JPH06139004A

JPH06139004A - 抵抗膜方式タブレット

Info

Publication number: JPH06139004A
Application number: JP29240492A
Authority: JP
Inventors: Yoshio Okajima; 良男岡嶋
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1992-10-30
Filing date: 1992-10-30
Publication date: 1994-05-20
Anticipated expiration: 2014-12-27
Also published as: JP2994155B2

Abstract

(57)【要約】【目的】入力可能領域のどの位置を押しても一定値以
上の押し圧であれば入力でき、しかも入力位置を正確に
検出できる抵抗膜方式タブレットを実現する。【構成】相対向する面に抵抗膜が形成され且つその
両側に一対の電極が設けられたＸ側及びＹ側の一対の基
板を有する抵抗膜方式のタブレットにおいて、一対の電
極３３、３５を入力可能領域３６に対して斜めに配置す
る。また、入力時における押し圧測定に際し、検出され
た位置情報から押された位置に依存しない正確な接触抵
抗値を求め、この接触抵抗値に基づいてタブレットが押
されたか否かを判断する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば電子手帳、ポー
タブルワープロ、パソコン、その他画面上に入力タッチ
キーを有する電子機器等に備えられる抵抗膜方式のタブ
レットに関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、電子手帳等の電子機器に備えら
れる入力手段として、従来からタッチ入力用の抵抗膜式
タブレットが実用されている。

【０００３】この抵抗膜式タブレットは、図１０に示す
ように、例えばフィルムでなるＸ側基板１及びガラスで
なるＹ側基板２の片面に抵抗膜３、４をそれぞれ形成
し、これらの抵抗膜３、４が所定間隔を開けて対向する
ような状態に両基板１、２を配置した構成である。この
ようなタブレットでは、例えば図１１に示すように、両
基板１、２の両側に、所定の座標軸方向に沿って延びる
一対の電極５、６及び７、８がそれぞれ設けられ、Ｘ側
基板１の電極５、６とＹ側基板２の電極７、８とが直交
するような状態にして配置される。そして、Ｘ側基板１
を押圧してその抵抗膜３をＹ側基板２の抵抗膜４に接触
させ、その接触部の位置、つまり押された位置ｐを検出
することで入力を行うようになっている。

【０００４】ところで、上記のような入力が正確に行わ
れるためには、その前提として、入力時における押し圧
が弱いときには入力されないようにする、つまり押し圧
が所定の基準値以下の時は入力位置の測定を行わないよ
うにする必要がある。

【０００５】そこで、従来の抵抗膜方式のタブレットに
おいては、入力の位置測定に先立ち、押し圧の測定を次
のようにして行っている。〔押し圧測定〕この場合、タブレットは、図１１に示す
ように配線される。すなわち、Ｘ側基板１（正確にはそ
の抵抗膜、以下同じ）については、一方の電極５を電源
Ｖcc（＋電位）に接続し、他方の電極６は何も接続せず
開いておく。また、これに対向するＹ側基板２について
は、一方の電極７は抵抗Ｒを介して接地側（−電位）に
接続し、他方の電極８は開いておく。

【０００６】そして、Ｙ側基板２の接地側電極７と抵抗
Ｒとの間のＣ点をＡ／Ｄコンバータに接続して、このＡ
／Ｄコンバータを介してＣ点の電位（抵抗Ｒの電位ＶR
）を測定する。更に、この測定によって得られた値と
既知のＶcc及びＲの値とを、次の電位ＶR を表す式
（１）に代入してＲs ＋Ｒx ＋Ｒy を求める。

【０００７】ＶR ＝Ｖcc・Ｒ／（Ｒ＋Ｒs ＋Ｒx ＋Ｒy ）・・・（１）ここで、Ｒx はＸ側基板１の電源接続側電極５から押さ
れた位置（入力位置）ｐまでの抵抗値であり、Ｒy はＹ
側基板２の接地側電極７から押された位置ｐまでの抵抗
値であり、Ｒs は両基板１、２における抵抗膜３、４の
接触抵抗値である。

【０００８】次に、上で求めたＲs ＋Ｒx ＋Ｒy を用い
て図１２に示すグラフから押し圧を求める。このグラフ
は、押し圧と接触抵抗値との関係を示すもので、押し圧
と接触抵抗値は、押し圧が大きい時、つまり強く押した
時は接触抵抗値が小さくなり、押し圧が小さい時、つま
り弱く押した時は接触抵抗値が大きくなることを示す。

