JPH0611325A - カム組立体の検査方法 - Google Patents
カム組立体の検査方法Info
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- JPH0611325A JPH0611325A JP16881592A JP16881592A JPH0611325A JP H0611325 A JPH0611325 A JP H0611325A JP 16881592 A JP16881592 A JP 16881592A JP 16881592 A JP16881592 A JP 16881592A JP H0611325 A JPH0611325 A JP H0611325A
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- shaft
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- curve
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 カム軸に対するカムの実際の組み付け精度を
的確に合否判定する。 【構成】 カム組立体１にカム面３ａを縦断する平行光
を投射し、カム軸２を軸周りに回転させながら軸芯から
カム面までの投影長（リフト量Ｌ）とカム軸回転角θの
関係を計測し、計測結果から求められる前記関係を近似
する曲線から最大リフト量Ｌを与えるカム軸回転角θｏ
を算定し、算定結果からカム組立体１のカム組み付け精
度を合否判定することにより、カム組立体１の検査工程
を自動化して検査効率の向上を図る。
的確に合否判定する。 【構成】 カム組立体１にカム面３ａを縦断する平行光
を投射し、カム軸２を軸周りに回転させながら軸芯から
カム面までの投影長（リフト量Ｌ）とカム軸回転角θの
関係を計測し、計測結果から求められる前記関係を近似
する曲線から最大リフト量Ｌを与えるカム軸回転角θｏ
を算定し、算定結果からカム組立体１のカム組み付け精
度を合否判定することにより、カム組立体１の検査工程
を自動化して検査効率の向上を図る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カム組立体のカム軸に
対するカムの実際の組み付け精度を、光学的に得られた
データを数値処理することにより的確に合否判定できる
ようにしたカム組立体の検査方法に関する。
対するカムの実際の組み付け精度を、光学的に得られた
データを数値処理することにより的確に合否判定できる
ようにしたカム組立体の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】車載エンジンに用いるエンジン組立カム
シャフトなどのカム組立体は、カム軸にこれとは別体の
カムを嵌入固着することで組み立てられており、このた
めカム組立体自体のカムの組み付け精度が問題となる。
しかし、こうしたカム組立体は、単品ごとに実際のカム
組み付け精度を検査しなければならず、カム周面の形状
特にその生命であるカムローブのカム面の形状を調べる
ため、従来は、カム軸回転角と軸芯からカム面までの距
離の関係を接触子を使って実測し、実測結果にもとづい
て最大リフト量を与えるカム軸回転角を割り出すように
していた。
シャフトなどのカム組立体は、カム軸にこれとは別体の
カムを嵌入固着することで組み立てられており、このた
めカム組立体自体のカムの組み付け精度が問題となる。
しかし、こうしたカム組立体は、単品ごとに実際のカム
組み付け精度を検査しなければならず、カム周面の形状
特にその生命であるカムローブのカム面の形状を調べる
ため、従来は、カム軸回転角と軸芯からカム面までの距
離の関係を接触子を使って実測し、実測結果にもとづい
て最大リフト量を与えるカム軸回転角を割り出すように
していた。
【０００３】すなわち、具体的には図４に示したよう
に、まずカム組立体１のカム軸２の両端を適宜支承し、
カム軸２及びカム３が一体的に軸周りにのみ回転できる
ようにする。次に、カム面３ａに対し上下方向にのみ変
位可能な状態でローラ付き接触子４のローラ４ａを圧し
当て、カム軸２をゆっくりと回転させる。そして、カム
軸回転角θと接触子４の変位量すなわちリフト量Ｌの関
係を逐次データにとって計測し、計測データを単品ごと
