JPH0612725A - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
- Publication number
- JPH0612725A JPH0612725A JP5073316A JP7331693A JPH0612725A JP H0612725 A JPH0612725 A JP H0612725A JP 5073316 A JP5073316 A JP 5073316A JP 7331693 A JP7331693 A JP 7331693A JP H0612725 A JPH0612725 A JP H0612725A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light beam
- reflected
- phase
- recording medium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は光磁気ディスクを通じて情報を記録
再生する光ピックアップにおいて、光量変動の影響を受
けないきれいな再生と信号対雑音の比の向上とを実現す
る。 【構成】 本発明の光ピックアップは、光磁気ディスク
の反射光ビームをビーム軸に垂直な平面上の直交する２
方向へ回折させる位相回折格子を具備する。その位相回
折格子の回折光は各方向の位相が異なり、その位相は光
磁気ディスクの磁気光学効果により回転する偏光角度に
よって変化する。その位相変化に起因する２方向の回折
光の強度変化から再生信号を検出する。又、位相回折格
子の回折光を集束レンズで集束して光磁気ディスクの振
動によるフォーカスエラー信号をその回折光の振幅変化
より検出する。
再生する光ピックアップにおいて、光量変動の影響を受
けないきれいな再生と信号対雑音の比の向上とを実現す
る。 【構成】 本発明の光ピックアップは、光磁気ディスク
の反射光ビームをビーム軸に垂直な平面上の直交する２
方向へ回折させる位相回折格子を具備する。その位相回
折格子の回折光は各方向の位相が異なり、その位相は光
磁気ディスクの磁気光学効果により回転する偏光角度に
よって変化する。その位相変化に起因する２方向の回折
光の強度変化から再生信号を検出する。又、位相回折格
子の回折光を集束レンズで集束して光磁気ディスクの振
動によるフォーカスエラー信号をその回折光の振幅変化
より検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光記録媒体に光ビーム
(light beam)を投射しその光記録媒体から反射する光ビ
ームを検知して情報の光学的な記録と再生動作を遂行す
る光ピックアップに係り、特に光記録媒体の反射光ビー
ムを回折させ回折光の位相変化により記録情報を解読す
る光ピックアップに関するものである。
(light beam)を投射しその光記録媒体から反射する光ビ
ームを検知して情報の光学的な記録と再生動作を遂行す
る光ピックアップに係り、特に光記録媒体の反射光ビー
ムを回折させ回折光の位相変化により記録情報を解読す
る光ピックアップに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般的に、光磁気ディスクを通じて情報
を記録再生する光ピックアップは、その光磁気ディスク
の記録部分の磁気光学効果(Kerr effect) により偏光角
度の回転した反射光ビームを検出することにより、その
記録情報を解読する。
を記録再生する光ピックアップは、その光磁気ディスク
の記録部分の磁気光学効果(Kerr effect) により偏光角
度の回転した反射光ビームを検出することにより、その
記録情報を解読する。
【０００３】図１を参照してその検出過程を更に具体的
に説明する。
に説明する。
【０００４】図１は光軸ディスクを通じて情報を記録再
生する従来の光ピックアップを簡単に示したものであ
る。
生する従来の光ピックアップを簡単に示したものであ
る。
【０００５】レーザダイオード１より放出される光ビー
ムは直線偏波である。この直線偏波の光ビームはコリメ
ータレンズ２によりビーム軸に平行に進行する。ビーム
整形分離プリズム３はその光ビームの断面を真円に整形
し、その一部がモニタ光検出器４に向かい残りが直進す
るよう分離させる。ビーム整形分離プリズム３を通じて
直進する直線偏光の光ビームは、対物レンズ５により光
磁気ディスク６に集束される。
ムは直線偏波である。この直線偏波の光ビームはコリメ
ータレンズ２によりビーム軸に平行に進行する。ビーム
整形分離プリズム３はその光ビームの断面を真円に整形
し、その一部がモニタ光検出器４に向かい残りが直進す
るよう分離させる。ビーム整形分離プリズム３を通じて
直進する直線偏光の光ビームは、対物レンズ５により光
磁気ディスク６に集束される。
【０００６】光磁気ディスク６より反射される反射光ビ
ームは、対物レンズ５を逆に通過した後、ビーム整形分
離プリズム３によりその一部がレーザダイオード１に直
進し、残りが集束レンズ７に向かうようになる。集束レ
ンズ７に向った反射光ビームの一部は反射形のナイフエ
ッジプリズム８で反射されて１／２波長板９に向かい、
その残りがそのまま通過してフォーカス用光検出器１０
に達する。前記光磁気ディスク６の記録部分から反射さ
れる光ビームは、磁気光学効果によりその直線偏波の偏
光角度が回転した状態となる。１／２波長板９は偏光角
度の回転した直線偏波のみを通過させる。
ームは、対物レンズ５を逆に通過した後、ビーム整形分
離プリズム３によりその一部がレーザダイオード１に直
進し、残りが集束レンズ７に向かうようになる。集束レ
