JPH0581088B2 - - Google Patents
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- JPH0581088B2 JPH0581088B2 JP62098809A JP9880987A JPH0581088B2 JP H0581088 B2 JPH0581088 B2 JP H0581088B2 JP 62098809 A JP62098809 A JP 62098809A JP 9880987 A JP9880987 A JP 9880987A JP H0581088 B2 JPH0581088 B2 JP H0581088B2
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- 101100119059 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) ERG25 gene Proteins 0.000 description 9
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/017509—Interface arrangements
- H03K19/017518—Interface arrangements using a combination of bipolar and field effect transistors [BIFET]
- H03K19/017527—Interface arrangements using a combination of bipolar and field effect transistors [BIFET] with at least one differential stage
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- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、バイポーラトランジスタ回路と、C
−MOS FET(相補形金属酸化膜半導体電界効果
トランジスタ)回路とが同一半導体基板上に集積
された半導体集積回路(以後Bi−CMOS集積回
路と称する)において、バイポーラトランジスタ
によるECL(emitter coupled logic)論理回路の
論理振幅をC−MOS FETによる論理回路の論
理振幅に変換する振幅変換回路に関する。
−MOS FET(相補形金属酸化膜半導体電界効果
トランジスタ)回路とが同一半導体基板上に集積
された半導体集積回路(以後Bi−CMOS集積回
路と称する)において、バイポーラトランジスタ
によるECL(emitter coupled logic)論理回路の
論理振幅をC−MOS FETによる論理回路の論
理振幅に変換する振幅変換回路に関する。
近年、高速性に優れたECL回路が大型コンピ
ユータや測定機器等に頻繁に用いられるようにな
つてきた。このECL論理回路は、論理振幅が260
mVPPから500mVPPと極めて小さく設定されるた
め、論理振幅の大きなC−MOSで構成された論
理回路と接続する場合にはECLの論理振幅を増
幅する必要がある。
ユータや測定機器等に頻繁に用いられるようにな
つてきた。このECL論理回路は、論理振幅が260
mVPPから500mVPPと極めて小さく設定されるた
め、論理振幅の大きなC−MOSで構成された論
理回路と接続する場合にはECLの論理振幅を増
幅する必要がある。
そこで、Bi−CMOS集積回路においては、従
来、第4図に示すような振幅変換回路を用いて、
ECL〜CMOS間の論理振幅の整合を図るように
していた。
来、第4図に示すような振幅変換回路を用いて、
ECL〜CMOS間の論理振幅の整合を図るように
していた。
即ち、この振幅変換回路は、バイポーラトラン
ジスタ18,19、定電流源20及び2つの抵抗
21,22からなる差動増幅回路でECLのバツ
フアを構成し、このバツフアの互いに逆相の第
1、第2の出力をPチヤンネルの第1、第2の
MOS FET23,24のゲート電圧として与え
ることにより、これら第1、第2のMOS FET
を交互にスイツチングするようにしたものであ
る。
ジスタ18,19、定電流源20及び2つの抵抗
21,22からなる差動増幅回路でECLのバツ
フアを構成し、このバツフアの互いに逆相の第
1、第2の出力をPチヤンネルの第1、第2の
MOS FET23,24のゲート電圧として与え
ることにより、これら第1、第2のMOS FET
を交互にスイツチングするようにしたものであ
る。