に一覧表示するか又は二次元座標平面上にグラフ表示す
る。最後に、一覧表又はグラフにもとづき、検査者自身
が最大リフト量を与えるカム軸回転角θｏが規定の許容
誤差範囲内にあるかどうかを判断し、許容範囲を外れて
いる場合はそのカム組立体を不良品であると判定するよ
うにしていた。
に、まずカム組立体１のカム軸２の両端を適宜支承し、
カム軸２及びカム３が一体的に軸周りにのみ回転できる
ようにする。次に、カム面３ａに対し上下方向にのみ変
位可能な状態でローラ付き接触子４のローラ４ａを圧し
当て、カム軸２をゆっくりと回転させる。そして、カム
軸回転角θと接触子４の変位量すなわちリフト量Ｌの関
係を逐次データにとって計測し、計測データを単品ごと
に一覧表示するか又は二次元座標平面上にグラフ表示す
る。最後に、一覧表又はグラフにもとづき、検査者自身
が最大リフト量を与えるカム軸回転角θｏが規定の許容
誤差範囲内にあるかどうかを判断し、許容範囲を外れて
いる場合はそのカム組立体を不良品であると判定するよ
うにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のカム組立体
の検査方法は、接触子４を圧し当てた状態でカム軸２を
ゆっくりと回転させるまでは、いわばデータ採取のため
の最低限必要な作業とも言える。しかし、カム軸回転角
θとリフト量Ｌの関係を逐一データにとって計測し、計
測データを単品ごとに一覧表示したり或いは二次元座標
平面上にグラフ表示したりする作業は、すべて検査者自
身が手作業によって行わなければならず、しかも作業内
容の良否が合否判定そのものを左右しかねないにも拘わ
らず、経験だけが頼りであった。通常、カム軸２はリフ
ト量の極大点に近づくほど微小角度をもって回転させる
必要があり、回転角を固定した状態で接触子４の変位量
が読み取れるにしても、接触子４の最大変位を与えるカ
ム軸回転角θｏでカム軸２を止めるのは至難の技であ
り、実際には求めんとするカム軸回転角θｏの前後の回
転角のデータしか得られないのが普通である。従って、
計測結果を一覧表にして見ただけではリフト量Ｌの最大
値を与えるカム軸回転角θｏが正確に割り出せないこと
が多く、一方また判定精度を高めるため計測結果をグラ
フ化するにしても、離散するプロットを曲線で結ぶ作業
は検査者の熟練に負わねばならず、このためグラフから
読み取った極大点にもとづく合否判定といえども個人差
が避けられないといった課題があった。また、一覧表を
用いるにせよグラフを用いるにせよ、カム組立体１単品
の検査にかなりの時間がかかるのは事実であり、作業能
率向上のための様々な工夫を講じたにしても、判定精度
を維持するためにはどうしてもデータ処理に割く時間を
短縮するわけにいかず、従来の検査方法は本質的に作業
効率が悪いといった課題があった。
の検査方法は、接触子４を圧し当てた状態でカム軸２を
ゆっくりと回転させるまでは、いわばデータ採取のため
の最低限必要な作業とも言える。しかし、カム軸回転角
θとリフト量Ｌの関係を逐一データにとって計測し、計
測データを単品ごとに一覧表示したり或いは二次元座標
平面上にグラフ表示したりする作業は、すべて検査者自
身が手作業によって行わなければならず、しかも作業内
容の良否が合否判定そのものを左右しかねないにも拘わ
らず、経験だけが頼りであった。通常、カム軸２はリフ
ト量の極大点に近づくほど微小角度をもって回転させる
必要があり、回転角を固定した状態で接触子４の変位量
が読み取れるにしても、接触子４の最大変位を与えるカ
ム軸回転角θｏでカム軸２を止めるのは至難の技であ
り、実際には求めんとするカム軸回転角θｏの前後の回
転角のデータしか得られないのが普通である。従って、
計測結果を一覧表にして見ただけではリフト量Ｌの最大
値を与えるカム軸回転角θｏが正確に割り出せないこと
が多く、一方また判定精度を高めるため計測結果をグラ
フ化するにしても、離散するプロットを曲線で結ぶ作業
は検査者の熟練に負わねばならず、このためグラフから
読み取った極大点にもとづく合否判定といえども個人差
が避けられないといった課題があった。また、一覧表を
用いるにせよグラフを用いるにせよ、カム組立体１単品
の検査にかなりの時間がかかるのは事実であり、作業能
率向上のための様々な工夫を講じたにしても、判定精度
を維持するためにはどうしてもデータ処理に割く時間を