ンズ７に向った反射光ビームの一部は反射形のナイフエ
ッジプリズム８で反射されて１／２波長板９に向かい、
その残りがそのまま通過してフォーカス用光検出器１０
に達する。前記光磁気ディスク６の記録部分から反射さ
れる光ビームは、磁気光学効果によりその直線偏波の偏
光角度が回転した状態となる。１／２波長板９は偏光角
度の回転した直線偏波のみを通過させる。
【０００７】１／２波長板９を通過した反射光ビーム
は、再び偏光ビームスプリッタ１１により２つの成分に
偏光分離され、２つの再生用光検出器１２，１３に各々
達するようになる。光磁気ディスクに記録された情報の
再生信号はその２つの光検出器１２，１３の差動信号に
より得られる。即ち、従来の光磁気ディスク用の光ピッ
クアップは、偏光角度の回転した反射光ビームを２成分
に偏光分離させ、その２成分の間の光量の差による差動
信号を検出することにより情報を解読した。
は、再び偏光ビームスプリッタ１１により２つの成分に
偏光分離され、２つの再生用光検出器１２，１３に各々
達するようになる。光磁気ディスクに記録された情報の
再生信号はその２つの光検出器１２，１３の差動信号に
より得られる。即ち、従来の光磁気ディスク用の光ピッ
クアップは、偏光角度の回転した反射光ビームを２成分
に偏光分離させ、その２成分の間の光量の差による差動
信号を検出することにより情報を解読した。
【０００８】このような従来の光ピックアップにおいて
は、光磁気ディスクの非記録部分の反射光ビームの一部
がレーザダイオードに再入射される。従って、レーザダ
イオードの光発振作用が非常に不安定となり雑音が発生
する。そのような雑音発生を抑制するために高価な高周
波発振器でレーザダイオードを駆動しなければならない
問題点があった。又、前記のビーム整形分離プリズムと
ナイフエッジプリズム及び偏光ビームスプリッタの各々
から光ビームが分離されるだけに、光検出素子群の各々
に達する光量は大変少なくなる。従って、信号対雑音の
比(signal-to-noise ratio) が低いのは勿論、光量の変
動が激しくなる場合に対物レンズのサーボ制御にエラー
が発生する問題が生じる。
は、光磁気ディスクの非記録部分の反射光ビームの一部
がレーザダイオードに再入射される。従って、レーザダ
イオードの光発振作用が非常に不安定となり雑音が発生
する。そのような雑音発生を抑制するために高価な高周
波発振器でレーザダイオードを駆動しなければならない
問題点があった。又、前記のビーム整形分離プリズムと
ナイフエッジプリズム及び偏光ビームスプリッタの各々
から光ビームが分離されるだけに、光検出素子群の各々
に達する光量は大変少なくなる。従って、信号対雑音の
比(signal-to-noise ratio) が低いのは勿論、光量の変
動が激しくなる場合に対物レンズのサーボ制御にエラー
が発生する問題が生じる。
【０００９】米国特許第５，１１５，４２０号に開示さ
れた技術によると、対物レンズのサーボ制御機能を強化
するために信号対雑音の比を向上させることが出来る。
即ち、ビームスプリッタの一側で損したライトビームを
ミラーで遮断させ、それが記録媒体の反射光ビームと相
干渉して結合されるようにする。
れた技術によると、対物レンズのサーボ制御機能を強化
するために信号対雑音の比を向上させることが出来る。
即ち、ビームスプリッタの一側で損したライトビームを
ミラーで遮断させ、それが記録媒体の反射光ビームと相
干渉して結合されるようにする。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記技
術によっても反射光ビームの一部がレーザダイオードに
再入射するのを防げず、なお激しい光量変動によるサー
ボ制御エラーの問題がある。前記の問題点の原因は、概
ね偏光角度の回転した反射光ビームだけでは対物レンズ
のフォーカシング及びトラッキングサーボのための制御
信号検出が不可能な点にある。
術によっても反射光ビームの一部がレーザダイオードに
再入射するのを防げず、なお激しい光量変動によるサー
ボ制御エラーの問題がある。前記の問題点の原因は、概
ね偏光角度の回転した反射光ビームだけでは対物レンズ
のフォーカシング及びトラッキングサーボのための制御
信号検出が不可能な点にある。
【００１１】本発明の目的は、光磁気記録媒体の反射光
ビームを記録媒体の記録情報により各方向に位相差が誘
発されるよう他の方向へ回折させ、その位相差より情報
の解読が可能な光回路を具備することにより、雑音発生
が抑制され、信号対雑音の比が極大化された記録再生用
の光ピックアップを提供する。
ビームを記録媒体の記録情報により各方向に位相差が誘
発されるよう他の方向へ回折させ、その位相差より情報
の解読が可能な光回路を具備することにより、雑音発生
が抑制され、信号対雑音の比が極大化された記録再生用
の光ピックアップを提供する。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の光ピックアップは、光ビームを発生する光
発生素子と、前記光発生素子より発生した光ビームを光
記録媒体上に集束して投射する対物レンズと、前記光発
生素子より対物レンズに向かう入射光と前記光記録媒体
からの反射光ビームとを分離する分離手段と、集束レン
ズ要素により集束される反射光ビームをそのビーム軸に
垂直な面上の直交する２方向へ回折させる位相回折手段
と、前記位相回折手段により回折される反射光ビームの
回折光から所定の信号を検出する検出手段とを備えるこ
とを特徴とする光ピックアップを提供する。
に、本発明の光ピックアップは、光ビームを発生する光
発生素子と、前記光発生素子より発生した光ビームを光
記録媒体上に集束して投射する対物レンズと、前記光発