例えば、いま、トランジスタ19がオン状態、
トランジスタ18がオフ状態になると、トランジ
スタ19を介して抵抗22に定電流源20の電流
I20が流れるので、抵抗22の抵抗値をR22とすれ
ば、トランジスタ19のコレクタ電圧は電源27
によつて与えられる電源電圧VCCに対してR22I20
だけ低下する。
トランジスタ18がオフ状態になると、トランジ
スタ19を介して抵抗22に定電流源20の電流
I20が流れるので、抵抗22の抵抗値をR22とすれ
ば、トランジスタ19のコレクタ電圧は電源27
によつて与えられる電源電圧VCCに対してR22I20
だけ低下する。
従つて、MOS FET23のゲート、ソース間
電圧VGS23もVGS23=R22×I20となり、MOS FET
23はオン状態となる。
電圧VGS23もVGS23=R22×I20となり、MOS FET
23はオン状態となる。
一方、このとき、MOS FET24のゲート、
ソース間電圧VGS24はトランジスタ18がオフで
あるから0Vである。従つて、MOS FET24は
オフ状態である。
ソース間電圧VGS24はトランジスタ18がオフで
あるから0Vである。従つて、MOS FET24は
オフ状態である。
ところで、MOS FET23がオンすることに
より、MOS FET23に流れるドレイン電流ID23
は、カレントミラー回路を構成するNチヤンネル
タイプの第3のMOS FET25を駆動する。こ
れによつて、同じくカレントミラー回路を構成す
るもう一方のNチヤンネルタイプの第4のMOS
FET26も導通状態になる。このとき、P型
MOS FET24はオフだから出力端子28の電
圧V28は V28≒0となる。
より、MOS FET23に流れるドレイン電流ID23
は、カレントミラー回路を構成するNチヤンネル
タイプの第3のMOS FET25を駆動する。こ
れによつて、同じくカレントミラー回路を構成す
るもう一方のNチヤンネルタイプの第4のMOS
FET26も導通状態になる。このとき、P型
MOS FET24はオフだから出力端子28の電
圧V28は V28≒0となる。
一方トランジスタ18がオン、トランジスタ1
9がオフの場合には、P型の第1のMOS FET
23がオフとなるので、N型の第3、第4の
MOS FET25,26もオフとなり、逆にP型
の第2のMOS FET24がオンとなる。従つて、
下記式が成立する。
9がオフの場合には、P型の第1のMOS FET
23がオフとなるので、N型の第3、第4の
MOS FET25,26もオフとなり、逆にP型
の第2のMOS FET24がオンとなる。従つて、
下記式が成立する。
V28≒VCC
このようにして、抵抗21,22の両端に生じ
たECLレベルの論理振幅をC−MOSレベルの論
理振幅に変換することができる。
たECLレベルの論理振幅をC−MOSレベルの論
理振幅に変換することができる。
ところで、上述した振幅変換回路においては、
出力電圧V28のライズタイム(立上り時間)Trと
フオールタイム(降下時間)TfとがMOS FET
23,24のゲートソース間電圧VGS23,VGS24の
時間微分に依存している。
出力電圧V28のライズタイム(立上り時間)Trと
フオールタイム(降下時間)TfとがMOS FET
23,24のゲートソース間電圧VGS23,VGS24の
時間微分に依存している。
例えば、MOS FET23に着目すると、ゲー
トソース間電圧VGS23の時間微分は、トランジス
タ19のコレクタ電圧VC19の時間微分に等しい。
トソース間電圧VGS23の時間微分は、トランジス
タ19のコレクタ電圧VC19の時間微分に等しい。
従つて、tを時間とすると、下記(1)式が成立す
る。
る。
dVGS23/dt=dVC19/dt ……(1)
従つて、
tr=f(dVGS23/dt)
=f(dVC19/dt)
tf=g(dVGS23/dt)
=g(dVC19/dt) ……(2)
但し、f、gは関数記号である。
この関数を第5図に示す。△t(=tr、tf)は、
MOS FET23のゲートソース間電圧VGS23の変
化の傾きに依存している。
MOS FET23のゲートソース間電圧VGS23の変
化の傾きに依存している。
ところで、このtrとtfとは、高速動作を実現す
るには極力短い方が望ましい。trとtfを小さくす
るためには、(2)式及び第5図から、dVC19/dtを
大きくすれば良い。
るには極力短い方が望ましい。trとtfを小さくす
るためには、(2)式及び第5図から、dVC19/dtを
大きくすれば良い。
そこで、上述した従来の回路において、
dVc19/dtを大きくするためには、定電流源2
0の電流I20を増加させ、負荷抵抗21,22の