短縮するわけにいかず、従来の検査方法は本質的に作業
効率が悪いといった課題があった。
【０００５】本発明は、これらの点に鑑みてなされたも
のであり、カム軸にこれとは別体のカムを組み付けたカ
ム組立体を、検査者の経験によらず機械的に検査し、カ
ム組み付け精度の合否を自動判定することを目的とす
る。
のであり、カム軸にこれとは別体のカムを組み付けたカ
ム組立体を、検査者の経験によらず機械的に検査し、カ
ム組み付け精度の合否を自動判定することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、カム軸にこれとは別体のカムを組み付け
たカム組立体に、前記カムのカム面を縦断する平行光を
投射し、前記カム軸を軸周りに回転させて軸芯からカム
面までの投影長とカム軸回転角の関係を計測し、計測結
果から前記関係を近似する曲線を求め、得られた近似曲
線から最大の投影長を与える前記カム軸回転角を算定
し、算定結果から前記カム組立体のカム組み付け精度を
合否判定することを特徴とするものである。
め、本発明は、カム軸にこれとは別体のカムを組み付け
たカム組立体に、前記カムのカム面を縦断する平行光を
投射し、前記カム軸を軸周りに回転させて軸芯からカム
面までの投影長とカム軸回転角の関係を計測し、計測結
果から前記関係を近似する曲線を求め、得られた近似曲
線から最大の投影長を与える前記カム軸回転角を算定
し、算定結果から前記カム組立体のカム組み付け精度を
合否判定することを特徴とするものである。
【０００７】
【作用】上記検査方法は、カム組立体にカム面を縦断す
る平行光を投射し、カム軸を軸周りに回転させながら軸
芯からカム面までの投影長とカム軸回転角の関係を計測
し、計測結果から求められる前記関係を近似する曲線か
ら最大の投影長を与える前記カム軸回転角を算定し、算
定結果からカム組立体のカム組み付け精度を合否判定す
ることにより、カム組立体のカム組み付け不良を自動判
定する。
る平行光を投射し、カム軸を軸周りに回転させながら軸
芯からカム面までの投影長とカム軸回転角の関係を計測
し、計測結果から求められる前記関係を近似する曲線か
ら最大の投影長を与える前記カム軸回転角を算定し、算
定結果からカム組立体のカム組み付け精度を合否判定す
ることにより、カム組立体のカム組み付け不良を自動判
定する。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図１ないし
図３を参照して説明する。図１は、本発明のカム組立体
の検査方法を適用したカム検査装置の一実施例を示す概
略斜視図、図２は、図１に示した関数処理判定器の動作
を説明するためのフローチャート、図３は、軸芯からカ
ム面までの投影長とカム軸回転角の関係を近似した近似
曲線の一例を示す図である。
図３を参照して説明する。図１は、本発明のカム組立体
の検査方法を適用したカム検査装置の一実施例を示す概
略斜視図、図２は、図１に示した関数処理判定器の動作
を説明するためのフローチャート、図３は、軸芯からカ
ム面までの投影長とカム軸回転角の関係を近似した近似
曲線の一例を示す図である。
【０００９】図１に示すカム検査装置１１は、検査対象
であるカム組立体１を保持して軸周りに回転させる回転
駆動器１２と、レーザ光を用いてカム組立体１のカム３
の外形を計測するレーザ外形測定器１３と、レーザ外形
測定器１３の測定結果から最大リフト量を与えるカム回
転角θｏを割り出し、規定に照らして合否判定する関数
処理判定器１４からなる。回転駆動器１２は、検査しよ
うとするカム組立体１のカム軸２を片持ち支持或いは両
端支持し、カム軸２を偏芯させることなく正確に軸周り
に回転させる働きをするものであり、カム軸回転角θは
電気信号として外部出力される。
であるカム組立体１を保持して軸周りに回転させる回転
駆動器１２と、レーザ光を用いてカム組立体１のカム３
の外形を計測するレーザ外形測定器１３と、レーザ外形
測定器１３の測定結果から最大リフト量を与えるカム回
転角θｏを割り出し、規定に照らして合否判定する関数
処理判定器１４からなる。回転駆動器１２は、検査しよ
うとするカム組立体１のカム軸２を片持ち支持或いは両
端支持し、カム軸２を偏芯させることなく正確に軸周り
に回転させる働きをするものであり、カム軸回転角θは
電気信号として外部出力される。