生素子より対物レンズに向かう入射光と前記光記録媒体
からの反射光ビームとを分離する分離手段と、集束レン
ズ要素により集束される反射光ビームをそのビーム軸に
垂直な面上の直交する２方向へ回折させる位相回折手段
と、前記位相回折手段により回折される反射光ビームの
回折光から所定の信号を検出する検出手段とを備えるこ
とを特徴とする光ピックアップを提供する。
【００１３】
【作用】本発明においては、反射光ビームが前記位相回
折格子によりそのビーム軸に垂直な面上の直交する２方
向へ各々回折される。光磁気ディスクの記録部分と非記
録部分より反射される反射光ビームとの偏光角度が変化
すれば、前記位相回折格子の回折率が変わり、その回折
光の光量（強度）も変化する。従って、その回折光の光
量変化より再生信号検出が可能である。のみならず、位
相回折格子の回折率はその反射光ビームの入射角によっ
ても変わるので、回折光の集束の際に振幅を変化させる
ことが可能である。言い換えれば、回折光より対物レン
ズのフォーカスエラー信号などのサーボ制御用信号の検
出も可能となる。即ち、本発明によると、再生信号と制
御信号との検出のため反射光ビームを分離させる必要が
ない。そこで、本発明では前記光路分離手段を適切に提
供することにより、光記録媒体の反射光ビームが光発生
素子に再入射することが防げる。
折格子によりそのビーム軸に垂直な面上の直交する２方
向へ各々回折される。光磁気ディスクの記録部分と非記
録部分より反射される反射光ビームとの偏光角度が変化
すれば、前記位相回折格子の回折率が変わり、その回折
光の光量（強度）も変化する。従って、その回折光の光
量変化より再生信号検出が可能である。のみならず、位
相回折格子の回折率はその反射光ビームの入射角によっ
ても変わるので、回折光の集束の際に振幅を変化させる
ことが可能である。言い換えれば、回折光より対物レン
ズのフォーカスエラー信号などのサーボ制御用信号の検
出も可能となる。即ち、本発明によると、再生信号と制
御信号との検出のため反射光ビームを分離させる必要が
ない。そこで、本発明では前記光路分離手段を適切に提
供することにより、光記録媒体の反射光ビームが光発生
素子に再入射することが防げる。
【００１４】
【実施例】以下、添付した図面に基づき本発明の一実施
例を詳細に説明する。
例を詳細に説明する。
【００１５】本発明による望ましい実施例の光ピックア
ップの構成は図２の通りである。
ップの構成は図２の通りである。
【００１６】図２でレーザダイオード１はほぼ全ての方
向へ振動する光ビームを発生する。コリメータレンズ２
はその光ビームをビーム軸に平行に進行させる。ビーム
整形分離プリズム３′は、その平行に進行する光ビーム
の断面を真円に整形し、その一部がモニタ用の光検出器
４に向かい、残りが対物レンズ５により光磁気ディスク
６に集束されるよう分離させる。
向へ振動する光ビームを発生する。コリメータレンズ２
はその光ビームをビーム軸に平行に進行させる。ビーム
整形分離プリズム３′は、その平行に進行する光ビーム
の断面を真円に整形し、その一部がモニタ用の光検出器
４に向かい、残りが対物レンズ５により光磁気ディスク
６に集束されるよう分離させる。
【００１７】ここで、本実施例では、光磁気ディスク６
より戻って来る反射光ビームがレーザダイオード１に再
入射できないようするために、ビーム整形分離プリズム
３′に偏光コーティング部３ａを形成し、ビーム整形分
離プリズム３′と対物レンズ５との間に１／４波長板１
４を備える。それで、レーザダイオード１から光磁気デ
ィスク５に向かう光ビームの中、所定角度の直線偏波成
分のみがビーム整形分離プリズム３′の偏光コーティン
グ３ａを透過し、残りがモニタ用の光検出器４に達す
る。
より戻って来る反射光ビームがレーザダイオード１に再
入射できないようするために、ビーム整形分離プリズム
３′に偏光コーティング部３ａを形成し、ビーム整形分
離プリズム３′と対物レンズ５との間に１／４波長板１
４を備える。それで、レーザダイオード１から光磁気デ
ィスク５に向かう光ビームの中、所定角度の直線偏波成
分のみがビーム整形分離プリズム３′の偏光コーティン
グ３ａを透過し、残りがモニタ用の光検出器４に達す
る。
【００１８】即ち、ビーム整形分離プリズム３′を直進
する光ビームは直線偏波である。この直線偏波の光ビー
ムは１／４波長板１４を通過しながら円偏波に変わる。
従って、対物レンズ５により集束される入射光ビームは
円偏波で、光磁気ディスク６からの反射光ビームも円偏
波である。円偏波の反射光ビームが対物レンズ５を逆に
通過して再び１／４波長板１４を過ぎると、その円偏波
は入射光ビームの直線偏波から９０o 回転した別の直線
偏波となる。従って、反射光ビームはビーム整形分離プ
リズム３′の偏光コーティング部３ａを透過できず、全
光量が位相回折格子１５の方向に反射される。
する光ビームは直線偏波である。この直線偏波の光ビー
ムは１／４波長板１４を通過しながら円偏波に変わる。
従って、対物レンズ５により集束される入射光ビームは
円偏波で、光磁気ディスク６からの反射光ビームも円偏
波である。円偏波の反射光ビームが対物レンズ５を逆に
通過して再び１／４波長板１４を過ぎると、その円偏波
は入射光ビームの直線偏波から９０o 回転した別の直線
偏波となる。従って、反射光ビームはビーム整形分離プ
リズム３′の偏光コーティング部３ａを透過できず、全
光量が位相回折格子１５の方向に反射される。
【００１９】位相回折格子１５の構造は図３に示す通り
である。
である。
【００２０】基板１６上に碁盤縞のように形成された多
数の突出部１７を有する構造である。多数の突出部１７
は基板１６の厚さの方向と一致するＸ軸を縦軸にする３
