JPH06132587A - 光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路 - Google Patents
光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路Info
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- JPH06132587A JPH06132587A JP4283298A JP28329892A JPH06132587A JP H06132587 A JPH06132587 A JP H06132587A JP 4283298 A JP4283298 A JP 4283298A JP 28329892 A JP28329892 A JP 28329892A JP H06132587 A JPH06132587 A JP H06132587A
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- laser
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高価な駆動回路を必要とすることなく、歩留
りの向上が図れ、かつレーザ光の単色性を維持できる状
態で戻り光に起因する雑音を格段に抑制できる光メモリ
読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路を実現する。 【構成】 鋸波電流源11から波長可変半導体レーザ素
子12のレーザ波長制御用端子に光周波数変調振幅が
f、変調周期がTの鋸波状波形の光周波数変調信号を与
える。光周波数の時間率変化率Rは、R=f/Tとな
る。レーザ光の出射時点〜帰還する迄の時間をτとする
と、レーザ光の発振周波数と戻り光の光周波数の差Δ
は、Δ=R・τとなる。2つのレーザ光の干渉効果の大
きさは、2つのレーザ光の光周波数の差Δと、それぞれ
のレーザ光のスペクトル線幅δνに依存しており、Δが
δνに比較して大きい場合に両レーザ光の干渉は生じな
いので、δν≦Δ、即ちR≧δν/τに設定する。
りの向上が図れ、かつレーザ光の単色性を維持できる状
態で戻り光に起因する雑音を格段に抑制できる光メモリ
読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路を実現する。 【構成】 鋸波電流源11から波長可変半導体レーザ素
子12のレーザ波長制御用端子に光周波数変調振幅が
f、変調周期がTの鋸波状波形の光周波数変調信号を与
える。光周波数の時間率変化率Rは、R=f/Tとな
る。レーザ光の出射時点〜帰還する迄の時間をτとする
と、レーザ光の発振周波数と戻り光の光周波数の差Δ
は、Δ=R・τとなる。2つのレーザ光の干渉効果の大
きさは、2つのレーザ光の光周波数の差Δと、それぞれ
のレーザ光のスペクトル線幅δνに依存しており、Δが
δνに比較して大きい場合に両レーザ光の干渉は生じな
いので、δν≦Δ、即ちR≧δν/τに設定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光メモリ読み出し装置
用の半導体レーザ駆動回路に関し、より詳しくは光源と
なる半導体レーザの駆動方式に特徴を有する光メモリ読
み出し装置用の半導体レーザ駆動回路に関する。
用の半導体レーザ駆動回路に関し、より詳しくは光源と
なる半導体レーザの駆動方式に特徴を有する光メモリ読
み出し装置用の半導体レーザ駆動回路に関する。
【0002】
【従来の技術】コンパクト・ディスク(CD)や光磁気
ディスクに代表される記録情報媒体としての光メモリ
は、記録容量が大きく、かつ高速アクセスが可能である
特長を有する。このため、現在、パーソナルコンピュー
タやワードプロセッサ等の種々の情報機器の記録装置と
して利用されている。
ディスクに代表される記録情報媒体としての光メモリ
は、記録容量が大きく、かつ高速アクセスが可能である
特長を有する。このため、現在、パーソナルコンピュー
タやワードプロセッサ等の種々の情報機器の記録装置と
して利用されている。
【0003】ところで、光メモリの情報面に記録された
情報の読み出しは、一般に光ピックアップと称される光
学ユニットを用いて行われる。この光ピックアップにお
ける情報の読み出しは、光源となる半導体レーザから出
射されたレーザ光を光メモリの記録情報に応じて強度変
調させて反射させ、その反射光強度を光ピックアップに
設けられた受光素子により検出して行われる。
情報の読み出しは、一般に光ピックアップと称される光
学ユニットを用いて行われる。この光ピックアップにお
ける情報の読み出しは、光源となる半導体レーザから出
射されたレーザ光を光メモリの記録情報に応じて強度変
調させて反射させ、その反射光強度を光ピックアップに
設けられた受光素子により検出して行われる。
【0004】このような構成の光ピックアップにおいて
は、受光素子の側方に半導体レーザが配置されるため、
光メモリの情報面で反射されたレーザ光の一部が再度半
導体レーザに戻って来ることになる。このように、再度
半導体レーザのレーザ共振器内に帰還する光は、一般
に、戻り光と呼ばれ、半導体レーザの光強度雑音の発生
原因の一つになっている。
は、受光素子の側方に半導体レーザが配置されるため、
光メモリの情報面で反射されたレーザ光の一部が再度半
導体レーザに戻って来ることになる。このように、再度
半導体レーザのレーザ共振器内に帰還する光は、一般
に、戻り光と呼ばれ、半導体レーザの光強度雑音の発生
原因の一つになっている。
【0005】この戻り光に起因する雑音は、半導体レー
ザ内部における発振レーザ光と、戻り光との光波干渉効
果(以下干渉効果と称する)によって生じる。より具体
的には、戻り光が半導体レーザ共振器内部での発振光位
相をランダムに乱すため、レーザ光の光出力強度が微妙
に変化することにより雑音が発生する。即ち、一旦半導
体レーザから出射されたレーザ光は、光メモリの情報記
録面で反射されて半導体レーザに戻るまでの間(距離と
して30〜100mm)、コヒーレント状態を持続(半
導体レーザのコヒーレント長=10〜50m)している
ため、雑音が生じる。この雑音レベルは、一般にレーザ
光のコヒーレンスが高いほど大きくなる。
ザ内部における発振レーザ光と、戻り光との光波干渉効
果(以下干渉効果と称する)によって生じる。より具体
的には、戻り光が半導体レーザ共振器内部での発振光位
相をランダムに乱すため、レーザ光の光出力強度が微妙
に変化することにより雑音が発生する。即ち、一旦半導
体レーザから出射されたレーザ光は、光メモリの情報記
録面で反射されて半導体レーザに戻るまでの間(距離と
して30〜100mm)、コヒーレント状態を持続(半
導体レーザのコヒーレント長=10〜50m)している
ため、雑音が生じる。この雑音レベルは、一般にレーザ
光のコヒーレンスが高いほど大きくなる。
【0006】このような戻り光に起因する雑音(以下戻
り光雑音と称する)は、光メモリの情報記録面に記録さ
れた情報を読み出す際に、システムのC/N比(Car
rier to Noise ratio)を劣化させ
ることになるため、信号光の強度が小さい高密度光磁気
ディスクシステムや高いS/N比が要求される画像情報
を記録したアナログ記録のレーザディスクシステム、あ
るいは半導体レーザへの帰還戻り光の大きな超小型光ピ
ックアップを応用した光メモリ読み出し装置等において
は大きな問題となる。
り光雑音と称する)は、光メモリの情報記録面に記録さ
れた情報を読み出す際に、システムのC/N比(Car
rier to Noise ratio)を劣化させ
ることになるため、信号光の強度が小さい高密度光磁気
ディスクシステムや高いS/N比が要求される画像情報
を記録したアナログ記録のレーザディスクシステム、あ
るいは半導体レーザへの帰還戻り光の大きな超小型光ピ
ックアップを応用した光メモリ読み出し装置等において
は大きな問題となる。
【0007】このような問題点を解決するための一手段
として、光アイソレータを用いることが考えられるが、
光メモリ装置のようにシステム価格を低く抑えること
や、光ピックアップの小型、軽量化の要請が強い現状で
は、光アイソレータのような光学部品を別途装備するこ
とは好ましいことではない。
として、光アイソレータを用いることが考えられるが、
光メモリ装置のようにシステム価格を低く抑えること
や、光ピックアップの小型、軽量化の要請が強い現状で
は、光アイソレータのような光学部品を別途装備するこ
とは好ましいことではない。
【0008】ところで、上述のように戻り光雑音は、半
導体レーザのコヒーレント性に起因するものであり、戻
り光雑音を抑制するには半導体レーザのコヒーレント長
を短くすることが効果的である。このような目的で、従
来の光メモリ装置の光ピックアップには、半導体レーザ
の出力レーザ光強度を高速に変調する高周波重畳法と称
せられる技術や、半導体レーザ素子自体に、出力レーザ
光に自然に高周波の強度変調がかかる機能を併せもたせ