抵抗値R21,R22を下げて、トランジスタ18,
19で構成される差動回路の速度自体を上げる
か、又は、電流I20を増加させない場合には、負
荷抵抗21,22の抵抗値R21,R22を大きくし
てコレクタ電流の最大値を減らすことが考えられ
る。
0の電流I20を増加させ、負荷抵抗21,22の
抵抗値R21,R22を下げて、トランジスタ18,
19で構成される差動回路の速度自体を上げる
か、又は、電流I20を増加させない場合には、負
荷抵抗21,22の抵抗値R21,R22を大きくし
てコレクタ電流の最大値を減らすことが考えられ
る。
しかしながら、前者は消費電流が増加して、電
源や個々の素子の負担が増加するという欠点があ
り、後者は、差動増幅器の出力インピーダンスの
増加を招いてかえつて動作速度が低下してしまう
虞れがある。また、後者においては、トランジス
タ18,19の飽和領域への励振を回避する必要
上から、抵抗値R21,R22を大きくすることには
限界があり、回路設計上、大きな制約を受ける。
源や個々の素子の負担が増加するという欠点があ
り、後者は、差動増幅器の出力インピーダンスの
増加を招いてかえつて動作速度が低下してしまう
虞れがある。また、後者においては、トランジス
タ18,19の飽和領域への励振を回避する必要
上から、抵抗値R21,R22を大きくすることには
限界があり、回路設計上、大きな制約を受ける。
このように、従来の回路においては、tr、tfを
小さくしようとすると、消費電流が増加したり、
回路定数の選定に大きな制約を受けるという欠点
がある。
小さくしようとすると、消費電流が増加したり、
回路定数の選定に大きな制約を受けるという欠点
がある。
本発明はかかり事情に鑑みてなされたものであ
つて、出力段のMOS FETをソースとゲートの
両方から駆動することにより、消費電流を増加さ
せたり、回路定数の選定に制約を受けることな
く、tr及びtfを短縮させることができる振幅変換
回路を提供することを目的とする。
つて、出力段のMOS FETをソースとゲートの
両方から駆動することにより、消費電流を増加さ
せたり、回路定数の選定に制約を受けることな
く、tr及びtfを短縮させることができる振幅変換
回路を提供することを目的とする。
本発明に明る振幅変換回路は、バイポーラトラ
ンジスタにより構成された差動増幅回路と、この
差動増幅回路の互いに逆相の第1及び第2の出力
信号が夫々ゲート及びソースに供給される第1の
MOS FETと、前記差動増幅回路の互いに逆相
の第1及び第2の出力信号が夫々ソース及びゲー
トに供給され、前記第1のMOS FETと同一導
電型の第2のMOS FETと、ゲートとドレイン
とが前記第1のMOS FETのドレインに接続さ
れると共に、ソースが共通電位点に接続され、前
記第1のMOS FETとで相補対をなす第3の
MOS FETと、ゲート、ドレイン及びソースが
夫々前記第3のMOS FETのゲート、前記第2
のMOS FETのドレイン、及び前記共通電位点
に接続され、前記第2のMOS FETとで相補対
をなす第4のMOS FETと、前記第2のMOS
FETのドレインから出力を取出す手段とを具備
している。
ンジスタにより構成された差動増幅回路と、この
差動増幅回路の互いに逆相の第1及び第2の出力
信号が夫々ゲート及びソースに供給される第1の
MOS FETと、前記差動増幅回路の互いに逆相
の第1及び第2の出力信号が夫々ソース及びゲー
トに供給され、前記第1のMOS FETと同一導
電型の第2のMOS FETと、ゲートとドレイン
とが前記第1のMOS FETのドレインに接続さ
れると共に、ソースが共通電位点に接続され、前
記第1のMOS FETとで相補対をなす第3の
MOS FETと、ゲート、ドレイン及びソースが
夫々前記第3のMOS FETのゲート、前記第2
のMOS FETのドレイン、及び前記共通電位点
に接続され、前記第2のMOS FETとで相補対
をなす第4のMOS FETと、前記第2のMOS
FETのドレインから出力を取出す手段とを具備
している。
[作用]
本発明によれば、差動増幅回路の第1の出力電
圧が降下し、同じく第2の出力電圧が立上がる
と、第1のMOS FETのゲート電位は降下し、
ソース電位は上昇し、第2のMOS FETのゲー
ト電位は上昇し、ソース電位は降下する。従つ
て、従来のように、ソース電位が電源電圧に固定
されている場合に比べ、前記第1、第2の
MOSFETのゲート・ソース間の電圧変化を速め
ることができる。このため、差動増幅回路の電流
値や抵抗値をなんら変更することなく、出力振幅
のライズタイムTrとフオールタイムTfを、従来
に比して、短くすることができる。
