JPH06129905A - 光テスタ - Google Patents
光テスタInfo
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- JPH06129905A JPH06129905A JP4282094A JP28209492A JPH06129905A JP H06129905 A JPH06129905 A JP H06129905A JP 4282094 A JP4282094 A JP 4282094A JP 28209492 A JP28209492 A JP 28209492A JP H06129905 A JPH06129905 A JP H06129905A
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】光テスタの機能および性能を向上する。
【構成】光制御装置などの投光用光ファイバ１から投光
される光信号（受光信号）を受光し電気信号に変換する
受光素子３Ａを有する受光用光電変換手段３と、この受
光用光電変換手段の出力信号から受光信号の強度を測定
する受光強度測定手段４，５と、この受光用光電変換手
段の出力信号が入力され、前記受光信号に同期した光信
号（投光信号）を受光用光ファイバ２に投光する発光素
子９Ａを有する投光手段９，７、更にこの投光手段から
の投光信号の強度を制御する投光強度制御手段１１，１
２からなる。
される光信号（受光信号）を受光し電気信号に変換する
受光素子３Ａを有する受光用光電変換手段３と、この受
光用光電変換手段の出力信号から受光信号の強度を測定
する受光強度測定手段４，５と、この受光用光電変換手
段の出力信号が入力され、前記受光信号に同期した光信
号（投光信号）を受光用光ファイバ２に投光する発光素
子９Ａを有する投光手段９，７、更にこの投光手段から
の投光信号の強度を制御する投光強度制御手段１１，１
２からなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光制御装置などの光ファ
イバから投光される光信号の強度の測定などを行う光テ
スタに関する。
イバから投光される光信号の強度の測定などを行う光テ
スタに関する。
【０００２】
【従来の技術】光テスタは一般に光制御装置などの光フ
ァイバから投光される光信号の強度を測定し、これら光
制御装置などの動作試験，保守，点検などに用いるもの
である。従来の光テスタは投光機能を有するものとそう
でないものの２種類がある。このうち投光機能を有しな
いものは、例えば光制御装置からの光信号が入力される
光ファイバ（以下、投光用光ファイバと称する）に受光
素子を対向して取り付け、この投光用光ファイバから投
光される光信号を受光し光電変換してこの受光信号の強
度を測定する。また、投光機能を有するものは、前記の
投光機能を有しないものに、連続光の光源が取り付けら
れたもので、光制御装置に光信号を入力する光ファイバ
（以下、受光用光ファイバと称する）にこの光源から連
続光信号を投光し、この投光信号の強度と光制御装置を
通して投光用光ファイバに帰還されて受光された受光信
号の強度差から光ファイバを含む光経路の損失を測定す
る。
ァイバから投光される光信号の強度を測定し、これら光
制御装置などの動作試験，保守，点検などに用いるもの
である。従来の光テスタは投光機能を有するものとそう
でないものの２種類がある。このうち投光機能を有しな
いものは、例えば光制御装置からの光信号が入力される
光ファイバ（以下、投光用光ファイバと称する）に受光
素子を対向して取り付け、この投光用光ファイバから投
光される光信号を受光し光電変換してこの受光信号の強
度を測定する。また、投光機能を有するものは、前記の
投光機能を有しないものに、連続光の光源が取り付けら
れたもので、光制御装置に光信号を入力する光ファイバ
（以下、受光用光ファイバと称する）にこの光源から連
続光信号を投光し、この投光信号の強度と光制御装置を
通して投光用光ファイバに帰還されて受光された受光信
号の強度差から光ファイバを含む光経路の損失を測定す
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述の光テスタでは、
まず投光機能を有さないものでは、光制御装置などから
の受光信号の強度を測定するに留まるので、光制御装置
などの動作試験，保守，点検などのためには、これら光
制御装置などの動作特性を事前に把握しておく必要があ
る。また投光機能を有するものでは、光ファイバを含む
光経路の損失の測定ができるものの、光制御装置などか