る自励発振レーザ法と称せられる技術が採用されてい
た。
導体レーザのコヒーレント性に起因するものであり、戻
り光雑音を抑制するには半導体レーザのコヒーレント長
を短くすることが効果的である。このような目的で、従
来の光メモリ装置の光ピックアップには、半導体レーザ
の出力レーザ光強度を高速に変調する高周波重畳法と称
せられる技術や、半導体レーザ素子自体に、出力レーザ
光に自然に高周波の強度変調がかかる機能を併せもたせ
る自励発振レーザ法と称せられる技術が採用されてい
た。
【0009】図7は、高周波重畳法を採用した半導体レ
ーザ駆動回路を示す。この半導体レーザ駆動回路は、自
動パワー制御回路70、高周波発振回路71および半導
体レーザ素子72で構成される。半導体レーザ素子72
の通常の駆動方法では、自動パワー制御回路70を半導
体レーザ素子72に直結し、自動パワー制御回路70か
ら与えられる直流電流により半導体レーザ素子72を駆
動する構成がとられる。これに対して、この高周波重畳
法では、自動パワー制御回路70によりコントロールさ
れた直流電流に、高周波発振回路71からの高周波電流
を重畳した電流で半導体レーザ素子72を駆動する構成
をとる。
ーザ駆動回路を示す。この半導体レーザ駆動回路は、自
動パワー制御回路70、高周波発振回路71および半導
体レーザ素子72で構成される。半導体レーザ素子72
の通常の駆動方法では、自動パワー制御回路70を半導
体レーザ素子72に直結し、自動パワー制御回路70か
ら与えられる直流電流により半導体レーザ素子72を駆
動する構成がとられる。これに対して、この高周波重畳
法では、自動パワー制御回路70によりコントロールさ
れた直流電流に、高周波発振回路71からの高周波電流
を重畳した電流で半導体レーザ素子72を駆動する構成
をとる。
【0010】このような高周波成分を含む電流により半
導体レーザ素子72を駆動すると、半導体レーザ素子7
2自体が有する非線形効果により出力レーザ光の周波数
が周波数変調された形になる。ここで、光の周波数は通
常の電気信号の周波数に比べて格段に高い周波数ではあ
るが、ある周波数成分を有する信号により周波数変調さ
れた信号スペクトルは同様に取り扱うことが可能であ
り、搬送波の両側にサイドバンド(側帯)が形成され
る。従って、直流電流により駆動された半導体レーザ素
子72のスペクトルに比べて、信号スペクトルが広がっ
たことになる。このことは、半導体レーザ素子72の出
力レーザ光のコヒーレント性を低くしたことに外ならな
い。
導体レーザ素子72を駆動すると、半導体レーザ素子7
2自体が有する非線形効果により出力レーザ光の周波数
が周波数変調された形になる。ここで、光の周波数は通
常の電気信号の周波数に比べて格段に高い周波数ではあ
るが、ある周波数成分を有する信号により周波数変調さ
れた信号スペクトルは同様に取り扱うことが可能であ
り、搬送波の両側にサイドバンド(側帯)が形成され
る。従って、直流電流により駆動された半導体レーザ素
子72のスペクトルに比べて、信号スペクトルが広がっ
たことになる。このことは、半導体レーザ素子72の出
力レーザ光のコヒーレント性を低くしたことに外ならな
い。
【0011】一般に半導体レーザ素子72に重畳される
高周波電流の周波数は、記録情報の再生信号帯(1〜5
MHz)よりも十分大きい値が好ましく、一般には50
〜500MHzの値が選択されるのが普通である。この
ような周波数の信号が重畳された電流により駆動される
半導体レーザ素子72の各縦モードスペクトルの幅は、
10GHz以上の値を有することになる。このときの、
レーザ光のコヒーレント長は1〜約10mmであり、通
常の直流駆動方式の場合の値(10〜50m)に比べて
格段に低い値となる。コヒーレント長が1〜約10mm
の半導体レーザ素子72では、半導体レーザ素子72に
帰還するまでに30〜100mmの距離を通過して来る
戻り光がレーザ共振器の内部に帰還しても、レーザ光共
振器内の発振レーザ光と最早干渉して戻り光雑音を生じ
ることはない。
高周波電流の周波数は、記録情報の再生信号帯(1〜5
MHz)よりも十分大きい値が好ましく、一般には50
〜500MHzの値が選択されるのが普通である。この
ような周波数の信号が重畳された電流により駆動される
半導体レーザ素子72の各縦モードスペクトルの幅は、
10GHz以上の値を有することになる。このときの、
レーザ光のコヒーレント長は1〜約10mmであり、通
常の直流駆動方式の場合の値(10〜50m)に比べて
格段に低い値となる。コヒーレント長が1〜約10mm
の半導体レーザ素子72では、半導体レーザ素子72に
帰還するまでに30〜100mmの距離を通過して来る
戻り光がレーザ共振器の内部に帰還しても、レーザ光共
振器内の発振レーザ光と最早干渉して戻り光雑音を生じ
ることはない。
【0012】一方、自励発振レーザ法は、上述の高周波
重畳法と同等の効果を一つの半導体レーザに併せ持たせ
たものである。この場合は、高周波発振は、半導体レー
ザ素子内部のキャリアの搖らぎとしてレーザ共振器内部
で実現される。このため、高周波回路を別途装備する必
要はない。
重畳法と同等の効果を一つの半導体レーザに併せ持たせ
たものである。この場合は、高周波発振は、半導体レー
ザ素子内部のキャリアの搖らぎとしてレーザ共振器内部
で実現される。このため、高周波回路を別途装備する必
要はない。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の高周
波重畳法による場合は、高周波発振回路71が必要にな
るため、半導体レーザ素子72の駆動回路が高価なもの
になる欠点がある。
波重畳法による場合は、高周波発振回路71が必要にな
るため、半導体レーザ素子72の駆動回路が高価なもの
になる欠点がある。
【0014】一方、自励発振レーザ法では、上記のよう
に高周波回路を別途装備する必要がない利点がある。
に高周波回路を別途装備する必要がない利点がある。
【0015】しかしながら、上記のような効果を併せ持
つ半導体レーザ素子の設計条件の許容範囲は非常に狭
い。従って、半導体レーザ素子作製上のプロセス条件の
変動に起因する悪影響を受け易く、作製された半導体レ
ーザ素子の仕様が設計値から微妙にずれる不具合を生じ
るため、歩留りが低下するという欠点がある。
つ半導体レーザ素子の設計条件の許容範囲は非常に狭
い。従って、半導体レーザ素子作製上のプロセス条件の
変動に起因する悪影響を受け易く、作製された半導体レ
ーザ素子の仕様が設計値から微妙にずれる不具合を生じ
るため、歩留りが低下するという欠点がある。
【0016】また、高周波重畳法、自励発振レーザ法に
は共通する以下の欠点がある。いずれの方法において
も、半導体レーザ素子は高周波成分を有する電流により
周波数変調を受けるため、このような場合、一般に出力
レーザ光の軸モード(スペクトル)は、図8に示すよう
なマルチモードになる。即ち、複数のピークを有するス
ペクトルを呈することになり、トータルでのスペクトル
線幅は波長として3nm(光周波数に換算すれば1.5
THz)程度に広がることになる。
は共通する以下の欠点がある。いずれの方法において
も、半導体レーザ素子は高周波成分を有する電流により
周波数変調を受けるため、このような場合、一般に出力
レーザ光の軸モード(スペクトル)は、図8に示すよう
なマルチモードになる。即ち、複数のピークを有するス
ペクトルを呈することになり、トータルでのスペクトル
線幅は波長として3nm(光周波数に換算すれば1.5
THz)程度に広がることになる。
【0017】従って、コヒーレント長の悪化のみなら
ず、必要以上に出力レーザ光の単色性を劣化させること
になる。このようなレーザ光の単色性の劣化は、最近こ
の種の技術分野において用いられる傾向にあるホログラ
ム、グレーティング等の光の回折現象を利用した集光、
偏光光学系を含む光ピックアップに応用する場合に問題
になる。というのは、ホログラムやグレーティングによ
る光制御機能は、対象とするレーザ光波長に対する依存
性が大きく、一般に1nm以下の単色性が要求されるか
らである。
ず、必要以上に出力レーザ光の単色性を劣化させること
になる。このようなレーザ光の単色性の劣化は、最近こ
の種の技術分野において用いられる傾向にあるホログラ
ム、グレーティング等の光の回折現象を利用した集光、
偏光光学系を含む光ピックアップに応用する場合に問題
になる。というのは、ホログラムやグレーティングによ
る光制御機能は、対象とするレーザ光波長に対する依存
性が大きく、一般に1nm以下の単色性が要求されるか
らである。
【0018】本発明はこのような従来技術の欠点を解決
するものであり、高価な駆動回路を必要とすることな
く、歩留りの向上が図れ、かつレーザ光の単色性を維持
できる状態で戻り光に起因する雑音を格段に抑制できる
光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路を提供
することを目的とする。
するものであり、高価な駆動回路を必要とすることな