圧が降下し、同じく第2の出力電圧が立上がる
と、第1のMOS FETのゲート電位は降下し、
ソース電位は上昇し、第2のMOS FETのゲー
ト電位は上昇し、ソース電位は降下する。従つ
て、従来のように、ソース電位が電源電圧に固定
されている場合に比べ、前記第1、第2の
MOSFETのゲート・ソース間の電圧変化を速め
ることができる。このため、差動増幅回路の電流
値や抵抗値をなんら変更することなく、出力振幅
のライズタイムTrとフオールタイムTfを、従来
に比して、短くすることができる。
なお、差動増幅回路の第1の出力電圧が上昇
し、同第2の出力電圧が下降する場合についても
同様に第1、第2のMOS FETのゲート・ソー
ス間電圧の変化を速めることができる。
し、同第2の出力電圧が下降する場合についても
同様に第1、第2のMOS FETのゲート・ソー
ス間電圧の変化を速めることができる。
以下、添付の図面を参照して本発明の実施例に
ついて説明する。第1図は本発明の実施例に係る
振幅変換回路の回路図である。
ついて説明する。第1図は本発明の実施例に係る
振幅変換回路の回路図である。
バイポーラトランジスタ1,2は、夫々そのコ
レクタ側に抵抗3,4を接続し、共通接続された
エミツタ側に定電流源5を接続して差動増幅回路
を構成している。この差動増幅回路は入力した互
いに逆相の第1及び第2の入力信号を増幅し、前
記バイポーラトランジスタ2及び1のコレクタか
ら夫々第1及び第2の出力信号を得るものとなつ
ている。
レクタ側に抵抗3,4を接続し、共通接続された
エミツタ側に定電流源5を接続して差動増幅回路
を構成している。この差動増幅回路は入力した互
いに逆相の第1及び第2の入力信号を増幅し、前
記バイポーラトランジスタ2及び1のコレクタか
ら夫々第1及び第2の出力信号を得るものとなつ
ている。
P型の第1のMOS FET6は、そのゲートに
上記第1の出力信号を、またソースに上記第2の
出力信号を夫々受入れる。従つて、この第1の
MOS FET6は、上記第1の出力信号が降下し、
上記第2の信号が立上がつたときに、オン状態と
なる。
上記第1の出力信号を、またソースに上記第2の
出力信号を夫々受入れる。従つて、この第1の
MOS FET6は、上記第1の出力信号が降下し、
上記第2の信号が立上がつたときに、オン状態と
なる。
一方、第1のMOS FET6と同じP型の第2
のMOS FET7は、ゲートに上記第2の出力信
号を受入れ、ソースに上記第1の出力信号を夫々
受入れる。従つて、この第2のMOSFET7は、
上記第2の出力信号が降下し、上記第1の信号が
立上がつたときに、オン状態となる。
のMOS FET7は、ゲートに上記第2の出力信
号を受入れ、ソースに上記第1の出力信号を夫々
受入れる。従つて、この第2のMOSFET7は、
上記第2の出力信号が降下し、上記第1の信号が
立上がつたときに、オン状態となる。
また、上記第1のMOS FET6のドレインと、
接地点(共通電位点)との間には、第3のMOS
FET8が介挿されている。この第3のMOS
FET8は、上記第1のMOS FET6とで相補対
をなすN型FETであり、そのゲートとドレイン
とは前記第1のMOS FETのドレインに共通接
続され、ソースは接地点に接続されている。
接地点(共通電位点)との間には、第3のMOS
FET8が介挿されている。この第3のMOS
FET8は、上記第1のMOS FET6とで相補対
をなすN型FETであり、そのゲートとドレイン
とは前記第1のMOS FETのドレインに共通接
続され、ソースは接地点に接続されている。
また、前記第2のMOS FET7と接地点との
間には、第4のMOS FET9が介挿されている。
この第4のMOS FET9は、第2のMOS FET
7とで挿補対をなすN型FETであり、そのゲー
トが前記第3のMOS FET8のゲートに接続さ
れ、ドレインが前記第2のMOS FET7のドレ
インに接続され、更にソースが接地点に接続され
ている。
間には、第4のMOS FET9が介挿されている。
この第4のMOS FET9は、第2のMOS FET
7とで挿補対をなすN型FETであり、そのゲー
トが前記第3のMOS FET8のゲートに接続さ
れ、ドレインが前記第2のMOS FET7のドレ
インに接続され、更にソースが接地点に接続され
ている。
これらの、第3及び第4のMOS FET8,9
は、カレントミラー回路を構成し、前記第1の
MOS FET6が導通状態になつたときに、前記
第3のMOS FET8に流れる電流値と同等の電
流値を前記第4のMOS FET9に流して定電流
制御を行なう。
は、カレントミラー回路を構成し、前記第1の
