JPH06105207B2 - Ｌｅｄアレイのｍｔｆ測定装置 - Google Patents
Ｌｅｄアレイのｍｔｆ測定装置Info
- Publication number
- JPH06105207B2 JPH06105207B2 JP20842890A JP20842890A JPH06105207B2 JP H06105207 B2 JPH06105207 B2 JP H06105207B2 JP 20842890 A JP20842890 A JP 20842890A JP 20842890 A JP20842890 A JP 20842890A JP H06105207 B2 JPH06105207 B2 JP H06105207B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hold circuit
- max
- circuit
- mtf
- led array
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、LEDプリンタ装置等の光源として使用され
るLEDアレイのMTF（変調伝達関数）測定装置についての
ものである。
るLEDアレイのMTF（変調伝達関数）測定装置についての
ものである。
［従来の技術］ LEDアレイのプリンタヘッドには、多数の微小発光体が
直線状に配列されるLEDアレイと、LEDアレイに一定距離
を置いて対向配置されるセルフォックレンズアレイとで
構成される光学系がある。
直線状に配列されるLEDアレイと、LEDアレイに一定距離
を置いて対向配置されるセルフォックレンズアレイとで
構成される光学系がある。
次に、LEDプリンタ装置の構成を第10図により説明す
る。
る。
第10図の11は静電感光ドラム、12はコロナチャージ、13
はプリンタヘッドに組み込まれたLEDアレイ、14はトナ
ー、15はトレー、16はトナー転写部、17は加熱定着部で
ある。
はプリンタヘッドに組み込まれたLEDアレイ、14はトナ
ー、15はトレー、16はトナー転写部、17は加熱定着部で
ある。
コロナチャージ12によって帯電させられた静電感光ドラ
ム11にLEDアレイ13の光を当てると、光の当たったとこ
ろだけ放電する。
ム11にLEDアレイ13の光を当てると、光の当たったとこ
ろだけ放電する。
トレー15から送られてきた紙には、静電感光ドラム11の
帯電部分に対応した位置にトナー転写部16でトナー14が
転写され、加熱定着部17でトナー14が紙に定着される。
帯電部分に対応した位置にトナー転写部16でトナー14が
転写され、加熱定着部17でトナー14が紙に定着される。
次に、第10図の静電感光ドラム11とLEDアレイ13の関係
を第11図により説明する。
を第11図により説明する。
第11図の18はセルフォックレンズアレイであり、LEDア
レイ13の光ビームを静電感光ドラム11上に照射する場
合、LEDアレイ13の発光光量にばらつきがあったり、LED
アレイ13とセルフォックレンズアレイ18との距離にばら
つきがあると、そのばらつきで印字品質が劣化する。そ
こで、LEDアレイ13から放射される各ビームの照射強度
を測定し、光量のばらつきを検査しなければならない。
レイ13の光ビームを静電感光ドラム11上に照射する場
合、LEDアレイ13の発光光量にばらつきがあったり、LED
アレイ13とセルフォックレンズアレイ18との距離にばら
つきがあると、そのばらつきで印字品質が劣化する。そ
こで、LEDアレイ13から放射される各ビームの照射強度
を測定し、光量のばらつきを検査しなければならない。
次に、従来技術によるLEDアレイのMTF測定装置を第12図
により説明する。
により説明する。
第12図では、セルフォックレンズアレイ18から一定距離
を隔てた位置にLEDアレイ13の照射光を受光するイメー
ジセンサ19を置き、LEDアレイ13を１発光体（以下、こ
れを１ドットという。）おきに点滅するパターンで発光
させる。
を隔てた位置にLEDアレイ13の照射光を受光するイメー
ジセンサ19を置き、LEDアレイ13を１発光体（以下、こ
れを１ドットという。）おきに点滅するパターンで発光
させる。
LEDアレイ13の光ビーム放射面から一定距離を離した位
置で、照射ビームの光量分布をLEDアレイ13の配列方向
に測定すると、第７図または第８図のVinのように、リ
ップル状の波形が得られる。
置で、照射ビームの光量分布をLEDアレイ13の配列方向
に測定すると、第７図または第８図のVinのように、リ
ップル状の波形が得られる。
LEDアレイ13のMTF測定とは、このようなリップル波形の
個々の極大値（以下、MAXという。）と極小値（以下、M
INという。）から照射ビームの品質を評価する手段であ
り、例えば、１ドットおきの点滅パターンによる測定な
らば、波形のリップル比率が大きいほど光ビーム個々の
照射分解能は高くなる。