く、歩留りの向上が図れ、かつレーザ光の単色性を維持
できる状態で戻り光に起因する雑音を格段に抑制できる
光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路を提供
することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明の光メモリ読み出
し装置用の半導体レーザ駆動回路は、単一縦モード発振
する半導体レーザからの出力レーザ光を記録情報媒体に
照射し、該記録情報媒体からの反射光を検出して情報を
読み出す光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回
路であって、該出力レーザ光の光周波数の時間変化率R
と、該出力レーザ光のスペクトル線幅δνを、該出力レ
ーザ光が出射された時点から該記録情報媒体の情報記録
面で反射されて再度該半導体レーザに戻る迄に要する時
間τで除した値δν/τとが、下記式で示す条件 R≧δν/τ… を満足するように、該出力レーザ光の光周波数を、三角
波状又は鋸波状に周期的に変調するようにしており、そ
のことにより上記目的が達成される。
し装置用の半導体レーザ駆動回路は、単一縦モード発振
する半導体レーザからの出力レーザ光を記録情報媒体に
照射し、該記録情報媒体からの反射光を検出して情報を
読み出す光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回
路であって、該出力レーザ光の光周波数の時間変化率R
と、該出力レーザ光のスペクトル線幅δνを、該出力レ
ーザ光が出射された時点から該記録情報媒体の情報記録
面で反射されて再度該半導体レーザに戻る迄に要する時
間τで除した値δν/τとが、下記式で示す条件 R≧δν/τ… を満足するように、該出力レーザ光の光周波数を、三角
波状又は鋸波状に周期的に変調するようにしており、そ
のことにより上記目的が達成される。
【0020】好ましくは、前記出力レーザ光の光周波数
の変調周波数を、前記記録情報媒体の情報読み出し信号
の信号帯域と同等又はそれ以下に設定する。
の変調周波数を、前記記録情報媒体の情報読み出し信号
の信号帯域と同等又はそれ以下に設定する。
【0021】
【作用】上記式の条件(駆動条件)によれば、戻り光
雑音を抑制できる理由を以下に説明する。出力レーザ波
長、換言すれば光周波数を周期的な鋸波状に変調する
と、出力が一定で周期的に光周波数のみが変化するレー
ザ光を得ることができる。このときの光周波数変調振幅
をf、変調周期をTとすると、光周波数の時間変化率R
は、下記式で表される。
雑音を抑制できる理由を以下に説明する。出力レーザ波
長、換言すれば光周波数を周期的な鋸波状に変調する
と、出力が一定で周期的に光周波数のみが変化するレー
ザ光を得ることができる。このときの光周波数変調振幅
をf、変調周期をTとすると、光周波数の時間変化率R
は、下記式で表される。
【0022】R=f/T… また、戻り光が半導体レーザに帰還した時点でのレーザ
光の発振光周波数と戻り光の光周波数の差Δは、下記
式で示される。
光の発振光周波数と戻り光の光周波数の差Δは、下記
式で示される。
【0023】Δ=R・τ… 上記従来技術のところで説明したように、戻り光雑音の
発生原因は、戻りレーザ光と発振レーザ光との干渉効果
によるものであり、両レーザ光の光周波数、換言すれば
波長が異なる場合は干渉効果を小さくできる。また、一
般に2つのレーザ光の干渉効果を考える場合、干渉効果
の大きさは2つのレーザ光の周波数の差と、それぞれの
レーザ光のスペクトル線幅に依存しており、光周波数が
スペクトル線幅に比べて大きい場合には、両レーザ光の
干渉は生じない。
発生原因は、戻りレーザ光と発振レーザ光との干渉効果
によるものであり、両レーザ光の光周波数、換言すれば
波長が異なる場合は干渉効果を小さくできる。また、一
般に2つのレーザ光の干渉効果を考える場合、干渉効果
の大きさは2つのレーザ光の周波数の差と、それぞれの
レーザ光のスペクトル線幅に依存しており、光周波数が
スペクトル線幅に比べて大きい場合には、両レーザ光の
干渉は生じない。
【0024】ここで、光メモリ読み出し装置用に通常使
用される半導体レーザの出力レーザ光のスペクトル線幅
δνは、10〜50MHz程度である。
用される半導体レーザの出力レーザ光のスペクトル線幅
δνは、10〜50MHz程度である。
【0025】従って、両レーザ光の周波数の差Δをスペ
クトル線幅δν以上に設定すると、戻り光雑音を抑制で
きる。即ち、下記式に示す条件に設定すれば、 δν≦Δ… 戻り光雑音を抑制できる。
クトル線幅δν以上に設定すると、戻り光雑音を抑制で
きる。即ち、下記式に示す条件に設定すれば、 δν≦Δ… 戻り光雑音を抑制できる。
【0026】式に式を代入してΔを消去すれば、上
記式で示す条件式が導かれる。すなわち、式の条件
を駆動条件として設定すれば、戻り光雑音を確実に抑制
できる。
記式で示す条件式が導かれる。すなわち、式の条件
を駆動条件として設定すれば、戻り光雑音を確実に抑制
できる。
【0027】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。
【0028】(実施例1)図1は本発明光メモリ読み出
し装置用の半導体レーザ駆動回路の実施例1を示す。こ
の半導体レーザ駆動回路は、自動出力制御(APC=A
uto Power Control)回路が内蔵され
た直流電流源10、鋸波電流源11および光出力モニタ
ー用の受光素子を内蔵した波長可変半導体レーザ素子1
2で構成されている。波長可変半導体レーザ素子12の
レーザ光パワー制御用端子には、直流電流源10からの
直流電流が入力される。また、波長可変半導体レーザ素
子12のレーザ波長、換言すれば光周波数制御用端子に
は鋸波電流源11からの光周波数変調信号が入力される
ようになっている。
し装置用の半導体レーザ駆動回路の実施例1を示す。こ
の半導体レーザ駆動回路は、自動出力制御(APC=A
uto Power Control)回路が内蔵され
た直流電流源10、鋸波電流源11および光出力モニタ
ー用の受光素子を内蔵した波長可変半導体レーザ素子1
2で構成されている。波長可変半導体レーザ素子12の
レーザ光パワー制御用端子には、直流電流源10からの
直流電流が入力される。また、波長可変半導体レーザ素
子12のレーザ波長、換言すれば光周波数制御用端子に
は鋸波電流源11からの光周波数変調信号が入力される
ようになっている。
【0029】以上の構成の半導体レーザ駆動回路の動作
を以下に説明する。波長可変半導体レーザ素子12から
出力される出力レーザ光のパワーは、該波長可変半導体
レーザ素子12に内蔵された光出力モニター用の受光素
子により検出される。受光素子の検出信号はフィードバ
ック信号として直流電流源10に与えられる。そうする
と、直流電流源10に内蔵されたAPC回路が直流電流
源10の出力レベルを制御し、これにより受光素子の出
力電流が一定の値に維持される。
を以下に説明する。波長可変半導体レーザ素子12から
出力される出力レーザ光のパワーは、該波長可変半導体
レーザ素子12に内蔵された光出力モニター用の受光素
子により検出される。受光素子の検出信号はフィードバ
ック信号として直流電流源10に与えられる。そうする
と、直流電流源10に内蔵されたAPC回路が直流電流
源10の出力レベルを制御し、これにより受光素子の出
力電流が一定の値に維持される。
【0030】このとき、波長可変半導体レーザ素子12
のレーザ波長(換言すれば光周波数)制御用端子には、
鋸波電流源11から光周波数変調信号が入力されるよう
になっており、受光素子の出力波形は図2に示すような
周期的な鋸波状に変調される。これにより、出力レベル
が一定で、光周波数のみが周期的に変化するレーザ光を
得ることができる。
のレーザ波長(換言すれば光周波数)制御用端子には、
鋸波電流源11から光周波数変調信号が入力されるよう
になっており、受光素子の出力波形は図2に示すような
周期的な鋸波状に変調される。これにより、出力レベル
が一定で、光周波数のみが周期的に変化するレーザ光を
得ることができる。
【0031】波長可変半導体レーザ素子12から出力さ
れたレーザ光は、図示しない光メモリの情報記録面に集
光され、この情報記録面からの反射光が波長可変半導体
レーザ素子12の出射面に再度戻って来るようになって
いる。
れたレーザ光は、図示しない光メモリの情報記録面に集
光され、この情報記録面からの反射光が波長可変半導体
レーザ素子12の出射面に再度戻って来るようになって
いる。
【0032】本実施例1においては、鋸波状電流の波形
として、図2に示すように、光周波数変調振幅がf、変
調周期がTとなるものを用いた。従って、この鋸波状電
流の光周波数の時間率変化率Rは、下記式で表され
る。
として、図2に示すように、光周波数変調振幅がf、変
調周期がTとなるものを用いた。従って、この鋸波状電
流の光周波数の時間率変化率Rは、下記式で表され
る。
