JPH0580989B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はデイジタル無線で受信されたデイジタ
ル信号の雑音測定に関し、特にダイバーシテイ受
信におけるデイジタル信号の選択、あるいは受信
されたデイジタルを処理するか否かのスケルチ信
号を得るための雑音測定に関する。

（従来の技術） 従来、ダイバーシテイ受信におけるデイジタル
信号の品質（例えば、ビツト誤り率）の比較、あ
るいは受信されたデイジタル信号に対してスケル
チ信号を得るために、受信信号の品質について受
信電界強度、または受信信号の帯域外雑音を測定
することにより知る方式が公知であつた。

（発明が解決しようとする問題点） 従来の技術では、受信されたデイジタル信号
と、その品質の測定結果とが必ずしも対応してい
ないため、次のような第１〜第３の問題があつ
た。

第１の問題は、スケルチ信号の検出に従来の方
式を適用すると、受信機が都市雑音や干渉波を受
信したときに希望波との区別がつかず、誤つてス
ケルチ信号が応答して、希望波ではないにもかか
わらず誤つた処理をする点にある。

第２の問題は、さらにスケルチ信号の検出にお
いて、受信されたデイジタル信号の誤り率と受信
電界強度との測定値が受信機により多少ばらつい
ている（通常、数dBの範囲内）ため実際の受信
電界強度が低く、デイジタル信号の品質が劣つて
いるときにもスケルチ信号が応答する点にある。

第３の問題は、２台の受信機において従来の方
法によりデイジタル信号の品質を測定した場合、
これらの結果を使つて受信機の出力を選択するダ
イバーシテイ受信を行うものとすれば、都市雑音
や干渉波のばらつき、あるいは受信機自身の特性
のばらつきによつて電界強度の測定結果と誤り率
とが対応できないために、受信信号品質のよい方
が必ずしも選ばれるとは限らず、ダイバーシテイ
効果が劣化する点にある。

以上の問題は受信電界強度を測定するだけでは
なく、受信信号の帯域外雑音を測定する場合にも
同様に発生するものである。

また、受信電界強度を測定する場合には、受信
電界強度に比例した電圧を得るために対数増幅器
等の高価なものを用いる必要があると云う欠点が
ある。

本発明の目的は、受信信号を高域通過フイルタ
へ通し、整流回路へ入力してクロツク周波数成分
を含む信号波を得て、さらに整流回路の出力をク
ロツクパルス再生回路へ入力してクロツクパルス
を再生する受信装置において、整流回路の入力ま
たは出力について、振幅が最小になる確率が最も
高い時点をサンプリングして、その振幅レベルを
測定することにより上記欠点を除去し、受信信号
に含まれる雑音に対応した出力電圧を得ることが
できるように構成した雑音測定装置を提供するこ
とにある。

（問題点を解決するための手段） 本発明による雑音測定装置はクロツク生成手段
と、サンプルホールド手段と、レベル測定手段と
を具備して構成したものである。

クロツク生成手段は、受信信号の高域周波数成
分を通過させてから整流してクロツク周波数成分
を含む信号波を生成し、さらに信号波からクロツ
ク周波数成分を再生するためのものである。

サンプルホールド手段は、整流の入力または出
力について振幅が最小になる確率が最も高い時点
をサンプルして、その振幅レベルを保持するため
のものである。

レベル測定手段は、サンプルホールド手段の出
力の振幅レベルを測定するためのものである。

（実施例） 次に、本発明について図面を参照して説明す
る。

第１図は、本発明による雑音測定装置の一実施
例を示すブロツク図である。第１図において、１
は受信機、２は低域波器、３は高域波器、４
は整流回路、５は帯域波器、６は比較器、７は
識別回路、８は遅延回路、９はサンプリングパル
ス発生回路、１０はサンプルホールド回路、１１
はレベル測定回路、１２は比較器である。

第２図は、第１図の各部の動作波形を示す説明
図である。

第１図において、受信機１によつて受信された
出力は低域波器２を通り雑音が除去されて受信
信号x₂が得られる。第２図に示すように、信号x₂
ではアイパターンが開いている模様を示してい
る。さらにクロツク周波数成分を得るために、信
号x₂は高域波器３を通つて整流回路４に入力さ
れ、整流回路４で整流される。整流回路４の出力
にはクロツク周波数成分が含まれているので、ク
ロツク周波数成分は帯域波器５で抽出され、さ
らに比較器６で基準電圧Vc₁と比較される。

これによつて波形が整流され、再生されたクロ
ツクパルスx₆が得られる。

次に、再生クロツクパルスx₆を使い、受信信号
x₂は識別回路７によつて識別され、識別回路７か
ら受信デイジタル信号x₇が出力される。

以上説明した雑音測定装置では、クロツクパル
スの再生について次のことが言える。

第２図で示されるように、受信信号x₂に雑音が
含まれていないときには、高域波器３の出力x₃
と整流回路４の出力x₄とには、振幅が非常に小さ
くなる位相点（第２図ではt₁，t₂，t₃）が存在す
る。本発明では、このような波形の性質がどの程
度に保たれているのかを測定することにより、雑
音測定の結果を得ている。サンプルホールド回路
１０において、信号x₄の波形はサンプリングパル
スx₉によつて、振幅が最も小さくなる時点（例え
ば、t₁，t₂，t₃）でサンプルされる。本発明では
これらの点で振幅レベルを測定することにより、
受信信号x₂に含まれる雑音を測定している。他
方、信号x₄の波形は、雑音が含まれていないとき
に、振幅が最も低くなる時点（例えば、t₁，t₂，
t₃）でサンプルホールド回路１０によつてサンプ
ルされる。