【０００９】そして、このようにして測定された押し圧
が所定の基準値以上であれば、Ｘ座標及びＹ座標を順次
測定し、基準値に満たない場合は座標測定を行わずに作
業を終了する。

【００１０】以上の座標測定の手順をフローチャートと
してまとめたものが図１３である。すなわち、先ずステ
ップＵ₁で押し圧を測定した後、その測定された押し圧
が基準値以上か否かをステップＵ₂で判断し、基準値以
上（押し圧が大）であればステップＵ₃、Ｕ₄に従って
Ｘ及びＹの各座標を測定する一方、基準値に満たない時
（押し圧が小）は座標測定を行わないで終了する。従っ
て、タブレットに軽く触れただけのような場合には、通
常は入力されないこととなる。〔座標測定〕一方、押し圧測定後の座標測定（位置測
定）は、例えば、タブレットの入力可能領域に予め設定
された所定のＸ、Ｙ座標系の下で行われるが、この場
合、タブレットは、例えば図１４に示すように配線され
る。

【００１１】すなわち、タブレットを構成するＸ側基板
１における一方の電極５を電源Ｖcc（＋電位）に接続
し、他方の電極６を接地側（−電位）に接続して、これ
らの電極５、６間の抵抗膜３に電位をかけるととにも、
Ｙ側基板２における一方の電極７をＡ／Ｄコンバータに
接続する。この状態で、Ｘ側基板１を押すと、Ｘ側基板
１とＹ側基板２とが接続され、Ｙ側基板２にＸ側基板１
の押された位置ｐの電位ＶP が現れる。このＹ側基板２
に現れた電位をＡ／Ｄコンバータを介して測定すること
により、Ｘ側基板１における押された位置ｐを測定す
る。

【００１２】ここで、Ｘ側基板１における押された位置
ｐから両電極５、６までの抵抗をそれぞれＲ₁、Ｒ₂と
すると、Ｒ₁及びＲ₂は押された位置ｐから両電極５、
６までの距離ｘ₁、ｘ₂に比例するので、押された位置
の電位Ｖp は、次式（２）で表される。

【００１３】Ｖp ＝Ｖcc・Ｒ₂／（Ｒ₁＋Ｒ₂）＝Ｖcc・ｘ₂／（ｘ₁＋ｘ₂）・・・（２）従って、ｘ₂＝（ｘ₁＋ｘ₂）・Ｖp ／Ｖccとなり、Ｖ
cc及び（ｘ₁＋ｘ₂）は既知であるため、上記Ａ／Ｄコ
ンバータを介して測定された電位Ｖp を用いることで、
ｘ₂（Ｘ側基板１の接地側電極６から押された位置まで
の距離）つまり押された位置ｐのＸ座標が求まる。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の抵抗膜方式タブレットでは、入力時におけ
る押し圧測定及び座標測定の際にそれぞれ次のような問
題が生じていた。〔押し圧測定における問題〕従来の抵抗膜方式タブレッ
トにおいては、図１１における電源ＶccからＣ点までの
抵抗値は、同じ押し圧で押した場合であっても押された
位置ｐにより変化するため、この抵抗値を用いて図１２
のグラフから押し圧を計算すると、押された場所により
押し圧が変化してしまうことになる。

【００１５】例えば、図１１に示すＡ点では、同図及び
図１５に示すようにＲx ＝Ｒy ＝０であるから抵抗値が
Ｒs となり、図１２のグラフでは十分大きな押し圧Ｐで
あると判断されるのに対し、Ｂ点では同じ押し圧で押し
ても抵抗値がＲs ＋Ｒx ＋Ｒy となり、図１２のグラフ
では押し圧Ｐ₁となるため、不十分な押し圧となってし
まう。

【００１６】従って、Ａ点で押した時に最適な状態とな
るように押し圧の基準値を設定すると、Ｂ点ではもっと
強く押さなければ入力されず、またＲx 、Ｒy が大きい
場合はいくらＢ点で押しても入力されないこととなる。
これとは逆に、Ｂ点で押した時に最適な状態となるよう
に押し圧の基準値を設定すると、Ａ点では軽く触っただ
けで入力されてしまうという不都合が生じる。〔座標測定における問題〕一方、座標測定を行う場合、
各基板の両側に一対の電極が互いに平行に設けられた図
１４に示すような従来のタブレット構成によると、同図
及び図１６のように配線した場合に、電極５、６の配線
抵抗のために同図１６に示す入力可能領域のａ−ａ’点
間の電位とｂ−ｂ’点間の電位とが同一にならないとい
う不具合を生じる。その理由を説明するために、図１７
に、この場合のタブレットの抵抗分布を示す。