らの受光信号に対してはその強度を測定するに留まり、
前述と同様に光制御装置などの動作特性を事前に把握す
る必要がある。このため、これら光テスタを光制御装置
などの動作試験，保守，点検などに用いるにはその機能
の点で必ずしも充分ではなかった。
まず投光機能を有さないものでは、光制御装置などから
の受光信号の強度を測定するに留まるので、光制御装置
などの動作試験，保守，点検などのためには、これら光
制御装置などの動作特性を事前に把握しておく必要があ
る。また投光機能を有するものでは、光ファイバを含む
光経路の損失の測定ができるものの、光制御装置などか
らの受光信号に対してはその強度を測定するに留まり、
前述と同様に光制御装置などの動作特性を事前に把握す
る必要がある。このため、これら光テスタを光制御装置
などの動作試験，保守，点検などに用いるにはその機能
の点で必ずしも充分ではなかった。
【０００４】本発明の目的は前述の問題点を解決しその
機能、更にその性能を向上した光テスタを提供すること
にある。
機能、更にその性能を向上した光テスタを提供すること
にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前述の目的を達成するた
めに、本発明の光テスタは投光用光ファイバから投光さ
れる光信号（以下受光信号と称する）を受光し電気信号
に変換する受光素子を有する受光用光電変換手段と、こ
の受光用光電変換手段の出力信号から前記受光信号の強
度を測定する受光強度測定手段と、この受光用光電変換
手段の出力信号が入力され前記受光信号に同期した光信
号（以下投光信号と称する）を受光用光ファイバに投光
する発光素子を有する投光手段とを備えるようにする。
更に、投光手段からの投光信号の強度を制御する投光強
度制御手段を設ける。更にまた、受光用光電変換手段の
出力信号を所定時間遅延して受光強度測定手段に入力す
る受光信号遅延手段を設ける。更にまた、投光手段から
の投光信号の投光タイミングと、受光強度測定手段の受
光用光電変換手段の出力信号サンプリングタイミングと
の同期をとる信号同期手段を設ける。更にまた、受光強
度測定手段の信号処理回路の電源を他の回路の電源と別
系統の電源とし、この信号処理回路に受光信号の強度測
定期間のみ電圧を印加して動作させるようにする。
めに、本発明の光テスタは投光用光ファイバから投光さ
れる光信号（以下受光信号と称する）を受光し電気信号
に変換する受光素子を有する受光用光電変換手段と、こ
の受光用光電変換手段の出力信号から前記受光信号の強
度を測定する受光強度測定手段と、この受光用光電変換
手段の出力信号が入力され前記受光信号に同期した光信
号（以下投光信号と称する）を受光用光ファイバに投光
する発光素子を有する投光手段とを備えるようにする。
更に、投光手段からの投光信号の強度を制御する投光強
度制御手段を設ける。更にまた、受光用光電変換手段の
出力信号を所定時間遅延して受光強度測定手段に入力す
る受光信号遅延手段を設ける。更にまた、投光手段から
の投光信号の投光タイミングと、受光強度測定手段の受
光用光電変換手段の出力信号サンプリングタイミングと
の同期をとる信号同期手段を設ける。更にまた、受光強
度測定手段の信号処理回路の電源を他の回路の電源と別
系統の電源とし、この信号処理回路に受光信号の強度測
定期間のみ電圧を印加して動作させるようにする。
【０００６】
【作用】本発明の光テスタにおいては、投光用光ファイ
バから投光される光信号を受光しこの受光信号を電気信
号に変換する受光素子を有する受光用光電変換手段と、
この受光用光電変換手段の出力信号から前記受光信号の
強度を測定する受光強度測定手段と、この受光用光電変
換手段の出力信号が入力され前記受光信号に同期した光
信号（以下投光信号と称する）を受光用光ファイバに投
光する発光素子を有する投光手段とを備えるようにした
ので、光制御装置などの投光用光ファイバから投光され
る光信号の強度を測定しながらこの光信号（受光信号）
に同期した光信号（投光信号）をこの受光用光ファイバ
に投光することにより、光制御装置を運転しながら投光
用光ファイバから投光される光信号の強度を測定でき
る。
バから投光される光信号を受光しこの受光信号を電気信
号に変換する受光素子を有する受光用光電変換手段と、
この受光用光電変換手段の出力信号から前記受光信号の
強度を測定する受光強度測定手段と、この受光用光電変
換手段の出力信号が入力され前記受光信号に同期した光
信号（以下投光信号と称する）を受光用光ファイバに投
光する発光素子を有する投光手段とを備えるようにした
