JPH06130213A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH06130213A JPH06130213A JP4282017A JP28201792A JPH06130213A JP H06130213 A JPH06130213 A JP H06130213A JP 4282017 A JP4282017 A JP 4282017A JP 28201792 A JP28201792 A JP 28201792A JP H06130213 A JPH06130213 A JP H06130213A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diffraction grating
- light
- double
- pickup device
- optical pickup
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 部品点数を削減して組付け調整を容易化する
と共に、非常に小型で安価な光ピックアップ装置を提供
する。 【構成】 レーザ光源１からの出射光ｂをコリメートレ
ンズ３により平行光とし、この平行光を対物レンズ５に
より集光して光ディスク６の面上に照射して情報の記録
等を行うと共に、光ディスク６からの反射光ａを出射光
ｂと分離させて受光素子８，９に検出することにより情
報の再生やフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
の検出を行う光ピックアップ装置において、レーザ光源
１と光ディスク６との間の光路中に、光ディスク６から
の反射光ａを回折光Ｋｏと透過光Ｔｏとの分離する分岐
回折格子１１と、この分岐回折格子１１からの回折光Ｋ
ｏを偏光分離する表裏両面に回折格子１２ａ，１２ｂの
形成された二重回折格子１２とを配設した。
と共に、非常に小型で安価な光ピックアップ装置を提供
する。 【構成】 レーザ光源１からの出射光ｂをコリメートレ
ンズ３により平行光とし、この平行光を対物レンズ５に
より集光して光ディスク６の面上に照射して情報の記録
等を行うと共に、光ディスク６からの反射光ａを出射光
ｂと分離させて受光素子８，９に検出することにより情
報の再生やフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
の検出を行う光ピックアップ装置において、レーザ光源
１と光ディスク６との間の光路中に、光ディスク６から
の反射光ａを回折光Ｋｏと透過光Ｔｏとの分離する分岐
回折格子１１と、この分岐回折格子１１からの回折光Ｋ
ｏを偏光分離する表裏両面に回折格子１２ａ，１２ｂの
形成された二重回折格子１２とを配設した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光源からの光を
光ディスクに照射することにより情報の記録を行うと共
に、光ディスクからの反射光を用いて情報の再生やフォ
ーカスエラー信号、トラックエラー信号の検出を行う光
ピックアップ装置に関する。
光ディスクに照射することにより情報の記録を行うと共
に、光ディスクからの反射光を用いて情報の再生やフォ
ーカスエラー信号、トラックエラー信号の検出を行う光
ピックアップ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスク装置の分野において
は、アクセスタイムを速めるために装置の小型化軽量化
が叫ばれており、このため部品点数の削減を一段と図っ
ている。例えば、高密度な回折格子（グレーティング）
を光束分離手段として用いることにより、そのような目
的を達成しようとしている。しかし、高密度な回折格子
は、半導体レーザの波長変動により、１次光の回折角度
が大きく変化してしまう不具合があり、また、回折光を
用いてフォーカスエラー信号やトラックエラー信号を検
出する場合、受光素子の間隔が大きく離れてしまい、組
立て調整が難しくなる。
は、アクセスタイムを速めるために装置の小型化軽量化
が叫ばれており、このため部品点数の削減を一段と図っ
ている。例えば、高密度な回折格子（グレーティング）
を光束分離手段として用いることにより、そのような目
的を達成しようとしている。しかし、高密度な回折格子
は、半導体レーザの波長変動により、１次光の回折角度
が大きく変化してしまう不具合があり、また、回折光を
用いてフォーカスエラー信号やトラックエラー信号を検
出する場合、受光素子の間隔が大きく離れてしまい、組
立て調整が難しくなる。
【０００３】そこで、このような問題点を考慮した光ピ
ックアップ装置の一例を図１３（ａ）（ｂ）に基づいて
説明する。まず、図１３（ａ）の光学系について述べ
る。半導体レーザ１から出射された光は、偏光ビームス
プリッタ２により反射される。なお、この偏光ビームス
プリッタ２には、ディスク面におけるカー回転による偏
光成分がすべて信号検出光学系へ導かれるような偏光特
性を付与し、見かけのカー回転角を増大させる（また、
偏光特性をほとんど有しないビームスプリッタでも良い
が、この時は見かけのカー回転角の増大は期待できな
い）。そして、偏光ビームスプリッタ２により反射され
た光は、コリメートレンズ３によりコリメートされ、こ
のコリメート光はビーム整形プリズム対４でビーム断面
が円にビーム整形された後、対物レンズ５により集光さ
れ光ディスク６の面上に照射され、これにより情報の記
録等が行われる。また、光ディスクからの反射光ａは、
入射光とは逆の経路を辿り再び偏光ビームスプリッタ２
に導かれ今度はそのまま通過して、信号検出光学系１０
内に導かれる。この信号検出光学系１０内に入射した反
射光ａは、デュアルグレーティング７に入射し、これに
より透過光Ｔと回折光Ｋとに分離される。透過光Ｔは４
分割受光素子８に検出され、回折光Ｋは２分割受光素子
９に検出される。これにより、４分割受光素子８からは
非点収差法等によりフォーカスエラー信号Ｆｏの検出を
行うことができ、２分割受光素子９からはトラックエラ
ー信号Ｔｒの検出を行うことができ、両者の信号値の和
から再生信号たる光磁気信号を得ることができる。この
ようにデュアルグレーティング７により分離させている
ため、透過光Ｔと回折光Ｋとのなす角度を小さくするこ
とができ、これにより受光素子８，９の間隔を小さくし
てスペースの省略化を図ることができると共に、波長変
動により生じる回折角変化による受光素子８，９上での
光スポット位置の変動幅を小さくすることができる。
ックアップ装置の一例を図１３（ａ）（ｂ）に基づいて
説明する。まず、図１３（ａ）の光学系について述べ
る。半導体レーザ１から出射された光は、偏光ビームス