【００１７】ここで、ｒは電極の配線抵抗、Ｒは抵抗膜
の抵抗をそれぞれ示す。これらを用いると、ａ、ａ’、
ｂ、ｂ’の各点の電位Ｖa 、Ｖb 、Ｖa ’、Ｖb ’は、
次の式（３）〜（６）に示すようになる。

【００１８】Ｖa ＝Ｖcc ・・・（３）Ｖb ＝Ｖcc・（ｒ＋Ｒ）／（２ｒ＋Ｒ）・・・（４）Ｖa ’＝０・・・（５）Ｖb ’＝Ｖcc・ｒ／（２ｒ＋Ｒ）・・・（６）この場合、ａ点とｂ点、ａ’点とｂ’点は、図１６及び
図１７における垂直方向の位置、つまりＸ座標の位置が
それぞれ同じであるから、本来なら同じ電位になるべき
であるが、実際には、電極の配線抵抗ｒの影響により、
ｂ点では電位が低くなり、ｂ’点では電位が高くなる。
そのため、図１８の実線Ｆで示すように水平方向（電極
に沿った方向）に入力した場合に、位置測定結果は同図
の点線Ｇで示すように斜めになる。従って、正しい押圧
位置つまり入力位置を知るためには、測定された位置を
補正する必要が生じる。

【００１９】本発明は、従来の抵抗膜方式タブレットに
おける上記のような問題に対処するもので、タブレット
の入力可能領域のどの位置を押した場合でも一定の押し
圧以上であれば入力できるようにするとともに、押され
た位置の座標が同じ場合には同一電位が測定されるよう
にして測定された位置に対する補正を不要とし、ひいて
はこの種タブレットにおいて正確な入力が容易ないし確
実に行えるようにすることを目的とする。

【００２０】

【課題を解決するための手段】上記目的達成のため、本
願の第１発明（請求項１に記載の発明）は、次のように
構成したことを特徴とする。

【００２１】すなわち、図１に示すように、両側に所定
の座標軸方向に沿って延びる一対の電極をそれぞれ有し
且つこれらの電極間に入力可能領域が設けられた一対の
Ｘ側基板及びＹ側基板が、所定の隙間を有して相対向す
る状態に配置されているとともに、これらの基板の相対
向する面側に抵抗膜が形成された入力部１００と、一方
の基板に電源を接続して他方の基板を接地側とした状態
でＸ側基板を押圧して両基板の抵抗膜を接触させた時に
上記一方の基板における電源接続側の電極から当該抵抗
膜接触部を介して他方の基板における接地側電極までの
全抵抗値を測定する全抵抗値測定手段１０１と、Ｘ側及
びＹ側の各基板における電源接続側の電極から抵抗膜接
触部までのＸ座標抵抗値及びＹ座標抵抗値をそれぞれ測
定するＸ・Ｙ座標抵抗値測定手段１０２と、上記全抵抗
値が基準値以上であるか否かでＸ側基板が押されたか否
かを判別する判別手段１０３と、この判別手段１０３に
よってＸ側基板が押されたと判別された時に上記測定さ
れたＸ座標抵抗値及びＹ座標抵抗値からＸ座標及びＹ座
標を演算する座標演算手段１０４とを有するタブレット
において、上記全抵抗値とＸ及びＹ座標抵抗値とから接
触膜抵抗部の接触抵抗値を求める補正手段１０５を備
え、この補正手段１０５によって求められた接触抵抗値
が基準値以上である時に上記判別手段１０３はタブレッ
トが押されたと判断する構成とする。

【００２２】また、本願の第２発明（請求項２に記載の
発明）は、両側に所定の座標軸方向に沿って延びる一対
の電極をそれぞれ有し且つこれらの電極間に入力可能領
域が設けられた一対の基板が、所定の隙間を有して相対
向する状態に配置されているとともに、これらの基板の
相対向する面側に抵抗膜が形成されており、一方の基板
を押圧してその抵抗膜を他方の基板の抵抗膜に接触させ
た時にその接触位置を検出することで入力が可能とされ
たタブレットにおいて、次のように構成したことを特徴
とする。