【0033】R=f/T… ここで、波長可変半導体レーザ素子12から出射された
レーザ光の出射時点〜光メモリの情報記録面から反射さ
れて戻って来る迄の時間をτとすると、戻り光が波長可
変半導体レーザ素子12に帰還した時点でのレーザ光の
発振周波数と戻り光の光周波数の差Δは、下記式で表
される。
レーザ光の出射時点〜光メモリの情報記録面から反射さ
れて戻って来る迄の時間をτとすると、戻り光が波長可
変半導体レーザ素子12に帰還した時点でのレーザ光の
発振周波数と戻り光の光周波数の差Δは、下記式で表
される。
【0034】Δ=R・τ… ところで、本実施例の光メモリ読み出し装置のように、
レーザ光の光メモリの情報記録面からの反射光を利用し
て情報の読み出しを行う装置においては、上記従来技術
の所で説明した戻り光雑音を抑制することが重要であ
り、この戻り光雑音の発生原因は戻りレーザ光と発振レ
ーザ光との干渉効果によるものであるため、戻り光雑音
を抑制するには、両レーザ光の光周波数、換言すれば波
長を所定の値以上に異ならせればよい。本発明はこのよ
うな基本的原理に従って戻り光雑音を抑制する。
レーザ光の光メモリの情報記録面からの反射光を利用し
て情報の読み出しを行う装置においては、上記従来技術
の所で説明した戻り光雑音を抑制することが重要であ
り、この戻り光雑音の発生原因は戻りレーザ光と発振レ
ーザ光との干渉効果によるものであるため、戻り光雑音
を抑制するには、両レーザ光の光周波数、換言すれば波
長を所定の値以上に異ならせればよい。本発明はこのよ
うな基本的原理に従って戻り光雑音を抑制する。
【0035】今、2つのレーザ光の干渉効果を考える
と、一般に干渉効果の大きさは、2つのレーザ光の光周
波数の差Δと、それぞれのレーザ光のスペクトル線幅δ
νに依存しており、光周波数の差Δがスペクトル線幅δ
νに比較して大きい場合に両レーザ光の干渉は生じな
い。
と、一般に干渉効果の大きさは、2つのレーザ光の光周
波数の差Δと、それぞれのレーザ光のスペクトル線幅δ
νに依存しており、光周波数の差Δがスペクトル線幅δ
νに比較して大きい場合に両レーザ光の干渉は生じな
い。
【0036】ここで、通常の光メモリ読み出し装置の光
源として用いられる半導体レーザ素子の場合、出力レー
ザ光のスペクトル線幅δνは10〜50MHz程度であ
る。従って、戻り光と発振レーザ光との光周波数の差Δ
をこのスペクトル線幅δν以上に設定すれば戻り光雑音
を抑制できる。即ち、一般に両者の関係を下記式に示
す条件に設定すれば、戻り光雑音を抑制できる。
源として用いられる半導体レーザ素子の場合、出力レー
ザ光のスペクトル線幅δνは10〜50MHz程度であ
る。従って、戻り光と発振レーザ光との光周波数の差Δ
をこのスペクトル線幅δν以上に設定すれば戻り光雑音
を抑制できる。即ち、一般に両者の関係を下記式に示
す条件に設定すれば、戻り光雑音を抑制できる。
【0037】δν≦Δ… 上記式に式および式の関係を代入すれば、波長可
変半導体レーザ素子12の光周波数の時間変化率Rを下
記式に示す条件に設定すれば、戻り光雑音を抑制でき
ることがわかる。
変半導体レーザ素子12の光周波数の時間変化率Rを下
記式に示す条件に設定すれば、戻り光雑音を抑制でき
ることがわかる。
【0038】R≧δν/τ… 次に、本実施例1で使用する波長可変半導体レーザ素子
12等のより具体的な構成について説明する。まず、波
長可変半導体レーザ素子12としては、分布帰還構造の
採用により波長安定化された分布帰還レーザ(DFBレ
ーザ)において、レーザ共振器内部の屈折率を電気的に
変化させる原理に従った半導体レーザ素子を用いた。こ
のような半導体レーザ素子としては、例えば、森村、
他、「OPTRONICS」6月号、pp.60〜66
(1991)に開示されている。
12等のより具体的な構成について説明する。まず、波
長可変半導体レーザ素子12としては、分布帰還構造の
採用により波長安定化された分布帰還レーザ(DFBレ
ーザ)において、レーザ共振器内部の屈折率を電気的に
変化させる原理に従った半導体レーザ素子を用いた。こ
のような半導体レーザ素子としては、例えば、森村、
他、「OPTRONICS」6月号、pp.60〜66
(1991)に開示されている。
【0039】このような構造の半導体レーザ素子では、
単一縦モードを保ったままレーザ波長を変化させること
が可能であり、且つ出力レーザ光のパワーと波長を個々
の電極により独立して制御することができる。
単一縦モードを保ったままレーザ波長を変化させること
が可能であり、且つ出力レーザ光のパワーと波長を個々
の電極により独立して制御することができる。
【0040】このような半導体レーザ素子からなる本実
施例1の波長可変半導体レーザ素子12からの出力レー
ザ光のスペクトル線幅δνは、波長変調の度合によって
変化するが、使用条件下の最大スペクトル線幅δνは3
0MHzであった。また、本実施例1では、光メモリ情
報読み出し用のピックアップとして、レーザ光が波長可
変半導体レーザ素子12から出射されて再度戻って来る
迄に要する時間τが0.25nsのものを用いた。
施例1の波長可変半導体レーザ素子12からの出力レー
ザ光のスペクトル線幅δνは、波長変調の度合によって
変化するが、使用条件下の最大スペクトル線幅δνは3
0MHzであった。また、本実施例1では、光メモリ情
報読み出し用のピックアップとして、レーザ光が波長可
変半導体レーザ素子12から出射されて再度戻って来る
迄に要する時間τが0.25nsのものを用いた。
【0041】従って、図2に示す光周波数の変調条件
は、上記式より、R≧30MHz/0.25ns=
1.2×1017(Hz/s)を満足するように、R=
2.5×1017(Hz/s)に設定し、鋸波電流源11
によりこの条件に合致するように、波長可変半導体レー
ザ素子12の光周波数制御用端子に鋸波電流を入力し
た。なお、R=2.5×1017(Hz/s)を実現する
ために光周波数変調振幅fは、f=0.5THz(波長
に換算すれば1nm)、変調周期Tは、T=2μs(変
調周波数に換算すれば500KHz)にそれぞれ設定し
た。
は、上記式より、R≧30MHz/0.25ns=
1.2×1017(Hz/s)を満足するように、R=
2.5×1017(Hz/s)に設定し、鋸波電流源11
によりこの条件に合致するように、波長可変半導体レー
ザ素子12の光周波数制御用端子に鋸波電流を入力し
た。なお、R=2.5×1017(Hz/s)を実現する
ために光周波数変調振幅fは、f=0.5THz(波長
に換算すれば1nm)、変調周期Tは、T=2μs(変
調周波数に換算すれば500KHz)にそれぞれ設定し
た。
【0042】このような条件設定を行った本発明の半導
体レーザ素子の駆動方式によれば、戻り光が存在する場
合にも、戻り光雑音を抑制し得、十分なC/N値=51
dBを得られることが確認できた。
体レーザ素子の駆動方式によれば、戻り光が存在する場
合にも、戻り光雑音を抑制し得、十分なC/N値=51
dBを得られることが確認できた。
【0043】また、上記駆動条件を実現するために50
0KHzの鋸波電流を発生する鋸波電流源11は、通常
の電子部品を利用することにより容易、かつ安価に実現
できた。また、この鋸波電流源11により光変調される
半導体レーザ素子として波長可変半導体レーザ素子12
を用いているため、光周波数が変調された場合にも光出
力はほとんど変化せず一定になる。従って、反射光の強
度により光メモリの情報記録面に記録された情報を読み
出す場合にも、鋸波状の変調信号が読み出し用光強度信
号のC/N比を劣化させることがない。それ故、精度の
よい情報読み出しが可能になる。
0KHzの鋸波電流を発生する鋸波電流源11は、通常
の電子部品を利用することにより容易、かつ安価に実現
できた。また、この鋸波電流源11により光変調される
半導体レーザ素子として波長可変半導体レーザ素子12
を用いているため、光周波数が変調された場合にも光出
力はほとんど変化せず一定になる。従って、反射光の強
度により光メモリの情報記録面に記録された情報を読み
出す場合にも、鋸波状の変調信号が読み出し用光強度信
号のC/N比を劣化させることがない。それ故、精度の
よい情報読み出しが可能になる。
【0044】以上のように式を満足する駆動条件下で
は、上記原理説明で述べたように、半導体レーザ素子が
単一縦モード発振する半導体レーザ素子であり、その縦
モードスペクトルの線幅が十分に大きくない、10GH
z以下のものであっても戻り光雑音を効果的に抑制する
ことができる。
は、上記原理説明で述べたように、半導体レーザ素子が
単一縦モード発振する半導体レーザ素子であり、その縦
モードスペクトルの線幅が十分に大きくない、10GH
z以下のものであっても戻り光雑音を効果的に抑制する
ことができる。
【0045】また、上記のような駆動方式により駆動さ
れる波長可変半導体レーザ素子12では、単一軸モード
は保持されたままであり、時間平均したレーザ出力のス
ペクトルは、図3に示すようになった。この場合、ある
瞬間のレーザ光のスペクトル線幅δν=30MHzは、