プリッタ２により反射される。なお、この偏光ビームス
プリッタ２には、ディスク面におけるカー回転による偏
光成分がすべて信号検出光学系へ導かれるような偏光特
性を付与し、見かけのカー回転角を増大させる（また、
偏光特性をほとんど有しないビームスプリッタでも良い
が、この時は見かけのカー回転角の増大は期待できな
い）。そして、偏光ビームスプリッタ２により反射され
た光は、コリメートレンズ３によりコリメートされ、こ
のコリメート光はビーム整形プリズム対４でビーム断面
が円にビーム整形された後、対物レンズ５により集光さ
れ光ディスク６の面上に照射され、これにより情報の記
録等が行われる。また、光ディスクからの反射光ａは、
入射光とは逆の経路を辿り再び偏光ビームスプリッタ２
に導かれ今度はそのまま通過して、信号検出光学系１０
内に導かれる。この信号検出光学系１０内に入射した反
射光ａは、デュアルグレーティング７に入射し、これに
より透過光Ｔと回折光Ｋとに分離される。透過光Ｔは４
分割受光素子８に検出され、回折光Ｋは２分割受光素子
９に検出される。これにより、４分割受光素子８からは
非点収差法等によりフォーカスエラー信号Ｆｏの検出を
行うことができ、２分割受光素子９からはトラックエラ
ー信号Ｔｒの検出を行うことができ、両者の信号値の和
から再生信号たる光磁気信号を得ることができる。この
ようにデュアルグレーティング７により分離させている
ため、透過光Ｔと回折光Ｋとのなす角度を小さくするこ
とができ、これにより受光素子８，９の間隔を小さくし
てスペースの省略化を図ることができると共に、波長変
動により生じる回折角変化による受光素子８，９上での
光スポット位置の変動幅を小さくすることができる。
【０００４】また、他の構成例として、図１３（ｂ）に
示すように、偏光ビームスプリッタ２に対して半導体レ
ーザ１と、デュアルグレーティング７を含む信号検出光
学系１０との位置関係を入れ替えることもでき、このよ
うに装置のレイアウトに従って決定することができる。
示すように、偏光ビームスプリッタ２に対して半導体レ
ーザ１と、デュアルグレーティング７を含む信号検出光
学系１０との位置関係を入れ替えることもでき、このよ
うに装置のレイアウトに従って決定することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の光ピックアップ装置では、デュアルグレーティング７
を用いることにより、ある程度の装置の小型化は達成で
きるが、偏光ビームスプリッタ２を用いているため、装
置の小型化をより一段と達成したものとはなっておら
ず、これに伴いアクセスタイムの十分な高速化も実現で
きていない。
の光ピックアップ装置では、デュアルグレーティング７
を用いることにより、ある程度の装置の小型化は達成で
きるが、偏光ビームスプリッタ２を用いているため、装
置の小型化をより一段と達成したものとはなっておら
ず、これに伴いアクセスタイムの十分な高速化も実現で
きていない。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、レーザ光源からの出射光をコリメートレンズにより
平行光とし、この平行光を対物レンズにより集光して光
ディスクの面上に照射して情報の記録等を行うと共に、
前記光ディスクからの反射光を前記出射光と分離させて
受光素子に検出することにより情報の再生やフォーカス
エラー信号、トラックエラー信号の検出を行う光ピック
アップ装置において、前記レーザ光源と光ディスクとの
間の光路中に、前記光ディスクからの反射光を回折光と
透過光との分離する分岐回折格子と、この分岐回折格子
からの回折光を偏光分離する表裏両面に回折格子の形成
された二重回折格子とを配設した。
は、レーザ光源からの出射光をコリメートレンズにより
平行光とし、この平行光を対物レンズにより集光して光
ディスクの面上に照射して情報の記録等を行うと共に、
前記光ディスクからの反射光を前記出射光と分離させて
受光素子に検出することにより情報の再生やフォーカス
エラー信号、トラックエラー信号の検出を行う光ピック
アップ装置において、前記レーザ光源と光ディスクとの
間の光路中に、前記光ディスクからの反射光を回折光と
透過光との分離する分岐回折格子と、この分岐回折格子
からの回折光を偏光分離する表裏両面に回折格子の形成
された二重回折格子とを配設した。
【０００７】請求項２記載の発明では、請求項１記載の
発明において、分岐回折格子のピッチをΛ0 、二重回折
格子のディスク側の回折格子のピッチをΛ1 、前記二重
回折格子の光源側の回折格子のピッチをΛ2 、前記分岐
回折格子と前記二重回折格子のディスク側の回折格子と
の間の距離をｄ1 、前記二重回折格子の厚みをｄ2 、二
重回折格子と回折光を受光する受光素子との間の距離を
ｄ3 、二重回折格子の中の屈折率をＮとしたとき、
発明において、分岐回折格子のピッチをΛ0 、二重回折
格子のディスク側の回折格子のピッチをΛ1 、前記二重
回折格子の光源側の回折格子のピッチをΛ2 、前記分岐
回折格子と前記二重回折格子のディスク側の回折格子と
の間の距離をｄ1 、前記二重回折格子の厚みをｄ2 、二
重回折格子と回折光を受光する受光素子との間の距離を
ｄ3 、二重回折格子の中の屈折率をＮとしたとき、
【０００８】
【数２】
【０００９】の関係式を満たすように設定した。
【００１０】請求項３記載の発明では、請求項１記載の
発明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の一
部分に形成し、レーザ光源からの出射光が前記透明基板
の回折格子の存在しない領域を透過するように設定し
た。
発明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の一
部分に形成し、レーザ光源からの出射光が前記透明基板
の回折格子の存在しない領域を透過するように設定し
た。
【００１１】請求項４記載の発明では、請求項１記載の
発明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の全
面に形成し、前記二重回折格子のディスク側の回折格子
のピッチをΛ1 、前記二重回折格子の光源側の回折格子
のピッチをΛ2 、波長をλとしたとき、 λ＞Λ1 …（２） λ＞Λ2 …（３） の２つの関係式を同時に満たすように設定した。
発明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の全
面に形成し、前記二重回折格子のディスク側の回折格子
のピッチをΛ1 、前記二重回折格子の光源側の回折格子