個々の極大値（以下、MAXという。）と極小値（以下、M
INという。）から照射ビームの品質を評価する手段であ
り、例えば、１ドットおきの点滅パターンによる測定な
らば、波形のリップル比率が大きいほど光ビーム個々の
照射分解能は高くなる。
イメージセンサ19の受光面の受光強度分布を信号検出手
段20を介して波形観測手段21で観測し、最大受光強度MA
Xと最小受光強度MINからMTFを次式によって求める。
段20を介して波形観測手段21で観測し、最大受光強度MA
Xと最小受光強度MINからMTFを次式によって求める。
MTF＝（MAX−MIN）／（MAX＋MIN） ……（１） ［発明が解決しようとする課題］ 第12図では、イメージセンサ19によるMTF検出信号をオ
シロスコープ等の波形観測手段21で波形観測し、MTFを
目視演算で求めているが、第12図の従来装置では操作が
煩雑であること、測定精度が得にくいこと、測定に時間
がかかること、オシロスコープ等の波形観測手段21を用
意しなければならないことなどの問題がある。
シロスコープ等の波形観測手段21で波形観測し、MTFを
目視演算で求めているが、第12図の従来装置では操作が
煩雑であること、測定精度が得にくいこと、測定に時間
がかかること、オシロスコープ等の波形観測手段21を用
意しなければならないことなどの問題がある。
この発明は、MAX/MINホールド回路、アナログ演算回路
及びサンプルホールド回路の電子回路でMTFを求めるよ
うにし、従来技術の波形観測手段を不要にし、MTF検出
信号波形に実時間で追従して、MTF演算値を出力するこ
とのできるLEDアレイのMTF測定装置の提供を目的とす
る。
及びサンプルホールド回路の電子回路でMTFを求めるよ
うにし、従来技術の波形観測手段を不要にし、MTF検出
信号波形に実時間で追従して、MTF演算値を出力するこ
とのできるLEDアレイのMTF測定装置の提供を目的とす
る。
［課題を解決するための手段］ この目的を達成するため、この発明では、LEDアレイの
発光をセルフォックレンズアレイを介してイメージセン
サで検出するMTF測定装置において、MAXホールド回路
４、MINホールド回路５およびタイミング制御回路６で
構成され、MAXホールド回路４とMINホールド回路５は前
記イメージセンサの出力を入力とし、タイミング制御回
路６はスタート信号を入力としてMAXホールド回路４とM
INホールド回路５のタイミングを制御するMAX/MINホー
ルド回路１と、MAX/MINホールド回路１の出力を入力と
し、（MAX−MIN）／（MAX＋MIN）を演算するアナログ演
算回路２と、アナログ演算回路２の出力を入力とし、タ
イミング制御回路６からのMTFサンプル信号でサンプル
ホールドするサンプルホールド回路３とを備える。
発光をセルフォックレンズアレイを介してイメージセン
サで検出するMTF測定装置において、MAXホールド回路
４、MINホールド回路５およびタイミング制御回路６で
構成され、MAXホールド回路４とMINホールド回路５は前
記イメージセンサの出力を入力とし、タイミング制御回
路６はスタート信号を入力としてMAXホールド回路４とM
INホールド回路５のタイミングを制御するMAX/MINホー
ルド回路１と、MAX/MINホールド回路１の出力を入力と
し、（MAX−MIN）／（MAX＋MIN）を演算するアナログ演
算回路２と、アナログ演算回路２の出力を入力とし、タ
イミング制御回路６からのMTFサンプル信号でサンプル
ホールドするサンプルホールド回路３とを備える。
次に、この発明によるMTF測定装置の系統図を第１図に
より説明する。
より説明する。
第１図の１はMAX/MINホールド回路、２はアナログ演算
回路、３はサンプルホールド回路である。
回路、３はサンプルホールド回路である。
MAX/MINホールド回路１に第８図のVinを入力すると、波
形のMAXとMINを独立に逐次検出し、一定時間保持した出
力電圧が得られ、この出力電圧をアナログ演算回路２に
供給する。
形のMAXとMINを独立に逐次検出し、一定時間保持した出
力電圧が得られ、この出力電圧をアナログ演算回路２に
供給する。
アナログ演算回路２は、入力されたMAXとMINから式
（１）を演算する。
（１）を演算する。
次に、アナログ演算回路２からのMTF出力電圧をサンプ
ルホールド回路３により、MAX/MINホールド回路１のMTF
サンプルタイミングで逐次ホールドして、第８図のMTF
が得られる。
ルホールド回路３により、MAX/MINホールド回路１のMTF
サンプルタイミングで逐次ホールドして、第８図のMTF
が得られる。
［実施例］ 次に、第１図の実施例の構成図を第２図により説明す
る。
る。
第２図は第１図のブロック内を詳細に示した構成図であ
る。
る。
MAX/MINホールド回路１はMAXホールド回路４、MINホー
ルド回路５及びタイミング制御回路６で構成され、MAX
