JPH06113228A - カウンタ回路 - Google Patents

カウンタ回路

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Publication number
JPH06113228A
JPH06113228A JP4258370A JP25837092A JPH06113228A JP H06113228 A JPH06113228 A JP H06113228A JP 4258370 A JP4258370 A JP 4258370A JP 25837092 A JP25837092 A JP 25837092A JP H06113228 A JPH06113228 A JP H06113228A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
counter
circuit
reset
response
Prior art date
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Pending
Application number
JP4258370A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Murayama
誠 村山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP4258370A priority Critical patent/JPH06113228A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、TV受像機のAFT回路に用いら
れるカウンタ回路に関し、特に高周波の入力信号も正確
にカウントできるカウンタ回路に関する。 【構成】 本発明は、リセット信号発生回路(13)
と、第1カウンタ(15)と、ゲート回路(16)と、
第2カウンタ(17)とを備え、入力信号をゲート回路
(16)を介して第2カウンタ(17)に印加してい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高周波の入力信号の計
数を行なうカウンタ回路に関するもので、例えばTV受
像機のAFT(自動周波数同調)回路に用いて好適なカ
ウンタ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】TV受像機の局部発振回路の発振周波数
を制御することにより中間周波数を一定にするAFT回
路では、映像IF増幅回路からの58.75MHzのI
F信号周波数を検波する必要がある。その検波をカウン
タ回路を用いて行なう方法が知られている。図3は、そ
のようなAFT回路を用いたTV受像機を示すもので、
アンテナ(1)に受信されたTV信号は、RF増幅回路
(2)で増幅され、混合回路(3)でIF信号に変換さ
れる。変換されたIF信号は、IF増幅回路(4)で増
幅され映像検波回路(5)で検波される。検波された映
像信号は、映像増幅器(6)で増幅される一方、クロマ
信号のみが抽出されクロマ処理回路(7)に印加され
る。リセットパルス発生回路(8)は、クロマ信号に応
じてリセット解除信号を発生する。IFカウンタ(9)
及びラッチ回路(10)は、前記リセット解除信号が印
加されている期間のみ動作を行なう。IFカウンタ
(9)は、リセット解除中、IF増幅回路(4)からの
IF信号周波数(58.75MHz)をカウントし、そ
のカウント結果をラッチ回路(10)に印加する。遅延
回路(11)の働きにより、ラッチ回路(10)は、I
Fカウンタ(9)の最終値をラッチする。ラッチされた
データは、局部発振器(12)に印加され、基準のデー
タと比較され、その比較結果に応じて局部発振器(1
2)の発振周波数が調整される。
【0003】従って、図3の回路に依れば、一定周波数
のIF信号が得られる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図3のIFカウンタ
(9)は、T型フリップフロップで構成されるが、その
保持しているデータが0又は1で連続して存在する場
合、桁上りに時間がかかるため、この期間中に次のクロ
ックが入力されてしまい、異常なデータが発生する場合
があり、そのデータがある確率でラッチされることがあ
る。これは、IF信号周波数が非常に高い為に発生する
ので、IFカウンタとしてECLなどの高速タイプのも
のを利用することが考えられるが、素子数が多くなると
ともに電流値が大きくなり、好ましくなかった。
【0005】又、図3の方法では、原理的に遅延回路を
必要とするが、遅延回路のわずかな遅延時間を一定値に
するのは難しくバラツキがあった。すると、IFカウン
タ(9)のリセット解除時間がそれに応じて変動し、カ
ウント値が変動する恐れがあった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の点に鑑み
成されたもので、スタート信号に応じてリセット解除信
号を発生させ、ストップ信号に応じて前記リセット解除
信号を終了させるリセット信号発生回路と、該リセット
信号発生回路からのリセット解除信号に応じて、クロッ
ク信号を計数しウィンドウ信号を発生する第1カウンタ
と、該第1カウンタからのウィンドウ信号に応じて、入
力信号を通過させるゲート回路と、前記リセット信号発
生回路からのリセット解除信号に応じて動作可能状態と
なり、前記ゲート回路からの前記入力信号を計数する第
2カウンタと、を備え、前記入力信号の計数値を前記第
2カウンタから得るようにしたことを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明に依れば、ゲート回路により、入力信号
をゲートすることにより、第2カウンタで入力信号の計
数を行ない、第2カウンタが計数完了し、安定状態とな
ってからデータの読み出しを行なっている。その為、出
力データのラッチを行なう必要がなく確実に正しいデー
タを読み出すことができる。
【0008】
【実施例】図1は、本発明の一実施例を示す回路図で、
(13)はマイクロコンピュータ(14)からのスター
ト信号に応じてリセット解除信号を発生させ、ストップ
信号に応じて前記リセット解除信号を終了させるリセッ
ト信号発生回路、(15)は、リセット信号発生回路
(13)からのリセット解除信号に応じて、クロマ信号
を計数しウィンドウ信号を発生する第1カウンタ、(1
6)は前記第1カウンタ(15)からのウィンドウ信号
に応じて、入力信号を通過させるアンドゲート、(1
7)は、前記リセット信号発生回路(13)からのリセ
ット解除信号に応じて動作可能状態となり、前記アンド
ゲート(16)からの前記入力信号を計数する第2カウ
ンタ、(18)及び(19)は、入力信号の立下がりに
応じて「H」レベルのエッジパルスを発生するエッジ検
出回路、及び(20)は第1カウンタ(15)から2発
目以降の信号が第2カウンタ(17)に印加されるのを
禁止するRS−FFである。
【0009】尚、図1において図2と同一の回路素子に