ので、光制御装置などの投光用光ファイバから投光され
る光信号の強度を測定しながらこの光信号（受光信号）
に同期した光信号（投光信号）をこの受光用光ファイバ
に投光することにより、光制御装置を運転しながら投光
用光ファイバから投光される光信号の強度を測定でき
る。
【０００７】更に、投光手段からの投光信号の強度を制
御する投光強度制御手段を設けたので、前述の光制御装
置などからの光信号の強度測定において、投光手段から
投光される光信号の投光強度を変えることにより、光制
御装置などの光信号の強度を変化させたときの動作特性
が測定できる。更にまた、受光用光電変換手段の出力信
号を所定時間遅延して受光強度測定手段に入力する受光
信号遅延手段を設けたので、受光信号の強度を任意の遅
延タイミングで測定が可能となり、受光信号の立ち上が
りの遅れによる測定誤差を除くことができる。更にま
た、投光手段からの投光信号の投光タイミングと、受光
強度測定手段の受光用光電変換手段の出力信号サンプリ
ングタイミングとの同期をとる信号同期手段を設けたの
で、受光信号の強度から、例えば光スイッチの損失に相
当する強度を差し引いた強度の投光信号を投光すること
により、通常、投受光同期形光制御装置などに接続され
る光スイッチの代替として使用し、更に投光信号の強度
を変えることにより、接続される光スイッチの損失が変
化したときの光制御装置などの動作特性が測定できる。
あるいはこの光テスタを投受光同期形光制御装置の代替
として光スイッチを接続し、その投光信号の強度と受光
信号の強度の差から光スイッチおよび光ファイバを含む
光経路の損失が測定できる。この場合投光信号の投光タ
イミングの間だけ受光信号が受光されるので外部のノイ
ズ光の影響が低減され測定精度が向上する。更にまた、
受光強度測定手段の信号処理回路の電源を他の回路の電
源と別系統の電源とし、この信号処理回路に受光信号の
強度測定期間のみ電圧を印加して動作させるようにした
ので、消費電力を低減できる。
御する投光強度制御手段を設けたので、前述の光制御装
置などからの光信号の強度測定において、投光手段から
投光される光信号の投光強度を変えることにより、光制
御装置などの光信号の強度を変化させたときの動作特性
が測定できる。更にまた、受光用光電変換手段の出力信
号を所定時間遅延して受光強度測定手段に入力する受光
信号遅延手段を設けたので、受光信号の強度を任意の遅
延タイミングで測定が可能となり、受光信号の立ち上が
りの遅れによる測定誤差を除くことができる。更にま
た、投光手段からの投光信号の投光タイミングと、受光
強度測定手段の受光用光電変換手段の出力信号サンプリ
ングタイミングとの同期をとる信号同期手段を設けたの
で、受光信号の強度から、例えば光スイッチの損失に相
当する強度を差し引いた強度の投光信号を投光すること
により、通常、投受光同期形光制御装置などに接続され
る光スイッチの代替として使用し、更に投光信号の強度
を変えることにより、接続される光スイッチの損失が変
化したときの光制御装置などの動作特性が測定できる。
あるいはこの光テスタを投受光同期形光制御装置の代替
として光スイッチを接続し、その投光信号の強度と受光
信号の強度の差から光スイッチおよび光ファイバを含む
光経路の損失が測定できる。この場合投光信号の投光タ
イミングの間だけ受光信号が受光されるので外部のノイ
ズ光の影響が低減され測定精度が向上する。更にまた、
受光強度測定手段の信号処理回路の電源を他の回路の電
源と別系統の電源とし、この信号処理回路に受光信号の
強度測定期間のみ電圧を印加して動作させるようにした
ので、消費電力を低減できる。
【０００８】
【実施例】図１は本発明の光テスタの一実施例を示す回
路図である。図１において光テスタ１９は光制御装置な
どの投光用光ファイバ１に対向して配置される受光素子
３Ａを有する光電変換回路３と、この光電変換回路３に
増幅回路４を介し接続されたＡ／Ｄ変換回路５と、この
Ａ／Ｄ変換回路５に接続された、例えばＣＰＵからなる
制御回路６と、この制御回路６に接続された表示回路１
５，発振回路１３および外部操作回路１４と、光電変換
回路３および発振回路１３に接続されたタイミング発生
回路７と、このタイミング発生回路７とＡ／Ｄ変換回路
５との間に接続された遅延回路８と、制御回路６に接続
された発光レベル設定回路１２と、この発光レベル設定
回路１２と制御回路６とに接続された発光制御回路１１
と、この発光制御回路１１，タイミング発生回路７およ
び発振回路１３に接続され、前記光制御装置などの受光