MOS FET6が導通状態になつたときに、前記
第3のMOS FET8に流れる電流値と同等の電
流値を前記第4のMOS FET9に流して定電流
制御を行なう。
なお、図中10は電源、11は振幅増幅された
出力を取出す手段となる出力端子である。
出力を取出す手段となる出力端子である。
以上のように構成された振幅変換回路において
は、負荷抵抗3,4の両端から、夫々位相が互い
に180°異なる逆相の電圧出力である第1、第2の
出力信号が取り出される。これらの出力によつて
P型MOS FET6,7が駆動される。
は、負荷抵抗3,4の両端から、夫々位相が互い
に180°異なる逆相の電圧出力である第1、第2の
出力信号が取り出される。これらの出力によつて
P型MOS FET6,7が駆動される。
この回路においては、FET6のゲート電圧VG6
がトランジスタ2のコレクタ電圧VC2に等しく、
ソース電圧VS6がトランジスタ1のコレクタ電圧
VC1に等しい。
がトランジスタ2のコレクタ電圧VC2に等しく、
ソース電圧VS6がトランジスタ1のコレクタ電圧
VC1に等しい。
従つて、下記数式が成立する。
dVG6/dt=dVC2/dt ……(3)
dVS6/dt=dVC1/dt ……(4)
FET6のゲートソース間電圧をVGS6とおくと、
下記数式が成立する。
下記数式が成立する。
VGS6=VG6−VS6
従つて、下記(5)式が成立する。
dVGS6/dt=d(VG6−VS6)/dt
=dVG6/dt−dVS6/dt ……(5)
この(3)、(4)、(5)式により下記(6)式が得られる。
dVGS6/dt=dVG6/dt−dVS6/dt
dVC2/dt−dVC1/dt ……(6)
ここでトランジスタ1,2は同特性のものが使
用されるので、下記(7)式が成立する。
用されるので、下記(7)式が成立する。
dVC1/dt≒−dVC2/dt ……(7)
前記(6)、(7)式から、下記(8)式が得られる。
dVGS6/dt
≒dVC2/dt−(−dVC2/dt)
=2dVC2/dt ……(8)
つまり、第2図に示すようにVGS6はソース電圧
が変化する分だけ、変化の速度が増す。この結果
を従来例から得られた式(1)と比較すると、差動増
幅回路を構成する定電流源5と定電流源20の電
流値が等しく、負荷抵抗3,4と負荷抵抗21,
22との抵抗値が夫々等しければ、本実施例の回
路のtr及びtfを従来の回路のtr及びtfに比べて約1/
2にすることができることがわかる。
が変化する分だけ、変化の速度が増す。この結果
を従来例から得られた式(1)と比較すると、差動増
幅回路を構成する定電流源5と定電流源20の電
流値が等しく、負荷抵抗3,4と負荷抵抗21,
22との抵抗値が夫々等しければ、本実施例の回
路のtr及びtfを従来の回路のtr及びtfに比べて約1/
2にすることができることがわかる。
さて、トランジスタ1がオフ、トランジスタ2
がオンとなると、FET6のゲート電圧は降下し、
ソース電位は上昇するので、FET6がオンとな
り、FET8が導通する。この結果、FET9も導
通する。この場合、FET7は遮断状態であるか
ら出力端子11の電位V11は V11≒OVとなる。
がオンとなると、FET6のゲート電圧は降下し、
ソース電位は上昇するので、FET6がオンとな
り、FET8が導通する。この結果、FET9も導
通する。この場合、FET7は遮断状態であるか
ら出力端子11の電位V11は V11≒OVとなる。
一方、トランジスタ1,2のベース電位が反転
し、トランジスタ1がオン、トランジスタ2がオ
フとなると、FET7がオン、FET6,8,9が
オフとなる。従つて出力端子11の電位V11は、 V11≒VCCとなる。
し、トランジスタ1がオン、トランジスタ2がオ
フとなると、FET7がオン、FET6,8,9が
オフとなる。従つて出力端子11の電位V11は、 V11≒VCCとなる。
そして、この回路によればFET7がオフから
オン、オンからオフに遷移する場合、及びFET
6がオンからオフ、オフからオンに遷移する場合
のいずれにおいても、各々のFETのソースとゲ
ートが、式(1)乃至(8)を用いて説明したように、逆
位相の信号で駆動されるので、V11は従来回路の
約半分のライズタイムtr及びフオールタイムtfと
なる。
オン、オンからオフに遷移する場合、及びFET
6がオンからオフ、オフからオンに遷移する場合
のいずれにおいても、各々のFETのソースとゲ
ートが、式(1)乃至(8)を用いて説明したように、逆
位相の信号で駆動されるので、V11は従来回路の
約半分のライズタイムtr及びフオールタイムtfと
なる。
次に、FET6に流れるドレイン電流の影響に
