JPH0577230A - ウエハの切断方法および装置 - Google Patents

ウエハの切断方法および装置

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JPH0577230A
JPH0577230A JP24165691A JP24165691A JPH0577230A JP H0577230 A JPH0577230 A JP H0577230A JP 24165691 A JP24165691 A JP 24165691A JP 24165691 A JP24165691 A JP 24165691A JP H0577230 A JPH0577230 A JP H0577230A
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Nobuo Suzuki
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幸栄 遊佐
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ウェハの状態で保たれている素子パターン並び
精度を、ブロック片に切り出した状態においても維持す
ること。 【構成】ウェハ1の切断面を研削砥石7によって仕上げ
加工して基準面を形成する。次に、治具固定アーム5を
用いて基準面にブロック固定治具4を固定する。次に、
顕微鏡システム3とXYθテーブル12を用いて1素子
パターンピッチだけウェハ1をX方向に移動させて位置
調整を行う。次に、切断砥石6を用いてブロック片を切
り出す。したがって、剛性の高いブロック固定治具4を
基準面に密着させた状態でウェハ1からブロックを切り
出すことができ、ブロックに切り出すときにブロックの
変形が生じない。その結果、素子パターンの並び精度を
保持することが可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はウェハの切断方法および
装置にかかり、特にウェハ上に形成された素子パターン
の並びを高精度に維持したまま、素子パターン列毎にブ
ロック片に切り出すのに好適なウェハの切断方法および
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術においては、1枚のウェハから
複数のブロックを切り出すために、次のような切断装置
が用いられている。すなわち、ウェハの切断ピッチに合
わせて設けられた複数の薄刃から成る外周切刃タイプの
切断砥石を高速回転させ、ウェハを搭載したテーブルを
ワークの性質に合わせたスピードで送り、かつ切り込み
を入れて切断する。
【0003】通常、上記切断装置を用いて、ウェハ上の
素子パターン列に合わせて、ウェハを複数のブロックに
切断した後、次のような加工が行われる。すなわち、最
初に、切断されたブロックの片面に基準面を形成する。
このため、基準面形成面と反対側の面に専用の固定治具
を取り付け、傾き調整等を行い、基準面形成面に対して
仕上げ研削を行い、上記切断されたブロックの片面に基
準面を形成する。次に、上記専用の固定治具を取り外
し、形成された基準面側に新たに専用の固定治具を取り
付け、基準面と反対の面に対して仕上げ研削を行い、さ
らに加工等により生じた歪除去などの後工程を経て単品
形状に加工される。
【0004】また、本発明に関連する従来技術として、
特開昭61−61763号公報に開示されているよう
に、砥石に微粒子を含む加工液を供給しつつ、高速で回
転させ、端面の加工変質層を除去し、鏡面に仕上げる微
小形状加工法が存在する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術に
は、次のような問題点がある。第1に、ウェハからブロ
ックに切断する際に、切断曲がりおよび切断に起因する
加工応力やウェハの内部応力により、ウェハから切り出
されたブロックにソリが発生し、素子パターンの並び精
度低下の原因になる。
【0006】第2に、基準面の形成や基準面と反対側の
面の加工の際に、ブロックを専用の固定治具にワックス
等で固定する必要があるが、ブロックに生じている上記
ソリおよび固定治具へのブロック接着時のブロック内ワ
ックス冷却速度差によるソリに起因して、固定治具とブ
ロック面とを均一に接着することが困難であり、基準面
加工面から素子パターン列までの寸法がブロック内でば
らつき、均一な加工が困難である。その結果、基準面を
ブロック固定治具に固定した状態における素子パターン
の並び精度が数ミクロンオーダとなり、基準面の反対側
の面の加工において、ブロック内のどの位置において
も、素子パターンと加工面との寸法が均一になるように
加工することが不可能である。
【0007】第3に、基準面形成のために専用の固定治
具を基準面形成面と反対側の面に取り付け、さらに基準
面形成後に取外し、再度専用の固定治具を基準面に取り
付ける必要が有り、大変面倒である。
【0008】第4に、ブロックの基準面を加工した後、
基準面をブロック固定治具に接着するために、ブロック
固定治具からブロックを剥離すると、ブロックの片側
(基準面と反対側)は切断面、片側(基準面側)は研削
面であり、両面の加工歪の差により、ブロックにソリが
加わり、さらに素子パターンの並びの精度低下の原因と
