JP2006012054A - 試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム - Google Patents
試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006012054A JP2006012054A JP2004191561A JP2004191561A JP2006012054A JP 2006012054 A JP2006012054 A JP 2006012054A JP 2004191561 A JP2004191561 A JP 2004191561A JP 2004191561 A JP2004191561 A JP 2004191561A JP 2006012054 A JP2006012054 A JP 2006012054A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- program
- device under
- command
- under test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/3668—Software testing
- G06F11/3672—Test management
- G06F11/3688—Test management for test execution, e.g. scheduling of test suites
Abstract
【解決手段】入力装置200からテーブル更新処理部140aが、初期設定情報を受付け、コマンドサポートテーブル150aの初期設定を行う。そして、判定処理部140cが、試験プログラムによって実行されるコマンドが被試験部110によってサポートされているか否かを、コマンドサポートテーブル150aを基に判断し、対応するコマンドが全てサポートされている場合に、試験実行可能である旨を試験項目実行処理部140bに通知し、試験項目実行処理部140bが対応する試験を被試験部110に行う。
【選択図】 図1
Description
前記試験プログラムおよび前記試験プログラムを実行するために必要となるコマンドに関する情報を示す試験プログラム情報と、前記コマンドが前記被試験装置によってサポートされているか否かの情報を示すコマンド情報とを記憶する記憶手段と、
前記試験プログラムを利用して前記被試験装置を試験する場合に、前記試験プログラム情報と、前記コマンド情報とを基にして、前記被試験装置に対して試験実行可能か否かを判断し、試験実行可能である場合に、前記試験プログラムを利用して前記被試験装置の試験を行う試験判定処理手段と、
を備えたことを特徴とする試験実行装置。
前記試験プログラムを利用して前記被試験装置の試験を実行する場合に、前記試験プログラムを実行するために必要となるコマンドの情報を示す試験プログラム情報と、前記コマンドが前記被試験装置によってサポートされているか否かの情報を示すコマンド情報とを記憶装置から検索する検索工程と、
前記検索工程において検索した試験プログラム情報と、コマンド情報とに基づいて、前記被試験装置に対して試験実行可能か否かを判断し、試験実行可能である場合に、前記試験プログラムを利用して、前記被試験装置に試験を行う試験判定処理工程と、
を含んだことを特徴とする試験実行方法。
前記試験プログラムを利用して前記被試験装置の試験を実行する場合に、前記試験プログラムを実行するために必要となるコマンドの情報を示す試験プログラム情報と、前記コマンドが前記被試験装置によってサポートされているか否かの情報を示すコマンド情報とを記憶装置から検索する検索手順と、
前記検索手順において検索した試験プログラム情報と、コマンド情報とに基づいて、前記被試験装置に対して試験実行可能か否かを判断し、試験実行可能である場合に、前記試験プログラムを利用して、前記被試験装置の試験を行う試験判定処理手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする試験実行プログラム。
110 被試験部
120 試験部
130 インターフェース部
140 制御部
140a テーブル更新処理部
140b 試験項目実行処理部
140c 判定処理部
150 記憶部
150a コマンドサポートテーブル
150b 試験項目テーブル
200 入力装置
Claims (5)
- 被試験装置に含まれる各機能を、試験項目毎に作成された試験プログラムを利用して試験する試験実行装置であって、
前記試験プログラムおよび前記試験プログラムを実行するために必要となるコマンドに関する情報を示す試験プログラム情報と、前記コマンドが前記被試験装置によってサポートされているか否かの情報を示すコマンド情報とを記憶する記憶手段と、
前記試験プログラムを利用して前記被試験装置を試験する場合に、前記試験プログラム情報と、前記コマンド情報とを基にして、前記被試験装置に対して試験実行可能か否かを判断し、試験実行可能である場合に、前記試験プログラムを利用して前記被試験装置の試験を行う試験判定処理手段と、
を備えたことを特徴とする試験実行装置。 - 前記試験判定処理手段は、前記試験プログラムに係るコマンドが全て前記被試験装置にサポートされている場合に、試験実行可能と判断することを特徴とする請求項1に記載の試験実行装置。
- 前記コマンドが前記被試験装置によってサポートされているか否かが不明の場合に、サポート状況が不明のコマンドを含んだ試験プログラムを利用して前記被試験装置の試験を実行し、実行した結果を基に、前記コマンド情報を更新する更新処理手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の試験実行装置。
- 被試験装置に含まれる各機能を、試験項目毎に作成された試験プログラムを利用して試験する試験実行方法であって、
前記試験プログラムを利用して前記被試験装置の試験を実行する場合に、前記試験プログラムを実行するために必要となるコマンドの情報を示す試験プログラム情報と、前記コマンドが前記被試験装置によってサポートされているか否かの情報を示すコマンド情報とを記憶装置から検索する検索工程と、
前記検索工程において検索した試験プログラム情報と、コマンド情報とに基づいて、前記被試験装置に対して試験実行可能か否かを判断し、試験実行可能である場合に、前記試験プログラムを利用して、前記被試験装置に試験を行う試験判定処理工程と、
を含んだことを特徴とする試験実行方法。 - 被試験装置に含まれる各機能を、試験項目毎に作成された試験プログラムを利用して試験する試験実行プログラムであって、
前記試験プログラムを利用して前記被試験装置の試験を実行する場合に、前記試験プログラムを実行するために必要となるコマンドの情報を示す試験プログラム情報と、前記コマンドが前記被試験装置によってサポートされているか否かの情報を示すコマンド情報とを記憶装置から検索する検索手順と、
前記検索手順において検索した試験プログラム情報と、コマンド情報とに基づいて、前記被試験装置に対して試験実行可能か否かを判断し、試験実行可能である場合に、前記試験プログラムを利用して、前記被試験装置の試験を行う試験判定処理手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする試験実行プログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004191561A JP2006012054A (ja) | 2004-06-29 | 2004-06-29 | 試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム |
US10/972,054 US20050289516A1 (en) | 2004-06-29 | 2004-10-25 | Method and apparatus for conducting test and computer product |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004191561A JP2006012054A (ja) | 2004-06-29 | 2004-06-29 | 試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006012054A true JP2006012054A (ja) | 2006-01-12 |
Family
ID=35507594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004191561A Pending JP2006012054A (ja) | 2004-06-29 | 2004-06-29 | 試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050289516A1 (ja) |