ついて検討する。差動増幅回路を構成するバイポ
ーラトランジスタ2がオフ、バイポーラトランジ
スタ1がオンの場合に、MOS FET6は遮断状
態となる。従つて、MOS FET8,9も遮断状
態であり、FET7が導通状態でもFET7のドレ
イン、ソース電流路を流れる直流電流は0であ
る。逆に、差動増幅回路を構成するトランジスタ
1,2が反転し、MOS FET6が導通すると、
MOS FET8,9で構成されるカレントミラー
対が動作し、負荷抵抗3からFET6を介して流
れる直流的な電流路が発生する。
ついて検討する。差動増幅回路を構成するバイポ
ーラトランジスタ2がオフ、バイポーラトランジ
スタ1がオンの場合に、MOS FET6は遮断状
態となる。従つて、MOS FET8,9も遮断状
態であり、FET7が導通状態でもFET7のドレ
イン、ソース電流路を流れる直流電流は0であ
る。逆に、差動増幅回路を構成するトランジスタ
1,2が反転し、MOS FET6が導通すると、
MOS FET8,9で構成されるカレントミラー
対が動作し、負荷抵抗3からFET6を介して流
れる直流的な電流路が発生する。
当然、抵抗3の両端には電圧降下が生じ、この
電圧降下分だけFET6のゲート・ソース間電圧
VGS6は減少する。従つて、厳密に言えば、式(3)、
(4)において dVC1/dt≠−dVC2/dt でかつ |dVC1/dt|<|dVC2/dt| である。従つて、 −dVC1/dt<dVC2/dt である。故に、 dVGS6/dt =dVC2/dt−dVC1/dt <2dVC2/dt ……(9) となる。
電圧降下分だけFET6のゲート・ソース間電圧
VGS6は減少する。従つて、厳密に言えば、式(3)、
(4)において dVC1/dt≠−dVC2/dt でかつ |dVC1/dt|<|dVC2/dt| である。従つて、 −dVC1/dt<dVC2/dt である。故に、 dVGS6/dt =dVC2/dt−dVC1/dt <2dVC2/dt ……(9) となる。
従つて、ドレイン電流の存在により、前記(8)式
は成立せず、厳密に言えば、この(9)式が成立する
に過ぎない。
は成立せず、厳密に言えば、この(9)式が成立する
に過ぎない。
しかしながら本回路においては、
dVGS6/dtを常にdVC2/dtより大ならしめる抵
抗3(R3)と、FET6のドレイン電流ID6との組
合わせが存在する。
抗3(R3)と、FET6のドレイン電流ID6との組
合わせが存在する。
以下、これを証明する。
MOS FET6に流れる電流ID6は良く知られた
シヨツクレーの式により下記(10)式のように表され
る。
シヨツクレーの式により下記(10)式のように表され
る。
ID6=K(V−ID6R3)2 ……(10)
但し、V=VGS6−Vth
K;ゲートの物性、厚さ、幅等によつて決まる定
数 Vth;FETのしきい値電圧 この(10)式を展開してID6を求めると、 ID6=V/R3+1/2KR3 2 ±(1/2KR3)√4
R3+1/R3 2 ここで下記(11)式が成立することが必要である。
数 Vth;FETのしきい値電圧 この(10)式を展開してID6を求めると、 ID6=V/R3+1/2KR3 2 ±(1/2KR3)√4
R3+1/R3 2 ここで下記(11)式が成立することが必要である。
ID6>0 ……(11)
更に、カレントミラー対の起動によつて生じる
電圧降下(R3ID6)を差し引いて、なおこの回路
におけるdVGS6/dtが従来例のものに比して大き
な値であるためには、第2図におけるMOS
FET6のソース電圧とゲート電圧との交差点、
つまりMOS FET6のドレイン電流ID6が流れ始
める時点からのR3ID6が、VGS6−Vthを超えないこ
とが必要であるから、下記(12)式が必ず成立するこ
とが必要である。
電圧降下(R3ID6)を差し引いて、なおこの回路
におけるdVGS6/dtが従来例のものに比して大き
な値であるためには、第2図におけるMOS
FET6のソース電圧とゲート電圧との交差点、
つまりMOS FET6のドレイン電流ID6が流れ始
める時点からのR3ID6が、VGS6−Vthを超えないこ
とが必要であるから、下記(12)式が必ず成立するこ
とが必要である。
V−R3ID6
=−1/2KR3
〓(1/2K)√43+13 2
>0 ……(12)
即ち、式(11)、(12)を同時に満たす正の実数R3が
必ず存在することが必要である。
必ず存在することが必要である。
そこで、このような正の実数R3が存在するか
否かを調べる。
否かを調べる。
(i) ID6が、下記(14)の条件の基で、下記(13)式にて
表される場合には、式(12)を変形すると下記(15)式