次元座標を基準にして、互いに深さの異なるＹ軸方向の
溝のグループ１８とＺ軸方向の溝のグループ１９とによ
り区切られたものである。この位相回折格子１５はＹ軸
方向とＺ軸方向の屈折率が互いに異なる。従って、反射
光ビームは位相回折格子１５によりＹ軸方向とＺ軸方向
とに各々回折するようになり、各方向の回折光には位相
差が生じる。
数の突出部１７を有する構造である。多数の突出部１７
は基板１６の厚さの方向と一致するＸ軸を縦軸にする３
次元座標を基準にして、互いに深さの異なるＹ軸方向の
溝のグループ１８とＺ軸方向の溝のグループ１９とによ
り区切られたものである。この位相回折格子１５はＹ軸
方向とＺ軸方向の屈折率が互いに異なる。従って、反射
光ビームは位相回折格子１５によりＹ軸方向とＺ軸方向
とに各々回折するようになり、各方向の回折光には位相
差が生じる。
【００２１】再び図２を参照すれば、本実施例では位相
回折格子１５により回折する回折光を集束レンズ７で集
束する。そして、各方向の±１次回折光を４つの光検出
器２０ａ，２０ｂ，２１ａ，２１ｂにより各々検出す
る。４つの光検出器２０ａ，２０ｂ，２１ａ，２１ｂは
位相回折格子１５の回折中心から同一球面上で上下左右
に配置されたものである（図５参照）。
回折格子１５により回折する回折光を集束レンズ７で集
束する。そして、各方向の±１次回折光を４つの光検出
器２０ａ，２０ｂ，２１ａ，２１ｂにより各々検出す
る。４つの光検出器２０ａ，２０ｂ，２１ａ，２１ｂは
位相回折格子１５の回折中心から同一球面上で上下左右
に配置されたものである（図５参照）。
【００２２】以上のような本実施例の光ピックアップに
おいて、位相回折格子１５の回折特性を説明すれば次の
通りである。
おいて、位相回折格子１５の回折特性を説明すれば次の
通りである。
【００２３】図４Ａ及び図４Ｂで示したように、Ｙ軸方
向のグループ１８の深さをｈY 、Ｚ軸方向のグループ１
９の深さをｈZ とし、位相回折格子１５を通過した１次
回折光のＹ軸及びＺ軸方向の位相を各々δY とδZ とす
れば、各々の位相は、 δY ＝２πηY ｈY ／λ δZ ＝２πηZ ｈZ ／λ と表現される。ここで、ηY とηZ とは位相回折格子１
５のＹ軸及びＺ軸方向の屈折率、λは光の波長である。
向のグループ１８の深さをｈY 、Ｚ軸方向のグループ１
９の深さをｈZ とし、位相回折格子１５を通過した１次
回折光のＹ軸及びＺ軸方向の位相を各々δY とδZ とす
れば、各々の位相は、 δY ＝２πηY ｈY ／λ δZ ＝２πηZ ｈZ ／λ と表現される。ここで、ηY とηZ とは位相回折格子１
５のＹ軸及びＺ軸方向の屈折率、λは光の波長である。
【００２４】本実施例では、光磁気ディスク５の非記録
部分から反射される反射光ビームの直線偏波を、位相回
折格子１５のＹＺ平面の対角線方向４５o に合わせる。
その時±１次回折光のＹ軸とＺ軸方向の位相差が１８０
o になるよう、望ましくは各々の位相がπ／２と３π／
２になるよう、各々のｈY とｈZ とを設定する。
部分から反射される反射光ビームの直線偏波を、位相回
折格子１５のＹＺ平面の対角線方向４５o に合わせる。
その時±１次回折光のＹ軸とＺ軸方向の位相差が１８０
o になるよう、望ましくは各々の位相がπ／２と３π／
２になるよう、各々のｈY とｈZ とを設定する。
【００２５】光磁気ディスク６の記録部分から反射され
る反射光ビームの直線偏波が磁気光学効果により所定の
角度ほど回転した場合に、前記位相回折格子１５による
±１次回折光の位相は変化する。その位相変化をΔδと
する。その時、Ｙ及びＺ方向に回折する±１次回折光の
光強度を各々I(Y)及びI(Z)とすれば、各々の光強度は、 I(Y)＝（１／２）I0(Y) ｛１＋ｃｏｓ（π／２＋Δδ）｝ ＝（１／２）I0(Y) ｛１−ｓｉｎ（Δδ）｝ …（１） I(Z)＝（１／２）I0(Z) ｛１＋ｃｏｓ（３π／２＋Δδ）｝ ＝（１／２）I0(Z) ｛１＋ｓｉｎ（Δδ）｝ …（２） となる。ここで、I0(Y) とI0(Z) は、光磁気ディスク６
の非記録部分から反射される反射光ビームが位相回折格
子１５に入射する場合の、反射光ビームのＹ軸成分とＺ
軸成分との光強度を示す。
る反射光ビームの直線偏波が磁気光学効果により所定の
角度ほど回転した場合に、前記位相回折格子１５による
±１次回折光の位相は変化する。その位相変化をΔδと
する。その時、Ｙ及びＺ方向に回折する±１次回折光の
光強度を各々I(Y)及びI(Z)とすれば、各々の光強度は、 I(Y)＝（１／２）I0(Y) ｛１＋ｃｏｓ（π／２＋Δδ）｝ ＝（１／２）I0(Y) ｛１−ｓｉｎ（Δδ）｝ …（１） I(Z)＝（１／２）I0(Z) ｛１＋ｃｏｓ（３π／２＋Δδ）｝ ＝（１／２）I0(Z) ｛１＋ｓｉｎ（Δδ）｝ …（２） となる。ここで、I0(Y) とI0(Z) は、光磁気ディスク６
の非記録部分から反射される反射光ビームが位相回折格
子１５に入射する場合の、反射光ビームのＹ軸成分とＺ
軸成分との光強度を示す。
【００２６】前記（１）式と（２）式はΔδがπ／２に
比べ十分に小さい場合には、次のように変えることがで
きる。
比べ十分に小さい場合には、次のように変えることがで
きる。
【００２７】 I(Y)≒（１／２）I0(Y) ｛１−Δδ｝ I(Z)≒（１／２）I0(Z) ｛１＋Δδ｝ 即ち、光磁気ディスク６の磁気光学効果により偏光角度
の回転した反射光ビームの±１次回折光には、Ｙ軸方向
とＺ軸方向とにΔδの位相差が生じ、その位相差Δδに
より次のように各方向の±１次回折光の光強度に差が発
生することが分かる。
の回転した反射光ビームの±１次回折光には、Ｙ軸方向
