JPH0612275A - 電子計算機システムの試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は電子計算機システムの試験方法に関
し、操作者のミスによるハードウェア障害の誤検出を防
止して試験精度を向上させることを目的とする。 【構成】 電子計算機システム１のシステム構成、及び
動作モードに適応した試験環境で、ハードウェアの試験
を実施する電子計算機システムの試験方法において、試
験項目４−１、４−２、・・・４−ｎ毎に、試験を実行
する際の動作環境情報３−１、３−２、・・・３−ｎを
設定しておき、試験の制御を行う試験プログラム制御部
２が、予め設定されている電子計算機システム１のシス
テム構成情報及び動作モード情報Ｍ１を読み出すと共
に、上記各動作環境情報３−１、３−２、・・・３−ｎ
を読み出して、両者を比較することにより、試験環境を
識別して試験の実行可否を決定し、該当する試験項目で
試験を実行するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子計算機のハードウ
ェア試験に利用される電子計算機システムの試験方法に
関する。

【０００２】近年の電子計算機システムの構成要素の増
大に伴い、システム構成及び、動作モードに合致した試
験プログラムが要求されている。このため、各システム
構成及び動作モード毎に試験プログラムが提供されてい
る。

【０００３】しかし、システム構成及び動作モードと試
験プログラムの組み合わせを操作者が行う必要があり、
この点の改善が望まれていた。

【０００４】

【従来の技術】従来、電子計算機システム装置試験にお
いては、システム構成及び動作モードに応じた試験プロ
グラムを、操作者が選択して走行していた。ところが、
試験プログラムへ通知するシステム構成情報が多く、操
作ミスの発生が多い。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。 (1) 上記のような操作ミスが発生すると、ハードウェア
障害の誤検出の原因となる。

【０００６】(2) 例えば、上記のような操作ミスが発生
すると、ハードウェアが正しく動作しているにもかかわ
らず、障害として検出し、正しい障害の検出が出来な
い。 (3) 操作者が試験プログラムの選択処理等を行う必要が
あり、手間と時間がかかる。

【０００７】本発明はこのような従来の課題を解決し、
操作者のミスによるハードウェア障害の誤検出を防止し
て、試験精度を向上させることを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図であり、図１中、１は電子計算機システム、２は試験
プログラム制御部、３−１、３−２、・・・３−ｎは動
作環境情報、４−１、４−２、・・・４−ｎは試験項
目、Ｍ１は（システム構成情報＋動作モード情報）、Ｍ
２は（動作環境情報＋試験項目）、Ｍ３は情報収集領域
を示す。

【０００９】本発明は上記の課題を解決するため、次の
ように構成した。すなわち、電子計算機システム１のシ
ステム構成、及び動作モードに適応した試験環境で、ハ
ードウェアの試験を実施する電子計算機システムの試験
方法において、試験項目４−１、４−２、・・・４−ｎ
毎に、試験を実行する際の動作環境情報３−１、３−
２、・・・３−ｎを設定しておき、試験の制御を行う試
験プログラム制御部２が、予め設定されている電子計算
機システム１のシステム構成情報及び動作モード情報Ｍ
１を読み出すと共に、上記各動作環境情報３−１、３−
２、・・・３−ｎを読み出して、両者を比較することに
より、試験環境を識別して試験の実行可否を決定し、該
当する試験項目で試験を実行するようにした。

【００１０】

【作用】上記構成に基づく本発明の作用を、図１に基づ
いて説明する。電子計算機システムのハードウェア試験
は、次のようにして実施する。先ず、試験プログラム制
御部２では、電子計算機システム１の「システム構成情
報＋動作モード情報」Ｍ１を読み出し、情報収集領域Ｍ
３に格納すると共に、試験項目４−１、４−２、・・・
４−ｎ毎の動作環境情報３−１、３−２、・・・３−ｎ
の内、１つの動作環境情報（例えば、３−１）を読み出
し、情報収集領域Ｍ３に格納する。

【００１１】そして、情報収集領域Ｍ３に格納した「シ
ステム構成情報＋動作モード情報」Ｍ１と、動作環境情
報（例えば、３−１）とを比較することにより、試験の
実行可否を決定する。

【００１２】もし、実行可となれば、その動作環境情報
（例えば、３−１）に対応した試験項目（この例では、
４−１）で試験を実行する。この様な処理を、動作環境
情報３−２、・・・３−ｎについて順次行い、試験の実
行が可と決定されて場合にのみ、試験を実行する。