のピッチをΛ2 、波長をλとしたとき、 λ＞Λ1 …（２） λ＞Λ2 …（３） の２つの関係式を同時に満たすように設定した。
【００１２】請求項５記載の発明では、請求項１記載の
発明において、分岐回折格子の回折格子にチャーピング
を施した。
発明において、分岐回折格子の回折格子にチャーピング
を施した。
【００１３】請求項６記載の発明では、請求項１記載の
発明において、二重回折格子又は分岐回折格子を光軸を
中心に回転させ受光素子上での光スポット位置を移動調
整する回折格子回転手段を設けた。
発明において、二重回折格子又は分岐回折格子を光軸を
中心に回転させ受光素子上での光スポット位置を移動調
整する回折格子回転手段を設けた。
【００１４】
【作用】請求項１記載の発明においては、平板状の回折
格子を用いて光の分離を行うことができるため、従来の
偏光ビームスプリッタ等の部品点数を削減させることが
可能となる。
格子を用いて光の分離を行うことができるため、従来の
偏光ビームスプリッタ等の部品点数を削減させることが
可能となる。
【００１５】請求項２記載の発明においては、回折格子
を含む光学系を（１）式のように適宜設定することによ
り波長変化の影響をなくすことができ、これにより、光
ピックアップ光学系内に回折格子を配置させた場合にお
いても十分に適用させることが可能となる。
を含む光学系を（１）式のように適宜設定することによ
り波長変化の影響をなくすことができ、これにより、光
ピックアップ光学系内に回折格子を配置させた場合にお
いても十分に適用させることが可能となる。
【００１６】請求項３記載の発明においては、レーザ光
源からの出射光が二重回折格子に入射しないため、回折
格子による波面の乱れや複屈折などの影響を受けるよう
なことをなくすことが可能となる。
源からの出射光が二重回折格子に入射しないため、回折
格子による波面の乱れや複屈折などの影響を受けるよう
なことをなくすことが可能となる。
【００１７】請求項４記載の発明においては、レーザ光
源からの出射光を二重回折格子に入射させた場合におい
ても、余分な回折光が生じるようなことをなくすことが
可能となる。
源からの出射光を二重回折格子に入射させた場合におい
ても、余分な回折光が生じるようなことをなくすことが
可能となる。
【００１８】請求項５記載の発明においては、ピッチに
チャーピングを施すことにより、分岐回折格子が凹のシ
リンドリカルレンズの役目を果たすことができ、これに
よりり、受光素子をレーザ光源と同一平面上に配置させ
ることが可能となる。
チャーピングを施すことにより、分岐回折格子が凹のシ
リンドリカルレンズの役目を果たすことができ、これに
よりり、受光素子をレーザ光源と同一平面上に配置させ
ることが可能となる。
【００１９】請求項６記載の発明においては、回折格子
を回折格子回転手段により回転させることにより、組付
け調整を簡単に行うことが可能となる。
を回折格子回転手段により回転させることにより、組付
け調整を簡単に行うことが可能となる。
【００２０】
【実施例】請求項１，３記載の発明の一実施例を図１〜
図４に基づいて説明する。なお、前述した従来例で述べ
た光ピックアップ装置（図１３参照）と同一部分につい
ての説明は省略し、その同一部分については同一符号を
用いる。
図４に基づいて説明する。なお、前述した従来例で述べ
た光ピックアップ装置（図１３参照）と同一部分につい
ての説明は省略し、その同一部分については同一符号を
用いる。
【００２１】本実施例では、レーザ光源としての半導体
レーザ１からの出射光ｂをコリメートレンズ３により平
行光とし、この平行光を対物レンズ５により集光して光
ディスク６の面上に照射して情報の記録等を行うと共
に、光ディスク６からの反射光ａを出射光ｂと分離させ
て受光素子８，９に検出することにより情報の再生やフ
ォーカスエラー信号Ｆｏ、トラックエラー信号Ｔｒの検
出を行う光ピックアップ装置に関するものである。
レーザ１からの出射光ｂをコリメートレンズ３により平
行光とし、この平行光を対物レンズ５により集光して光
ディスク６の面上に照射して情報の記録等を行うと共
に、光ディスク６からの反射光ａを出射光ｂと分離させ
て受光素子８，９に検出することにより情報の再生やフ
ォーカスエラー信号Ｆｏ、トラックエラー信号Ｔｒの検
出を行う光ピックアップ装置に関するものである。
【００２２】このような光ピックアップ装置において、
ここでは、図１に示すように、半導体レーザ１と光ディ
スク６との間の光路中に、分岐回折格子１１と、二重回
折格子１２とを配設したものである。この場合、分岐回
折格子１１は、図２に示すように、回折格子のピッチΛ
0 が等間隔に形成されており、光ディスク６からの反射
光ａを回折光Ｋｏと透過光Ｔｏとに分離する。また、二
重回折格子１２は、図３に示すように、ディスク側の面
にピッチΛ1 の回折格子１２ａが等間隔に形成され、そ
の反対の光源側の面にピッチΛ2 の回折格子１２ｂが等
間隔に形成されている。この場合、回折格子１２ａ，１
２ｂは透明基板１３の一部分に設けられた基板一体型の
構成となっている。これにより、半導体レーザ１からの
出射光ｂが透明基板１３の回折格子１２ａ，１２ｂの存
在しない領域を透過するように設定されている。
ここでは、図１に示すように、半導体レーザ１と光ディ
スク６との間の光路中に、分岐回折格子１１と、二重回
折格子１２とを配設したものである。この場合、分岐回
折格子１１は、図２に示すように、回折格子のピッチΛ
0 が等間隔に形成されており、光ディスク６からの反射
光ａを回折光Ｋｏと透過光Ｔｏとに分離する。また、二
重回折格子１２は、図３に示すように、ディスク側の面
にピッチΛ1 の回折格子１２ａが等間隔に形成され、そ
の反対の光源側の面にピッチΛ2 の回折格子１２ｂが等
間隔に形成されている。この場合、回折格子１２ａ，１
２ｂは透明基板１３の一部分に設けられた基板一体型の
構成となっている。これにより、半導体レーザ１からの
出射光ｂが透明基板１３の回折格子１２ａ，１２ｂの存
在しない領域を透過するように設定されている。
【００２３】このような構成において、半導体レーザ１
からの出射光ｂは、二重回折格子１２の透明基板１３の
回折格子１２ａ，１２ｂのない領域を通過して分岐回折
格子１１に入射する。今、分岐回折格子１１への垂直入
射の場合の回折角をθ1 、波長をλとすると、回折角の
関係は、 ｓｉｎθ1 ＝λ／Λ0 …（４） となる。
からの出射光ｂは、二重回折格子１２の透明基板１３の
回折格子１２ａ，１２ｂのない領域を通過して分岐回折
格子１１に入射する。今、分岐回折格子１１への垂直入
射の場合の回折角をθ1 、波長をλとすると、回折角の
関係は、 ｓｉｎθ1 ＝λ／Λ0 …（４） となる。
【００２４】この場合、回折角は波長と作製ピッチによ