ホールド回路４とMINホールド回路５は第12図のイメー
ジセンサ19の出力を入力とし、タイミング制御回路６は
スタート信号を入力としてMAXホールド回路４とMINホー
ルド回路５のタイミングを制御する。
ルド回路５及びタイミング制御回路６で構成され、MAX
ホールド回路４とMINホールド回路５は第12図のイメー
ジセンサ19の出力を入力とし、タイミング制御回路６は
スタート信号を入力としてMAXホールド回路４とMINホー
ルド回路５のタイミングを制御する。
次に、第２図のMAX/MINホールド回路１の実施例の回路
図を第３図により説明する。
図を第３図により説明する。
第４図は第３図の動作波形図であり、第３図の〜と
VinおよびスタートとMTFサンプル、MAX、MINのそれぞれ
の動作波形を第４図に対応させて示している。
VinおよびスタートとMTFサンプル、MAX、MINのそれぞれ
の動作波形を第４図に対応させて示している。
次に、第３図のMAX/MINホールド回路を説明する。
第３図のMAXホールド回路４はピークホールド回路であ
り、4Aと4Bは入力バイアス電流の小さいFET入力の演算
増幅器、4Cは比較器、4DはCMOSFETを使用したアナログ
スイッチであり、制御入力が論理レベル「１」のとき
に導通する。
り、4Aと4Bは入力バイアス電流の小さいFET入力の演算
増幅器、4Cは比較器、4DはCMOSFETを使用したアナログ
スイッチであり、制御入力が論理レベル「１」のとき
に導通する。
比較器4Cは入力電圧VinがMAXを過ぎたとき、論理レベル
「０」を出力する。
「０」を出力する。
4Eはホールド用のコンデンサで、例えば0.1μＦのコン
デンサである。
デンサである。
第３図のMINホールド回路５はボトムホールド回路であ
り、5A〜5Eは4A〜4Eと同じものである。比較器5Cは入力
電圧VinがMINを過ぎたとき、論理レベル「０」を出力す
る。
り、5A〜5Eは4A〜4Eと同じものである。比較器5Cは入力
電圧VinがMINを過ぎたとき、論理レベル「０」を出力す
る。
タイミング制御回路６は、MAXホールド回路４とMINホー
ルド回路５が共にホールド状態を得たときに一定時間、
論理レベル「１」をMTFサンプルタイミングとして出力
する。6Aと6Bは入力論理レベル「０」で動作するモノス
テーブルマルチであり、出力パルス幅はT1＞T2の関係に
する。実施例ではT1＝0.5ms、T2＝0.2msにしている。
ルド回路５が共にホールド状態を得たときに一定時間、
論理レベル「１」をMTFサンプルタイミングとして出力
する。6Aと6Bは入力論理レベル「０」で動作するモノス
テーブルマルチであり、出力パルス幅はT1＞T2の関係に
する。実施例ではT1＝0.5ms、T2＝0.2msにしている。
次に、第３図の他の実施例の回路図を第５図により説明
する。
する。
第６図は第５図の動作波形図である。第５図の〜と
VinおよびスタートとMTFサンプル、MAX、MINのそれぞれ
の動作波形を第６図に対応させて示している。
VinおよびスタートとMTFサンプル、MAX、MINのそれぞれ
の動作波形を第６図に対応させて示している。
第５図のMAXホールド回路４とMINホールド回路５は第４
図と同じものである。
図と同じものである。
第５図の比較器4C・5Cは、第３図の4C・5Cとは＋入力と
−入力を入れ換えて接続しており、第５図の比較器4C・
5CはMAX、MINを検出したときの出力論理レベルは第３図
の場合と逆の「１」レベルを出力する。
−入力を入れ換えて接続しており、第５図の比較器4C・
5CはMAX、MINを検出したときの出力論理レベルは第３図
の場合と逆の「１」レベルを出力する。
第５図の７はタイミング制御回路で、MAXホールド回路
４とMINホールド回路５が共にホールド状態を得たとき
に一定時間、論理レベル「１」をMTFサンプルタイミン
グとして出力する。
４とMINホールド回路５が共にホールド状態を得たとき
に一定時間、論理レベル「１」をMTFサンプルタイミン
グとして出力する。
7A〜7Cは入力論理レベル「１」で動作するモノステーブ
ルマルチである。出力パルス幅はT1＞T2≒T3の関係にす
る。実施例ではT1＝0.5ms、T2＝0.2ms、T3＝0.2msにし
ている。
ルマルチである。出力パルス幅はT1＞T2≒T3の関係にす
る。実施例ではT1＝0.5ms、T2＝0.2ms、T3＝0.2msにし
ている。
次に、アナログ演算回路２とサンプルホールド回路３を
第２図により説明する。
第２図により説明する。
第２図の2A〜2Cは演算増幅器であり、それぞれの利得は
−１倍である。演算増幅器2Cの出力には（MAX＋MIN）が
えられ、演算増幅器2Bの出力には（MAX−MIN）が得られ
る。これらの出力を除算器2DのＹ入力とＸ入力に加え
る。
−１倍である。演算増幅器2Cの出力には（MAX＋MIN）が
えられ、演算増幅器2Bの出力には（MAX−MIN）が得られ