なる。そのため、ブロック片での素子パターンの並び精
度は、厚さ数mmのウェハにおいて、50mmあたり通
常数μm程度の誤差が生じてしまう。したがって、ウェ
ハ状態での高精度な素子パターンの並び精度を保つこと
ができないという問題点があった。
【0009】さらに、近年の磁気ディスクの記録密度向
上のための磁気ヘッドの小型化、および原価低減のため
の大口ウェハによる多数個同時加工等により、近い将来
にブロック片の厚みは約1/2、長さは約2倍となるこ
とが予想され、これらを実現させるための素子パターン
の並び精度向上のニーズにも対応する必要がある。
【0010】また、上記公報に開示された発明は、切断
時の薄刃の切断砥石の曲がり等による切断面の精度の低
下に対して、高速高精度切断砥石を使用し、かつ研削抵
抗を低減させて加工精度を上げることを目的としてい
る。したがって、上記公報に開示された発明において
は、加工時の被研削物保持の剛性を向上させること、お
よびウェハから切り出したブロック片の内部応力および
加工応力に起因する変形による素子パターンの並び精度
低下という点については、何も配慮されていない。本発
明は、上記した従来技術の問題点に鑑み成されたもの
で、ウェハの状態で保たれているサブミクロンオーダの
素子パターン並び精度を、ブロック片に切り出した状態
においても維持することを可能にするウェハの切断方法
および装置を提供することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のウェハの切断方
法は、複数の素子パターン列が平行に形成されているウ
ェハから、1つの素子パターン列を含んでいるブロック
を一定ピッチで切り出すものであり、加工時の被研削物
の保持剛性を向上させるため、特に素子パターン列と平
行にウェハを切断して形成したウェハ切断面に直接基準
面加工を行い、上記基準面にブロック状の治具を接着し
てウェハと上記治具を一体化し、この状態において1つ
の素子パターン列を含むブロックをウェハから切り出す
ことを特徴としている。
【0012】また、本発明のウェハの切断装置は、ウェ
ハに形成されている互いに平行な複数の素子パターン列
を測定する測定手段と、上記ウェハから1つの素子パタ
ーン列を含むブロックを一定ピッチで切り出すため、上
記測定手段によってウェハの切断位置を調整する位置調
整手段と、上記ウェハを切断するための切断手段と、上
記ウェハの切断面を仕上げ加工してブロックの基準面を
作成する仕上げ加工手段と、上記基準面にブロック固定
治具を密着させて固定する固定手段と、上記切断手段を
用いてウェハをブロック状に切り出した後、切り出され
たブロック片とこれに固定したブロック固定治具をブロ
ック単位で上記切断位置から退避させる退避手段とを備
えたことを特徴としている。
【0013】
【作用】本発明のウェハの切断方法および装置によれ
ば、ウェハからブロックを切り出す前に、ブロックの基
準面の形成と該基準面へのブロック状の治具の接着が行
われ、剛性の高いブロック固定治具を基準面に密着させ
た状態でウェハからブロック片を切り出すことができ
る。したがって、ブロックに切り出すときにウェハの内
部応力や加工応力によるブロックの変形(ソリ)が生じ
ない。その結果、素子パターンの並び精度をウェハ状態
における素子パターンの並び精度と同程度に保持するこ
とが可能になる。
【0014】さらに、本発明のウェハの切断装置によれ
ば、上記測定手段によって素子パターン列が測定され、
測定された素子パターン列に平行な切断が行われるよう
に、上記位置調整手段によってウェハの位置調整が行わ
れる。ウェハが上記切断手段によって切断された後、そ
の切断面が上記仕上げ加工手段によって仕上げ加工され
る。これによって、基準面が形成される。次に、上記固
定手段は、ブロック状の治具を上記基準面に密着して固
定する。次に、位置調整手段と測定手段により、ウェハ
を1素子パターンピッチ分移動して、切断手段がウェハ
を切断することにより、1つのブロックが切り出され
る。次に、退避手段が切り出されたブロックを切断・仕
上げ加工位置から退避させ、次のウェハの切断面の仕上
げ加工との干渉を防止する。これにより、ウェハ状態で
の基準面の作成、ブロック状の治具の基準面への固定、
ブロックの切断等の一連の工程を自動化することができ
る。
【0015】
【実施例】以下添付の図面に示す実施例により、さらに
詳細に本発明について説明する。図1は本発明にかかる
ウェハの切断装置の一実施例を示す斜視説明図である。
図1において、ウェハ1は保持治具2上にセットされ
る。3はウェハ1上に設けられた素子パターンを測定す
るための顕微鏡システムであり、素子パターンの並びに
対して切断面を平行に切断加工・研削加工するため、ウ
ェハ1の位置決め指令値を得る目的で使用する。4はブ
ロック固定治具であり、治具固定アーム5によりエアー
で吸着固定されている。このブロック固定治具4は、後
述するように、ウェハ1をその素子パターン並びに平行
に切断加工・研削加工した後の加工面に、ワックスで密
着固定される。6はウェハ切断用の薄刃の切断砥石であ
る。7は切断面を研削するカップ型の研削砥石である。
8は切断砥石6と研削砥石7を保持する主軸である。1
0は治具ホルダであり、複数の保持治具2のそれぞれを
エアーにより吸着固定する。11はX方向に移動可能な