用光ファイバ２に対向して配置される発光素子９Ａを有
する発光回路９と、電源電圧Ｖを受電し、制御電圧Ｖ１
およびＶ２を出力する電源回路１６とからなり、この電
源回路１６の制御電圧Ｖ２は増幅回路４，Ａ／Ｄ変換回
路５，遅延回路８に印加され、制御電圧Ｖ１はその他の
回路に印加される。
路図である。図１において光テスタ１９は光制御装置な
どの投光用光ファイバ１に対向して配置される受光素子
３Ａを有する光電変換回路３と、この光電変換回路３に
増幅回路４を介し接続されたＡ／Ｄ変換回路５と、この
Ａ／Ｄ変換回路５に接続された、例えばＣＰＵからなる
制御回路６と、この制御回路６に接続された表示回路１
５，発振回路１３および外部操作回路１４と、光電変換
回路３および発振回路１３に接続されたタイミング発生
回路７と、このタイミング発生回路７とＡ／Ｄ変換回路
５との間に接続された遅延回路８と、制御回路６に接続
された発光レベル設定回路１２と、この発光レベル設定
回路１２と制御回路６とに接続された発光制御回路１１
と、この発光制御回路１１，タイミング発生回路７およ
び発振回路１３に接続され、前記光制御装置などの受光
用光ファイバ２に対向して配置される発光素子９Ａを有
する発光回路９と、電源電圧Ｖを受電し、制御電圧Ｖ１
およびＶ２を出力する電源回路１６とからなり、この電
源回路１６の制御電圧Ｖ２は増幅回路４，Ａ／Ｄ変換回
路５，遅延回路８に印加され、制御電圧Ｖ１はその他の
回路に印加される。
【０００９】この光テスタは種々の使用方法があり、以
下に図１の他に図２〜図６を参照してこの光テスタの各
使用方法とその使用方法における動作を説明する。図２
はこの光テスタ１９の第１の使用方法を示す系統図であ
り、光制御装置などの投光部１７からの光信号が出力さ
れる投光用光ファイバ１と光制御装置の受光部１８に光
信号を入力する受光用光ファイバ２との間にこの光テス
タ１９が接続される。
下に図１の他に図２〜図６を参照してこの光テスタの各
使用方法とその使用方法における動作を説明する。図２
はこの光テスタ１９の第１の使用方法を示す系統図であ
り、光制御装置などの投光部１７からの光信号が出力さ
れる投光用光ファイバ１と光制御装置の受光部１８に光
信号を入力する受光用光ファイバ２との間にこの光テス
タ１９が接続される。
【００１０】まず、光制御装置などの投光部１７からの
光信号が連続光の場合について説明する。この投光部１
７からの連続光信号は投光用光ファイバ１から投光さ
れ、受光素子３Ａで受光されて光電変換回路３からこの
受光信号の強度に比例した電気信号が出力される。この
出力信号は増幅回路４で増幅され、Ａ／Ｄ変換回路５で
Ａ／Ｄ変換されて制御回路６に入力される。制御回路６
はこの信号をデータ処理して表示回路１５から受光信号
の強度を表示する。同時に、増幅回路４からの出力信号
はタイミング発生回路７に入力され、タイミング発生回
路７はこの信号の大きさが設定したしきい値を越えると
「Ｈ1 」の信号を出力し、この出力信号「Ｈ1 」は発光
回路９に入力されて発光素子９Ａから光制御装置などの
受光部１８の受光用光ファイバ２に連続光信号を投光す
る。
光信号が連続光の場合について説明する。この投光部１
７からの連続光信号は投光用光ファイバ１から投光さ
れ、受光素子３Ａで受光されて光電変換回路３からこの
受光信号の強度に比例した電気信号が出力される。この
出力信号は増幅回路４で増幅され、Ａ／Ｄ変換回路５で
Ａ／Ｄ変換されて制御回路６に入力される。制御回路６
はこの信号をデータ処理して表示回路１５から受光信号
の強度を表示する。同時に、増幅回路４からの出力信号
はタイミング発生回路７に入力され、タイミング発生回
路７はこの信号の大きさが設定したしきい値を越えると
「Ｈ1 」の信号を出力し、この出力信号「Ｈ1 」は発光
回路９に入力されて発光素子９Ａから光制御装置などの
受光部１８の受光用光ファイバ２に連続光信号を投光す
る。
【００１１】次に、光制御装置などの投光部１７からの
光信号がパルス光信号の場合について説明する。この場
合は光電変換回路３からパルス波形の電気信号が出力さ
れ、増幅回路４およびタイミング発生回路７に入力され
る。図５（１）は光電変換回路３の出力信号波形を示
し、光電変換回路３の動作時間により安定値に達するま
でに時間ｔｒ1 の遅れを生じている。図５（２）は増幅
回路４の出力信号波形を示し、光電変換回路３および増
幅回路４の動作時間によって安定値に達するまでに更に
大きな時間ｔｒ2 の遅れを生じている。図５（１）に示
す光電変換回路３の出力信号がｑで示されるしきい値に
達したとき、図５（３）に示すようにタイミング発生回