が得られる。
表される場合には、式(12)を変形すると下記(15)式
が得られる。
ID6=V/R3+1/2KR3 2
+(1/2KR3)√43+13 2……(13)
但し、V、K、R3は全て正の実数である。
……条件(14)
つまり、
−1/2KR3 2 >(1/2KR3)√43+1
R3 2 1/4K2RS 4 >(1/4K2R3 2)(4VK/R3+1/
R3 2) 故に0>V/KR3 3 ……(15) この(15)式と条件(14)とは矛盾する。従つて、式
(13)の仮定は誤りである。
R3 2 1/4K2RS 4 >(1/4K2R3 2)(4VK/R3+1/
R3 2) 故に0>V/KR3 3 ……(15) この(15)式と条件(14)とは矛盾する。従つて、式
(13)の仮定は誤りである。
(ii) 下記(16)式が成立する場合には、(11)式から下記
(17)式が導かれる。
(17)式が導かれる。
ID6=V/R3+1/2KR3 2
−(1/2KR3)√43+13 2……(16)
つまり、(11)式及び(16)式から下記式が成立する。
(V/R3+1/2KR3 2)2 >(1/4K2R3 2)(4VK/
R3+1/R3 2) 故に、 V2/R3 2+V/KR3 3+1/4K2R3 4 >V/KR3 3+1/4K2R3 4 従つて、下記(17)式が導かれる。
R3+1/R3 2) 故に、 V2/R3 2+V/KR3 3+1/4K2R3 4 >V/KR3 3+1/4K2R3 4 従つて、下記(17)式が導かれる。
V2/R3 2>0 ……(17)
一方、(12)式より
−1/2KR3
+(1/2K)√43+13 2
>0
故に、
4VKR3>0 ……(18)
この(17)、(18)式はR3が正の実数の全領域で成立
する。
する。
以上のことから、本実施例の回路は実動作領域
においても(すなわち理想状態でない実用回路に
おいても)、dVGS6/dtがdVC2/dtより常に大きく
dVGS6/dtが従来の回路に比べて必ず大きくなる
ことは明らかである。
においても(すなわち理想状態でない実用回路に
おいても)、dVGS6/dtがdVC2/dtより常に大きく
dVGS6/dtが従来の回路に比べて必ず大きくなる
ことは明らかである。
なお、以上の実施例では、差動増幅回路のトラ
ンジスタ1,2としてNPNを、第1、第2の
MOS FET6,7にPチヤンネルを、又第3、
第4のMOS FET8,9にNチヤンネルを夫々
使用した。
ンジスタ1,2としてNPNを、第1、第2の
MOS FET6,7にPチヤンネルを、又第3、
第4のMOS FET8,9にNチヤンネルを夫々
使用した。
しかしながら、例えば第3図の実施例に示すよ
うに、差動増幅回路のトランジスタ12,13と
してPNPを使用し、第1、第2のMOS FET1
4,15としてNチヤネルを使用し、また第3、
第4のMOS FET16,17としてPチヤンネ
ルを使用した場合でも、全く同様の効果を奏する
ことは明らかである。
うに、差動増幅回路のトランジスタ12,13と
してPNPを使用し、第1、第2のMOS FET1
4,15としてNチヤネルを使用し、また第3、
第4のMOS FET16,17としてPチヤンネ
ルを使用した場合でも、全く同様の効果を奏する
ことは明らかである。
以上説明したように本発明はカレントミラー対
を駆動するMOS FETのソースとゲートが差動
増幅回路の逆位相の第1、第2の信号で同時に駆
動されるので、カレントミラー対の電流の立上り
と立下りを速くすることができる。この結果、差
動増幅回路の電流値や抵抗値を何ら変えることな
しに第2のMOS FETのドレインから出力され
る出力信号のライズタイムtrとフオールタイムtf
を短くすることができる効果がある。
を駆動するMOS FETのソースとゲートが差動
増幅回路の逆位相の第1、第2の信号で同時に駆
動されるので、カレントミラー対の電流の立上り
と立下りを速くすることができる。この結果、差
動増幅回路の電流値や抵抗値を何ら変えることな
しに第2のMOS FETのドレインから出力され
る出力信号のライズタイムtrとフオールタイムtf
を短くすることができる効果がある。
第1図は本発明の第1の実施例に係る振幅変換
回路の回路図、第2図は同回路の動作を説明する
ためのタイムチヤート、第3図は本発明の第2の
実施例に係る振幅変換回路の回路図、第4図は従
来の振幅変換回路の回路図、第5図は同回路の動
作を説明するためのタイムチヤートである。 1,2,12,13,18,19;バイポーラ
トランジスタ、3,4,21,22;負荷抵抗、
5,20;定電流源、6,14,23;第1の
MOS FET、7,15,24;第2のMOS