【００２３】すなわち、各基板のそれぞれについて、電
極の一方に電源を接続した時に電源から入力可能領域に
おける押圧位置までの抵抗が当該基板における上記座標
軸方向の位置に関係なく一定となるように、上記一対の
電極を、その電源接続部側では入力可能領域から互いに
所定距離だけ離して配置する一方、その反対側に位置す
る非接続部側では入力可能領域に互いに近づけて配置す
る。

【００２４】

【作用】本願第１発明の構成によれば、抵抗膜方式タブ
レットにおいて、全抵抗値とＸ及びＹ座標抵抗値とから
補正手段によって接触膜抵抗部の接触抵抗値が求められ
る。つまり、押し圧測定時に得られる全抵抗値が位置座
標の測定結果を用いて補正されることにより接触抵抗値
のみが求められ、その接触抵抗値が基準値以上である時
にタブレットが押されたと判別される。この場合におい
て、接触抵抗値はタブレット上の押された位置に依存し
ないから、これに基づく押されたか否かの判断（押し圧
測定）も押された位置には依存しないこととなる。そし
て、接触抵抗値（押し圧）が基準値以上の時は、その押
された位置とは無関係に、言い換えると押された位置が
タブレット上の入力可能領域内にある限り何処であって
も、タブレットが押されたと判断される結果、確実に入
力されることとなる。これにより、押された位置によっ
て入力可能な押し圧が異なるという不具合を解消するこ
とができ、それだけ入力が容易化されることになる。

【００２５】また、本願第２発明の構成によれば、抵抗
膜方式タブレットの各基板における一対の電極が、その
電源接続部側では入力可能領域から互いに所定距離だけ
離して配置され、その反対側に位置する非接続部側では
入力可能領域に互いに近づけて配置されているので、電
源から入力可能領域までの抵抗が、電極の配線方向にお
いて一定となる。従って、当該基板上の測定される座標
系の下で電極から同じ距離だけ離れた位置では測定電圧
が一定となり、正しい位置を測定できる。これにより、
正確な入力が可能となる。

【００２６】

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。な
お、以下の実施例で使用するタブレットの断面構造は、
図１０に示したものと同じであり、この構造自体につい
ては既に説明したので省略する。〔第１実施例〕この実施例は、主として押し圧測定時に
おけるタブレットの動作に関するもので、図２に、本実
施例に係るタブレットの全体構成を示す。

【００２７】同図に示すように、このタブレット５０
は、後述するＸ側基板及びＹ側基板でなる入力部１０
と、この入力部１０に接続されたコントローラ１１と、
このコントローラ１１に接続されたＡ／Ｄコンバータ１
２と、このＡ／Ｄコンバータ１２にインターフェース部
１３を介して接続されたＣＰＵ１４、ＲＯＭ１５及びＲ
ＡＭ１６とを有する。そして、上記コントローラ１１に
よって入力部１０の電気的接続が適宜切り換えられて図
３〜５に示すような配線構造をとるとともに、後述の測
定、演算、判別等の各動作を行うようになっている。

【００２８】まず、図３は、押し圧測定時のタブレット
の配線を示すもので、タブレット５０は、相対向する面
に抵抗膜がそれぞれ形成され且つ両側に電極２１、２２
及び２３、２４がそれぞれ設けられたＸ側及びＹ側の一
対の基板２５及び２６を有する。

【００２９】このうち、Ｘ側基板２５は、その一方の電
極２１が電源Ｖcc（＋電位）に接続され、他方の電極２
２はオープン（何も接続されない開いた状態）とされて
いる。また、これに対向するＹ側基板２６は、その一方
の電極２３が抵抗Ｒを介して接地（−電位）に接続さ
れ、他方の電極２４がオープンとされている。更に、Ｙ
側基板２６の接地側電極２３と抵抗Ｒとの間の部分（以
下、Ｃ点という）には、そのＣ点の電位（抵抗Ｒの電位
ＶR ）を測定するＡ／Ｄコンバータ（図２参照）が接続
されている。なお、このような配線は、すでに説明した
従来技術のもの（図１１）と同様のものである。

【００３０】一方、図４は入力位置（押された位置）ｐ
のＸ座標を測定する場合におけるタブレット５０の配線
を示し、図５は同じくＹ座標を測定する場合の配線を示
す。まず、Ｘ座標の測定時には、図４に示すように、Ｘ
側基板２５における一方の電極２１を電源Ｖccに接続
し、他方の電極２２を接地側に接続する。そして、Ｙ側
基板２６における一方の電極２３をＡ／Ｄコンバータに
接続し、他方の電極２４をオープンとしておく。

【００３１】また、Ｙ座標の測定時には、上記Ｘ座標測
定時とは逆に、図５に示すように、Ｘ側基板２５におけ
る一方の電極２１をＡ／Ｄコンバータに接続し、他方の
電極２２をオープンとしておく。そして、Ｙ側基板２６
における一方の電極２３を電源Ｖccに接続し、他方の電
極２４を接地側に接続する。

【００３２】次に、このタブレット５０における測定動
作を説明する。図６のフローチャートに示すように、こ
のタブレットでは、先ずステップＳ₁で押し圧を測定す
る。具体的には、図３に示すように配線された状態にお
いて、抵抗Ｒの電位をＡ／Ｄコンバータで測定し、この
値と抵抗Ｒの値とを、抵抗Ｒの電位を示す次式（７）に
代入することにより、電源ＶccからＸ側基板２５におけ
る押圧位置ｐまでの抵抗値Ｒ_xと、その押圧位置ｐにお
ける抵抗膜の接触抵抗値Ｒ_sと、Ｙ側基板２６上の押圧
位置ｐからＡ／Ｄコンバータ接続側電極２３までの抵抗
値Ｒ_yとを加え合わせた抵抗値Ｒ_x＋Ｒ_s＋Ｒ_yを求め
る。そして、この抵抗値Ｒ_x＋Ｒ_s＋Ｒ_yの示す押し圧
を図１２のグラフから読み取る。

【００３３】ＶR ＝Ｖcc・Ｒ／（Ｒ＋Ｒs ＋Ｒx ＋Ｒy ）・・・（７）次いで、ステップＳ₂で上記押圧位置のＸ座標を測定し
た後、ステップＳ₃でＹ座標を測定する。この場合、タ
ブレットは、ステップＳ₂では図４に示した配線構造を
とり、ステップＳ₃では図５に示した配線構造をとる。
このような配線下における各座標測定の具体的方法は、
上記従来技術の箇所で述べた通りであるが、更に後述の
第２実施例においても説明するので、ここでは省略す
る。

【００３４】この座標測定の後、ステップＳ₄におい
て、図３に示す電源ＶccからＸ側基板２５における押圧
位置ｐまでの抵抗値Ｒ_xと、Ｙ側基板２４上の押圧位置
ｐからＡ／Ｄコンバータ接続側電極までの抵抗値Ｒ_yと
を求める。ここで、ｒ_x：Ｘ側基板２５における電極２１、２２間の抵抗値ｘ：Ｘ側基板２５における電極２１、２２間の距離Ｘ：Ｘ側基板２５における電極２１から押圧位置ｐま
での距離ｒ_y：Ｙ側基板２６における電極２３、２４間の抵抗値ｙ：Ｙ側基板２６における電極２３、２４間の距離Ｙ：Ｙ側基板２６における電極２３から押圧位置ｐま
での距離とすると、上記抵抗値Ｒ_x及びＲ_yは、次式によってそ
れぞれ求められる。

【００３５】Ｒ_x＝（ｘ／Ｘ）ｒ_x ・・・（８）Ｒ_y＝（ｙ／Ｙ）ｒ_y ・・・（９）次に、このようにして求めた抵抗値Ｒ_x及びＲ_yを用い
て、ステップＳ₅では、ステップＳ₂で求めた押し圧を
補正する。具体的には、上記式（７）を変形して得られ
る接触抵抗値Ｒ_sを示す次式（１０）に、上記式（８）
及び（９）を代入することにより、式（１１）で示され
る補正後の抵抗値Ｒ_sを求め、この値を使って図１２の
グラフから補正後の押し圧を読み取る。