とＺ軸方向とにΔδの位相差が生じ、その位相差Δδに
より次のように各方向の±１次回折光の光強度に差が発
生することが分かる。
【００２８】 ΔＩ＝｜I(Y)−I(Z)｜ ＝｜（１／２){I0(Y)-I0(Z)}−（１／２){I0(Y)+I0(Z)}ｓｉｎ（Δδ）｜ ここで、I0(Y) とI0(Z) は反射光ビームのＹ軸成分とＺ
軸成分との光強度を示し、ＹＺ平面の対角線方向の偏向
であるため、その大きさは等しい。従って、I0＝I0(Y)+
I0(Z) ，I0(Y)=I0(Z) から ΔＩ≒（１／２）I0（Δδ） このような光強度の差は、光磁気ディスク６の記録部分
から反射される反射光ビームの偏光角度の回転に起因す
るものなので、その光強度の差により情報の再生信号検
出が可能であることを意味する。
軸成分との光強度を示し、ＹＺ平面の対角線方向の偏向
であるため、その大きさは等しい。従って、I0＝I0(Y)+
I0(Z) ，I0(Y)=I0(Z) から ΔＩ≒（１／２）I0（Δδ） このような光強度の差は、光磁気ディスク６の記録部分
から反射される反射光ビームの偏光角度の回転に起因す
るものなので、その光強度の差により情報の再生信号検
出が可能であることを意味する。
【００２９】従って、本実施例の光ピックアップにおい
ては、図５に示すように、Ｙ軸方向に対応した光検出器
２０ａ，２０ｂの検出信号とＺ軸方向に対応した光検出
器２１ａ，２１ｂの検出信号とを各々の加算増幅器２
２，２３で加算し、加算増幅器２２，２３の出力を差動
増幅器２４で差動増幅すれば、再生信号が得られる。
ては、図５に示すように、Ｙ軸方向に対応した光検出器
２０ａ，２０ｂの検出信号とＺ軸方向に対応した光検出
器２１ａ，２１ｂの検出信号とを各々の加算増幅器２
２，２３で加算し、加算増幅器２２，２３の出力を差動
増幅器２４で差動増幅すれば、再生信号が得られる。
【００３０】次に、図６Ａ，図６Ｂ，図６Ｃにおいて、
本実施例の光ピックアップでの光磁気ディスクの振動に
よるフォーカスエラー信号を検出するための回路を示
す。図６Ａは光磁気ディスク６が対物レンズ５の焦点距
離にある場合を、図６Ｂは焦点距離より遠い場合を、そ
して図６Ｃは焦点距離より近い場合を各々示す。
本実施例の光ピックアップでの光磁気ディスクの振動に
よるフォーカスエラー信号を検出するための回路を示
す。図６Ａは光磁気ディスク６が対物レンズ５の焦点距
離にある場合を、図６Ｂは焦点距離より遠い場合を、そ
して図６Ｃは焦点距離より近い場合を各々示す。
【００３１】図６Ａ，図６Ｂ及び図６Ｃでは、Ｙ軸方向
の±１次回折光を検出するために２分割光検出器２０
ａ′，２０ｂ′が配置されている。前記２分割光検出器
２０ａ′，２０ｂ′の検出信号を各々差動増幅器２５
ａ，２５ｂで差動増幅した後、その差動増幅器２５ａ，
２５ｂの出力を加算増幅器２６で加算することにより、
所望のフォーカスエラー信号が得られる。
の±１次回折光を検出するために２分割光検出器２０
ａ′，２０ｂ′が配置されている。前記２分割光検出器
２０ａ′，２０ｂ′の検出信号を各々差動増幅器２５
ａ，２５ｂで差動増幅した後、その差動増幅器２５ａ，
２５ｂの出力を加算増幅器２６で加算することにより、
所望のフォーカスエラー信号が得られる。
【００３２】図６Ａの場合、光磁気ディスク６から反射
され、対物レンズ５を通過する反射光ビームは、ビーム
軸と平行に進行する。この平行に進行する反射光ビーム
の位相回折格子１５による±１次回折光は、集束レンズ
７により２分割光検出器２０ａ′，２０ｂ′の中心に向
かって集束される。従って、加算増幅器２６の出力は０
になる。
され、対物レンズ５を通過する反射光ビームは、ビーム
軸と平行に進行する。この平行に進行する反射光ビーム
の位相回折格子１５による±１次回折光は、集束レンズ
７により２分割光検出器２０ａ′，２０ｂ′の中心に向
かって集束される。従って、加算増幅器２６の出力は０
になる。
【００３３】しかしながら、図６Ｂのように光磁気ディ
スク６が対物レンズ５の焦点距離から遠くなっている場
合は、その反射光ビームが集束される形態で位相回折格
子１５と集束レンズ７とを通過する。この際、２分割光
検出器２０ａ′，２０ｂ′のポジティブ（＋）領域で検
知される光ビームの振幅が大きくなる反面、ネガティブ
（−）領域で検知される光ビームの振幅は相対的に小さ
くなる。従って、この場合の加算増幅器２６より出力さ
れるエラー信号はポジティブ値である。
スク６が対物レンズ５の焦点距離から遠くなっている場
合は、その反射光ビームが集束される形態で位相回折格
子１５と集束レンズ７とを通過する。この際、２分割光
検出器２０ａ′，２０ｂ′のポジティブ（＋）領域で検
知される光ビームの振幅が大きくなる反面、ネガティブ
（−）領域で検知される光ビームの振幅は相対的に小さ
くなる。従って、この場合の加算増幅器２６より出力さ
れるエラー信号はポジティブ値である。
【００３４】一方、図６Ｃのように光磁気ディスク６が
対物レンズ５の焦点距離より近くなっている場合は、反
射光ビームが拡散形態で位相回折格子１５と集束レンズ
７とを通過する。この場合は前の場合とは反対であり、
ネガティブ値のフォーカスエラー信号が出力される。
対物レンズ５の焦点距離より近くなっている場合は、反
射光ビームが拡散形態で位相回折格子１５と集束レンズ
７とを通過する。この場合は前の場合とは反対であり、
ネガティブ値のフォーカスエラー信号が出力される。
【００３５】このようにして得られるフォーカスエラー
信号は、通常、対物レンズ５のフォーカシングアクチュ
エータ（図示せず）に送られ、フォーカスエラーが補償
できる。
信号は、通常、対物レンズ５のフォーカシングアクチュ
エータ（図示せず）に送られ、フォーカスエラーが補償