【００１０】レーザ外形測定器１３は、レーザ光発生器
１５とレーザ光受光器１６を外形計測対象の配置空間を
挟んで離間対向させたものであり、レーザ光発生器１５
は半導体レーザ、八面ポリゴンミラー、反射ミラー及び
コリメータレーザ等を装備して半導体レーザによって発
射したレーザ光を八面ポリゴンミラー及び反射ミラーで
反射した後、コリメータレンズを通してレーザ光を平行
レーザ光線にして出射し、また該レーザ光発生器１５と
対向して配置されたレーザ光受光器１６の前方に受光レ
ンズ（図示せず）を配置し、該受光レンズで平行レーザ
光線をレーザ光受光器１６内の受光素子１６ａ上で焦点
が合致するように収光するもので、発光素子１５ａと受
光素子１６ａとを縦一列に配置してある。なお、検査に
際しては、カム３のカム面３ａを縦断する平行レーザ光
が投射されるよう、カム組立体１はレーザ光発生器１５
とレーザ光受光器１６を結ぶレーザ光の光路面に対して
直交するよう配置される。
１５とレーザ光受光器１６を外形計測対象の配置空間を
挟んで離間対向させたものであり、レーザ光発生器１５
は半導体レーザ、八面ポリゴンミラー、反射ミラー及び
コリメータレーザ等を装備して半導体レーザによって発
射したレーザ光を八面ポリゴンミラー及び反射ミラーで
反射した後、コリメータレンズを通してレーザ光を平行
レーザ光線にして出射し、また該レーザ光発生器１５と
対向して配置されたレーザ光受光器１６の前方に受光レ
ンズ（図示せず）を配置し、該受光レンズで平行レーザ
光線をレーザ光受光器１６内の受光素子１６ａ上で焦点
が合致するように収光するもので、発光素子１５ａと受
光素子１６ａとを縦一列に配置してある。なお、検査に
際しては、カム３のカム面３ａを縦断する平行レーザ光
が投射されるよう、カム組立体１はレーザ光発生器１５
とレーザ光受光器１６を結ぶレーザ光の光路面に対して
直交するよう配置される。
【００１１】関数処理判定器１４は、レーザ光受光器１
６が出力するリフト量Ｌと回転駆動器１２が出力するカ
ム軸回転角θを一対の計測データとして格納するバッフ
ァメモリ１７と、バッファメモリ１７に格納された計測
データ（θ1，Ｌ1），（θ2，Ｌ2），．．．から、リフ
ト量Ｌとカム軸回転角θの関係を近似する曲線を求め、
得られた近似曲線から最大リフト量を与えるカム軸回転
角θｏを算定し、算定結果を規定に照らしてカム組立体
１の合否判定を下す演算処理ユニット１８を有する。近
似曲線には、ここでは係数ａと定数θｏ，Ｌｏが未知の
２次曲線が用いられ、カム軸２の回転角θを横軸に投影
長Ｌを縦軸にとって計測データを２次元座標平面上にプ
ロットしたときに、プロットされた点を最小の誤差で曲
線近似するため、最小二乗法を使って未知の係数ａと定
数θｏ，Ｌｏが決定される。
６が出力するリフト量Ｌと回転駆動器１２が出力するカ
ム軸回転角θを一対の計測データとして格納するバッフ
ァメモリ１７と、バッファメモリ１７に格納された計測
データ（θ1，Ｌ1），（θ2，Ｌ2），．．．から、リフ
ト量Ｌとカム軸回転角θの関係を近似する曲線を求め、
得られた近似曲線から最大リフト量を与えるカム軸回転
角θｏを算定し、算定結果を規定に照らしてカム組立体
１の合否判定を下す演算処理ユニット１８を有する。近
似曲線には、ここでは係数ａと定数θｏ，Ｌｏが未知の
２次曲線が用いられ、カム軸２の回転角θを横軸に投影
長Ｌを縦軸にとって計測データを２次元座標平面上にプ
ロットしたときに、プロットされた点を最小の誤差で曲
線近似するため、最小二乗法を使って未知の係数ａと定
数θｏ，Ｌｏが決定される。
【００１２】測定に際しては、まずカム組立体１をカム
軸２の軸線がレーザ光発生器１５とレーザ光受光器１６
を結ぶレーザ光の光路面に対して直交するよう、回転駆
動器１２に取り付ける。次に、レーザ光を発生させた状
態で、回転駆動器１２を作動させる。これにより、カム
組立体１は、カム軸２の回転に合わせレーザ光の光路面
内でゆっくりと回転する。カム組立体１が回転すると、
回転駆動器１２からカム軸２の回転角θを示す信号が関
数処理判定器１４に供給される。
軸２の軸線がレーザ光発生器１５とレーザ光受光器１６
を結ぶレーザ光の光路面に対して直交するよう、回転駆
動器１２に取り付ける。次に、レーザ光を発生させた状
態で、回転駆動器１２を作動させる。これにより、カム