り自由に設定することができる。そして、分岐回折格子
１１を透過した光は、コリメートレンズ３に入射し平行
化された後、このコリメート光は対物レンズ５により光
ディスク６の面上に照射される。また、光ディスク６か
らの反射光ａは、分岐回折格子１１までは同じ経路を辿
り、これにより透過光Ｔｏと回折光Ｋｏとに分離され
る。以下、ここでは回折光Ｋｏを用いる。この回折光Ｋ
ｏは、二重回折格子１２の回折格子１２ａに入射し、そ
の裏面の回折格子１２ｂから出射し、これにより回折光
Ｋと透過光Ｔとに偏光分離される。この時、偏光面は、
回折格子１２ａ，１２ｂの筋に対して略４５°の入射に
なるように、予め半導体レーザ１を光軸に対して回転さ
せて設定する。これにより、光ディスク６からの反射光
ａもカー回転角による差はあるが、略４５°の偏光面で
二重回折格子１２に入射する。このようにして回折光Ｋ
ｏが二重回折格子１２に斜めに入射することにより得ら
れた回折光Ｋは非点収差を発生し受光素子８に導かれ、
一方、透過光Ｔは受光素子９に導かれる。
り自由に設定することができる。そして、分岐回折格子
１１を透過した光は、コリメートレンズ３に入射し平行
化された後、このコリメート光は対物レンズ５により光
ディスク６の面上に照射される。また、光ディスク６か
らの反射光ａは、分岐回折格子１１までは同じ経路を辿
り、これにより透過光Ｔｏと回折光Ｋｏとに分離され
る。以下、ここでは回折光Ｋｏを用いる。この回折光Ｋ
ｏは、二重回折格子１２の回折格子１２ａに入射し、そ
の裏面の回折格子１２ｂから出射し、これにより回折光
Ｋと透過光Ｔとに偏光分離される。この時、偏光面は、
回折格子１２ａ，１２ｂの筋に対して略４５°の入射に
なるように、予め半導体レーザ１を光軸に対して回転さ
せて設定する。これにより、光ディスク６からの反射光
ａもカー回転角による差はあるが、略４５°の偏光面で
二重回折格子１２に入射する。このようにして回折光Ｋ
ｏが二重回折格子１２に斜めに入射することにより得ら
れた回折光Ｋは非点収差を発生し受光素子８に導かれ、
一方、透過光Ｔは受光素子９に導かれる。
【００２５】図４（ａ）は、受光素子８，９の形状を示
すものであり、受光素子８は４分割された受光面ａ〜ｄ
に検出され、受光素子９は無分割の受光面ｅに検出され
る。この場合、フォーカスエラー信号Ｆｏ、トラックエ
ラー信号Ｔｒ、光磁気信号Ｍｏは、 Ｆｏ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） …（５） Ｔｒ＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ） …（６） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−ｅ …（７） のようにして求めることができる。
すものであり、受光素子８は４分割された受光面ａ〜ｄ
に検出され、受光素子９は無分割の受光面ｅに検出され
る。この場合、フォーカスエラー信号Ｆｏ、トラックエ
ラー信号Ｔｒ、光磁気信号Ｍｏは、 Ｆｏ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） …（５） Ｔｒ＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ） …（６） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−ｅ …（７） のようにして求めることができる。
【００２６】トラックエラー信号Ｔｒは、光ピックアッ
プのトラックに対する設定方向に依存してＴｒ＝（ａ＋
ｄ）−（ｂ＋ｃ）或いは（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）として
求めてもよい。
プのトラックに対する設定方向に依存してＴｒ＝（ａ＋
ｄ）−（ｂ＋ｃ）或いは（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）として
求めてもよい。
【００２７】また、他の検出方法として、図４（ｂ）に
示すような２分割された受光面ｅ，ｆの受光素子９を用
いることにより、トラックエラー信号Ｔｒ、光磁気信号
Ｍｏは、 Ｔｒ＝ｅ−ｆ …（８） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ） …（９） により求めることができる。
示すような２分割された受光面ｅ，ｆの受光素子９を用
いることにより、トラックエラー信号Ｔｒ、光磁気信号
Ｍｏは、 Ｔｒ＝ｅ−ｆ …（８） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ） …（９） により求めることができる。
【００２８】上述したように、平板状をした分岐回折格
子１１、二重回折格子１２を用いて光の分離を行うこと
ができることから、従来のような偏光ビームスプリッタ
等の部品点数を削減させることができ、これにより、一
段と組付け調整を容易なものとし、小型で安価な光ピッ
クアップを提供することができる。また、透明基板１３
を用いたことにより、出射光ｂが回折格子１２ａ，１２
ｂに入射しないため、波面の乱れや複屈折などの現象を
なくすことができ、安定した信号検出を行うことができ
る。
子１１、二重回折格子１２を用いて光の分離を行うこと
ができることから、従来のような偏光ビームスプリッタ
等の部品点数を削減させることができ、これにより、一
段と組付け調整を容易なものとし、小型で安価な光ピッ
クアップを提供することができる。また、透明基板１３
を用いたことにより、出射光ｂが回折格子１２ａ，１２
ｂに入射しないため、波面の乱れや複屈折などの現象を
なくすことができ、安定した信号検出を行うことができ
る。
【００２９】次に、請求項２記載の発明の一実施例を図
５及び図６に基づいて説明する。なお、請求項１，３記
載の発明と同一部分についての説明は省略し、その同一
部分については同一符号を用いる。
５及び図６に基づいて説明する。なお、請求項１，３記
載の発明と同一部分についての説明は省略し、その同一
部分については同一符号を用いる。
【００３０】前述した実施例（図１参照）では、二重回
折格子１１を用いることにより、半導体レーザ１１の波
長変化による回折角変化をなくすことは可能となるが、
しかし、ビームスプリッタ機能をもつ分岐回折格子１２
を用いていることにより、回折角の波長依存性を無視で
きなくなり、受光素子８，９上での光スポットの位置変
化が生じることになる。そこで、このような現象をなく
すために、本実施例では、以下のような条件に設定した
ものである。
折格子１１を用いることにより、半導体レーザ１１の波
