JPH06112631A - 高周波回路基板及びその製造方法 - Google Patents

高周波回路基板及びその製造方法

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JPH06112631A
JPH06112631A JP25988592A JP25988592A JPH06112631A JP H06112631 A JPH06112631 A JP H06112631A JP 25988592 A JP25988592 A JP 25988592A JP 25988592 A JP25988592 A JP 25988592A JP H06112631 A JPH06112631 A JP H06112631A
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film
conductor
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resistor
paste
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Tsunetaro Nose
恒太郎 能勢
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Mitsubishi Materials Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、高周波混成集積回路、マイクロ波集
積回路等に用いられる高周波回路基板及びその製造方法
に関し、高周波特性、解像度が良好であってしかも工程
数等の少ない、高周波混成集積回路、マイクロ波集積回
路等に適合する導体パターンを形成する。 【構成】セラミック基板上に、金、銀、もしくは銅を主
成分とするメタロオーガニックペーストを印刷して焼成
することにより第1の導体層を形成し、該第1の導体層
の上に、金、銀もしくは銅のめっきにより第2の導体層
を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高周波混成集積回路、
マイクロ波集積回路等に用いられる高周波回路基板及び
その製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】高周波混成集積回路、マイクロ波集積回
路等を構成する場合、セラミック基板上に、配線のた
め、もしくはインダクタンス、抵抗体の端子、コンデン
サの端子等を形成するため、導体パターンが形成され
る。図7は、セラミック基板上に形成された導体パター
ン等を図解的に示した斜視図である。
【0003】図7(A)には、セラミック基板10の裏
面全体に導体膜12が形成され、セラミック基板10の
表面には直線状の導体パターン14が形成され、これら
導体膜12及び導体パターン14によりマイクロストリ
ップラインが構成されている。また図7(B)には、セ
ラミック基板10の裏面には、図7(A)と同様にその
全面に導体膜12が形成され、セラミック基板10の表
面には、裏面との電気的接続のためにスルーホール16
内に充填された導体を含む導体パターン18、裏面の導
体膜14との間でマイクロストリップラインを形成する
導体パターン20,22、インダクタンスを構成する導
体パターン24,26,28、抵抗体30の端子を構成
する導体パターン32等、種々の導体パターンが形成さ
れている。
【0004】このような導体パターンを形成する技術と
しては、膜厚技術(例えば、日本マイクロエレクトロニ
クス協会編「IC化実装技術」第15〜36頁工業調査
会1982年参照)、薄膜技術(例えば、日本マイクロ
エレクトロニクス協会編「IC化実装技術」第37〜6
9頁工業調査会1982年参照)、メタロオーガニック
ペースト(例えば橋詰、高橋著「メタロオーガニックペ
ースト」電子材料1991年5月第42〜46頁参照)
等が知られている。
【0005】ここで、上記高周波混成集積回路、マイク
ロ波集積回路等においては、セラミック基板上に形成さ
れる導体パターンには、高周波特性が良好であること、
解像度がよいこと、所定の膜厚のものが得られること、
工数が少なくて済みまたコストも低いこと等、種々の条
件を満足することが要求される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図8は、厚膜技術を用
いた導体パターン形成の工程の一例を示した図である。
(a)に示すように厚膜ペースト30をセラミック基板
10の上部に配置されたスクリーン32に乗せ、スキー
ジ34を移動することにより、厚膜ペースト30をセラ
ミック基板10に印刷する。その後、乾燥、焼成工程を
経て、(b)に示すようにセラミック基板10上に導体
パターン36が形成される。
【0007】ところが、この厚膜技術を採用して導体パ
ターンを形成すると、厚膜ペーストにはガラス成分が混
入されているため、高周波特性が悪く、しかも解像度も
悪いという問題がある。図9は薄膜技術を用いた導体パ
ターン形成の工程の一例を示した図である。セラミック
基板10上に接着膜40を形成し(a)、その上に拡散
防止膜42を形成する。その後、さらにその上にフォト
レジスト膜44を形成し(c)、フォトリソグラフィー
工程を経た後(d)、例えばめっきにより導体膜46を
形成し(e)、レジスト膜を除去する(f)。これによ
り導体パターンが形成される。このような薄膜技術を採
用して導体パターンを形成すると良好な高周波特性を有
しかつ解像度もよい導体パターンを形成することができ
るが、プロセスが複雑であり、工数も多くかかり、コス
トも高くつくことになる。
【0008】さらに、メタロオーガニックペースト技術
では、膜厚ペーストに代えてメタロオーガニックペース
トを用い、図8に示す工程と同様の工程により導体パタ
ーンが形成されるが、1回の印刷、焼成で0.2μm程
度の薄い膜しか形成されず、この工程を3回繰返し0.