【００３６】Ｒs ＝（Ｖcc／ＶR ）・Ｒ−Ｒ−Ｒx −Ｒy ・・・（１０）Ｒs ＝（Ｖcc／ＶR ）・Ｒ−Ｒ−（ｘ／Ｘ）ｒ_x−（ｙ／Ｙ）ｒ_y ・・・（１１）この補正後の押し圧は、押された位置ｐに依存する抵抗
値Ｒ_x及びＲ_yの影響を除いた接触抵抗値Ｒ_sのみに基
づいて得られたものである。言い換えれば、式（１１）
で表された補正後の接触抵抗値を用いることによって、
押された位置ｐに依存しない正確な押し圧が得られる。

【００３７】次いで、ステップＳ₆では、上記のように
して求めた補正後の押し圧、つまり接触抵抗値を予め設
定された基準値と比較して、基準値以上であればタブレ
ット５０が押された（所定の入力操作が行われた）と判
断し、そのまま当該作業を終了する。一方、基準値に満
たない時はステップＳ₆からステップＳ₇に移行し、上
記ステップＳ₂、Ｓ₃で測定された押圧位置ｐの位置座
標を無効にした後、終了する。

【００３８】このように構成された本実施例に係る抵抗
膜方式タブレットによれば、位置座標の測定結果を用い
た補正により正確な接触抵抗値が求められるので、タブ
レット上の押された位置に依存しない押し圧が得られ
る。そして、この押し圧、つまり接触抵抗値が基準値以
上の時だけ入力される。従って、基準値以上の一定の押
し圧で押した場合には、その押された位置とは無関係
に、つまり押された位置が入力可能領域内にある限り何
処であっても、確実に入力されることとなる。これによ
り、押された位置によって入力可能な押し圧が異なると
いう不具合を解消することができ、それだけ入力が容易
化されることになる。

【００３９】なお、上記実施例では、最初の押し圧測定
の後に常に押圧位置ｐのＸ座標及びＹ座標の測定を行っ
ているが、最初の押し圧測定の結果、押し圧が十分小さ
い（つまり、図３の抵抗値Ｒ_x及びＲ_yの大きさがＸ側
基板及びＹ側基板における両電極間の抵抗値ｒ_x及びｒ
_yと同程度であると考えても接触抵抗値Ｒ_sが大きい）
と判断した場合には、座標測定を行わずに測定作業を中
断するようにしてもよい。〔第２実施例〕この実施例は、抵抗膜方式タブレットに
おける特に基板の抵抗膜への電極の配線に関するもので
ある。

【００４０】図７に示すように、このタブレット３０に
おける一対の方形のＸ側基板３１及びＹ側基板３２は、
抵抗膜が形成された面の両側に一対の第１電極３３及び
３４と第２電極３５及び３６とがそれぞれ設けられてい
る。

【００４１】このうちＸ側基板３１においては、図８に
示すように、その第１電極３３の一方の電極端３３ａに
電源が接続されている。また同基板３１における第２電
極３５は、上記第１電極３３の電源接続側電極端３３ａ
に対応する電極端３５ａが接地側に接続されている。そ
して、この第１及び第２の両電極３３、３５間における
四角形の部分（図８の鎖線で囲んだ部分）３６が入力可
能領域とされており、この部分３６を押した時に、上記
抵抗膜が図７におけるＹ側基板３２の抵抗膜に接触し
て、その接触部の電位がＹ側基板３２に現れ、この電位
が所定のＡ／Ｄコンバータを介して検出されることによ
り、タブレット３０上の押された位置ｐ、すなわち入力
位置が測定されるようになっている。

【００４２】その場合に、電極３３、３５の配線抵抗に
よる影響を解消する手段として、このタブレット３０の
Ｘ側基板３１においては、同図に示すように第１、第２
電極３３、３５が入力可能領域３６に対して所定の斜め
状態に配置されている。すなわち、第１電極３３におけ
る電源接続側電極端３３ａ及びこれに対応する第２電極
３５における接地側電極端３５ａが入力可能領域３６に
対して所定距離だけ離されて配置されているとともに、
これらの電極端３３ａ、３５ａの反対側、つまり電源Ｖ
cc等の接続されていない側の電極端３３ｂ、３５ｂ側が
入力可能領域３６に近づけられた状態に配置されてい
る。言い換えれば、入力可能領域３６を挟んで対峙する
電源接続側及び接地側の両電極端３３ａ及び３５ａの間
の長さがその反対側の両電極端３３ｂ及び３５ｂの間の
長さよりも所定距離だけ長くなるように設定されてい
る。