図2に示した光周波数の光周波数変調振幅fに比べて十
分に小さいので、レーザ光の時間平均スペクトル幅はf
=0.5THz(波長としては1nm)に等しいことに
なる。この時間平均スペクトル幅の値より、本実施例1
の駆動方式は、ホログラム、グレーティング等の回折光
学素子を用いた、例えば、西原浩、「応用物理」第61
巻、第1号(1992)、pp.2〜13に記載の光ピ
ックアップにも十分に応用可能な技術であることがわか
る。
れる波長可変半導体レーザ素子12では、単一軸モード
は保持されたままであり、時間平均したレーザ出力のス
ペクトルは、図3に示すようになった。この場合、ある
瞬間のレーザ光のスペクトル線幅δν=30MHzは、
図2に示した光周波数の光周波数変調振幅fに比べて十
分に小さいので、レーザ光の時間平均スペクトル幅はf
=0.5THz(波長としては1nm)に等しいことに
なる。この時間平均スペクトル幅の値より、本実施例1
の駆動方式は、ホログラム、グレーティング等の回折光
学素子を用いた、例えば、西原浩、「応用物理」第61
巻、第1号(1992)、pp.2〜13に記載の光ピ
ックアップにも十分に応用可能な技術であることがわか
る。
【0046】以上のように本実施例1の光メモリ読み出
し装置用の光源であれば、戻り光雑音の抑制および1n
m以下の単色性の実現、といった両方の要求を満足する
ことができる。
し装置用の光源であれば、戻り光雑音の抑制および1n
m以下の単色性の実現、といった両方の要求を満足する
ことができる。
【0047】(実施例2)図4は本発明光メモリ読み出
し装置用の半導体駆動回路の実施例2を示す。この実施
例2では、上記鋸波電流源11の代わりに三角波電流源
を用いる。但し、三角波電流源の実体は鋸波電流源11
と同一であり、変調方式が鋸波から三角波に変わるだけ
である。
し装置用の半導体駆動回路の実施例2を示す。この実施
例2では、上記鋸波電流源11の代わりに三角波電流源
を用いる。但し、三角波電流源の実体は鋸波電流源11
と同一であり、変調方式が鋸波から三角波に変わるだけ
である。
【0048】即ち、三角波電流源から波長可変半導体レ
ーザ素子12のレーザ波長(光周波数)制御用端子に、
図4に示すような三角波状の電流を入力して、波長可変
半導体レーザ素子12の駆動を行う構成をとる。その他
の構成については上記実施例1と同様であるので、以下
対応する部分を同一の番号を用いて説明する。
ーザ素子12のレーザ波長(光周波数)制御用端子に、
図4に示すような三角波状の電流を入力して、波長可変
半導体レーザ素子12の駆動を行う構成をとる。その他
の構成については上記実施例1と同様であるので、以下
対応する部分を同一の番号を用いて説明する。
【0049】今、三角波電流源から波長可変半導体レー
ザ素子12の制御用端子に入力される三角波状電流によ
るレーザ光の光周波数の変調振幅をf、変調周期をTと
すると、レーザ光の光周波数の時間変化率R’は下記
式で示される。
ザ素子12の制御用端子に入力される三角波状電流によ
るレーザ光の光周波数の変調振幅をf、変調周期をTと
すると、レーザ光の光周波数の時間変化率R’は下記
式で示される。
【0050】R’=2f/T… 本実施例2では、このR’が上記式の条件を満足する
ように、変調振幅f、変調周期Tの値を設定した。具体
的には、レーザ光のスペクトル線幅δνをδν=20M
Hz、上記時間τをτ=300psに設定したため、
R’=1.0×1017Hz/s、f=100GHz、T
=1μsにそれぞれ設定した。
ように、変調振幅f、変調周期Tの値を設定した。具体
的には、レーザ光のスペクトル線幅δνをδν=20M
Hz、上記時間τをτ=300psに設定したため、
R’=1.0×1017Hz/s、f=100GHz、T
=1μsにそれぞれ設定した。
【0051】本実施例2による場合は、実施例1とはレ
ーザ光周波数の変調形態が異なるため、図4に破線で示
す戻り光の光周波数変化と、図4に実線で示す発振レー
ザ光の光周波数が一致する時がある。図4中の矢印はそ
のことを示している。
ーザ光周波数の変調形態が異なるため、図4に破線で示
す戻り光の光周波数変化と、図4に実線で示す発振レー
ザ光の光周波数が一致する時がある。図4中の矢印はそ
のことを示している。
【0052】このように、発振レーザ光と戻り光の光周
波数が一致すると、両レーザ光の干渉効果により戻り光
雑音が発生する可能性がある。
波数が一致すると、両レーザ光の干渉効果により戻り光
雑音が発生する可能性がある。
【0053】しかしながら、本願発明者等の実験結果に
よれば、戻り光雑音の発生は観測されず、49dBとい
った十分な大きさのC/N値を達成できることが確認で
きた。その理由は、2つのレーザ光の光周波数の一致が
瞬時のため、光メモリの情報記録面に記録された1ビッ
トの情報の検出に必要な時間よりも十分に短いためであ
ると推察される。
よれば、戻り光雑音の発生は観測されず、49dBとい
った十分な大きさのC/N値を達成できることが確認で
きた。その理由は、2つのレーザ光の光周波数の一致が
瞬時のため、光メモリの情報記録面に記録された1ビッ
トの情報の検出に必要な時間よりも十分に短いためであ
ると推察される。
【0054】従って、本実施例2においても、戻り光雑
音を抑制できる。また、単色性も0.2nm以下の十分
な値になることが確認できた。
音を抑制できる。また、単色性も0.2nm以下の十分
な値になることが確認できた。
【0055】(実施例3)図5は本発明光メモリ読み出
し装置用の半導体レーザ駆動回路の実施例3を示す。こ
の実施例3では、半導体レーザ素子として波長安定レー
ザ素子52を用いる。この波長安定レーザ素子52に
は、直流電流源50からの直流電流と、三角波電流源5
1からの三角波電流とが重畳された電流が印加されるよ
うになっている。また、波長安定レーザ素子52の内部
には該波長安定レーザ素子52から出力されるレーザ光
の光パワーをモニターする受光素子が設けられており、
該受光素子の測定結果が低周波透過フィルタ53を介し
て直流電流源50にフィードバック信号として与えられ
る。これにより波長安定レーザ素子52の出力レーザ光
が一定レベルに制御される。
し装置用の半導体レーザ駆動回路の実施例3を示す。こ
の実施例3では、半導体レーザ素子として波長安定レー
ザ素子52を用いる。この波長安定レーザ素子52に
は、直流電流源50からの直流電流と、三角波電流源5
1からの三角波電流とが重畳された電流が印加されるよ
うになっている。また、波長安定レーザ素子52の内部
には該波長安定レーザ素子52から出力されるレーザ光
の光パワーをモニターする受光素子が設けられており、
該受光素子の測定結果が低周波透過フィルタ53を介し
て直流電流源50にフィードバック信号として与えられ
る。これにより波長安定レーザ素子52の出力レーザ光
が一定レベルに制御される。
【0056】上記受光素子の測定結果は、コンパレータ
等を備えた信号処理回路55にも与えられるようになっ
ている。また、信号処理回路55には、光メモリの情報
記録面に記録された情報を読み出す受光素子54より情
報読み出し信号が与えられるようになっている。信号処
理回路55は、両信号を比較し、情報読み出し信号を規
格化して再生信号を出力する。
等を備えた信号処理回路55にも与えられるようになっ
ている。また、信号処理回路55には、光メモリの情報
記録面に記録された情報を読み出す受光素子54より情
報読み出し信号が与えられるようになっている。信号処
理回路55は、両信号を比較し、情報読み出し信号を規
格化して再生信号を出力する。
【0057】ここで、本実施例3では、波長安定レーザ
素子52として、発振波長が約780nm、スペクトル
線幅が3MHzのDFBレーザ素子を用いている。この
ような狭スペクトル線幅はDFBレーザ素子52の共振
器を800μmと長共振器化することにより実現され
る。
素子52として、発振波長が約780nm、スペクトル
線幅が3MHzのDFBレーザ素子を用いている。この
ような狭スペクトル線幅はDFBレーザ素子52の共振
器を800μmと長共振器化することにより実現され
る。
【0058】次に、上記回路構成の半導体レーザ駆動回
路の動作を説明する。直流電流源50は、時間平均した
レーザパワーが一定となるように内蔵されたAPC回路
によりAPC制御された直流電流を生成する。また、三
角波電流源51は、三角波状交流電流を生成する。この
ようにして生成された直流電流と、三角波状交流電流と
が重畳されてDFBレーザ素子52に注入される。
路の動作を説明する。直流電流源50は、時間平均した
レーザパワーが一定となるように内蔵されたAPC回路
によりAPC制御された直流電流を生成する。また、三
角波電流源51は、三角波状交流電流を生成する。この
ようにして生成された直流電流と、三角波状交流電流と
が重畳されてDFBレーザ素子52に注入される。
【0059】ここで、DFBレーザ素子52を含む半導
体レーザ素子では、一般に印加される電流の増減に依存