【００１３】このようにすれば、試験プログラム制御部
が自動的に試験環境を識別して、試験の実行可否を決定
し、自動的にハードウェアの試験を実行する事ができ
る。すなわち、電子計算機システムのシステム構成及
び、動作モードに適応した試験項目を自動的に実施出来
ると共に、従来のような操作者の試験項目選択ミスによ
るハードウェア障害の誤検出を防止することが出来る。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２〜図７は、本発明の第１実施例を示した図で
あり、図２〜図７中、図１と同じものは、同一符号で示
してある。また、ＣＰＵは中央処理装置、ＭＣＵは記憶
制御装置、ＭＳＵは記憶装置、ＣＨＰはチャネル制御装
置、ＣＨＥはチャネル装置、ＳＶＰはサービスプロセッ
サ、ＫＢはキーボード（操作者指令用）、ＭＴは磁気テ
ープ、ＰＩＯはチャネル試験装置、ＨＳＡはシステム情
報域、Ｍ１はシステム構成情報及び動作モード情報、Ｍ
２は動作環境情報及び試験項目、Ｍ３は情報収集領域、
はチャネル構成情報、はＰＩＯ装置情報を示す。

【００１５】本実施例は、チャネルの試験に適用した例
であり、以下、図を参照しながら説明する。本実施例に
おける電子計算機システムは、キーボード（操作者指令
用）ＫＢ、サービスプロセッサＳＶＰ、中央処理装置Ｃ
ＰＵ、チャネル制御装置ＣＨＰ、チャネル装置ＣＨＥ、
記憶装置ＭＳＵ、記憶制御装置ＭＣＵ、磁気テープ装置
等で構成する。

【００１６】そして、チャネル装置ＣＨＥ（被試験装
置）に対し、試験を実施する。この試験を実施するた
め、上記電子計算機システムに、チャネル試験装置ＰＩ
Ｏを接続し、磁気テープ装置の磁気テープＭＴに、試験
プログラムを設定しておく。

【００１７】また、記憶装置ＭＳＵには、上記試験プロ
グラムを読み込むための領域と、システム情報域ＨＳＡ
を設定しておく。上記磁気テープＭＴ上の試験プログラ
ムの構成を図３に示す。

【００１８】図示のように、磁気テープＭＴ上には、先
頭方向から、（制御プログラム）、（動作環境情報１＋
試験項目１）、（動作環境情報２＋試験項目２）、・・
・（動作環境情報ｉ＋試験項目ｉ）、・・・（動作環境
情報ｎ＋試験項目ｎ）の順で記録されている。

【００１９】以下、本実施例の試験方法を、図４の処理
フローチャートに基づいて説明する。なお、図４の各処
理番号は、カッコ内に示す。先ず、システム構成情報及
び、動作モード情報の読み出し（Ｓ１）を行う。次に、
試験項目毎の動作環境情報の読み出し（Ｓ２）を行う。
そして、読み出した情報を比較して、試験が実施可能な
環境かどうかを判断（Ｓ３）する。

【００２０】その結果、実施可能な環境でなければ、次
の試験項目を選択するが、実施可能な環境であれば、該
当する試験項目について、試験を実施（Ｓ４）する。試
験が終了すると、次の試験項目を選択して、上記と同様
の処理（Ｓ１−Ｓ４）を行う。

【００２１】このようにして、全ての試験項目が終了す
ると、試験を終了する。上記の処理を更に具体的に説明
する。 (1) 図２において、操作者は、キーボードＫＢを操作し
て指示を出し、磁気テープＭＴ上の試験プログラムの
内、制御プログラムを読み込み、記憶装置ＭＳＵへ格納
して、起動する。以下、記憶装置ＭＳＵに格納された制
御プログラムを、制御部と呼ぶ。

【００２２】(2) 次に、制御部により、磁気テープＭＴ
上の「動作環境情報１＋試験項目１」を読み込み、それ
ぞれ、記憶装置ＭＳＵの試験部に格納する。そして、こ
の情報、すなわち、「動作環境情報＋試験項目」をＭ２
とする。

【００２３】(3) 制御部がチャネル構成情報読み込み命
令によって、チャネル構成情報を読み込み、情報収集
領域Ｍ３に格納する。 (4) 制御部がＰＩＯ装置情報読み込み命令によって、チ
ャネル試験装置ＰＩＯのＰＩＯ装置情報を読み込み、
情報収集領域Ｍ３に格納する。

【００２４】(5) 制御部がシステム構成情報読み込み命
令によって、システム情報域ＨＳＡ内の「システム構成
情報＋動作モード情報」Ｍ１を読み込み、情報収集領域
Ｍ３に格納する。

【００２５】なお、上記（３）、（４）、（５）で情報
収集域Ｍ３に収集した情報を、まとめて「システム構成
情報及び動作モード情報」（図４参照）とする。 (6) 制御部では、情報収集領域Ｍ３の「システム構成情
報及び動作モード情報」と、試験部の「動作環境情報
１」（Ｍ２内の一部の情報）を比較することにより、試
験が実行可能な環境かどうかを（実行の可否）を決定す
る。

【００２６】(7) 上記（６）の処理で、試験の実行が可
能であると決定した場合には、被試験装置（チャネル装
置）を試験する。この場合、制御部では、試験の実行が
可能であると決定した動作環境情報１と、１対１で対応
している試験項目１を、試験部のＭ２から取り出し、そ
の試験項目１について、試験を実行する。

【００２７】(8) 上記の試験が終了した場合、或いは、
（６）の比較処理で、試験の実行が不可と決定された場
合は、次の「動作環境情報＋試験項目」について、上記
（２）〜（７）の処理を繰り返して行う。

【００２８】すなわち、磁気テープＭＴ上の（動作環境
情報２＋試験項目２）、・・・（動作環境情報ｉ＋試験
項目ｉ）、・・・（動作環境情報ｎ＋試験項目ｎ）から
なる各１対の「動作環境情報＋試験項目」を、上記のよ
うに、順次１組づつ読み込んで比較処理を行い、試験の
実施可能な環境であれば、試験を実行する。 そして、
全ての「動作環境情報＋試験項目」の処理が終了する
と、試験が終了となる。

【００２９】（動作環境情報及びシステム構成情報例の
説明）・・・図５〜図７参照 上記動作環境情報及びシステム構成情報例を、図５〜図
７に示す。図５は動作環境情報例、図６はシステム構成
情報例である。また、図７Ａは、図５の動作環境情報
を、更に具体化した例（メモリ上の形式例）であり、図
７Ｂは、図６のシステム構成情報を更に具体化した例
（メモリ上の形式例）である。

【００３０】例えば、図５の動作環境情報と、図６のシ
ステム構成情報を、ビット単位同士、或いは、文字形式
と、ビット形式で比較し、条件が一致した場合、該動作
環境情報と対応した試験項目を実施する。

【００３１】条件判定は、上記制御部に依存し、試験項
目には、実行環境のみ存在する。また、実行の可否は、
制御部で行うため、実行環境の変更が生じても、実行環
境情報のみ修正すればよく、試験項目の変更は、不要で
ある。

【００３２】図７の例では、次のようになる。例えば、
図７Ａのバイト「００４」のビット「０」がオンの場
合、「ＫＩＳＯ」モデルで試験部が動作する。また、図
７Ｂのバイト「００４」のビット「０」から、バイト
「００８」のビット「３１」の値が図示の形式の場合、
「ＫＩＳＯ」モデルである。

【００３３】なお、図７では、２進数表現をしている
が、１６進数表現では、「Ｄ２Ｃ９Ｅ２Ｄ６４０４０４
０４０」であり、ＥＢＣＤＩＣコードで「ＫＩＳＯ」を
表現している。

【００３４】

【他の実施例】以上実施例について説明したが、本発明
は次のようにしても実施可能である。 (1) 試験は、チャネル装置に限らず、電子計算機システ
ムの全てのハードウェアに適用出来る。

【００３５】(2) 試験プログラムは、磁気テープ以外か
ら入力しても、上記実施例と同様に実施出来る。

【００３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 (1) 電子計算機システムのシステム構成及び、動作モー
ドに適応した試験項目を自動的に実施出来る。

【００３７】(2) 操作者の試験項目選択ミスによるハー
ドウェア障害の誤検出を防止することが出来る。従っ
て、試験精度を向上させることが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】本発明の実施例の説明図である。

【図３】本発明の実施例における磁気テープ（ＭＴ）上
の試験プログラムの構成を示した図である。

【図４】本発明の実施例における試験時の処理フローチ
ャートである。

【図５】本発明の実施例における動作環境情報例であ
る。

【図６】本発明の実施例におけるシステム構成情報例で
ある。

【図７】図５、図６の情報の具体例である。

【符号の説明】

１ 電子計算機システム ２ 試験プログラム制御部 ３−１、３−２、・・・３−ｎ 動作環境情報 ４−１、４−２、・・・４−ｎ 試験項目 Ｍ１ システム構成情報及び動作モード情報 Ｍ２ 動作環境情報＋試験項目 Ｍ３ 情報収集領域

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子計算機システム（１）のシステム構
   成、及び動作モードに適応した試験環境で、ハードウェ
   アの試験を実施する電子計算機システムの試験方法にお
   いて、 試験項目（４−１、４−２、・・・４−ｎ）毎に、試験
   を実行する際の動作環境情報（３−１、３−２、・・・
   ３−ｎ）を設定しておき、 試験の制御を行う試験プログラム制御部（２）が、予め
   設定されている電子計算機システム（１）のシステム構
   成情報及び動作モード情報（Ｍ１）を読み出すと共に、 上記各動作環境情報（３−１、３−２、・・・３−ｎ）
   を読み出して、両者を比較することにより、 試験環境を識別して試験の実行可否を決定し、該当する
   試験項目で試験を実行することを特徴とした電子計算機
   システムの試験方法。