6μmの厚さの膜を形成しても金導体の場合でさえシー
ト抵抗が20〜30mΩ/mm2 と高過ぎるという問題
がある。
【0009】本発明は、上記事情に鑑み、高周波特性、
解像度が良好であってしかも工程数等の少ない高周波混
成集積回路、マイクロ波集積回路等に適合する半導体パ
ターンが形成された高周波回路基板及びその製造方法を
提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の高周波回路基板は、セラミック基板と、該セラミッ
ク基板上に、金、銀、もしくは銅を主成分とするメタロ
オーガニックペーストを印刷することにより形成された
第1の導体層と、該第1の導体層の上に金、銀、もしく
は銅めっきにより形成された第2の導体層とを備えたこ
とを特徴とするものである。
【0011】また、本発明の高周波回路基板の製造方法
は、セラミック基板上に、金、銀、もしくは銅を主成分
とするメタロオーガニックペーストを印刷して焼成する
ことにより第1の導体層を形成し、該第1の導体層の上
に、金、銀、もしくは銅めっきにより第2の導体層を形
成することを特徴とするものである。ここで、上記めっ
きは、電気めっきでもよく、電解めっきでもよい。
【0012】
【作用】メタロオーガニックで形成した第1の導体層
は、前述したように0.2μm程度の薄い膜であるが、
ガラス成分は含まれておらず、その分従来の厚膜法と比
べパターン解像度も良好となる。またこのメタロオーガ
ニックで形成した金、銀、又は銅からなる導体はその導
体表面や接着界面が平坦化され、したがってその後めっ
きが可能である。このため上記第1の導体層に金、銀又
は銅のめっきにより第2の導体層を重ね、これにより例
えば1μm程度の膜厚の導体層を形成し、導体抵抗を下
げることができ、高周波特性も向上する。また、上記の
ようにパターン解像度が向上し、表面や接着界面が平坦
化されることにより細い導体パターンを形成することが
でき、したがって、回路をより小さく形成することが可
能となる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
1は、本発明に係る工程の一例を示した図である。アル
ミナ(Al23 )99.7%研磨基板60上のスクリ
ーン64に、図1に示すペースト62としてエム・イー
・ケムキャット社製メタロオーガニックAuペーストA
−4615を乗せ、スキージ66を移動させ、このスク
リーン印刷により、線幅100μm,線間50μmの導
体パターン68を形成し(a)、その後125℃で10
分間乾燥し、ピーク時850℃10分で焼成した
(b)。その後総膜厚がおよそ1μmとなるように導体
パターン68に金めっきを行い、めっき層70を形成し
た(c)。
【0014】上記のようにして本発明方法により形成さ
れたAu導体パターンと、厚膜技術、薄膜技術を用いて
形成されたAu導体パターンを比較して表1に示す。
【0015】
【表1】
【0016】この表1に示すように、また図1に示すよ
うな簡単な工程で、解像度等の良好な導体パターンが形
成される。以下、本発明方法を適用した種々の工程につ
いて説明する。なお、以下に示す各図において、図1と
同一の要素には、図1付した番号と同一の番号を付し説
明は省略することがある。
【0017】図2は抵抗体膜とその端子としての導体パ
ターンを形成する工程の1つを示した図である。スクリ
ーン64に抵抗体ペースト80を乗せ、スクリーン印刷
により基板60上に抵抗体膜82を印刷し(a)、焼成
する(b)。その後抵抗体膜82の両端にメタロオーガ
ニックAuペースト62をスクリーン印刷して導体パタ
ーン68を形成し(c)、焼成する(d)。これら抵抗
体膜82、導体パターン68をフォトレジスト膜84で
覆い(e)、フォトリソグラフィー工程を経た後
(f)、導体パターン68上にAuめっき層70を形成
し(g)、レジスト膜84を除去する(h)。これによ
り抵抗体膜82とその両端の導体パターン68,70が
形成される。
【0018】図3は、抵抗体膜とその端子としての導体
パターンを形成する他の工程を示した図である。スクリ
ーン64上メタロオーガニックAuペースト62を乗
せ、スクリーン印刷により基板60上に導体パターン6
8を形成し(a)、焼成する(b)。その後導体パター
ン68上にAuめっき層70を形成し(c)、その後ス
クリーン印刷により抵抗体膜82を形成し(d)、焼成
する(e)。これにより抵抗体膜82とその両端の導体
パターン68、70が形成される。
【0019】図4は、抵抗体膜とその端子としての導体
パターンを形成する、もう1つの工程例を示した図であ
る。基板60上に、薄膜法により、抵抗体膜86を形成
し(a)、スクリーン64上にメタロオーガニックAu
ペースト62を乗せスクリーン印刷により抵抗体膜86
の両端に導体パターン68を形成して(b)、焼成する
(c)。その後の図示(d)〜(g)の工程は、図2に