して素子内部の温度が昇降する。また、半導体材料は温
度が上昇するほど屈折率が大きくなる性質があり、DF
Bレーザ素子52においても内部(光導波路部)での屈
折率が注入電流の増減に対応して変化することになる。
DFBレーザ素子52の発振波長は素子内部の回折格子
のピッチと材料屈折率の積に比例する形で決定されるた
め、結果的に出力レーザ光の波長も注入電流の増減に対
応して変化することになる。
体レーザ素子では、一般に印加される電流の増減に依存
して素子内部の温度が昇降する。また、半導体材料は温
度が上昇するほど屈折率が大きくなる性質があり、DF
Bレーザ素子52においても内部(光導波路部)での屈
折率が注入電流の増減に対応して変化することになる。
DFBレーザ素子52の発振波長は素子内部の回折格子
のピッチと材料屈折率の積に比例する形で決定されるた
め、結果的に出力レーザ光の波長も注入電流の増減に対
応して変化することになる。
【0060】但し、この半導体レーザの注入電流に対応
した波長変調現象は、素子内部の温度上昇の時定数を1
0〜100μsに設定すると、100KHz以上の高周
波成分を有する変調電流には応答しない。
した波長変調現象は、素子内部の温度上昇の時定数を1
0〜100μsに設定すると、100KHz以上の高周
波成分を有する変調電流には応答しない。
【0061】従って、本実施例3の場合にも、三角波状
交流成分に応答してDFBレーザ素子52の発振時間も
時間的に変化することになる。即ち、DFBレーザ素子
52の出力レーザ光の光周波数変化は、上記実施例2の
図4に示される光周波数変化と同様の形態になる。
交流成分に応答してDFBレーザ素子52の発振時間も
時間的に変化することになる。即ち、DFBレーザ素子
52の出力レーザ光の光周波数変化は、上記実施例2の
図4に示される光周波数変化と同様の形態になる。
【0062】本実施例3の半導体レーザ駆動回路を光メ
モリ読み出し装置に実際に搭載したところ、DFBレー
ザ素子52から出力されたレーザ光の出射時点〜光メモ
リの情報記録面で反射された反射光がDFBレーザ素子
52に帰還する迄の時間τは、τ=0.5nsであっ
た。従って、δν/τ=6×1015Hzとなる。
モリ読み出し装置に実際に搭載したところ、DFBレー
ザ素子52から出力されたレーザ光の出射時点〜光メモ
リの情報記録面で反射された反射光がDFBレーザ素子
52に帰還する迄の時間τは、τ=0.5nsであっ
た。従って、δν/τ=6×1015Hzとなる。
【0063】そこで、本実施例3では、DFBレーザ素
子52を駆動する場合の設定パラメータとして、変調周
期T=10μs(変調周波数としては100KHz)、
三角波状交流電流の振幅IΔp-p=20mA(この条件
下での光周波数変調振幅f=110GHz)なる値を選
定した。
子52を駆動する場合の設定パラメータとして、変調周
期T=10μs(変調周波数としては100KHz)、
三角波状交流電流の振幅IΔp-p=20mA(この条件
下での光周波数変調振幅f=110GHz)なる値を選
定した。
【0064】この設定パラメータによれば、上記式よ
り、R=1.1×1016Hz/sとなり、δν/τ=6
×1015Hzよりも大きくなる。即ち、上記の条件を
満足している。従って、本実施例3による場合も、上記
実施例1、実施例2同様に戻り光雑音を抑制し得、良好
なC/N値=48dBを得ることができた。
り、R=1.1×1016Hz/sとなり、δν/τ=6
×1015Hzよりも大きくなる。即ち、上記の条件を
満足している。従って、本実施例3による場合も、上記
実施例1、実施例2同様に戻り光雑音を抑制し得、良好
なC/N値=48dBを得ることができた。
【0065】ところで、本実施例3では、実施例1、実
施例2とは異なり半導体レーザとしてDFBレーザ素子
52を用い、DFBレーザ素子52に注入する電流値を
変調し、DFBレーザ素子52の素子内部の温度変化を
誘起して光周波数を変調する方法を採用している。この
ため、本実施例3では、レーザ光の光周波数を出力レー
ザ光と独立して制御することは不可能である。というの
は、本実施例3の構成によれば、DFBレーザ素子52
に注入する三角波状電流の変化に対応してレーザ光の光
周波数のみならずレーザ光出力レベルも増減するからで
ある。
施例2とは異なり半導体レーザとしてDFBレーザ素子
52を用い、DFBレーザ素子52に注入する電流値を
変調し、DFBレーザ素子52の素子内部の温度変化を
誘起して光周波数を変調する方法を採用している。この
ため、本実施例3では、レーザ光の光周波数を出力レー
ザ光と独立して制御することは不可能である。というの
は、本実施例3の構成によれば、DFBレーザ素子52
に注入する三角波状電流の変化に対応してレーザ光の光
周波数のみならずレーザ光出力レベルも増減するからで
ある。
【0066】ここで、光メモリ読み出し装置における情
報の読み出しは、一般に情報記録面に記録された情報に
対応して変化する反射光の強度変化を受光素子54によ
り検出して情報を再生する原理が採用されているため、
光源としてのDFBレーザ素子52の出力レーザ光の出
力レベルが変化すると、精度のよい情報読み出しが行え
ないという問題がある。
報の読み出しは、一般に情報記録面に記録された情報に
対応して変化する反射光の強度変化を受光素子54によ
り検出して情報を再生する原理が採用されているため、
光源としてのDFBレーザ素子52の出力レーザ光の出
力レベルが変化すると、精度のよい情報読み出しが行え
ないという問題がある。
【0067】しかしながら、本実施例3においてDFB
レーザ素子52に注入される三角波状電流の変調周波数
は100KHzであり、この値は情報の読み出し速度1
MHzに比べて十分小さい値である。従って、上記のよ
うに、信号処理回路55により受光素子54によって検
出された電流値(情報読み出し信号)と、DFBレーザ
素子52に内蔵された光パワーモニタ用の受光素子の測
定結果とを比較し、情報読み出し信号を出力光強度で規
格化、つまり該出力光強度の変化分をキャンセルすれ
ば、精度のよい情報読み出しが可能になる。従って、本
実施例3によれば、上記の問題点を解消できる。
レーザ素子52に注入される三角波状電流の変調周波数
は100KHzであり、この値は情報の読み出し速度1
MHzに比べて十分小さい値である。従って、上記のよ
うに、信号処理回路55により受光素子54によって検
出された電流値(情報読み出し信号)と、DFBレーザ
素子52に内蔵された光パワーモニタ用の受光素子の測
定結果とを比較し、情報読み出し信号を出力光強度で規
格化、つまり該出力光強度の変化分をキャンセルすれ
ば、精度のよい情報読み出しが可能になる。従って、本
実施例3によれば、上記の問題点を解消できる。
【0068】また、DFBレーザ素子52は、1GHz
以上の高速変調を行った場合でもその出力レーザ光の軸
モードスペクトルが単一になる利点がある。従って、本
実施例3のように三角波状電流により出力レーザ光のパ
ワーと光周波数が変調された場合であっても、その軸モ
ードスペクトルは単一である。このため、三角波状電流
により駆動されるDFBレーザ素子52から出力される
レーザ光の時間平均スペクトル線幅は、光周波数変調振
幅fに一致することになり、本実施例3では110GH
zになる。この時間平均スペクトル線幅の値を波長に換
算すると約0.2nmになる。
以上の高速変調を行った場合でもその出力レーザ光の軸
モードスペクトルが単一になる利点がある。従って、本
実施例3のように三角波状電流により出力レーザ光のパ
ワーと光周波数が変調された場合であっても、その軸モ
ードスペクトルは単一である。このため、三角波状電流
により駆動されるDFBレーザ素子52から出力される
レーザ光の時間平均スペクトル線幅は、光周波数変調振
幅fに一致することになり、本実施例3では110GH
zになる。この時間平均スペクトル線幅の値を波長に換
算すると約0.2nmになる。
【0069】従って、本実施例3の半導体レーザ駆動回
路は、ホログラムやグレーティングを応用した回折光学
素子型光ピックアップにも十分に対応可能である。
路は、ホログラムやグレーティングを応用した回折光学
素子型光ピックアップにも十分に対応可能である。
【0070】(実施例4)図6は本発明光メモリ読み出
し装置用の半導体レーザ駆動回路の実施例4を示す。こ
の実施例4では、光メモリ読み出し装置の光源となる半
導体レーザとして上記実施例1、実施例2が波長可変半
導体レーザ素子12を用い、また実施例3が波長安定レ
ーザ素子52を用いるのに対して、通常のファブリ・ペ
ロー型半導体レーザ素子を用いる。なお、駆動回路につ
いては実施例3のものと同様であるので、具体的な説明
については省略する。
し装置用の半導体レーザ駆動回路の実施例4を示す。こ
の実施例4では、光メモリ読み出し装置の光源となる半
導体レーザとして上記実施例1、実施例2が波長可変半
導体レーザ素子12を用い、また実施例3が波長安定レ
ーザ素子52を用いるのに対して、通常のファブリ・ペ