長変化による回折角変化をなくすことは可能となるが、
しかし、ビームスプリッタ機能をもつ分岐回折格子１２
を用いていることにより、回折角の波長依存性を無視で
きなくなり、受光素子８，９上での光スポットの位置変
化が生じることになる。そこで、このような現象をなく
すために、本実施例では、以下のような条件に設定した
ものである。
【００３１】分岐回折格子１１のピッチをΛ0 、二重回
折格子１２のディスク側の回折格子１２ａのピッチをΛ
1 、二重回折格子１２の光源側の回折格子１２ｂのピッ
チをΛ2 、分岐回折格子１１と二重回折格子１２のディ
スク側の回折格子１２ａとの間の距離をｄ1 、二重回折
格子１２の厚みをｄ2 、二重回折格子１２と回折光Ｋを
受光する受光素子８，９との間の距離をｄ3 、二重回折
格子１２の中の屈折率をＮとし、さらに、二重回折格子
１２のディスク側の回折格子１２ａでの光軸の位置をｓ
1 、光源側の回折格子１２ｂでの光軸の位置をｓ2 、受
光素子８，９での位置をｓ3 としたとき、
折格子１２のディスク側の回折格子１２ａのピッチをΛ
1 、二重回折格子１２の光源側の回折格子１２ｂのピッ
チをΛ2 、分岐回折格子１１と二重回折格子１２のディ
スク側の回折格子１２ａとの間の距離をｄ1 、二重回折
格子１２の厚みをｄ2 、二重回折格子１２と回折光Ｋを
受光する受光素子８，９との間の距離をｄ3 、二重回折
格子１２の中の屈折率をＮとし、さらに、二重回折格子
１２のディスク側の回折格子１２ａでの光軸の位置をｓ
1 、光源側の回折格子１２ｂでの光軸の位置をｓ2 、受
光素子８，９での位置をｓ3 としたとき、
【００３２】
【数３】
【００３３】の関係式を満たすように設定した。
【００３４】以下、この（１）式のような関係式に設定
した理由について述べる。今、それぞれの回折角は（１
０）〜（１２）のように示され、光軸の位置は（１３）
〜（１５）のように示される。
した理由について述べる。今、それぞれの回折角は（１
０）〜（１２）のように示され、光軸の位置は（１３）
〜（１５）のように示される。
【００３５】 ｓｉｎθ1 ＝λ／Λ0 …（１０） ｓｉｎθ1 ＋Ｎｓｉｎθ2 ＝λ／Λ1 …（１１） ｓｉｎθ3 ＋Ｎｓｉｎθ2 ＝λ／Λ2 …（１２） ｓ1 ＝ｄ1 ｔａｎθ1 …（１３） ｓ2 ＝ｓ1−ｄ2 ｔａｎθ2 …（１４） ｓ3 ＝ｓ2−ｄ3 ｔａｎθ3 …（１５） ここで、（１３）と（１４）を（１５）に代入すると、 ｓ3＝ｄ1ｔａｎθ1ｓ2−ｄ2ｔａｎθ2＋ｄ3ｔａｎθ3 …（１６） を得る。
【００３６】また、（１０）と（１１）によりθ1 を消
去すると、 ｓｉｎθ2＝λ／Ｎ・（１／Λ1−１／Λ2） …（１７） を得る。
去すると、 ｓｉｎθ2＝λ／Ｎ・（１／Λ1−１／Λ2） …（１７） を得る。
【００３７】同様にして、（１３）〜（１５）より ｓｉｎθ3＝λ・（１／Λ0−１／Λ1＋１／Λ2） …（１８） を得る。
【００３８】受光素子８，９上の光軸が波長の変化によ
って変わらない条件は、ｓ3 をλで微分した値が０にな
る場合である。これにより、 ｄｓ3／ｄλ＝ｄ1／ｃｏｓ2θ1・ｄθ1／ｄλ −ｄ2／ｃｏｓ2θ2・ｄθ2／ｄλ＋ｄ3／ｃｏｓ2θ3・ｄθ3／ｄλ＝０ …（１９） ここで、（１０）〜（１２）を微分すると、 ｄθ1／ｄλ＝１／√（Λ0 2−λ2） …(２０） ｄθ2／ｄλ＝１／√〔Ｎ2／(１／Λ1−１／Λ2)2−λ2) …(２１） ｄθ3／ｄλ＝１／√〔１／(１／Λ0−１／Λ1＋１／Λ2)2−λ2)…(２２） を得る。
って変わらない条件は、ｓ3 をλで微分した値が０にな
る場合である。これにより、 ｄｓ3／ｄλ＝ｄ1／ｃｏｓ2θ1・ｄθ1／ｄλ −ｄ2／ｃｏｓ2θ2・ｄθ2／ｄλ＋ｄ3／ｃｏｓ2θ3・ｄθ3／ｄλ＝０ …（１９） ここで、（１０）〜（１２）を微分すると、 ｄθ1／ｄλ＝１／√（Λ0 2−λ2） …(２０） ｄθ2／ｄλ＝１／√〔Ｎ2／(１／Λ1−１／Λ2)2−λ2) …(２１） ｄθ3／ｄλ＝１／√〔１／(１／Λ0−１／Λ1＋１／Λ2)2−λ2)…(２２） を得る。
【００３９】そして、（２０）〜（２２）を（１９）に
代入すると、
代入すると、
【００４０】
【数４】
【００４１】を得る。この（２３）は（１）と一致し、
これにより目的とする式を求めることができる。
これにより目的とする式を求めることができる。
【００４２】次に、具体例を挙げて説明する。λ＝０．
８３μｍ、Λ0 ＝１．９６４μｍ（θ1＝２５°の
時）、Λ1 ＝０．５４μｍ、ｄ1 ＝５ｍｍ、ｄ2 ＝１．
５ｍｍ、ｄ3 ＝５ｍｍ、Ｎ＝１．５１２とした時、ｄｓ
3／ｄλ＝０となるΛ2 の値は、図６の関係に示すよう
に、計算値から求めると、０．６６μｍとなる。
８３μｍ、Λ0 ＝１．９６４μｍ（θ1＝２５°の
時）、Λ1 ＝０．５４μｍ、ｄ1 ＝５ｍｍ、ｄ2 ＝１．
５ｍｍ、ｄ3 ＝５ｍｍ、Ｎ＝１．５１２とした時、ｄｓ
3／ｄλ＝０となるΛ2 の値は、図６の関係に示すよう
に、計算値から求めると、０．６６μｍとなる。
【００４３】上述したように、分岐回折格子１１及び二
重回折格子１２を含む光学系を（１）式のように適宜設
定することにより、半導体レーザ１の波長変化の際の回
折角変化による受光素子８，９上での光スポット位置変
化をなくすことができ、これにより、光ピックアップ光
学系内に回折格子を配置させた場合においても十分に適
用させることができる。
重回折格子１２を含む光学系を（１）式のように適宜設
定することにより、半導体レーザ１の波長変化の際の回
折角変化による受光素子８，９上での光スポット位置変
化をなくすことができ、これにより、光ピックアップ光
学系内に回折格子を配置させた場合においても十分に適
用させることができる。
【００４４】次に、請求項４記載の発明の一実施例を図
７及び図８に基づいて説明する。なお、請求項１〜３記
載の発明と同一部分についての説明は省略し、その同一
部分については同一符号を用いる。
７及び図８に基づいて説明する。なお、請求項１〜３記
載の発明と同一部分についての説明は省略し、その同一
部分については同一符号を用いる。
【００４５】前述した実施例（図１，図５参照）で用い
た二重回折格子１２には部分的に回折格子１２ａ，１２
ｂが形成されているが、これは出射光ｂがその部分で生
じる回折光によるロスを避けるようにするためである。
しかし、このように一部に形成するのは手間がかかる。
そこで、出射光ｂが二重回折格子１２に入射しても回折
光が生じないようにするために、本実施例では、以下の
ような条件に設定したものである。
た二重回折格子１２には部分的に回折格子１２ａ，１２
ｂが形成されているが、これは出射光ｂがその部分で生
じる回折光によるロスを避けるようにするためである。