JP (1) | JP2006012054A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006053924A (ja) * | 2004-08-13 | 2006-02-23 | Agilent Technol Inc | シーケンス項目の管理と実行のためのテストシーケンサと方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090128814A (ko) * | 2008-06-11 | 2009-12-16 | 삼성전자주식회사 | 포트 선택기, 이를 이용한 디바이스 평가 시스템 및 방법 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01295339A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Fujitsu Ltd | 試験項目自動選択方式 |
JPH0612275A (ja) * | 1992-06-25 | 1994-01-21 | Fujitsu Ltd | 電子計算機システムの試験方法 |
JPH08328866A (ja) * | 1995-06-05 | 1996-12-13 | Fujitsu Ltd | プログラムローディング方法 |
JPH0944375A (ja) * | 1995-07-26 | 1997-02-14 | Hitachi Ltd | テストプログラムの自動テスト項目選択方式 |
JP2003006170A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Hitachi Ltd | 複数計算機環境でのプログラム実行方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6272767B1 (en) * | 1999-10-21 | 2001-08-14 | Envirotronics, Inc. | Environmental test chamber |
JP3946057B2 (ja) * | 2002-03-01 | 2007-07-18 | 富士通株式会社 | 整合性検査支援方法および整合性検査支援システム |
-
2004
- 2004-06-29 JP JP2004191561A patent/JP2006012054A/ja active Pending
- 2004-10-25 US US10/972,054 patent/US20050289516A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01295339A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Fujitsu Ltd | 試験項目自動選択方式 |
JPH0612275A (ja) * | 1992-06-25 | 1994-01-21 | Fujitsu Ltd | 電子計算機システムの試験方法 |
JPH08328866A (ja) * | 1995-06-05 | 1996-12-13 | Fujitsu Ltd | プログラムローディング方法 |
JPH0944375A (ja) * | 1995-07-26 | 1997-02-14 | Hitachi Ltd | テストプログラムの自動テスト項目選択方式 |
JP2003006170A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Hitachi Ltd | 複数計算機環境でのプログラム実行方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006053924A (ja) * | 2004-08-13 | 2006-02-23 | Agilent Technol Inc | シーケンス項目の管理と実行のためのテストシーケンサと方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050289516A1 (en) | 2005-12-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Bass | The software architect and DevOps | |
JP5102823B2 (ja) | 総テスト時間を最小にするようにテストシナリオを最適化するテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラム | |
CN106970806B (zh) | 用于对正在控制工业过程的控制程序进行更新的系统 | |
JP2019525373A (ja) | テストケースの生成方法 | |
CN106021101B (zh) | 对移动终端进行测试的方法及装置 | |
US20060036910A1 (en) | Automated testing framework for event-driven systems | |
JP6409577B2 (ja) | テスト選択プログラム、テスト選択方法、及びテスト選択装置 | |
CN104268083A (zh) | 软件自动化测试方法和装置 | |
JP2009244999A (ja) | 仮想マシン管理プログラム及び管理サーバ装置 | |
CN112445708A (zh) | 一种压力测试方法、装置及计算设备 | |
JP6441786B2 (ja) | テスト支援装置、テスト支援方法、及びプログラム | |
WO2012144140A1 (ja) | UI(User Interface)作成支援装置、UI作成支援方法及びプログラム | |
JP2019101582A (ja) | ソフトウェア品質判定装置、ソフトウェア品質判定方法、及びソフトウェア品質判定プログラム | |
JP2006012054A (ja) | 試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム | |
US10649883B2 (en) | Method that supports multithreading/concurrent programming debugging, computer readable recording medium and computer program product | |
JP2008225683A (ja) | 画面操作システムおよびプログラム | |
US8745587B2 (en) | System and method for testing computer programs | |
KR20170044320A (ko) | 분산 컴퓨팅 기반의 어플리케이션 객체 분석 방법, 이를 수행하는 어플리케이션 객체 분석 서버 및 이를 저장하는 기록매체 | |
WO2017088547A1 (zh) | 一种数据升级方法和装置 | |
JP6366811B2 (ja) | 検査装置、検査方法、及び、プログラム | |
JP4925514B2 (ja) | 内外イベントドリブン方式によるプログラム実行制御方法、プログラム、実行制御装置および記録媒体 | |
JP2009169628A (ja) | 監視制御システムの構築装置、構築方法およびプログラム | |
JP2007264863A (ja) | 業務使用解析装置 | |
Takakis et al. | Dynamic Adjustment of Test-Sequence Duration for Increasing the Functional Coverage | |
JP5071072B2 (ja) | 開発支援装置及び半導体試験装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070420 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080409 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080422 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080623 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080930 |