遅延回路８およびサンプリングパルス発生回路
９は、サンプルホールド回路１０においてサンプ
リングパルスを生成するためのものである。遅延
回路８でクロツクパルスx₆を適当に遅延し、さら
にサンプリングパルス発生回路９において遅延回
路８の出力x₈の立上りに同期して微小なパルス幅
を有するサンプリングx₉を出力している。ここ
で、遅延回路８の遅延量はサンプリングパルスx₉
の立上りに対して、x₄におけるt₁，t₂，t₃のよう
に遅延量が最小となる時点に合わせて調整され
る。

第２図に示すように、信号x₄に雑音が含まれて
いないときには、サンプルホールド回路１０でサ
ンプルされた結果x₁₀は実線で示す零のレベルに
なる。第２図において点線で示されるように、信
号x₄に雑音があつたときには△V₁，△V₂，△
V₃，……をサンプルして信号x₁₀に電圧△V₁，△
V₂，△V₃が発生する。

従つて、レベル測定回路１１で信号x₁₀のレベ
ルを測定すれば、整流した出力x₄に含まれる雑音
を測定したことになる。受信信号x₂に雑音があれ
ば信号x₄の波形が乱されるため、以上の動作は信
号x₂に含まれる雑音の測定を行つているものと解
釈することができる。

次に、レベル測定回路１１によつて信号x₁₀の
平均値が求められ、信号x₁₀の瞬時的な変動分が
除去される。

次に、比較器１２ではレベル測定回路１１の出
力x₁₁が或る値Vc₂より大きくなつたときに、こ
れを雑音状態とみなして出力SQを“１”レベル
に立上げている。すなわち、SQは受信機１が正
常な信号を受信せずに受信信号出力のアイパター
ンが開いていないときに、“１”レベルを出力す
るようにするためのスケルチ信号として使われ
る。この場合、識別回路７の出力x₇について、信
号の処理を行わない。

以上の説明は整流回路４の出力x₄をサンプルホ
ールド回路１０へ入力した場合であるが、代りに
整流回路４の入力x₃をサンプルホールド回路１０
へ入力しても同様な結果が得られる。すなわち、
上記に関しては第２図に示すサンプリングパルス
x₉の立上りで、信号x₃の波形が零レベルになるこ
とから明らかである。この場合、レベル測定回路
１１によつて入力x₁₀の交流電圧を測定すればよ
い。

（発明の効果） 以上説明したように本発明は、受信信号を高域
通過フイルタへ通し、整流回路へ入力してクロツ
ク周波数成分を含む信号波を得て、さらに、整流
回路の出力をクロツクパルス再生回路へ入力して
クロツクパルスを再生する受信装置において、整
流回路の入力または出力について振幅が最小にな
る確率が最も高い時点をサンプリングして、その
振幅レベルを測定することによつて、受信信号の
アイパターンに含まれる雑音を測定でき、ビツト
誤り率に対応して次の第１〜第４の効果がある。

第１には、都市雑音や干渉波などに対して受信
信号のアイパターンが開かない場合であり、受信
信号はすべて雑音と判断されて測定されると云う
効果がある。その結果、従来のようにスケルチ信
号により誤つて応答が出力されると云う問題が解
決される。

第２には、受信機の性能にはばらつきがある場
合にも、ビツト誤り率に対応したスケルチ応答信
号が得られると云う効果がある。

第３には、本発明をダイバーシテイ受信に適用
する場合であり、この場合には２台の受信機のそ
れぞれの受信信号のうちでアイパターンに含まれ
る雑音の測定結果が相互比較されるため、誤り率
の低い信号を確実に選ぶことができると云う効果
がある。このため、従来のようにダイバーシテイ
効果を劣化させることがない。

第４は、本発明により回路構成が非常に簡単に
なり、従来の電界強度測定法のように対数増幅器
等の高価なものを使用する必要がないと云う効果
がある。このため、価格的にも有利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による雑音測定装置の一実施
例を示すブロツク図である。第２図は、第１図に
示す雑音測定装置の各部の動作波形を示す波形説
明図である。 １……受信機、２，３，５……波器、４……
整流回路、６，１２……比較器、７……識別回
路、８……遅延回路、９……サンプリングパルス
発生回路、１０……サンプルホールド回路、１１
……レベル測定回路、x₂〜x₁₁，SQ……信号、△
V₁，△V₂，△V₃，Vc₁，Vc₂……電圧、t₁，t₂，
t₃……時間。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 受信信号の高域周波数成分を通過させてから
   整流してクロツク周波数成分を含む信号波を生成
   し、さらに前記信号波から前記クロツク周波数成
   分を再生するためのクロツク生成手段と、前記整
   流の入力または出力について振幅が最小になる確
   率が最も高い時点をサンプルして保持するための
   サンプルホールド手段と、前記サンプルホールド
   手段の出力の振幅レベルを測定するためのレベル
   測定手段とを具備して構成したことを特徴とする
   雑音測定装置。