組立体１は、カム軸２の回転に合わせレーザ光の光路面
内でゆっくりと回転する。カム組立体１が回転すると、
回転駆動器１２からカム軸２の回転角θを示す信号が関
数処理判定器１４に供給される。
【００１３】関数処理判定器１４は、回転駆動器１２か
ら送り込まれる回転角θとレーザ光受光器１６から送り
込まれるリフト量Ｌを、図２のステップ（１０１）に示
したように、測定点ごとに対にして（θ1，Ｌ1），（θ
2，Ｌ2），．．のごとくバッファメモリ１７に格納す
る。そして、カム軸２が１回転し終えたときに、続くス
テップ（１０２）に示したように、バッファメモリ１７
に格納されたｎ個の計測データ（θ1，Ｌ1）〜（θn，
Ｌn）中のＬｏ〜Ｌｏ−ΔＬの範囲にもとづいて最小二
乗法による関数近似を実行する。
ら送り込まれる回転角θとレーザ光受光器１６から送り
込まれるリフト量Ｌを、図２のステップ（１０１）に示
したように、測定点ごとに対にして（θ1，Ｌ1），（θ
2，Ｌ2），．．のごとくバッファメモリ１７に格納す
る。そして、カム軸２が１回転し終えたときに、続くス
テップ（１０２）に示したように、バッファメモリ１７
に格納されたｎ個の計測データ（θ1，Ｌ1）〜（θn，
Ｌn）中のＬｏ〜Ｌｏ−ΔＬの範囲にもとづいて最小二
乗法による関数近似を実行する。
【００１４】ここでは、前述したように、関数近似に用
いる曲線は、３個の未知数ａ，θｏ，Ｌｏをもつ２次曲
線
いる曲線は、３個の未知数ａ，θｏ，Ｌｏをもつ２次曲
線
【数１】Ｌ＝−ａ（θ−θｏ）2＋Ｌｏ を実験式として策定してある。
【００１５】最小二乗法では、二乗誤差の総和を最小と
するような値として未知数ａ，θｏ，Ｌｏを決定する
が、そのための演算ソフトウェアは演算処理ユニット１
８に内蔵させてある。ただし、極大点付近での双曲線近
似の近似精度を高めるため、近似に用いるカム軸回転角
θを図３に示した一定範囲θｏ±Δθ内のデータに限定
するようにしてもよい。その場合、Δθには経験値を用
いるが、θｏは設計データ値を用いればよい。
するような値として未知数ａ，θｏ，Ｌｏを決定する
が、そのための演算ソフトウェアは演算処理ユニット１
８に内蔵させてある。ただし、極大点付近での双曲線近
似の近似精度を高めるため、近似に用いるカム軸回転角
θを図３に示した一定範囲θｏ±Δθ内のデータに限定
するようにしてもよい。その場合、Δθには経験値を用
いるが、θｏは設計データ値を用いればよい。
【００１６】こうして、最小二乗法による近似により双
曲線の関数波形が決定されたならば、ｄＬ／ｄθ＝０を
与える極大点を求める。ただし、ここでは実験式として
２次曲線を策定しているため、単純にθ＝θｏが求める
カム軸回転角となる。従って、最大リフト量を与えるカ
ム軸回転角θｏはステップ（１０２）の段階で算定され
る。そこで、次にカム組立体１に設計段階で指定された
規定のカム軸回転角θｓとカム軸回転角θｏを比較する
ため、ステップ（１０３）において両者の差分θｏ−θ
ｓを演算する。そしてさらに、続くステップ（１０４）
において差分θｏ−θｓの絶対値が所定の許容公差ε以
下であるかどうかを判定する。
曲線の関数波形が決定されたならば、ｄＬ／ｄθ＝０を
与える極大点を求める。ただし、ここでは実験式として
２次曲線を策定しているため、単純にθ＝θｏが求める
カム軸回転角となる。従って、最大リフト量を与えるカ
ム軸回転角θｏはステップ（１０２）の段階で算定され
る。そこで、次にカム組立体１に設計段階で指定された
規定のカム軸回転角θｓとカム軸回転角θｏを比較する
ため、ステップ（１０３）において両者の差分θｏ−θ
ｓを演算する。そしてさらに、続くステップ（１０４）
において差分θｏ−θｓの絶対値が所定の許容公差ε以
下であるかどうかを判定する。
【００１７】│θｏ−θｓ│＜εである場合は、ステッ
プ（１０５）においてカム組立体１に対して合格判定が
なされる。しかし、そうでない場合はステップ（１０
６）において不良品として不合格判定がなされる。
プ（１０５）においてカム組立体１に対して合格判定が
なされる。しかし、そうでない場合はステップ（１０
６）において不良品として不合格判定がなされる。
【００１８】一般に、カム面３ａが連続的に変化するカ
ム３の投影長は、極大点の前後で滑らかに変化するた
め、近似曲線の係数ａと定数θｏ，Ｌｏを決定する上
で、近似曲線上にすべての点をプロットする必要はな