FET、8,16,25;第3のMOS FET、9,
17,26;第4のMOS FET、10,27;
電源、11,28;出力端子。
回路の回路図、第2図は同回路の動作を説明する
ためのタイムチヤート、第3図は本発明の第2の
実施例に係る振幅変換回路の回路図、第4図は従
来の振幅変換回路の回路図、第5図は同回路の動
作を説明するためのタイムチヤートである。 1,2,12,13,18,19;バイポーラ
トランジスタ、3,4,21,22;負荷抵抗、
5,20;定電流源、6,14,23;第1の
MOS FET、7,15,24;第2のMOS
FET、8,16,25;第3のMOS FET、9,
17,26;第4のMOS FET、10,27;
電源、11,28;出力端子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 バイポーラトランジスタにより構成され、逆
相関係にある第1、第2の入力信号を増幅して逆
相関係にある第1、第2の出力信号を出力する差
動増幅回路と、 ゲートに前記第1の出力信号が供給されると共
に、ソースに前記第2の出力信号が供給される第
1のMOS FETと、 ゲートに前記第2の出力信号が供給されると共
に、ソースに前記第1の出力信号が供給され、前
記第1のMOS FETと同一導電型の第2のMOS
FETと、 ゲートとドレインとが前記第1のMOS FET
のドレインに接続されると共に、ソースが共通電
位点に接続され、前記第1のMOS FETとで相
補対をなす第3のMOS FETと、 ゲートが前記第3のMOS FETのゲートに接
続され、ドレインが前記第2のMOS FETのド
レインに接続され、ソースが前記共通電位点に接
続され、前記第2のMOS FETとで相補対をな
す第4のMOS FETと、 前記第2のMOS FETのドレインから、前記
第1、第2の入力信号の振幅増幅された出力を取
出す手段とを具備したことを特徴とする振幅変換
回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62098809A JPS63263824A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | 振幅変換回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62098809A JPS63263824A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | 振幅変換回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63263824A JPS63263824A (ja) | 1988-10-31 |
JPH0581088B2 true JPH0581088B2 (ja) | 1993-11-11 |
Family
ID=14229662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62098809A Granted JPS63263824A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | 振幅変換回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63263824A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02137409A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-25 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
JP3257504B2 (ja) * | 1998-03-30 | 2002-02-18 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
JP6000884B2 (ja) * | 2013-03-25 | 2016-10-05 | シチズンホールディングス株式会社 | 演算増幅回路 |
-
1987
- 1987-04-21 JP JP62098809A patent/JPS63263824A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63263824A (ja) | 1988-10-31 |
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