しかし、このように一部に形成するのは手間がかかる。
そこで、出射光ｂが二重回折格子１２に入射しても回折
光が生じないようにするために、本実施例では、以下の
ような条件に設定したものである。
【００４６】図７に示すように、二重回折格子１２の回
折格子１２ａ，１２ｂを透明基板１３の全面に形成し、
二重回折格子１２のディスク側の回折格子１２ａのピッ
チをΛ1 、二重回折格子１２の光源側の回折格子１２ｂ
のピッチをΛ2 、波長をλとしたとき、 λ＞Λ1 …（２） λ＞Λ2 …（３） の２つの関係式を同時に満たすように設定したものであ
る。
折格子１２ａ，１２ｂを透明基板１３の全面に形成し、
二重回折格子１２のディスク側の回折格子１２ａのピッ
チをΛ1 、二重回折格子１２の光源側の回折格子１２ｂ
のピッチをΛ2 、波長をλとしたとき、 λ＞Λ1 …（２） λ＞Λ2 …（３） の２つの関係式を同時に満たすように設定したものであ
る。
【００４７】これにより、図８に示すような回折ダイヤ
グラムにおいては、波数ベクトル１４は存在しないた
め、回折光Ｋａが発生するようなことはなくなり、光損
失を防ぐことができる。具体例として、λ＝０．８３μ
ｍ、Λ1 ＝０．５４μｍ、Λ2＝０．６６μｍと設定す
ることにより回折光Ｋａは発生しない。また、（４）を
満たして回折光Ｋａが生じるような場合でも、回折角が
大きい場合では回折効率は極めて低くできるため、光ピ
ックアップの機能に影響を及ぼすようなことがない。な
お、（４）を満たしていないときは回折光Ｋａが全く生
じないことは顕著である。
グラムにおいては、波数ベクトル１４は存在しないた
め、回折光Ｋａが発生するようなことはなくなり、光損
失を防ぐことができる。具体例として、λ＝０．８３μ
ｍ、Λ1 ＝０．５４μｍ、Λ2＝０．６６μｍと設定す
ることにより回折光Ｋａは発生しない。また、（４）を
満たして回折光Ｋａが生じるような場合でも、回折角が
大きい場合では回折効率は極めて低くできるため、光ピ
ックアップの機能に影響を及ぼすようなことがない。な
お、（４）を満たしていないときは回折光Ｋａが全く生
じないことは顕著である。
【００４８】上述したように、出射光ｂを回折格子１２
ａ，１２ｂが全面に形成された二重回折格子１２に入射
させた場合においても、余分な回折光Ｋａが生じるよう
なことをなくすことができ、これにより出射光ｂの光損
失を防止することができる。
ａ，１２ｂが全面に形成された二重回折格子１２に入射
させた場合においても、余分な回折光Ｋａが生じるよう
なことをなくすことができ、これにより出射光ｂの光損
失を防止することができる。
【００４９】次に、請求項５記載の発明の一実施例を図
９〜図１１に基づいて説明する。なお、請求項１〜４記
載の発明と同一部分についての説明は省略し、その同一
部分については同一符号を用いる。
９〜図１１に基づいて説明する。なお、請求項１〜４記
載の発明と同一部分についての説明は省略し、その同一
部分については同一符号を用いる。
【００５０】本実施例では、図９に示すように、分岐回
折格子１１の回折格子１１ａにチャーピングを施したも
のである。
折格子１１の回折格子１１ａにチャーピングを施したも
のである。
【００５１】以下、そのようなチャーピングを施した理
由について述べる。これまでの実施例のように分岐回折
格子１１が等間隔ピッチの場合、これに集束光が入射す
ると、これにより回折される回折光はシリンドリカルレ
ンズを透過したような集束作用を受ける。図１０は等間
隔ピッチに垂直に集束光が入射した際の回折ダイヤグラ
ムを示すものである。そして、図１１に示すように、光
ディスク６からの反射光ａがψ0 なる集束角をもって分
岐回折格子１１に入射すると、ψ1 なる集束角をもつ回
折光Ｋｏが発生し、しかも、ψ1＞ψ0となるためその回
折光Ｋｏは半導体レーザ１の発光位置よりもディスク側
にずっと近い位置Ｐ点に集束する。このように等間隔の
回折格子１１ａは集束光が入射すると、見かけ上、不等
間隔回折格子として働くことになる。これにより、受光
素子８，９は、半導体レーザ１と同一平面上に配置でき
ないため、組付け調整の面において望ましくない。
由について述べる。これまでの実施例のように分岐回折
格子１１が等間隔ピッチの場合、これに集束光が入射す
ると、これにより回折される回折光はシリンドリカルレ
ンズを透過したような集束作用を受ける。図１０は等間
隔ピッチに垂直に集束光が入射した際の回折ダイヤグラ
ムを示すものである。そして、図１１に示すように、光
ディスク６からの反射光ａがψ0 なる集束角をもって分
岐回折格子１１に入射すると、ψ1 なる集束角をもつ回
折光Ｋｏが発生し、しかも、ψ1＞ψ0となるためその回
折光Ｋｏは半導体レーザ１の発光位置よりもディスク側
にずっと近い位置Ｐ点に集束する。このように等間隔の
回折格子１１ａは集束光が入射すると、見かけ上、不等
間隔回折格子として働くことになる。これにより、受光
素子８，９は、半導体レーザ１と同一平面上に配置でき
ないため、組付け調整の面において望ましくない。
【００５２】そこで、回折格子１１ａにチャーピングを
施すことにより、凹のシリンドリカルレンズの作用を示
すことになり、図９に示すように、集束点Ｐを半導体レ
ーザ１の出射点Ｑと同一の平面上に設定することができ
るようになり、これにより組付け調整を容易なものとす
ることができる。
施すことにより、凹のシリンドリカルレンズの作用を示
すことになり、図９に示すように、集束点Ｐを半導体レ
ーザ１の出射点Ｑと同一の平面上に設定することができ
るようになり、これにより組付け調整を容易なものとす
ることができる。
【００５３】次に、請求項６記載の発明の一実施例を図
１２に基づいて説明する。なお、請求項１〜５記載の発
明と同一部分についての説明は省略し、その同一部分に
ついては同一符号を用いる。
１２に基づいて説明する。なお、請求項１〜５記載の発
明と同一部分についての説明は省略し、その同一部分に
ついては同一符号を用いる。
【００５４】本実施例では、二重回折格子１１又は分岐
回折格子１２を光軸を中心に回転させる図示しない回折
格子回転手段を設けたものである。具体例として、図１
２に示すように、二重回折格子１１と分岐回折格子１２
とを、それらの光軸を中心として基板の存在する平面内
で回転させるようにした。
回折格子１２を光軸を中心に回転させる図示しない回折
格子回転手段を設けたものである。具体例として、図１
２に示すように、二重回折格子１１と分岐回折格子１２
とを、それらの光軸を中心として基板の存在する平面内
で回転させるようにした。
【００５５】これにより、受光素子８，９上での光スポ
ット位置を移動調整することができるため、組付け調整
を一段と簡単に行うことができるようになる。