示すそれぞれ(e)〜(h)の工程と同一である。これ
により、抵抗体膜86とその両端の導体パターン68,
70が形成される。
【0020】図5は、抵抗体膜とその端子としての導体
パターンを形成する、さらに異なる工程例を示した図で
ある。スクリーン64上にメタロオーガニックAuペー
スト62を乗せ、スクリーン印刷により基板60上の全
面に導体膜68を形成し(a)、焼成する(b)。その
後のこの導体膜68上にAuめっき層70を形成し
(c)、フォトリソグラフィー、エッチング工程により
所定のパターンの導体膜68,70を形成する(d)。
その後の図示の(e)、(f)の工程は、図3に示すそ
れぞれ(d)、(e)の工程と同一である。これにより
抵抗体膜82とその両端の導体パターン68、70が形
成される。
【0021】図6は、抵抗体膜とその端子として導体パ
ターンを形成するもう1つの工程例を示した図である。
基板60上にメタロオーガニックAuペーストを用いて
導体パターン68aを印刷、焼成し(a)、その導体パ
ターン68aにまたがるように抵抗体層82を印刷、焼
成し(b)、その後導体パターン68bを印刷、焼成す
る(c)。この導体パターン68bは導体パターン68
aと重なる部分を含む、かつ導体パターン68aと電気
的に接続されるように形成する。その後(d)〜(g)
の各工程は、図2に示す各工程(e)〜(h)とそれぞ
れ同一である。これにより抵抗体膜82とその両端の導
体パターン68a,68b,70が形成される。
【0022】このように、本発明の工程を応用した種々
の工程が可能である。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、メタロオーガニック技術を用いて、金、銀又は銅を
主成分とする第1の導体膜を形成し、この第1の導体膜
に重ねて、金、銀、又は銅のめっきによる第2の導体膜
を形成したため、高周波特性、解像度が良好であり、し
かも少ない工程数で導体パターンが形成される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る工程の一例を示した図である。
【図2】抵抗体膜とその端子としての導体パターンを形
成する工程の1つを示した図である。
【図3】抵抗体膜とその端子としての導体パターンを形
成する他の工程例を示した図である。
【図4】抵抗体膜とその端子としての導体パターンを形
成する、もう1つの工程例を示した図である。
【図5】抵抗体膜とその端子としての導体パターンを形
成する、さらに異なる工程例を示した図である。
【図6】抵抗体膜とその端子として導体パターンを形成
するもう1つの工程例を示した図である。
【図7】セラミック基板上に形成された導体パターン等
を図解的に示した斜視図である。
【図8】厚膜技術を用いた導体パターン形成の工程の一
例を示した図である。
【図9】薄膜技術を用いた導体パターン形成の工程の一
例を示した図である。
【符号の説明】
60 基板 62 メタロオーガニックAuペースト 64 スクリーン 66 スキージ 68 導体パターン 70 Auめっき層 80 抵抗体ペースト 82 抵抗体膜 84 フォトレジスト膜

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック基板と、該セラミックス基板
    上に、金、銀、もしくは銅を主成分とするメタロオーガ
    ニックペーストを印刷することにより形成された第1の
    導体層と、該第1の導体層の上に金、銀、もしくは銅め
    っきにより形成された第2の導体層とを備えたことを特
    徴とする高周波回路基板。
  2. 【請求項2】 セラミック基板上に、金、銀、もしくは
    銅を主成分とするメタロオーガニックペーストを印刷し
    て焼成することにより第1の導体層を形成し、 該第1の導体層の上に、金、銀もしくは銅のめっきによ
    り第2の導体層を形成することを特徴とする高周波回路
    基板の製造方法。
JP25988592A 1992-09-29 1992-09-29 高周波回路基板及びその製造方法 Withdrawn JPH06112631A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100389314B1 (ko) * 2001-07-18 2003-06-25 엘지전자 주식회사 도금인입선 없는 인쇄회로기판의 제조방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100389314B1 (ko) * 2001-07-18 2003-06-25 엘지전자 주식회사 도금인입선 없는 인쇄회로기판의 제조방법

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Effective date: 19991130