【００４３】そして、第１電極３３における電源接続側
電極端３３ａとこれに対応位置する入力可能領域３６の
隅部（図８において左上隅部）ａとの間の抵抗値が、上
記電極端３３ａから反対側の電極端３３ｂまでの電極３
３の配線抵抗の値に等しくなるように設定されている。
また、第２電極３５においても、同様にして接地側の電
極端３５ａとこれに対応する入力可能領域３６の隅部
（図８において左下隅部）ａ’との間の抵抗値が、その
電極端３５ａから反対側の電極端３５ｂまでの電極３５
の配線抵抗の値に等しくなるように設定されている。

【００４４】具体的には、基板３１の抵抗の分布を示す
図９において、ｒ’＝ｒとなるように設定されている。
ここで、同図における符号の意味は次の通りである。ａ：図８の入力可能領域３６の左上隅部ａｂ：第１電極３３における電極端３３ｂａ’：図８の入力可能領域３６の左下隅部ａ’ ｂ’：第２電極３５における電極端３５ｂＲ：ａ−ａ’（ｂ−ｂ’）間の入力可能領域３６の抵
抗ｒ：第１電極３３（第２電極３５）の配線抵抗ｒ’：第１電極３３（第２電極３５）の電源接続側電極
端３３ａ（接地側電極端３５ａ）から入力可能領域３６
の左上隅部ａ（ａ’）までの抵抗膜による抵抗このように構成されたタブレット３０では、図９におけ
る基板３１上のａ、ａ’、ｂ、ｂ’の各電位Ｖa 、Ｖa
’、Ｖb 、Ｖb ’は、次式（１２）〜（１５）で示さ
れる。

【００４５】Ｖa ＝Ｖcc・（ｒ’＋Ｒ）／（２ｒ’＋Ｒ）・・・（１２）Ｖb ＝Ｖcc・（ｒ＋Ｒ）／（２ｒ＋Ｒ）・・・（１３）Ｖa ' ＝Ｖcc・ｒ’／（２ｒ’＋Ｒ）・・・（１４）Ｖb ’＝Ｖcc・ｒ／（２ｒ’＋Ｒ）・・・（１５）そして、このタブレットにおいては、上述のようにｒ＝
ｒ’となるように構成されているから、これを上記式
（１２）〜（１５）に代入すれば、Ｖa ＝Ｖb 、Ｖa ’
＝Ｖb ’となる。すなわち、図８に示す入力可能領域３
６の左上隅部ａと右上隅部ｂの両電位が等しくなるとと
もに、同領域の左下隅部ａ’と右下隅部ｂ’の両電位も
等しくなる。従って、タブレット３０の入力可能領域３
６を押した場合に、その押された位置のＸ座標が同じで
あれば同じ電位が測定されることとなり、入力位置の正
確な検出、つまり正確な入力が可能となる。

【００４６】なお、以上の説明は、Ｘ側基板３１のみに
ついてのものであるが、Ｙ側基板も同様に構成されてい
る。従って、Ｙ側基板３２においても、両電極３４、３
６の配線抵抗による影響を受けずに入力位置が正確に検
出されることになる。

【００４７】

【発明の効果】以上のように、本願第１発明によれば、
抵抗膜方式タブレットにおいて、押された位置に関係な
く正確な接触抵抗値（押し圧）を得ることができるの
で、一定値以上の押し圧で押す限り、その位置が入力可
能領域内の何処であっても確実に入力することが可能と
なる。これにより、押された位置によって入力可能な押
し圧が異なるという不具合を解消することができ、それ
だけ入力の容易化を図ることができる。

【００４８】また、本願第２発明によれば、抵抗膜方式
タブレットおいて、基板上の測定される座標系の下で電
極から同じ距離だけ離れた位置では測定電圧が一定とな
るから、正しい入力位置を測定することができ、従って
正確な入力が可能となる。

【００４９】そして、上記第１発明におけるタブレット
基板の電極の配線に第２発明の構成を適用することで、
抵抗膜方式タブレットにおいて入力が正確に、しかも容
易に行えるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本願第１発明の全体構成を示すブロック図であ
る。