ット位置を移動調整することができるため、組付け調整
を一段と簡単に行うことができるようになる。
【００５６】
【発明の効果】請求項１記載の発明は、レーザ光源から
の出射光をコリメートレンズにより平行光とし、この平
行光を対物レンズにより集光して光ディスクの面上に照
射して情報の記録等を行うと共に、前記光ディスクから
の反射光を前記出射光と分離させて受光素子に検出する
ことにより情報の再生やフォーカスエラー信号、トラッ
クエラー信号の検出を行う光ピックアップ装置におい
て、前記レーザ光源と光ディスクとの間の光路中に、前
記光ディスクからの反射光を回折光と透過光との分離す
る分岐回折格子と、この分岐回折格子からの回折光を偏
光分離する表裏両面に回折格子の形成された二重回折格
子とを配設したので、このように平板状の回折格子を用
いて光の分離を行うことにより、従来の偏光ビームスプ
リッタ等の部品点数を削減させることができ、これによ
り一段と小型で安価な装置を提供することができるもの
である。
の出射光をコリメートレンズにより平行光とし、この平
行光を対物レンズにより集光して光ディスクの面上に照
射して情報の記録等を行うと共に、前記光ディスクから
の反射光を前記出射光と分離させて受光素子に検出する
ことにより情報の再生やフォーカスエラー信号、トラッ
クエラー信号の検出を行う光ピックアップ装置におい
て、前記レーザ光源と光ディスクとの間の光路中に、前
記光ディスクからの反射光を回折光と透過光との分離す
る分岐回折格子と、この分岐回折格子からの回折光を偏
光分離する表裏両面に回折格子の形成された二重回折格
子とを配設したので、このように平板状の回折格子を用
いて光の分離を行うことにより、従来の偏光ビームスプ
リッタ等の部品点数を削減させることができ、これによ
り一段と小型で安価な装置を提供することができるもの
である。
【００５７】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、分岐回折格子のピッチをΛ0 、二重回折格
子のディスク側の回折格子のピッチをΛ1 、前記二重回
折格子の光源側の回折格子のピッチをΛ2 、前記分岐回
折格子と前記二重回折格子のディスク側の回折格子との
間の距離をｄ1 、前記二重回折格子の厚みをｄ2 、二重
回折格子と回折光を受光する受光素子との間の距離をｄ
3 、二重回折格子の中の屈折率をＮとしたとき、
明において、分岐回折格子のピッチをΛ0 、二重回折格
子のディスク側の回折格子のピッチをΛ1 、前記二重回
折格子の光源側の回折格子のピッチをΛ2 、前記分岐回
折格子と前記二重回折格子のディスク側の回折格子との
間の距離をｄ1 、前記二重回折格子の厚みをｄ2 、二重
回折格子と回折光を受光する受光素子との間の距離をｄ
3 、二重回折格子の中の屈折率をＮとしたとき、
【００５８】
【数５】
【００５９】の関係式を満たすように設定したので、回
折格子を含む光学系を（１）式のように適宜設定するこ
とによって波長変化の影響をなくすことができ、これに
より、光ピックアップ光学系内に回折格子を配置させた
場合においても十分に適用でき実用化させることができ
るものである。
折格子を含む光学系を（１）式のように適宜設定するこ
とによって波長変化の影響をなくすことができ、これに
より、光ピックアップ光学系内に回折格子を配置させた
場合においても十分に適用でき実用化させることができ
るものである。
【００６０】請求項３記載の発明は、請求項１記載の発
明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の一部
分に形成し、レーザ光源からの出射光が前記透明基板の
回折格子の存在しない領域を透過するように設定したの
で、レーザ光源からの出射光が二重回折格子に入射する
ようなことがなく、回折格子による波面の乱れや複屈折
などの影響を受けるようなことをなくすことができるも
のである。
明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の一部
分に形成し、レーザ光源からの出射光が前記透明基板の
回折格子の存在しない領域を透過するように設定したの
で、レーザ光源からの出射光が二重回折格子に入射する
ようなことがなく、回折格子による波面の乱れや複屈折
などの影響を受けるようなことをなくすことができるも
のである。
【００６１】請求項４記載の発明は、請求項１記載の発
明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の全面
に形成し、前記二重回折格子のディスク側の回折格子の
ピッチをΛ1 、前記二重回折格子の光源側の回折格子の
ピッチをΛ2 、波長をλとしたとき、 λ＞Λ1 …（２） λ＞Λ2 …（３） の２つの関係式を同時に満たすように設定したので、レ
ーザ光源からの出射光を二重回折格子に入射させた場合
においても、余分な回折光が生じるようなことがなくな
り、これにより、光損失が少なく光利用効率の高い装置
を提供することができるものである。
明において、二重回折格子の回折格子を透明基板の全面
に形成し、前記二重回折格子のディスク側の回折格子の
ピッチをΛ1 、前記二重回折格子の光源側の回折格子の
ピッチをΛ2 、波長をλとしたとき、 λ＞Λ1 …（２） λ＞Λ2 …（３） の２つの関係式を同時に満たすように設定したので、レ
ーザ光源からの出射光を二重回折格子に入射させた場合
においても、余分な回折光が生じるようなことがなくな
り、これにより、光損失が少なく光利用効率の高い装置
を提供することができるものである。
【００６２】請求項５記載の発明は、請求項１記載の発
明において、分岐回折格子の回折格子にチャーピングを
施したので、分岐回折格子が凹のシリンドリカルレンズ
の役目を果たすことができ、これにより、受光素子をレ
ーザ光源と同一平面上に配置させることができ組付け調
整を容易なものとすることができるものである。
明において、分岐回折格子の回折格子にチャーピングを
施したので、分岐回折格子が凹のシリンドリカルレンズ
の役目を果たすことができ、これにより、受光素子をレ
ーザ光源と同一平面上に配置させることができ組付け調
整を容易なものとすることができるものである。
【００６３】請求項６記載の発明は、請求項１記載の発
明において、二重回折格子又は分岐回折格子を光軸を中
心に回転させ受光素子上での光スポット位置を移動調整
する回折格子回転手段を設けたので、組付け調整を容易
なものとすることができるものである。
明において、二重回折格子又は分岐回折格子を光軸を中
心に回転させ受光素子上での光スポット位置を移動調整
する回折格子回転手段を設けたので、組付け調整を容易