路７は「Ｈ1 」の信号を出力する。この出力信号
「Ｈ1 」は遅延回路８に入力され、遅延回路８は図５
（４）に示すように前記の遅れ時間ｔｒ2 より大きいＴ
S の遅れ時間で「Ｈ2 」の信号を出力する。この出力信
号「Ｈ2 」はＡ／Ｄ変換回路５にサンプリング用クロッ
クとして入力され、Ａ／Ｄ変換回路５は安定値に達した
増幅回路４の出力信号をサンプリングしてＡ／Ｄ変換を
行い制御回路６に出力する。制御回路６はこの信号をデ
ータ処理して表示回路１５により受光信号の強度を表示
する。同時にタイミング発生回路７からの出力信号「Ｈ
1 」は発光回路９に入力されて、発光素子９Ａから光制
御装置などの受光部１８の受光用光ファイバ２にパルス
光信号を投光する。なお図５（２）において、時間ＰW
は受光信号の受光時間であり、Ａ／Ｄ変換回路５のサン
プリング用クロック、すなわち遅延回路８の出力信号の
出力時刻はこの受光時間ＰW 内に収まるよう遅れ時間Ｔ
S を定めるようにする。またＡ／Ｄ変換回路５は受光時
間ＰW 内にサンプリングを終了する必要があるので高速
のフラッシュ形Ａ／Ｄコンバータなどが好適である。
光信号がパルス光信号の場合について説明する。この場
合は光電変換回路３からパルス波形の電気信号が出力さ
れ、増幅回路４およびタイミング発生回路７に入力され
る。図５（１）は光電変換回路３の出力信号波形を示
し、光電変換回路３の動作時間により安定値に達するま
でに時間ｔｒ1 の遅れを生じている。図５（２）は増幅
回路４の出力信号波形を示し、光電変換回路３および増
幅回路４の動作時間によって安定値に達するまでに更に
大きな時間ｔｒ2 の遅れを生じている。図５（１）に示
す光電変換回路３の出力信号がｑで示されるしきい値に
達したとき、図５（３）に示すようにタイミング発生回
路７は「Ｈ1 」の信号を出力する。この出力信号
「Ｈ1 」は遅延回路８に入力され、遅延回路８は図５
（４）に示すように前記の遅れ時間ｔｒ2 より大きいＴ
S の遅れ時間で「Ｈ2 」の信号を出力する。この出力信
号「Ｈ2 」はＡ／Ｄ変換回路５にサンプリング用クロッ
クとして入力され、Ａ／Ｄ変換回路５は安定値に達した
増幅回路４の出力信号をサンプリングしてＡ／Ｄ変換を
行い制御回路６に出力する。制御回路６はこの信号をデ
ータ処理して表示回路１５により受光信号の強度を表示
する。同時にタイミング発生回路７からの出力信号「Ｈ
1 」は発光回路９に入力されて、発光素子９Ａから光制
御装置などの受光部１８の受光用光ファイバ２にパルス
光信号を投光する。なお図５（２）において、時間ＰW
は受光信号の受光時間であり、Ａ／Ｄ変換回路５のサン
プリング用クロック、すなわち遅延回路８の出力信号の
出力時刻はこの受光時間ＰW 内に収まるよう遅れ時間Ｔ
S を定めるようにする。またＡ／Ｄ変換回路５は受光時
間ＰW 内にサンプリングを終了する必要があるので高速
のフラッシュ形Ａ／Ｄコンバータなどが好適である。
【００１２】前述したように、この第１の使用方法では
光制御装置などを運転した状態でその光信号の強度を測
定することができる。また、図１の外部操作回路１４は
光テスタの使用方法の切換，発光素子のオン・オフ制御
および発光素子の光強度の設定を外部から行うもので、
前述の第１の使用方法への切換およびこの第１の使用方
法における連続光信号の測定とパルス光信号測定との切
換は、この外部操作回路１４から制御回路６に制御信号
を入力することによって行われる。
光制御装置などを運転した状態でその光信号の強度を測
定することができる。また、図１の外部操作回路１４は
光テスタの使用方法の切換，発光素子のオン・オフ制御
および発光素子の光強度の設定を外部から行うもので、
前述の第１の使用方法への切換およびこの第１の使用方
法における連続光信号の測定とパルス光信号測定との切
換は、この外部操作回路１４から制御回路６に制御信号
を入力することによって行われる。
【００１３】更に、前記第１の使用方法において、この
外部操作回路１４から発光レベル設定回路１２に設定値
を入力すると、発光制御回路１１はこの設定値と、外部
操作回路１４から制御回路６を介して送られる制御信号
とを受けて発光回路９を駆動し、発光素子９Ａから出力
される投光信号の強度を変化できる。従って光制御装置
などを運転しながら、かつその光信号の強度を変化させ
たときの動作特性が測定できる。
外部操作回路１４から発光レベル設定回路１２に設定値
を入力すると、発光制御回路１１はこの設定値と、外部
操作回路１４から制御回路６を介して送られる制御信号
