わせて,たとえ ば,矩形などの任意の形状にすることができる。
【0017】
【考案の効果】
本考案によれば,外乱の影響を受けず,検出対象が孔を通過したこと,あるい は検出コイルに接近したことを信頼性高く検出できる近接センサが提供できる。 また本考案の近接センサの構成によれば,回路部の回路構成を簡単にできる。 さらに本考案によれば,検出対象としては,球形に限らず,任意の形状を有す るものにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の第1実施例の近接センサの断面図であ
る。
【図2】図1に示した近接センサの対称L形ヨークおよ
びセンサコイルの分解斜視図である。
【図3】図1に示した近接センサの動作を示す図であ
る。
【図4】図1に示した検出用コイルに流れる電流の波形
図である。
【図5】図1に示した回路部の回路図である。
【図6】本考案の第2実施例の近接センサの断面図であ
る。
【図7】従来の近接センサの斜視図である。
【図8】従来の近接センサにおける信号処理回路図であ
る。
【符号の説明】
10・・対称L形ヨーク 11,12・・L形ヨーク片 20・・センサコイル 21・・励磁用コイル 22・・検出用コイル 30・・孔 40・・非透磁性樹脂部材 50・・回路部 51・・抵抗器 52・・比較回路 53・・波形整形回路 54・・ラッチ回路 60・・ケース 70・・U形ヨーク 80・・センサコイル 90・・球形金属体

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】透磁率の大きい検出対象が通過する領域を
    有し,該検出対象がその領域を通過するとき磁路の一部
    を形成するように先端が開放されたU形または対称L形
    をなすヨークと, 該ヨークを付勢するコイルと, 該ヨーク内の磁束の変化を検出するコイルとを有し, 該検出コイルが検出した磁束の変化から前記領域を通過
    する前記検出対象の有無を検出する近接センサ。
  2. 【請求項2】前記検出対象は球形をなし, 前記コイルが前記ヨークに配設され, 前記領域は前記球形検出対象を通過させるように,前記
    ヨークの長手方向に沿って楕円または長穴として形成さ
    れている請求項1記載の近接センサ。
JP5732192U 1992-07-23 1992-07-23 近接センサ Pending JPH0614982U (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009264992A (ja) * 2008-04-28 2009-11-12 Shinshu Univ 誘導型近接センサ
JP2015141032A (ja) * 2014-01-27 2015-08-03 株式会社日本アレフ 鋼球検知器

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