なものとすることができるものである。
【図１】請求項１，３記載の発明の一実施例である光ピ
ックアップ装置の様子を示す構成図である。
ックアップ装置の様子を示す構成図である。
【図２】（ａ）は分岐回折格子の断面図、（ｂ）はその
平面図である。
平面図である。
【図３】二重回折格子の様子を示す平面図である。
【図４】受光素子の形状を示す正面図である。
【図５】請求項２記載の発明の一実施例である光ピック
アップ装置の様子を示す構成図である。
アップ装置の様子を示す構成図である。
【図６】回折ダイヤグラムを示す特性図である。
【図７】請求項４記載の発明の一実施例である光ピック
アップ装置の様子を示す構成図である。
アップ装置の様子を示す構成図である。
【図８】回折ダイヤグラムを示す特性図である。
【図９】（ａ）は請求項５記載の発明の一実施例である
光ピックアップ装置の様子を示す構成図、（ｂ）はその
回折格子の形成個所に対するピッチ状態を示す特性図で
ある。
光ピックアップ装置の様子を示す構成図、（ｂ）はその
回折格子の形成個所に対するピッチ状態を示す特性図で
ある。
【図１０】回折ダイヤグラムを示す特性図である。
【図１１】図９に対する比較例を示す構成図である。
【図１２】請求項６記載の発明の一実施例である光ピッ
クアップ装置の様子を示す構成図である。
クアップ装置の様子を示す構成図である。
【図１３】従来の光ピックアップ装置の様子を示す構成
図である。
図である。
１ レーザ光源 ３ コリメートレンズ ５ 対物レンズ ６ 光ディスク ８，９ 受光素子 １１ 分岐回折格子 １２ 二重回折格子 １２ａ 回折格子 １２ｂ 回折格子 １３ 透明基板 ａ 反射光 ｂ 出射光
Claims (6)
- 【請求項１】 レーザ光源からの出射光をコリメートレ
ンズにより平行光とし、この平行光を対物レンズにより
集光して光ディスクの面上に照射して情報の記録等を行
うと共に、前記光ディスクからの反射光を前記出射光と
分離させて受光素子に検出することにより情報の再生や
フォーカスエラー信号、トラックエラー信号の検出を行
う光ピックアップ装置において、前記レーザ光源と光デ
ィスクとの間の光路中に、前記光ディスクからの反射光
を回折光と透過光との分離する分岐回折格子と、この分
岐回折格子からの回折光を偏光分離する表裏両面に回折
格子の形成された二重回折格子とを配設したことを特徴
とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 分岐回折格子のピッチをΛ0 、二重回折
格子のディスク側の回折格子のピッチをΛ1 、前記二重
回折格子の光源側の回折格子のピッチをΛ2、前記分岐
回折格子と前記二重回折格子のディスク側の回折格子と
の間の距離をｄ1 、前記二重回折格子の厚みをｄ2 、二
重回折格子と回折光を受光する受光素子との間の距離を
ｄ3 、二重回折格子の中の屈折率をＮとしたとき、 【数１】 の関係式を満たすように設定したことを特徴する請求項
１記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項３】 二重回折格子の回折格子を透明基板の一
部分に形成し、レーザ光源からの出射光が前記透明基板
の回折格子の存在しない領域を透過するように設定した
ことを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項４】 二重回折格子の回折格子を透明基板の全
面に形成し、二重回折格子のディスク側の回折格子のピ
ッチをΛ1 、二重回折格子の光源側の回折格子のピッチ
をΛ2 、波長をλとしたとき、 λ＞Λ1 …（２） λ＞Λ2 …（３） の２つの関係式を同時に満たすように設定したことを特
徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項５】 分岐回折格子の回折格子にチャーピング
を施したことを特徴とする請求項１記載の光ピックアッ
プ装置。 - 【請求項６】 二重回折格子又は分岐回折格子を光軸を
中心に回転させ受光素子上での光スポット位置を移動調
整する回折格子回転手段を設けたことを特徴とする請求
項１記載の光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4282017A JPH06130213A (ja) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4282017A JPH06130213A (ja) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06130213A true JPH06130213A (ja) | 1994-05-13 |
Family
ID=17647078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4282017A Pending JPH06130213A (ja) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06130213A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08249710A (ja) * | 1995-01-12 | 1996-09-27 | Ricoh Co Ltd | 光ヘッド |
| JPH09259465A (ja) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Lg Electron Inc | 光出力検出装置 |
| JPH11328713A (ja) * | 1998-05-14 | 1999-11-30 | Hideo Maeda | 方向性回折格子 |
-
1992
- 1992-10-20 JP JP4282017A patent/JPH06130213A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08249710A (ja) * | 1995-01-12 | 1996-09-27 | Ricoh Co Ltd | 光ヘッド |
| JPH09259465A (ja) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Lg Electron Inc | 光出力検出装置 |
| JPH11328713A (ja) * | 1998-05-14 | 1999-11-30 | Hideo Maeda | 方向性回折格子 |
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