く、数点の離散データにもとづいて決定された近似曲線
から求まる極大点から、最大リフト量を与えるカム軸回
転角θｏを十分正確に算定することができる。このた
め、カム軸回転角θとリフト量Ｌの関係を示す計測デー
タのなかから、検査者の経験に頼って極大点を探し出す
従来の方法と異なり、合否判定を含め一貫して信頼のお
ける検査が可能である。
ム３の投影長は、極大点の前後で滑らかに変化するた
め、近似曲線の係数ａと定数θｏ，Ｌｏを決定する上
で、近似曲線上にすべての点をプロットする必要はな
く、数点の離散データにもとづいて決定された近似曲線
から求まる極大点から、最大リフト量を与えるカム軸回
転角θｏを十分正確に算定することができる。このた
め、カム軸回転角θとリフト量Ｌの関係を示す計測デー
タのなかから、検査者の経験に頼って極大点を探し出す
従来の方法と異なり、合否判定を含め一貫して信頼のお
ける検査が可能である。
【００１９】また。上記カム検査装置１１は、リフト量
Ｌとカム軸回転角θの関係を示す計測データを、あらか
じめ策定した未知の曲線により近似し、最小二乗法によ
り近似曲線を決定するようにしたので、曲線の漸近線の
交点を示す座標そのものが、最大リフト量を与えるカム
軸回転角θｏとして曲線の関数式中に含まれ、従って求
めた近似曲線の極大値を微分演算等により求めるといっ
た手続きを踏むことなく、即座に合否判定に着手するこ
とができる。
Ｌとカム軸回転角θの関係を示す計測データを、あらか
じめ策定した未知の曲線により近似し、最小二乗法によ
り近似曲線を決定するようにしたので、曲線の漸近線の
交点を示す座標そのものが、最大リフト量を与えるカム
軸回転角θｏとして曲線の関数式中に含まれ、従って求
めた近似曲線の極大値を微分演算等により求めるといっ
た手続きを踏むことなく、即座に合否判定に着手するこ
とができる。
【００２０】なお、近似曲線としては、二次曲線に限定
されず、最大リフト量を極大値として有する上に凸の曲
線であれば、楕円の一部或いは３次以上の関数曲線など
でもよく、カム３の設計資料を参考に予想される投影デ
ータを考慮して随意策定するとよい。
されず、最大リフト量を極大値として有する上に凸の曲
線であれば、楕円の一部或いは３次以上の関数曲線など
でもよく、カム３の設計資料を参考に予想される投影デ
ータを考慮して随意策定するとよい。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
カム組立体にカム面を縦断する平行光を投射し、カム軸
を軸周りに回転させながら軸芯からカム面までの投影長
とカム軸回転角の関係を計測し、計測結果から求められ
る前記関係を近似する曲線から最大の投影長を与える前
記カム軸回転角を算定し、算定結果からカム組立体のカ
ム組み付け精度を合否判定するようにしたから、カム面
が連続的に変化するカムの投影長もまた極大点の前後で
滑らかに変化する点に着目すれば、近似曲線の係数と定
数を決定する上で数点の離散データがあればよく、決定
された近似曲線から算定される極大点から、最大リフト
量を与えるカム軸回転角を正確に割り出すことができ
る。仮に実際の極大点が２点のデータに中間に埋もれて
しまったとしても、近似曲線の精度の範囲で正確に極大
点を算定することができ、これによりこれまで検査者の
経験に頼って判定していたカム組立体単品の検査時間を
大幅に短縮し、検査効率を良好に向上させることができ
る等の優れた効果を奏する。
カム組立体にカム面を縦断する平行光を投射し、カム軸
を軸周りに回転させながら軸芯からカム面までの投影長
とカム軸回転角の関係を計測し、計測結果から求められ
る前記関係を近似する曲線から最大の投影長を与える前
記カム軸回転角を算定し、算定結果からカム組立体のカ
ム組み付け精度を合否判定するようにしたから、カム面
が連続的に変化するカムの投影長もまた極大点の前後で
滑らかに変化する点に着目すれば、近似曲線の係数と定
数を決定する上で数点の離散データがあればよく、決定
された近似曲線から算定される極大点から、最大リフト
量を与えるカム軸回転角を正確に割り出すことができ
る。仮に実際の極大点が２点のデータに中間に埋もれて
しまったとしても、近似曲線の精度の範囲で正確に極大
点を算定することができ、これによりこれまで検査者の
経験に頼って判定していたカム組立体単品の検査時間を