とを受けて発光回路９を駆動し、発光素子９Ａから出力
される投光信号の強度を変化できる。従って光制御装置
などを運転しながら、かつその光信号の強度を変化させ
たときの動作特性が測定できる。
【００１４】図３は本発明の光テスタの第２の使用方法
を示す系統図であり、例えば投受光同期形光制御装置
（光信号を投光する期間に同期してこの期間のみ受光可
能とし、外部光ノイズの影響を低減するようにした光制
御装置）２０の投光用光ファイバ１と受光用光ファイバ
２との間にこの光テスタ１９が接続される。この光テス
タ１９は光制御装置などに接続される光スイッチの代替
として用いられたもので、光スイッチが接続されたとき
の光制御装置の動作特性を測定できる。この場合、外部
操作回路１４によって受光信号の強度から光スイッチの
損失に相当する光強度の低下分を差し引いた強度の投光
信号を投光するようにすることで光スイッチの損失と等
価にすることができる。更に、投光信号の強度を変える
ことにより接続される光スイッチの損失が変化したとき
の光制御装置の動作特性が測定できる。
を示す系統図であり、例えば投受光同期形光制御装置
（光信号を投光する期間に同期してこの期間のみ受光可
能とし、外部光ノイズの影響を低減するようにした光制
御装置）２０の投光用光ファイバ１と受光用光ファイバ
２との間にこの光テスタ１９が接続される。この光テス
タ１９は光制御装置などに接続される光スイッチの代替
として用いられたもので、光スイッチが接続されたとき
の光制御装置の動作特性を測定できる。この場合、外部
操作回路１４によって受光信号の強度から光スイッチの
損失に相当する光強度の低下分を差し引いた強度の投光
信号を投光するようにすることで光スイッチの損失と等
価にすることができる。更に、投光信号の強度を変える
ことにより接続される光スイッチの損失が変化したとき
の光制御装置の動作特性が測定できる。
【００１５】なお、前記光スイッチの損失に相当する光
強度の低下分の設定は前述のように外部から外部操作回
路１４を用いて行ってもよいし、制御回路６に予めプロ
グラムをメモリしておき自動設定するようにしてもよ
い。図４は本発明の光テスタの第３の使用方法を示す系
統図であり、光スイッチ２１の投光用光ファイバ１と受
光用光ファイバ２との間に光テスタ１９を接続したもの
である。この光テスタ１９は光制御装置などの代替とし
て用いたもので、光テスタ１９の発光回路９の発光素子
９Ａから受光用光ファイバ２に投光された投光信号は光
スイッチ２１を通して投光用光ファイバ１に帰還され、
この投光用光ファイバ１から投光された光信号を光電変
換回路３の受光素子３Ａで受光し、前記投光信号の強度
とこの受光信号の強度の差から光スイッチ２１および光
ファイバ１，２を含む光経路の損失を測定できる。
強度の低下分の設定は前述のように外部から外部操作回
路１４を用いて行ってもよいし、制御回路６に予めプロ
グラムをメモリしておき自動設定するようにしてもよ
い。図４は本発明の光テスタの第３の使用方法を示す系
統図であり、光スイッチ２１の投光用光ファイバ１と受
光用光ファイバ２との間に光テスタ１９を接続したもの
である。この光テスタ１９は光制御装置などの代替とし
て用いたもので、光テスタ１９の発光回路９の発光素子
９Ａから受光用光ファイバ２に投光された投光信号は光
スイッチ２１を通して投光用光ファイバ１に帰還され、
この投光用光ファイバ１から投光された光信号を光電変
換回路３の受光素子３Ａで受光し、前記投光信号の強度
とこの受光信号の強度の差から光スイッチ２１および光
ファイバ１，２を含む光経路の損失を測定できる。
【００１６】また、第３の使用方法において、発振回路
１３で発光回路９を駆動し、発光素子９Ａからパルス光
信号を投光すると同時にタイミング発生回路７，遅延回
路８を通してＡ／Ｄ変換回路５にサンプリング用クロッ
クを入力することにより、投受光同期形光制御装置など
の代替として用いることができる。前述したように投受
光同期形とすることにより外部のノイズ光の影響を低減
できるので、例えば光経路の損失測定などにおいて測定
精度が向上する。
１３で発光回路９を駆動し、発光素子９Ａからパルス光
信号を投光すると同時にタイミング発生回路７，遅延回
路８を通してＡ／Ｄ変換回路５にサンプリング用クロッ
クを入力することにより、投受光同期形光制御装置など
の代替として用いることができる。前述したように投受
光同期形とすることにより外部のノイズ光の影響を低減
できるので、例えば光経路の損失測定などにおいて測定
精度が向上する。
【００１７】図６は図１の電源回路１６の動作を示す波
形図である。前述したように、光電変換回路３の受光素
子３Ａで受光信号を受光し、同時に発光回路９の発光素
子９Ａで投光信号を投光するには、随時受光および投光
を行う必要があり、関連の回路は常時動作しておく必要
があるが、受光信号の強度測定のための専用の信号処理
回路、すなわち増幅回路４，Ａ／Ｄ変換回路５および遅
延回路８は測定値の表示更新のときに信号処理に必要な
時間だけ動作させればよい。従ってこの専用の信号処理
回路には図６（２）に示すように表示更新周期Ｔ2 ごと
に信号処理に必要な時間Ｔ1 の間だけ、制御電圧Ｖ２を
オンして動作させるようにする。Ａ／Ｄコンバータは通
常消費電力が大きいので、このように専用の信号処理回
路の動作時間を短くすることは消費電力節減の効果が大
きい。なお、その他の回路には図６（１）に示すように
常時制御電圧Ｖ１をオンして動作させる。
形図である。前述したように、光電変換回路３の受光素
子３Ａで受光信号を受光し、同時に発光回路９の発光素
子９Ａで投光信号を投光するには、随時受光および投光
を行う必要があり、関連の回路は常時動作しておく必要
があるが、受光信号の強度測定のための専用の信号処理
回路、すなわち増幅回路４，Ａ／Ｄ変換回路５および遅
延回路８は測定値の表示更新のときに信号処理に必要な
時間だけ動作させればよい。従ってこの専用の信号処理
回路には図６（２）に示すように表示更新周期Ｔ2 ごと
に信号処理に必要な時間Ｔ1 の間だけ、制御電圧Ｖ２を
オンして動作させるようにする。Ａ／Ｄコンバータは通
常消費電力が大きいので、このように専用の信号処理回
路の動作時間を短くすることは消費電力節減の効果が大
きい。なお、その他の回路には図６（１）に示すように
常時制御電圧Ｖ１をオンして動作させる。
【００１８】なお、受光素子３Ａを有する光電変換回路
３は受光用光電変換手段を構成し、増幅回路４およびＡ
／Ｄ変換回路５は受光強度測定手段を構成し、発光素子
９Ａを有する発光回路９およびタイミング発生回路７は
投光手段を構成し、発光レベル設定回路１２および発光
制御回路１１は投光強度制御手段を構成し、タイミング
発生回路７および遅延回路８は受光信号遅延手段を構成
し、発振回路１３およびタイミング発生回路７は信号同
期手段を構成している。
３は受光用光電変換手段を構成し、増幅回路４およびＡ
／Ｄ変換回路５は受光強度測定手段を構成し、発光素子
９Ａを有する発光回路９およびタイミング発生回路７は
投光手段を構成し、発光レベル設定回路１２および発光
制御回路１１は投光強度制御手段を構成し、タイミング
発生回路７および遅延回路８は受光信号遅延手段を構成
し、発振回路１３およびタイミング発生回路７は信号同
期手段を構成している。
【００１９】
【発明の効果】本発明の光テスタは、光制御装置などを
運転しながらこの投光用光ファイバから投光される光信
号の強度を測定でき、更にこの光テスタの投光信号の強
度を変えることにより、光制御装置などの光信号の強度
を変えたときの光制御装置などの動作特性を精度良く測
定できる。更にまた、光制御装置などに接続される光ス
イッチの代替として、光スイッチの損失が変化したとき
の光制御装置などの動作特性を精度良く測定できる。更
にまた、光スイッチが接続される光制御装置などの代替
として、光スイッチ，光ファイバなどを含む光経路の損
失が精度良く測定できる。しかも受光信号の強さを測定
する時間のみ信号処理回路を動作させるようにしたの
で、電力消費が低くバッテリ駆動などによる可搬式にも
なる。これらを総合して光スイッチとしての機能および
性能が著るしく向上し、光制御装置などの動作試験，保
守，点検に対して極めて有効である。
運転しながらこの投光用光ファイバから投光される光信
号の強度を測定でき、更にこの光テスタの投光信号の強
度を変えることにより、光制御装置などの光信号の強度
を変えたときの光制御装置などの動作特性を精度良く測
定できる。更にまた、光制御装置などに接続される光ス
イッチの代替として、光スイッチの損失が変化したとき
の光制御装置などの動作特性を精度良く測定できる。更
にまた、光スイッチが接続される光制御装置などの代替
として、光スイッチ，光ファイバなどを含む光経路の損
失が精度良く測定できる。しかも受光信号の強さを測定
する時間のみ信号処理回路を動作させるようにしたの
で、電力消費が低くバッテリ駆動などによる可搬式にも
なる。これらを総合して光スイッチとしての機能および
性能が著るしく向上し、光制御装置などの動作試験，保
守，点検に対して極めて有効である。
【図１】本発明の光テスタの一実施例を示す回路図