る。これらの出力を除算器2DのＹ入力とＸ入力に加え
る。
第２図のサンプルホールド回路３は、アナログ演算回路
２で得られたMTF演算電圧を逐次ホールドするので、第
８図に示すようなMTF演算結果が得られる。
２で得られたMTF演算電圧を逐次ホールドするので、第
８図に示すようなMTF演算結果が得られる。
第９図は、この発明による測定装置を使用したときのMT
F演算出力であり、配列間隔が105.8μｍのLEDアレイ13
を連続するドットパターンで発光させたときのデータで
ある。
F演算出力であり、配列間隔が105.8μｍのLEDアレイ13
を連続するドットパターンで発光させたときのデータで
ある。
なお、第２図のサンプルホールド回路３の代わりにA/D
コンバータを使用することもできる。この場合は、第２
図のMTFサンプルタイミングをA/Dコンバータの変換タイ
ミング入力として使用することができるので、MTFデー
タをディジタル化することができる。
コンバータを使用することもできる。この場合は、第２
図のMTFサンプルタイミングをA/Dコンバータの変換タイ
ミング入力として使用することができるので、MTFデー
タをディジタル化することができる。
［発明の効果］ この発明によれば、MAX/MINホールド回路、アナログ演
算回路及びサンプルホールド回路の電子回路でMTFを求
めているので、従来技術の波形観測手段を不要にし、MT
F検出信号波形に実時間で追従して、MTF演算値を出力す
ることができる。
算回路及びサンプルホールド回路の電子回路でMTFを求
めているので、従来技術の波形観測手段を不要にし、MT
F検出信号波形に実時間で追従して、MTF演算値を出力す
ることができる。
第１図はこの発明によるMTF測定装置の系統図、第２図
は第１図の詳細構成図、第３図は第２図のMAX/MINホー
ルド回路１の実施例の回路図、第４図は第３図の動作波
形図、第５図は第３図の他の実施例の回路図、第６図は
第５図の動作波形図、第７図と第８図はMTFの測定波形
図、第９図は第１図の測定装置を使用したときのMTF測
定データの波形図、第10図はLEDプリンタ装置の構成
図、第11図はLEDアレイと静電感光ドラムの関係説明
図、第12図は従来技術によるLEDアレイのMTF測定装置の
構成図である。 １……MAX/MINホールド回路、 ２……アナログ演算回路、 ３……サンプルホールド回路、 ４……MAXホールド回路、 ５……MINホールド回路、 ６……タイミング制御回路、 ７……タイミング制御回路、 13……LEDアレイ、 18……セルフォックレンズアレイ、 19……イメージセンサ。
は第１図の詳細構成図、第３図は第２図のMAX/MINホー
ルド回路１の実施例の回路図、第４図は第３図の動作波
形図、第５図は第３図の他の実施例の回路図、第６図は
第５図の動作波形図、第７図と第８図はMTFの測定波形
図、第９図は第１図の測定装置を使用したときのMTF測
定データの波形図、第10図はLEDプリンタ装置の構成
図、第11図はLEDアレイと静電感光ドラムの関係説明
図、第12図は従来技術によるLEDアレイのMTF測定装置の
構成図である。 １……MAX/MINホールド回路、 ２……アナログ演算回路、 ３……サンプルホールド回路、 ４……MAXホールド回路、 ５……MINホールド回路、 ６……タイミング制御回路、 ７……タイミング制御回路、 13……LEDアレイ、 18……セルフォックレンズアレイ、 19……イメージセンサ。
Claims (1)
- 【請求項１】LEDアレイの発光をセルフォックレンズア
レイを介してイメージセンサで検出するLEDアレイのMTF
測定装置において、 MAXホールド回路（４）、MINホールド回路（５）及びタ
イミング制御回路（６）で構成され、MAXホールド回路
（４）とMINホールド回路（５）は前記イメージセンサ
の出力を入力とし、タイミング制御回路（６）はスター
ト信号を入力としてMAXホールド回路（４）とMINホール
ド回路（５）のタイミングを制御するMAX/MINホールド
回路（１）と、 MAX/MINホールド回路（１）の出力を入力とし、（MAX−
MIN）／（MAX＋MIN）を演算するアナログ演算回路
（２）と、 アナログ演算回路（２）の出力を入力とし、前記タイミ
ング制御回路からのMTFサンプル信号でサンプルホール
ドするサンプルホールド回路（３）とを備えることを特
徴とするLEDアレイのMTF測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20842890A JPH06105207B2 (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | Ｌｅｄアレイのｍｔｆ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20842890A JPH06105207B2 (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | Ｌｅｄアレイのｍｔｆ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0495749A JPH0495749A (ja) | 1992-03-27 |