ついては同一の符号を付し説明を省略する。マイクロコ
ンピュータ(14)からの図2(a)の如きスタート信
号が端子(21)からリセット信号発生回路(13)に
印加されると、そのQの反転出力信号は図2(c)の如
くなる。図2(c)のリセット解除信号が第1カウンタ
(15)及び第2カウンタ(17)のリセット端子に印
加されると、第1カウンタ(15)及び第2カウンタ
(17)は計数可能状態となる。第1カウンタ(15)
は、それと同時に計数を開始するが、第2カウンタ(1
7)にはアンドゲート(16)から入力信号が印加され
ないので計数の待期状態となる。又、エッジ検出回路
(19)は、図2(c)の立下がりエッジを検出し、R
S−FF(20)をセットし、そのQ出力を図2(e)
の如く「H」レベルとする。そして、第1カウンタ(1
5)の計数が進むと、その出力として図2(d)の如き
ウィンドウ信号が発生し、アンドゲート(16)とエッ
ジ検出回路(18)に印加される。図2(d)のウィン
ドウ信号に応じてアンドゲート(16)に印加される端
子(23)からのIF信号は、図2(f)の期間中、第
2カウンタ(17)に印加される。そして、図2の時刻
1に第1カウンタ(15)の出力が「L」レベルにな
るとアンドゲート(16)は入力信号を遮断する。同時
に、エッジ検出回路(18)が、その立下がりを検出し
RS−FF(20)を反転させるのでそのQ出力は図2
(e)の如く「L」レベルとなる。 このようにして、
第2カウンタ(17)への入力信号の供給がストップす
ると、第2カウンタ(17)は、計数動作を停止し、最
終値を保持する。この状態で、第2カウンタ(17)に
おける最終的の桁上りが完全に終了した後にマイクロコ
ンピュータ(14)からの読み出し命令により、出力デ
ータをマイクロコンピュータ(14)に印加する。マイ
クロコンピュータ(14)は、前記出力データを内部の
基準値と比較し、エラー信号を局部発振器(12)に印
加する。その後、マイクロコンピュータ(14)から図
2(b)のストップ信号が端子(22)に印加され、リ
セット信号発生回路(13)の出力が図2(c)の如く
「H」レベルに戻る。すると、第1及び第2カウンタ
(15)及び(17)は、リセット状態となり、次の計
数タイミングを待期する。
【0010】従って、図1の回路に依ればIF信号のカ
ウントを行なうことができる。
【0011】
【発明の効果】以上述べた如く、本発明に依ればカウン
タで計数した値をラッチ回路に取り込む必要がないの
で、遅延回路やラッチ回路を必要としない。本発明に依
れば、入力信号をカウンタに印加する期間をゲートによ
り制御しているので、常に一定の期間とすることがで
き、正確なカウント値を得られる。又、本発明に依れ
ば、カウンタの出力データが安定してからデータを読み
出すことができるので、高速のカウンタを必要としな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のカウンタ回路を示す回路図である。
【図2】図1の説明に供する為の波形図である。
【図3】従来のAFT回路に使用されるカウンタ回路を
示す回路図である。
【符号の説明】
(13) リセット信号発生回路 (15) 第1カウンタ (16) ゲート回路 (17) 第2カウンタ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 スタート信号に応じてリセット解除信号
    を発生させ、ストップ信号に応じて前記リセット解除信
    号を終了させるリセット信号発生回路と、 該リセット信号発生回路からのリセット解除信号に応じ
    て、クロック信号を計数しウィンドウ信号を発生する第
    1カウンタと、 該第1カウンタからのウィンドウ信号に応じて、入力信
    号を通過させるゲート回路と、 前記リセット信号発生回路からのリセット解除信号に応
    じて動作可能状態となり、前記ゲート回路からの前記入
    力信号を計数する第2カウンタと、 を備え、前記入力信号の計数値を前記第2カウンタから
    得るようにしたことを特徴とするカウンタ回路。
  2. 【請求項2】 前記リセット信号発生回路からのリセッ
    ト解除信号及び前記第1カウンタからのウィンドウ信号
    に応じて反転し、その出力信号を前記ゲート回路に印加
    するフリップフロップを備えることを特徴とする請求項
    1記載のカウンタ回路。
JP4258370A 1992-09-28 1992-09-28 カウンタ回路 Pending JPH06113228A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4258370A JPH06113228A (ja) 1992-09-28 1992-09-28 カウンタ回路

Applications Claiming Priority (1)

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JP4258370A JPH06113228A (ja) 1992-09-28 1992-09-28 カウンタ回路

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Publication Number Publication Date
JPH06113228A true JPH06113228A (ja) 1994-04-22

Family

ID=17319304

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4258370A Pending JPH06113228A (ja) 1992-09-28 1992-09-28 カウンタ回路

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JP (1) JPH06113228A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4839707A (en) * 1987-08-27 1989-06-13 Hughes Aircraft Company LCMOS displays fabricated with implant treated silicon wafers
US6628345B1 (en) 2000-06-23 2003-09-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Automatic frequency tuning circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4839707A (en) * 1987-08-27 1989-06-13 Hughes Aircraft Company LCMOS displays fabricated with implant treated silicon wafers
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