【図２】本発明の第１実施例に係る抵抗膜方式タブレッ
トの全体構成を示すために使用した説明図である。

【図３】上記第１実施例の押し圧測定時おけるタブレッ
トの配線図である。

【図４】同じくＸ座標測定時におけるタブレットの配線
図である。

【図５】同じくＹ座標測定時におけるタブレットの配線
図である。

【図６】上記タブレットの動作を説明するために使用し
たフローチャートである。

【図７】本発明の第２実施例に係る抵抗膜方式タブレッ
トの全体構成を示すために使用した説明図である。

【図８】同タブレットの電極の配線状態を示す平面図で
ある。

【図９】同タブレットの配線抵抗等の分布状態を説明す
るために使用した抵抗分布図である。

【図１０】抵抗膜方式タブレットの一般的な構造を示す
縦断面図である。

【図１１】従来の抵抗膜方式タブレットによる押し圧測
定を説明するために使用したタブレット配線図である。

【図１２】抵抗膜方式タブレットにおける押し圧と接触
抵抗値との関係を示すグラフである。

【図１３】従来の抵抗膜方式タブレットにおける座標測
定を示すフローチャートである。

【図１４】同タブレットにおける入力位置と抵抗値との
関係を示すグラフである。

【図１５】同タブレットによる座標測定（位置測定）を
説明するために使用したタブレット配線図である。

【図１６】同タブレットの基板における電極の配線状態
を示す平面図である。

【図１７】同タブレットの基板における抵抗の分布状態
を示す抵抗分布図である。

【図１８】従来の抵抗膜方式タブレットにおける問題点
を説明するために使用した基板上の入力位置と測定され
た位置との関係を示す平面図である。

【符号の説明】

２１、２２、２３、２４、３３、３４、３５、３６・・
・電極２５、２６、３１、３２・・・基板（２５、３１・・・
Ｘ側基板、２６、３２・・・Ｙ側基板）３０、５０・・・抵抗膜方式タブレット１０・・・入力部Ｖcc・・・電源Ｒs ・・・接触抵抗値Ｒx ・・・Ｘ座標抵抗値Ｒy ・・・Ｙ座標抵抗値

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】両側に所定の座標軸方向に沿って延びる
一対の電極をそれぞれ有し且つこれらの電極間に入力可
能領域が設けられた一対のＸ側基板及びＹ側基板が、所
定の隙間を有して相対向する状態に配置されているとと
もに、これらの基板の相対向する面側に抵抗膜が形成さ
れた入力部と、一方の基板に電源を接続して他方の基板
を接地側とした状態でＸ側基板を押圧して両基板の抵抗
膜を接触させた時に上記一方の基板における電源接続側
の電極から当該抵抗膜接触部を介して他方の基板におけ
る接地側電極までの全抵抗値を測定する全抵抗値測定手
段と、Ｘ側及びＹ側の各基板における電源接続側の電極
から抵抗膜接触部までのＸ座標抵抗値及びＹ座標抵抗値
をそれぞれ測定するＸ・Ｙ座標抵抗値測定手段と、上記
全抵抗値が基準値以上であるか否かでＸ側基板が押され
たか否かを判別する判別手段と、この判別手段によって
Ｘ側基板が押されたと判別された時に上記測定されたＸ
座標抵抗値及びＹ座標抵抗値からＸ座標及びＹ座標を演
算する座標演算手段とを有するタブレットにおいて、上
記全抵抗値とＸ及びＹ座標抵抗値とから接触膜抵抗部の
接触抵抗値を求める補正手段を備え、この補正手段によ
って求められた接触抵抗値が基準値以上である時に上記
判別手段はタブレットが押されたと判断するように構成
されていることを特徴とする接触膜方式タブレット。
【請求項２】両側に所定の座標軸方向に沿って延びる
一対の電極をそれぞれ有し且つこれらの電極間に入力可
能領域が設けられた一対の基板が、所定の隙間を有して
相対向する状態に配置されているとともに、これらの基
板の相対向する面側に抵抗膜が形成されており、一方の
基板を押圧してその抵抗膜を他方の基板の抵抗膜に接触
させた時にその接触位置を検出することで入力が可能と
されたタブレットにおいて、各基板のそれぞれについ
て、電極の一方に電源を接続した時に電源から入力可能
領域における押圧位置までの抵抗が当該基板における上
記座標軸方向の位置に関係なく一定となるように、上記
一対の電極を、その電源接続部側では入力可能領域から
互いに所定距離だけ離して配置する一方、その反対側に
位置する非接続部側では入力可能領域に互いに近づけて
配置したことを特徴とする抵抗膜方式タブレット。