| JPH06105207B2 true JPH06105207B2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=16556056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20842890A Expired - Fee Related JPH06105207B2 (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | Ｌｅｄアレイのｍｔｆ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06105207B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7222983B2 (ja) | 2017-09-29 | 2023-02-15 | ダウ シリコーンズ コーポレーション | 充填剤を含むシリコーン組成物 |
-
1990
- 1990-08-06 JP JP20842890A patent/JPH06105207B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0495749A (ja) | 1992-03-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB9717858D0 (en) | The Electrode Company Ltd | |
| EP0629974A1 (en) | Non-impact printer with evenness control | |
| EP0446829B1 (en) | Light emitter array diagnostic apparatus | |
| GB2196812A (en) | Recorded image distortion correction | |
| US6225618B1 (en) | Digital densitometer with auto-ranging | |
| US5883731A (en) | Multi-beam scanning device | |
| JPH0640069A (ja) | 複数の画像露光フレームの形成装置及び画像の見当合わせ改良方法 | |
| GB2039101A (en) | Control of electrostatic recording apparatus | |
| JPH06105207B2 (ja) | Ｌｅｄアレイのｍｔｆ測定装置 | |
| JP2954668B2 (ja) | Ｌｅｄアレイのｍｔｆ演算回路 | |
| JPH0643178A (ja) | セグメント化された光センサ・アレイを利用した受光体移動センサ | |
| JPH06118759A (ja) | 画像安定化法 | |
| JP2954669B2 (ja) | Ｌｅｄアレイのｍｔｆ演算回路 | |
| JP3552170B2 (ja) | ラスタスキャナのビームステアリングセンサ | |
| US5099266A (en) | Range meter for camera | |
| US5235175A (en) | Arrangement for detecting the radiant energy of light-emitting semiconductor elements and its use in an electrophotographic printer | |
| JPH11237481A (ja) | 照射線測定装置を備えた感光装置 | |
| JP3707073B2 (ja) | 光量制御方法 | |
| JPH06105208B2 (ja) | Ｌｅｄアレイの高速ｍｔｆ測定装置 | |
| JPS6280055A (ja) | インク滴の２次元位置検出装置 | |
| CN102262516A (zh) | 信息处理设备、打印设备和信息处理方法 | |
| JP2954676B2 (ja) | Ｌｅｄアレイの光ビーム径測定装置 | |
| JPH06105206B2 (ja) | Ｌｅｄアレイのｍｔｆ測定装置 | |
| JP4449145B2 (ja) | 発光素子アレイ用検査装置 | |
| JP2520387B2 (ja) | Ｌｅｄアレイの光ビ―ム径測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |