JPH0594942U - イオン注入制御装置 - Google Patents

イオン注入制御装置

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JPH0594942U
JPH0594942U JP3634492U JP3634492U JPH0594942U JP H0594942 U JPH0594942 U JP H0594942U JP 3634492 U JP3634492 U JP 3634492U JP 3634492 U JP3634492 U JP 3634492U JP H0594942 U JPH0594942 U JP H0594942U
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arc
ion implantation
beam current
ion
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JP3634492U
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輝明 金築
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Nissin Electric Co Ltd
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Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 予め登録されているビーム電流に関するパラ
メータに基づいてパラメータの初期値を設定し(S
1)、初期値をイオン注入装置に入力して(S2)アー
ク放電を確立し、イオンビームを引き出す。この後、目
的のビーム電流IB になるように、アーク電流IArc
調整(S3)を行うが、これに追従して現在のアーク電
流IArc に対するビーム電流IB が最大になるように、
ソースマグネット電流ISMg 等の他のビーム電流に関係
するパラメータを調整する(S4)。 【効果】 確実に目的のビーム電流値に調整することが
でき、イオン注入装置の自動立上げに失敗することが殆
どない。また、イオン注入装置においてビーム電流が安
定に得られ、注入均一性や、注入再現性の向上を図れ
る。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、与えられた注入条件に従ってイオン注入装置を制御し、装置の立上 げをフルオートで行うイオン注入制御装置に関し、特に、気中放電によりプラズ マを発生させるイオン源を備えたイオン注入装置の自動立上げを行うイオン注入 制御装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
イオン注入装置は、拡散したい不純物をイオン化し、この不純物イオンを磁界 を用いた質量分析法により選択的に取り出してイオンビームとし、電界により加 速してイオン照射対象物に照射することで、イオン照射対象物内に不純物を注入 するものであり、半導体プロセスにおいてデバイスの特性を決定する不純物を任 意の量および深さに制御性良く注入できることから、現在の集積回路の製造に重 要な装置になっている。
【0003】 そして、従来より、マス値、ビーム電流、ビームエネルギーといった注入条件 を入力するだけで、上記イオン注入装置を制御してフルオートでビーム立上げを 行うイオン注入制御装置が用いられている。
【0004】 上記イオン注入制御装置は、幾つかの注入条件およびそれに対応する各種パラ メータの最適値が予め登録されたデータテーブルをマス値毎に有しており、注入 条件が与えられれば、通常、以下のようにしてイオン注入装置の立上げが実施さ れる。
【0005】 先ず、イオン注入制御装置は、予め登録されているパラメータに基づいて補間 を行い、与えられた注入条件に対する各種パラメータの初期値を近似的に求める (各種パラメータを設定する)。
【0006】 次に、イオン注入制御装置は、ガス流量、アーク電流、ソースマグネット電流 等のパラメータが、上記で求めた初期値になるように、ガスボックスやイオン源 電源の制御を行い、イオン源内に所定のイオン源ガスによるアーク放電を確立し てイオンビームの引き出しを可能にし、この後、引き出し電源を投入してイオン ビームを引き出す。
【0007】 次に、イオン注入制御装置は、加速電圧が初期値になるように加速電源を制御 し、ビームエネルギーを設定する。
【0008】 次に、イオン注入制御装置は、質量分析部に与えられる分析マグネット電流を 調整し、マスサーチを行う。
【0009】 そして、イオン注入制御装置は、Qレンズに印加される電圧等を調整してビー ム波形調整を行った後、続いてビーム電流調整を行う。このビーム電流調整は、 基本的にはイオン源に対するアーク電流を調整することにより行われる。即ち、 例えばフリーマン型イオン源を備えたイオン注入装置におけるビーム電流に関す るパラメータとしては、「ガス流量」、「フィラメント電流」、「アーク電流」 、「ソースマグネット電流」等があるが、その中で、主に「アーク電流」を調整 することによりビーム電流を設定値になるように調整する。
【0010】 従来、このビーム電流調整において、アーク電流のみを調整することにより所 望のビーム電流が得られた場合、そこでビーム電流調整を終えていた。尚、アー ク電流のみでは所望のビーム電流が得られない場合は、アーク電流を調整しなが ら、同時にソースマグネット電流を微調整し、所望のビーム電流値にセットアッ プする。
【0011】 以上の処理により、装置立上げモードが完了し、次の注入処理モードに移行す る。
【0012】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の構成では、アーク電流の調整だけでは所望のビーム 電流が得られない場合にはソースマグネット電流の微調整を実施するが、基本的 にはアーク電流の調整でビーム電流を調整するようになっているので、アーク電 流以外のビーム電流に関するパラメータ(即ち、フィラメント電流、ソースマグ ネット電流等)の設定値が最適値から大きく離れている場合、所望のビーム電流 値にセットアップすることができず、装置の立上げに失敗することもある。
【0013】 ところで、イオン源のアーク点灯は、上述したビーム電流に関係するパラメー タに依存するが、特にソースマグネット電流の設定値が最適値からずれている場 合にはアークハンチングが生じ、ビーム電流が高周波数でふらついている不安定 なビーム状態になってしまう。しかしながら、上記従来の構成では、ビーム電流 に関係するパラメータの最適性については考慮されていないため、ビーム電流を 常に安定に得ることはできず、イオン注入時の注入均一性や、注入再現性に影響 がでる可能性があるという問題を有している。
【0014】 本考案は上記に鑑みなされたものであり、その目的は、確実に所望のビーム電 流値に調整することができると共に、ビーム電流の安定化を図り、注入均一性や 、注入再現性を向上させることができるイオン注入制御装置を提供することにあ る。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本考案のイオン注入制御装置は、上記の課題を解決するために、予め登録され ている放電電流(例えばアーク電流)を含むビーム電流に関するパラメータに基 づいてパラメータの初期値を設定し、上記初期値を変化させながら、設定された ビーム電流が得られるように、気中放電によりプラズマを発生させるイオン源、 例えばフリーマン型等のPIG(Penning Ionization Gauge)型イオン源を備え たイオン注入装置の動作を制御するイオン注入制御装置であって、以下の手段を 講じている。
【0016】 即ち、現在調整中の放電電流に対するビーム電流が最大になるように、放電電 流の調整に追従して、放電電流以外のビーム電流に関係するパラメータを相互に 調整する。
【0017】
【作用】
上記の構成によれば、放電電流の調整に追従して他のビーム電流に関係するパ ラメータも調整され、現在の放電電流に対するビーム電流が最大になるように制 御される。即ち、従来のアーク電流調整を主体としたビーム電流調整制御ではな く、ビーム電流に関するパラメータを相互にコントロールするようになっている 。このため、確実に目的のビーム電流値に調整することができ、従来のように装 置の立上げに失敗することが殆どない。
【0018】 ところで、放電電流とビーム電流との関係(相関曲線)は、放電電流以外のビ ーム電流に関係するパラメータの設定値に応じて変化し、放電電流に対するビー ム電流の最大値(極大点)も変化する。そして、ビーム電流が最大になる条件の とき、イオン源において放電を点灯させることができ、ビーム電流が安定に得ら れる。この点、上記の構成によれば、現在の放電電流に対するビーム電流が最大 になるようにパラメータが調整されるので、設定されたビーム電流が得られたと きにおいても、ビーム電流が最大になる条件であり、イオン注入装置においてビ ーム電流が安定に得られる。
【0019】
【実施例】
本考案の一実施例について図1ないし図5に基づいて説明すれば、以下の通り である。
【0020】 本実施例に係るイオン注入制御装置は、フリーマン型イオン源を備えた静電ス キャン型のイオン注入装置の動作を制御してフルオートでイオン注入装置の立上 げを行うものである。勿論、本実施例のイオン注入制御装置は、これに限定され ることなく、気中放電によりプラズマを発生させるイオン源を備えた他のイオン 注入装置の自動立上げを行うこともできる。
【0021】 上記イオン注入装置5は、図2に示すように、注入元素をイオン化し、イオン ビーム28として引き出すイオン源部21、所定の注入イオンのみを選別して分 析スリット36を通過させる質量分析部22、静電加速管23によりイオンビー ム28を加速した後、Qレンズ24によって収束・整形し、さらに走査電極25 により例えば水平方向および垂直方向にビームを走査するビームライン部26、 およびウエハ20をセットし注入処理を行うエンドステーション部27を備えて いる。
【0022】 上記イオン注入装置5のイオン源部21には、ガスボックス29からイオン源 ガスが、また、イオン源電源30から各種電力が、さらに、引き出し電源31か ら引き出し電圧が各々供給される。即ち、上記イオン源部21には、図3に示す ように、ソースマグネットコイル21aや図示しないフィラメント等が備えられ ており、フィラメント電源30aからフィラメント加熱用電圧、アーク電源30 bからアーク放電用電圧、およびソースマグネット電源30cからソースマグネ ット励磁用電流が各々供給される。
【0023】 また、図2に示すように、質量分析部22には分析マグネット電源32から励 磁用電力が、静電加速管23には加速電源33から加速電圧が、Qレンズ24に はQレンズ電源34から駆動電圧が、走査電極25には走査電源35から走査電 圧が各々供給される。
【0024】 また、エンドステーション部27には、ファラデーケージ型のビームコレクタ (図示せず)が設けられており、ビームコレクタに照射されたイオンビーム28 の電流が、ビーム電流測定装置8により測定されるようになっている。そして、 このビーム電流IB の測定値は、イオン注入制御装置1に取り込まれ、各種パラ メータの調整に用いられる。
【0025】 また、上記イオン注入制御装置1は、「ガス流量」、「フィラメント電流」、 「アーク電流」、「ソースマグネット電流」、「加速電圧」、「オフセットポテ ンションメータ値」、「スキャン幅ポテンションメータ値」、「Qレンズトリム ポテンションメータ値」、「Qレンズバランスポテンションメータ値」等の各種 パラメータを設定して、上記イオン注入装置5の各構成部の動作を制御する。
【0026】 ここで、イオン注入制御装置1によるイオン源部21の制御例を、図3に基づ いて次に説明する。イオン注入制御装置1は、フィラメント電流IFil を監視し ながら、フィラメント電源30aに対してフィラメントコントロール信号SFil を出力し、フィラメント加熱用電圧を制御する。また、イオン注入制御装置1は 、放電電流としてのアーク電流IArc を監視しながら、アーク電源30bに対し てアーク電流コントロール信号SArc を出力し、アーク放電用電圧を制御する。 さらに、イオン注入制御装置1は、ソースマグネット電流ISMg を監視しながら 、ソースマグネット電源30cに対してソースマグネットコントロール信号SSM g を出力し、ソースマグネット励磁用電流を制御する。
【0027】 上記イオン注入制御装置1には、幾つかの注入条件についての各種パラメータ の最適値データが登録されている。これらの登録データは、予めオペレータがマ ニュアルでイオン注入装置5を最適状態に立上げることにより採取したデータで ある。
【0028】 上記の構成において、イオン注入制御装置1によるイオン注入装置5の自動立 上げ動作を以下に説明する。
【0029】 先ず、注入条件(マス値、ビーム電流、ビームエネルギー)が与えられれば、 イオン注入制御装置1は、予め登録されているパラメータに基づいて補間を行い 、与えられた注入条件に対する各種パラメータの初期値を近似的に求めるように なっている。この補間は、例えば以下のようにして行われる。
【0030】 即ち、イオン注入制御装置1は、登録されている複数の注入条件の中から、与 えられたビーム電流に最も近い上下2つの注入条件を選び出し、これら2つの注 入条件のパラメータから、線形一次補間補正によって近似的にビーム電流に関す るパラメータの初期値を割り出す。ここで、ビーム電流に関するパラメータとは 、ビーム電流を制御するのに大きく依存する「ガス流量」、「フィラメント電流 、「アーク電流」、「ソースマグネット電流」等である。
【0031】 同様に、イオン注入制御装置1は、補助記憶装置3に登録されている複数の注 入条件の中から、与えられたビームエネルギーに最も近い上下2つの注入条件を 選び出し、これら2つの注入条件のパラメータから、線形一次補間補正によって 近似的にビームエネルギーに関するパラメータの初期値を割り出す。上記ビーム えネルギー用のパラメータとは、ビームエネルギーを制御するのに大きく依存す る「加速電圧」、「オフセットポテンションメータ値」、「スキャン幅ポテンシ ョンメータ値」、「Qレンズトリムポテンションメータ値」、「Qレンズバラン スポテンションメータ値」等である。
【0032】 この後、イオン注入制御装置1は、ガス流量、フィラメント電流IFil 、ア ーク電流IArc 、ソースマグネット電流ISMg 等のパラメータが、上記で求めた 初期値になるように、ガスボックス29やイオン源電源30の制御を行い、イオ ン源部21のアークチャンバ内に所定のイオン源ガスによるアーク放電を確立し 、イオンビーム28の引き出しを可能にする。
【0033】 この後、イオン注入制御装置1は、引出し電源31を投入し、イオンビーム2 8を引き出す。
【0034】 次に、イオン注入制御装置1は、加速電圧、Qレンズトリムポテンションメー タ値、Qレンズバランスポテンションメータ値、オフセットポテンションメータ 値、スキャン幅ポテンションメータ値等のビームエネルギーに関係するパラメー タが、上記で求めた初期値になるように、加速電源33、Qレンズ電源34、走 査電源35の制御を行う。そして、上記各パラメータを初期値から変化させなが ら所望のビームエネルギーになるようにビームエネルギーを調整する。
【0035】 次に、イオン注入制御装置1は、分析マグネット電源32の制御を行い、マス サーチを実施する。
【0036】 この後、イオン注入制御装置1は、イオン源電源30(即ち、フィラメント電 源30a、アーク電源30b、ソースマグネット電源30c)を制御してビーム 電流調整を行う。
【0037】 ここで、イオン注入制御装置1のビーム電流調整制御動作を示す図1のフロー チャートに基づいて、本実施例のビーム電流調整制御を以下に説明する。
【0038】 予め登録されているパラメータに基づく補間によってビーム電流に関係するパ ラメータ、即ち、フィラメント電流IFil 、アーク電流IArc 、ソースマグネッ ト電流ISMg 等の初期値を設定し(S1)、これらのパラメータの初期値をイオ ン注入装置5に入力して(S2)アーク放電を確立し、イオンビーム28を引き 出すまでは上述した通りである。
【0039】 この後、イオン注入制御装置1は、目的のビーム電流IB が得られるように、 アーク電源30bにアーク電流コントロール信号SArc を出力して、アーク電流 IArc の初期値を変化させる(S3)。
【0040】 ところで、アーク電流IArc とビーム電流IB との関係は、アーク電流IArc 以外のビーム電流に関係するパラメータの設定値に応じて変化する。例えば、ソ ースマグネット電流ISMg の設定値をISMg 1〜ISMg 3に変化させた場合、ア ーク電流IArc とビーム電流IB との関係は図4に示すように変化する。同図か ら、ソースマグネット電流ISMg の設定値によって、得られるビーム電流IB の ピーク値も変化することがわかる。このビーム電流IB が最大になる条件のとき 、イオン源においてアークハンチングがおさまり(アーク点灯)、ビーム電流IB が安定に得られる。即ち、ビーム電流IB が最大のときに目的のビーム電流IB が得られるように各パラメータの値を調整すれば、パラメータの最適値が求め られる。
【0041】 そこで本実施例では、上記アーク電流IArc の調整(S3)でアーク電流IAr c を変えたとき、それに追従して、現在のアーク電流IArc に対するビーム電流 IB が最大になるように、他のビーム電流に関係するパラメータ、特にソースマ グネット電流ISMg を調整する(S4)ようになっている。
【0042】 そして、目的のビーム電流IB になるまで上記S3およびS4の動作が繰り返 され、目的のビーム電流IB になれば(S5)、ビーム電流調整制御が停止され る。
【0043】 上記のビーム電流調整制御により、例えば目的のビーム電流IB をIB1とした 場合、図5に示すように、アーク電流IArc とビーム電流IB との相関曲線Aの 極大点A0 (IArc1,IB1)で目的のビーム電流と一致する。
【0044】 尚、イオン注入制御装置1は、上記ビーム電流調整制御を行いながら、同時に マス追従制御(分析マグネット電流の微調制御)を実施する。具体的には、イオ ン注入制御装置1は、アーク電流IArc がある値だけずれる毎に、分析マグネッ ト電源32を制御して、分析マグネット電流を微調制御し、所望のイオンが常に 分析スリット36を通過するようにする。
【0045】 以上の処理によりイオンビーム28のイオン種(マス値)、ビーム電流、ビー ムエネルギーが、与えられた条件と一致し、イオン注入制御装置1による装置立 上げ動作は完了する。この後、イオン注入制御装置1は、イオン注入装置5を制 御してイオン注入動作を開始させる。
【0046】 以上の説明のように、本実施例のイオン注入制御装置1は、アーク電流IArc 調整に追従して他のビーム電流に関係するパラメータも調整し、常に現在のアー ク電流IArc に対するビーム電流IB が最大になるような制御を行うように構成 されている。即ち、イオン注入制御装置1は、従来のアーク電流調整を主体とし たビーム電流調整制御ではなく、ビーム電流に関するパラメータを相互にコント ロールして最適値に調整するようになっている。
【0047】 このため、確実に目的のビーム電流値に調整することができ、従来のように装 置の立上げに失敗することが殆どない。また、ビーム電流に関するパラメータが 最適値に調整されているので、ビーム電流を安定に得ることができ、この結果、 イオン注入装置5の注入均一性や、注入再現性が向上する。
【0048】
【考案の効果】
本考案のイオン注入制御装置は、以上のように、現在調整中の放電電流に対す るビーム電流が最大になるように、放電電流の調整に追従して、放電電流以外の ビーム電流に関係するパラメータを相互に調整する構成となっている。
【0049】 それゆえ、確実に目的のビーム電流値に調整することができ、従来のように装 置の立上げに失敗することが殆どなく、また、イオン注入装置においてビーム電 流が安定に得られ、注入均一性や、注入再現性の向上を図れるという効果を奏す る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示すものであり、イオン注
入制御装置のビーム電流調整制御動作を示すフローチャ
ートである。
【図2】上記イオン注入制御装置により自動立上げが行
われるイオン注入装置の概略構成図である。
【図3】上記イオン注入制御装置によるイオン源部の動
作制御を説明するための要部構成図である。
【図4】ソースマグネット電流に応じてアーク電流とビ
ーム電流との相関曲線が変化することを示すグラフであ
る。
【図5】上記イオン注入制御装置によるイオン注入装置
の制御により、目的のビーム電流が得られたときのアー
ク電流とビーム電流との相関曲線を示すグラフである。
【符号の説明】
1 イオン注入制御装置 5 イオン注入装置 8 ビーム電流測定装置 21 イオン源部 21a ソースマグネットコイル 28 イオンビーム 30a フィラメント電源 30b アーク電源 30c ソースマグネット電源

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】予め登録されている放電電流を含むビーム
    電流に関するパラメータに基づいてパラメータの初期値
    を設定し、上記初期値を変化させながら、設定されたビ
    ーム電流が得られるように、気中放電によりプラズマを
    発生させるイオン源を備えたイオン注入装置の動作を制
    御するイオン注入制御装置であって、 現在調整中の放電電流に対するビーム電流が最大になる
    ように、放電電流の調整に追従して、放電電流以外のビ
    ーム電流に関係するパラメータを相互に調整することを
    特徴とするイオン注入制御装置。
JP3634492U 1992-05-29 1992-05-29 イオン注入制御装置 Pending JPH0594942U (ja)

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JP3634492U JPH0594942U (ja) 1992-05-29 1992-05-29 イオン注入制御装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020144803A1 (ja) * 2019-01-10 2020-07-16 株式会社ミクニ 圧力センサ

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