大幅に短縮し、検査効率を良好に向上させることができ
る等の優れた効果を奏する。
【図１】本発明のカム組立体の検査方法を適用したカム
検査装置の一実施例を示す概略斜視図である。
検査装置の一実施例を示す概略斜視図である。
【図２】図１に示した関数処理判定器の動作を説明する
ためのフローチャートである。
ためのフローチャートである。
【図３】軸芯からカム面までの投影長とカム軸回転角の
関係を近似した近似曲線の一例を示す図である。
関係を近似した近似曲線の一例を示す図である。
【図４】従来のカム組立体の検査方法を説明するための
図である。
図である。
１ カム組立体 ２ カム軸 ３ カム ３ａ カム面 １１ カム検査装置 １２ 回転駆動器 １４ 関数処理判定器
Claims (2)
- 【請求項１】 カム軸にこれとは別体のカムを組み付け
たカム組立体に、前記カムのカム面を縦断する平行光を
投射し、前記カム軸を軸周りに回転させて軸芯からカム
面までの投影長とカム軸回転角の関係を計測し、計測結
果から前記関係を近似する曲線を求め、得られた近似曲
線から最大の投影長を与える前記カム軸回転角を算定
し、算定結果から前記カム組立体のカム組み付け精度を
合否判定することを特徴とするカム組立体の検査方法。 - 【請求項２】 前記近似曲線は、前記軸芯からカム面ま
での投影長とカム軸回転角の関係を示す計測結果を、あ
らかじめ策定した係数及び定数が未知の実験式により近
似し、該未知の係数及び定数を最小二乗法により決定し
て求めることを特徴とする請求項１記載のカム組立体の
検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16881592A JP2790752B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | カム組立体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16881592A JP2790752B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | カム組立体の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0611325A true JPH0611325A (ja) | 1994-01-21 |
| JP2790752B2 JP2790752B2 (ja) | 1998-08-27 |
Family
ID=15875016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16881592A Expired - Fee Related JP2790752B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | カム組立体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2790752B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020030126A (ja) * | 2018-08-23 | 2020-02-27 | 株式会社デンソー | 角度検出装置及び角度検出方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102281505B1 (ko) * | 2020-03-31 | 2021-07-26 | 텔스타홈멜 주식회사 | 캠피스 오조립 체크 시스템 |
-
1992
- 1992-06-26 JP JP16881592A patent/JP2790752B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020030126A (ja) * | 2018-08-23 | 2020-02-27 | 株式会社デンソー | 角度検出装置及び角度検出方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2790752B2 (ja) | 1998-08-27 |
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