【図２】図１に示す本発明の光テスタの第１の使用方法
を示す系統図
を示す系統図
【図３】図１に示す本発明の光テスタの第２の使用方法
を示す系統図
を示す系統図
【図４】図１に示す本発明の光テスタの第３の使用方法
を示す系統図
を示す系統図
【図５】図１に示す本発明の光テスタの動作波形図
【図６】図１に示す本発明の光テスタの動作波形図
１ 投光用光ファイバ ２ 受光用光ファイバ ３Ａ 受光素子 ３ 光電変換回路 ４ 増幅回路 ５ Ａ／Ｄ変換回路 ６ 制御回路 ７ タイミング発生回路 ８ 遅延回路 ９Ａ 発光素子 ９ 発光回路 １１ 発光制御回路 １２ 発光レベル設定回路 １３ 発振回路 １４ 外部操作回路 １５ 表示回路 １６ 電源回路
フロントページの続き (72)発明者 糸賀 一穂 神奈川県川崎市川崎区田辺新田１番１号 富士電機株式会社内
Claims (5)
- 【請求項１】投光用光ファイバから投光される光信号
（以下受光信号と称する）を受光し電気信号に変換する
受光素子を有する受光用光電変換手段と、この受光用光
電変換手段の出力信号から前記受光信号の強度を測定す
る受光強度測定手段と、この受光用光電変換手段の出力
信号が入力され前記受光信号に同期した光信号（以下投
光信号と称する）を受光用光ファイバに投光する発光素
子を有する投光手段とを備えたことを特徴とする光テス
タ。 - 【請求項２】請求項１記載の光テスタにおいて、投光手
段からの投光信号の強度を制御する投光強度制御手段を
設けたことを特徴とする光テスタ。 - 【請求項３】請求項１あるいは２記載の光テスタにおい
て、受光用光電変換手段の出力信号を所定時間遅延して
受光強度測定手段に入力する受光信号遅延手段を設けた
ことを特徴とする光テスタ。 - 【請求項４】請求項１ないし３記載の光テスタにおい
て、投光手段からの投光信号の投光タイミングと、受光
強度測定手段の受光用光電変換手段の出力信号サンプリ
ングタイミングとの同期をとる信号同期手段を設けたこ
とを特徴とする光テスタ。 - 【請求項５】請求項１ないし４記載の光テスタにおい
て、受光強度測定手段の信号処理回路の電源を他の回路
の電源と別系統の電源とし、この信号処理回路に受光信
号の強度測定期間のみ電圧を印加して動作させることを
特徴とする光テスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4282094A JPH06129905A (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 光テスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4282094A JPH06129905A (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 光テスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06129905A true JPH06129905A (ja) | 1994-05-13 |
Family
ID=17648047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4282094A Pending JPH06129905A (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 光テスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06129905A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105841932A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-08-10 | 深圳凯世光研股份有限公司 | 一种影院放映机的光质量测试系统及其使用方法 |
-
1992
- 1992-10-21 JP JP4282094A patent/JPH06129905A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105841932A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-08-10 | 深圳凯世光研股份有限公司 | 一种影院放映机的光质量测试系统及其使用方法 |
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