できる。
【００３６】
【発明の効果】以上で説明した通り、本発明の光ピック
アップにおいては、反射光ビームがレーザダイオードに
再入射することがないので雑音発生がほとんどない。従
って、レーザダイオードの駆動が安価にできる。又、本
発明の光ピックアップにおいては、反射光ビームの一部
が損失されず全光量が再生信号及び制御信号検出に利用
されるので、信号対雑音の比が高い。特に、本発明の光
ピックアップでは、光磁気ディスクの偏光方向による回
折光の位相変化に起因する光強度の差で再生信号を検出
し、光磁気ディスクの振動により振幅が変化する回折光
から制御信号を検出するので、その再生信号と制御信号
とは光量の変動による影響をほとんど受けない。従っ
て、本発明は光ピックアップによるきれいな再生と対物
レンズのサーボ制御機能強化に非常に効果的な発明であ
る。
アップにおいては、反射光ビームがレーザダイオードに
再入射することがないので雑音発生がほとんどない。従
って、レーザダイオードの駆動が安価にできる。又、本
発明の光ピックアップにおいては、反射光ビームの一部
が損失されず全光量が再生信号及び制御信号検出に利用
されるので、信号対雑音の比が高い。特に、本発明の光
ピックアップでは、光磁気ディスクの偏光方向による回
折光の位相変化に起因する光強度の差で再生信号を検出
し、光磁気ディスクの振動により振幅が変化する回折光
から制御信号を検出するので、その再生信号と制御信号
とは光量の変動による影響をほとんど受けない。従っ
て、本発明は光ピックアップによるきれいな再生と対物
レンズのサーボ制御機能強化に非常に効果的な発明であ
る。
【図１】従来の光磁気ディスクドライブに使用される光
ピックアップの構成を示した平面図である。
ピックアップの構成を示した平面図である。
【図２】本発明の望ましい実施例による光ピックアップ
の構成を示した平面図である。
の構成を示した平面図である。
【図３】図２で示された回折格子の一部を表した斜視図
である。
である。
【図４Ａ】図３で示された回折格子の格子構造を説明す
る断面図である。
る断面図である。
【図４Ｂ】図３で示された回折格子の格子構造を説明す
る断面図である。
る断面図である。
【図５】本発明の望ましい実施例による光ピックアップ
においての再生信号の検出動作を説明する回路図であ
る。
においての再生信号の検出動作を説明する回路図であ
る。
【図６Ａ】本発明の望ましい実施例による光ピックアッ
プにおいて、光磁気ディスクと対物レンズとの距離が焦
点距離である場合の光ビームの経路に沿って各々のフォ
ーカスエラー信号の検出動作を説明する回路図である。
プにおいて、光磁気ディスクと対物レンズとの距離が焦
点距離である場合の光ビームの経路に沿って各々のフォ
ーカスエラー信号の検出動作を説明する回路図である。
【図６Ｂ】本発明の望ましい実施例による光ピックアッ
プにおいて、光磁気ディスクと対物レンズとの距離が焦
点距離より長い場合の光ビームの経路に沿って各々のフ
ォーカスエラー信号の検出動作を説明する回路図であ
る。
プにおいて、光磁気ディスクと対物レンズとの距離が焦
点距離より長い場合の光ビームの経路に沿って各々のフ
ォーカスエラー信号の検出動作を説明する回路図であ
る。
【図６Ｃ】本発明の望ましい実施例による光ピックアッ
プにおいて、光磁気ディスクと対物レンズとの距離が焦
点距離より長い場合の光ビームの経路に沿って各々のフ
ォーカスエラー信号の検出動作を説明する回路図であ
る。
プにおいて、光磁気ディスクと対物レンズとの距離が焦
点距離より長い場合の光ビームの経路に沿って各々のフ
ォーカスエラー信号の検出動作を説明する回路図であ
る。
１…レーザダイオード、２…コリメータレンズ、３，
３′…ビーム整形分離プリズム、４…モニタ用光検出
器、５…対物レンズ、６…光磁気ディスク、７…集束レ
ンズ、１４…１／４波長板、１５…位相回折格子、１６
…基板、１７…突出部、１８…Ｙ軸方向の溝のグルー
プ、１９…Ｚ軸方向の溝のグループ、２０ａ，２０ｂ，
２１ａ，２１ｂ，２０ａ′，２０ｂ′…光検出部、２
２，２３，２６…加算増幅器、２４，２５ａ，２５ｂ…
差動増幅器
３′…ビーム整形分離プリズム、４…モニタ用光検出
器、５…対物レンズ、６…光磁気ディスク、７…集束レ
ンズ、１４…１／４波長板、１５…位相回折格子、１６
…基板、１７…突出部、１８…Ｙ軸方向の溝のグルー
プ、１９…Ｚ軸方向の溝のグループ、２０ａ，２０ｂ，
２１ａ，２１ｂ，２０ａ′，２０ｂ′…光検出部、２
２，２３，２６…加算増幅器、２４，２５ａ，２５ｂ…
差動増幅器
Claims (9)
- 【請求項１】 光ビームを発生する光発生素子と、 前記光発生素子より発生した光ビームを光記録媒体上に
集束して投射する対物レンズと、 前記光発生素子より対物レンズに向かう入射光と前記光
記録媒体からの反射光ビームとを分離する分離手段と、 集束レンズ要素により集束される反射光ビームをそのビ
ーム軸に垂直な面上の直交する２方向へ回折させる位相
回折手段と、 前記位相回折手段により回折される反射光ビームの回折
光から所定の信号を検出する検出手段とを備えることを
特徴とする光ピックアップ。 - 【請求項２】 前記分離手段が、 前記光発生素子より発生した光ビームの中から所定の方
向の直線偏波成分のみを通過させる偏光コーティング面
を有する偏光ビーム分離素子と、 該偏光ビーム分離素子と対物レンズとの間に配置される
１／４波長板とを備えることを特徴とする請求項１記載
の光ピックアップ。 - 【請求項３】 前記位相回折格子は、基板に深さが異な
るよう形成される縦と横方向の溝のグループにより区切
られる多数の突出部を有する構造より成ることを特徴と
する請求項１記載の光ピックアップ。 - 【請求項４】 前記位相回折格子により回折光の２方向
に１８０o の位相差が発生することを特徴とする請求項
１または２記載の光ピックアップ。 - 【請求項５】 前記光記録媒体の記録部分から反射され
る反射光ビームの直線偏波を前記位相回折格子の対角線
方向と一致させ、その反射光ビームの回折光の一方向の
位相をπ／２ラジアンとし、他の方向の位相を３π／２
ラジアンとすることを特徴とする請求項１記載の光ピッ
クアップ。 - 【請求項６】 前記検出手段は、 前記位相回折格子の±１次回折光を検知する４つの光検
出器と、該４つの光検出器の中から同じ回折方向に対応
したものの検出信号を加算する２つの加算増幅器と、該
２つの加算増幅器の出力を差動増幅する差動増幅器とを
備えて再生信号を検出する回路を含むことを特徴とする
請求項１記載の光ピックアップ。 - 【請求項７】 前記検出手段は、 前記光記録媒体の振動により位相回折格子の回折光の振
幅が変化するよう回折光を集束する集束レンズと、少な
くとも一方向の回折光を検知する２分割光検出器とを備
えて該２分割光検出器よりフォーカスエラー信号を検出
する制御信号検出器を含むことを特徴とする請求項１記
載の光ピックアップ。 - 【請求項８】 光記録媒体に光ビームを投射して、該光
記録媒体から反射される反射光ビームを検知して情報の
光学的記録と再生を実行する光記録装置において、 反射光ビームをそのビーム軸に垂直な面上の直交する２
方向へ回折させる回折手段と、 該回折手段による回折光に基づいて、所定の信号を検出
する検出手段とを備えることを特徴とする光記録装置。 - 【請求項９】 光記録媒体に光ビームを投射して、該光
記録媒体から反射される反射光ビームを検知して情報の
光学的記録と再生を行う方法であって、 反射光ビームをそのビーム軸に垂直な面上の直交する２
方向へ回折させ、 該２方向に回折された光ビームに基づいて、所定の信号
を検出することを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019920005405A KR930020374A (ko) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | 광픽업 |
| KR92-5405 | 1992-03-31 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0612725A true JPH0612725A (ja) | 1994-01-21 |
Family
ID=19331223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5073316A Pending JPH0612725A (ja) | 1992-03-31 | 1993-03-31 | 光ピックアップ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5383173A (ja) |
| JP (1) | JPH0612725A (ja) |
| KR (1) | KR930020374A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR950015242A (ko) * | 1993-11-16 | 1995-06-16 | 배순훈 | 광픽업 |
| KR100230233B1 (ko) * | 1994-06-30 | 1999-11-15 | 윤종용 | 포커스에러 검출장치 |
| KR100200828B1 (ko) * | 1994-07-30 | 1999-06-15 | 윤종용 | 포커스에러 검출장치 |
| JP3670720B2 (ja) * | 1995-07-25 | 2005-07-13 | ペンタックス株式会社 | 情報読み取り装置の製造方法 |
| GB2315910A (en) * | 1996-07-31 | 1998-02-11 | Daewoo Electronics Co Ltd | Optical pickup system for reading information recorded on an optical disk |
| JP4278940B2 (ja) * | 2002-09-09 | 2009-06-17 | 株式会社 液晶先端技術開発センター | 結晶化装置および結晶化方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4561032A (en) * | 1981-06-02 | 1985-12-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Magnetooptic reproducing device |
| US4558440A (en) * | 1982-08-19 | 1985-12-10 | Canon Kabushiki Kaisha | System for recording patterns of magnetically recorded information by utilizing the magneto-optic effect |
| US4695992A (en) * | 1983-01-31 | 1987-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information recording-reproducing apparatus in which the relative position of a primary beam and secondary beams on recording medium is varied during recording and reproduction of information |
| US4794585A (en) * | 1986-05-06 | 1988-12-27 | Lee Wai Hon | Optical head having a hologram lens and polarizers for use with magneto-optic medium |
| NL8800133A (nl) * | 1988-01-21 | 1989-08-16 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. |
| US5115420A (en) * | 1990-01-16 | 1992-05-19 | International Business Machines Corporation | Utilizing wasted laser light in optical systems |
| JP3155287B2 (ja) * | 1990-05-30 | 2001-04-09 | 株式会社リコー | 光情報記録再生装置 |
| US5245596A (en) * | 1991-06-26 | 1993-09-14 | Eastman Kodak Company | Optical head having a grating with a doubly periodic structure |
-
1992
- 1992-03-31 KR KR1019920005405A patent/KR930020374A/ko not_active Application Discontinuation
-
1993
- 1993-03-30 US US08/040,008 patent/US5383173A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-03-31 JP JP5073316A patent/JPH0612725A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5383173A (en) | 1995-01-17 |
| KR930020374A (ko) | 1993-10-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5416755A (en) | Optical pickup using split beams impinging on different photo-detector areas | |
| JPH02230517A (ja) | 光ヘッド | |
| JPH0612725A (ja) | 光ピックアップ | |
| KR100219666B1 (ko) | 광자기 기록/재생 장치 | |
| US5434708A (en) | Optical reproducing apparatus ultilizing a polarization beam splitter | |
| JPH05234107A (ja) | 光学ピックアップ装置及びトラッキング誤差信号検出方法 | |
| JPH08306091A (ja) | 光ヘッド | |
| JPH0690817B2 (ja) | 光ピツクアツプ | |
| JPH0817060A (ja) | フォーカスエラー検出装置 | |
| JPH0529969B2 (ja) | ||
| JPS63261546A (ja) | 光ピツクアツプ | |
| US6434092B1 (en) | Optical head for land and groove recording | |
| JPH083908B2 (ja) | フォトディテクタの位置合わせ方法および光ピックアップヘッド装置 | |
| JPH03150744A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JP2978269B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JPH0668540A (ja) | 光学ピックアップ装置 | |
| JP2544639B2 (ja) | 光ピックアップ | |
| JP3162167B2 (ja) | 光ヘッド | |
| KR100230243B1 (ko) | 광자기 디스크용 광픽업 | |
| US5661701A (en) | Optical pickup using split beams impinging on different photodetector areas | |
| JP2857245B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| US20050152636A1 (en) | Optical miniaturized module, optical pickup device, and optical disk device provided with light source and photodetector | |
| JPH04177623A (ja) | 光学式情報記録再生装置 | |
| JPS62264444A (ja) | 光学式記録再生装置 | |
| JPH03100927A (ja) | 光ピックアップ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040305 |