ロー型半導体レーザ素子を用いる。なお、駆動回路につ
いては実施例3のものと同様であるので、具体的な説明
については省略する。
【0071】本実施例4で用いられるファブリ・ペロー
型半導体レーザ素子としては、光周波数を三角波状又は
鋸波状に変化させるために注入電流を変調した場合に、
その発振軸モードスペクトルがマルチモードにならず単
一モードになることが必要条件になる。即ち、出力レー
ザ光の単色性を劣化させないためである。
型半導体レーザ素子としては、光周波数を三角波状又は
鋸波状に変化させるために注入電流を変調した場合に、
その発振軸モードスペクトルがマルチモードにならず単
一モードになることが必要条件になる。即ち、出力レー
ザ光の単色性を劣化させないためである。
【0072】本実施例4においても、実施例3で述べた
のと同様の理由により、半導体レーザに注入する電流の
変調周波数は、記録情報の読み出し速度と同等かそれ以
下であることが好ましく、高くても1MHz程度であ
る。
のと同様の理由により、半導体レーザに注入する電流の
変調周波数は、記録情報の読み出し速度と同等かそれ以
下であることが好ましく、高くても1MHz程度であ
る。
【0073】また、図6に示すように、三角波状電流で
ある変調電流が半導体レーザ素子のしきい値電流よりも
常に大きくなることが必要である。即ち、変調電流が半
導体レーザ素子のしきい値電流よりも一時的にでも低く
なると(割り込むと)、その際にレーザ発振が停止し、
情報読み出しが継続して行えなくなるからである。
ある変調電流が半導体レーザ素子のしきい値電流よりも
常に大きくなることが必要である。即ち、変調電流が半
導体レーザ素子のしきい値電流よりも一時的にでも低く
なると(割り込むと)、その際にレーザ発振が停止し、
情報読み出しが継続して行えなくなるからである。
【0074】このように比較的低い周波数での変調を行
い、かつ変調電流が半導体レーザ素子のしきい値電流を
割り込まない連続的に変化する波形であるときは、発振
軸モードがマルチモード化することがない。
い、かつ変調電流が半導体レーザ素子のしきい値電流を
割り込まない連続的に変化する波形であるときは、発振
軸モードがマルチモード化することがない。
【0075】従って、本実施例3では、通常の単一軸モ
ード半導体レーザを利用し、かつ電流変調幅として十分
に単一軸モード性が確保された範囲(判断基準:発振軸
モードのサイドモード抑圧比が20以上になる範囲)を
設定し、これにより上記の必要条件を満足することがで
きる。
ード半導体レーザを利用し、かつ電流変調幅として十分
に単一軸モード性が確保された範囲(判断基準:発振軸
モードのサイドモード抑圧比が20以上になる範囲)を
設定し、これにより上記の必要条件を満足することがで
きる。
【0076】このような半導体レーザ素子として、本実
施例3では、具体的には、出力レーザ光のパワーが1m
W〜10mWの範囲で、サイドモード抑圧比が30dB
以上確保され、共振器の前後両面が共に高反射率コーテ
ィングされたファブリ・ペロー型半導体レーザ素子を用
いた。このファブリ・ペロー型半導体レーザ素子は、
S.Matui等によるApplied Optic
s,Vol.23,pp.4001〜4006(198
4)に詳細に記載されている。
施例3では、具体的には、出力レーザ光のパワーが1m
W〜10mWの範囲で、サイドモード抑圧比が30dB
以上確保され、共振器の前後両面が共に高反射率コーテ
ィングされたファブリ・ペロー型半導体レーザ素子を用
いた。このファブリ・ペロー型半導体レーザ素子は、
S.Matui等によるApplied Optic
s,Vol.23,pp.4001〜4006(198
4)に詳細に記載されている。
【0077】本実施例3においても、実施例3と同様に
上記式を満足する条件でファブリ・ペロー型半導体レ
ーザ素子の発振光周波数を変調することにより、単色性
に優れた、即ちレーザ光の時間平均スペクトル線幅が1
nm以下のレーザ光を利用して、戻り光雑音を十分に抑
制することができる。
上記式を満足する条件でファブリ・ペロー型半導体レ
ーザ素子の発振光周波数を変調することにより、単色性
に優れた、即ちレーザ光の時間平均スペクトル線幅が1
nm以下のレーザ光を利用して、戻り光雑音を十分に抑
制することができる。
【0078】本発明が適用される対象は、上記各実施例
のものに限定されるものではなく、以下のような実施形
態の場合にも上記同様の効果を奏することができる。
のものに限定されるものではなく、以下のような実施形
態の場合にも上記同様の効果を奏することができる。
【0079】(1)半導体レーザとして、例えば、波長
670nmのInGaAlP材料系からなる半導体レー
ザを用いる場合、或は450nm付近に発振波長を有す
るII−VI族半導体によるレーザ素子を用いる場合。
670nmのInGaAlP材料系からなる半導体レー
ザを用いる場合、或は450nm付近に発振波長を有す
るII−VI族半導体によるレーザ素子を用いる場合。
【0080】(2)上記実施例と半導体レーザの駆動条
件、即ち変調周波数、変調振幅等が異なる場合。
件、即ち変調周波数、変調振幅等が異なる場合。
【0081】(3)光ピックアップの構成が異なり、戻
り光の出射時点〜帰還迄の時間τが異なる場合。
り光の出射時点〜帰還迄の時間τが異なる場合。
【0082】
【発明の効果】以上の本発明光メモリ読み出し装置用の
半導体レーザ駆動回路によれば、高周波信号を利用する
ことなく、簡易、かつ安価に構成される電子回路により
半導体レーザ素子を駆動でき、しかも戻り光雑音を確実
に抑制できる利点がある。
半導体レーザ駆動回路によれば、高周波信号を利用する
ことなく、簡易、かつ安価に構成される電子回路により
半導体レーザ素子を駆動でき、しかも戻り光雑音を確実
に抑制できる利点がある。
【0083】また、光源となる半導体レーザ素子の発振
軸モードを単一モードに保持することができるので、単
色性に優れたレーザ光を用いることができる。従って、
ホログラムやグレーティング等の光の回折現象を利用し
た超小型の光ピックアップへの応用が可能になる利点が
ある。
軸モードを単一モードに保持することができるので、単
色性に優れたレーザ光を用いることができる。従って、
ホログラムやグレーティング等の光の回折現象を利用し
た超小型の光ピックアップへの応用が可能になる利点が
ある。
【図1】本発明光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ
駆動回路の実施例1を示すブロック図。
駆動回路の実施例1を示すブロック図。
【図2】実施例1で使用される波長可変半導体レーザ素
子の出力レーザ光の光周波数変調パターンを示す波形
図。
子の出力レーザ光の光周波数変調パターンを示す波形
図。
【図3】実施例1で使用される波長可変半導体レーザ素
子の出力レーザ光の時間平均スペクトルを示す波形図。
子の出力レーザ光の時間平均スペクトルを示す波形図。
【図4】実施例2で使用される波長可変半導体レーザ素
子の出力レーザ光の光周波数変調パターンを示す波形
図。
子の出力レーザ光の光周波数変調パターンを示す波形
図。
【図5】本発明光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ
駆動回路の実施例3を示すブロック図。
駆動回路の実施例3を示すブロック図。
【図6】本発明光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ
駆動回路の実施例4を示す注入電流波形図。
駆動回路の実施例4を示す注入電流波形図。
【図7】高周波重畳法を用いた半導体レーザ駆動回路を
示すブロック図。
示すブロック図。
【図8】従来技術の欠点を説明するための出力レーザ光
の時間平均スペクトル図。
の時間平均スペクトル図。
10 直流電流源 11 鋸波電流源 12 波長可変半導体レーザ素子 50 直流電流源 51 三角波電流源 52 波長安定レーザ素子(DFBレーザ素子) 54 受光素子 55 信号処理回路
Claims (2)
- 【請求項1】 単一縦モード発振する半導体レーザから
の出力レーザ光を記録情報媒体に照射し、該記録情報媒
体からの反射光を検出して情報を読み出す光メモリ読み
出し装置用の半導体レーザ駆動回路であって、 該出力レーザ光の光周波数の時間変化率Rと、該出力レ
ーザ光のスペクトル線幅δνを、該出力レーザ光が出射
された時点から該記録情報媒体の情報記録面で反射され
て再度該半導体レーザに戻る迄に要する時間τで除した
値δν/τとが、下記式で示す条件 R≧δν/τ… を満足するように、 該出力レーザ光の光周波数を、三角波状又は鋸波状に周
期的に変調するようにした光メモリ読み出し装置用の半
導体レーザ駆動回路。 - 【請求項2】 前記出力レーザ光の光周波数の変調周波
数を、前記記録情報媒体の情報読み出し信号の信号帯域
と同等又はそれ以下に設定した請求項1記載の光メモリ
読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4283298A JP2785921B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路 |
US08/140,748 US5448548A (en) | 1992-10-21 | 1993-10-21 | Optical information reading method for reducing laser noise using a semiconductor laser and a driving device for the semiconductor laser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4283298A JP2785921B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06132587A true JPH06132587A (ja) | 1994-05-13 |
JP2785921B2 JP2785921B2 (ja) | 1998-08-13 |
Family
ID=17663644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4283298A Expired - Fee Related JP2785921B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 光メモリ読み出し装置用の半導体レーザ駆動回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5448548A (ja) |
JP (1) | JP2785921B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7388823B2 (en) | 2002-03-27 | 2008-06-17 | Rhom Co., Ltd | Optical pickup, manufacturing method thereof, and optical disk system |
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JP3244976B2 (ja) * | 1994-12-05 | 2002-01-07 | キヤノン株式会社 | 半導体レーザの駆動方法及び半導体レーザ装置及び光通信方法及びノード及び光通信システム |
IT1268196B1 (it) * | 1994-12-23 | 1997-02-21 | Sip | Dispositivo per la ricetrasmissione e decodifica di sequenze audiovisivi compresse. |
JP2931226B2 (ja) * | 1995-01-26 | 1999-08-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光帰還式光検出装置 |
US5940549A (en) * | 1996-07-30 | 1999-08-17 | Seagate Technology, Incorporated | Optical system and method using optical fibers for storage and retrieval of information |
US6226233B1 (en) | 1996-07-30 | 2001-05-01 | Seagate Technology, Inc. | Magneto-optical system utilizing MSR media |
US6850475B1 (en) * | 1996-07-30 | 2005-02-01 | Seagate Technology, Llc | Single frequency laser source for optical data storage system |
EP1024479B1 (en) * | 1997-01-17 | 2002-11-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pickup and optical disk apparatus using the same |
JP3780650B2 (ja) * | 1997-08-05 | 2006-05-31 | ソニー株式会社 | 半導体レーザの平均光出力の設定方法および半導体レーザの高周波電流の重畳条件の設定方法 |
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US6980679B2 (en) * | 1998-10-23 | 2005-12-27 | Varian Medical System Technologies, Inc. | Method and system for monitoring breathing activity of a subject |
US6937696B1 (en) | 1998-10-23 | 2005-08-30 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Method and system for predictive physiological gating |
US8788020B2 (en) | 1998-10-23 | 2014-07-22 | Varian Medical Systems, Inc. | Method and system for radiation application |
US7158610B2 (en) | 2003-09-05 | 2007-01-02 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Systems and methods for processing x-ray images |
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JP4318015B2 (ja) * | 2000-12-11 | 2009-08-19 | ソニー株式会社 | 光ディスク再生装置、光ディスク記録再生装置およびレーザノイズキャンセル回路 |
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US8571639B2 (en) | 2003-09-05 | 2013-10-29 | Varian Medical Systems, Inc. | Systems and methods for gating medical procedures |
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DE10358957A1 (de) * | 2003-12-15 | 2005-07-07 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Kompatibler optischer Abtaster mit verbessertem Lasermodulator für Aufzeichnungs- oder Wiedergabegeräte optischer Aufzeichnungsträger |
KR20060041856A (ko) * | 2004-02-06 | 2006-05-12 | 디피에이치아이 애퀴지션즈 인코퍼레이티드 | 스몰 폼 팩터 광데이터 저장 장치 |
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CN101194402B (zh) * | 2005-01-24 | 2011-04-20 | 索尔实验室公司 | 具有快速波长扫描的紧凑多模激光器 |
US7808879B2 (en) * | 2005-06-08 | 2010-10-05 | Dphi Acquisitions, Inc. | Optical disk drive with micro-SIL |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1992
- 1992-10-21 JP JP4283298A patent/JP2785921B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-10-21 US US08/140,748 patent/US5448548A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5448548A (en) | 1995-09-05 |
JP2785921B2 (ja) | 1998-08-13 |
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