治具クランプである。また、12は治具ホルダ10を固
定するXYθテーブルであり、ウェハ1上の素子パター
ンの並びと主軸8とが直交するように全体を回転させ、
さらに加工時の位置決めや加工時の送りを行う。
【0016】図2は、図1に示す主軸と切断砥石と研削
砥石まわりの詳細を示す側面説明図である。図示するよ
うに、主軸8は、その外周に切断砥石6と砥石おさえ1
3と砥石カバー14とを備え、その端面に研削砥石7を
備えている。そして、主軸8は、図1に示すZ方向およ
びY方向に移動可能に形成され、ウェハ1の切断加工と
切断面の研削加工を行う。
【0017】図3は図1に示す保持治具の詳細を示す斜
視説明図である。図3に示すように、保持治具2はウェ
ハ1を切断する切断砥石6の逃げ溝21を有し、かつウ
ェハ1の切断面を研削加工して得られた基準面にブロッ
ク固定治具4をワックス固定し、1ピッチ分だけ移動し
た後、さらに切断加工してブロック15を得る。保持治
具2は、切断してブロック15を得た後において、ブロ
ック15が次の切断面の研削加工と干渉しないように、
図中Y方向にブロック15を退避させる機構を有してい
る。
【0018】また、治具ホルダ10は、ウェハ1を切断
して1つのブロックを分離形成する場合、該形成された
ブロックを図3に示すようY方向に移動して取り外す際
に、エアーによる吸着固定を該ブロックを搭載している
保持治具2だけ解除するように構成されている。
【0019】次に、図4に示すフローチャートにしたが
って、図1から図3に示す実施例の動作について説明す
る。ステップS1において、ウェハ1を保持治具2上
に、各素子パターン列の切断代と保持治具2の砥石逃げ
溝21とを合わせた状態で、ワックス等を用いて固定す
る。次に、ステップS2において、保持治具2を治具ホ
ルダ10のガイド溝(図示せず)に挿入し、治具ホルダ
10ごと加工機上のXYθテーブル12にセットして、
位置決めする。さらに、位置決め後、保持治具2を治具
ホルダ10に吸着固定し、また保持治具2のX方向の安
定のため、治具クランプ11により固定する。次に、ス
テップS3において、顕微鏡システム3によりウェハ1
の素子パターンの第1列を測定し、これを基準として、
主軸8と素子パターンの並びが直交するように、XYθ
テーブル12を回転して位置調整を行う。次に、ステッ
プS4において、素子パターンの第1列目手前1面およ
び両サイドの不要部分2面を(ブロック状に切断してい
く最後1面を除く)、切断砥石6を用いて、それぞれ素
子パターンの第1列にほぼ平行および直角に切断し、不
要部分を除去する。次に、ステップS5,S6におい
て、顕微鏡システム3とXYθテーブル12により、主
軸8と素子パターン並びが直交するようにウェハ1の位
置決めを行う。次に、ステップS7において、素子パタ
ーンの第1列の手前の切断面を研削砥石7を用いて研削
加工し、切断時の曲がりや歪みを修正して、面仕上げを
行う。これにより、ブロックの基準面が形成される。次
に、ステップ8において、治具固定アーム5に吸着固定
したブロック固定治具4を接着剤等を用いてウェハ1の
上記仕上げ面(基準面)に密着して固定する。ここで、
上記接着剤はあらかじめブロック固定治具に塗布してお
いても良いし、図1に示す実施例において接着剤を塗布
する機構を設けても良い。次に、ステップS9におい
て、1素子ピッチ分だけXYθテーブル12をX方向に
送り、さらに第2列の素子パターン列に前記同様顕微鏡
システム3を用いて位置決めする。次に、ステップS1
0において、素子パターンの第1列を有している部分だ
けを切断砥石6を用いて切断する。次に、ステップS1
1において、切断したブロックを吸着している保持治具
2のエアー吸着を解除する。次に、ステップS12にお
いて、保持治具2をX方向に固定していた保持クランプ
11を解除し、さらにブロック固定治具4を吸着固定し
ていた治具固定アーム5のエアー吸着を解除する。次
に、ステップS13において、図3に示すように、ブロ
ック固定治具4とこれに接着固定されたブロック15を
Y方向に退避させる。最後に、ステップS14におい
て、治具クランプ11等をクランプ状態にして、研削砥
石7が素子パターンの第2列の切断面を仕上げ加工でき
るようにする。
【0020】素子パターンの第2列目に対しても、前記
と同様のサイクルを繰り返すことにより、さらには必要
な素子パターン列(通常は最終の素子パターン列)まで
前記と同様のサイクルを繰り返すことにより、ブロック
固定治具4に切断したブロックを固定した状態で、かつ
ウェハ状態における素子パターンの並び精度を維持した
ブロックを連続して得る事が可能になる。ここで、ブロ
ック固定治具4は、言うまでもなく、治具固定アーム5
に順次供給されるものである。
【0021】このようにして得られたブロック固定治具
4が接着された状態のブロック15は、後工程におい
て、加工歪みを除去するために過熱され(エージン
グ)、さらにブロック固定治具4が接着された反対側の
面をラップ加工する際に、素子パターン列がラップ定盤
面に平行になるように位置合わせが行われる。これによ
って、後工程においても、ウェハ状態における素子パタ
ーンの並び精度を維持することができるため、ブロック
内での加工バラツキを低減できる。
【0022】なお、上記実施例においては、切断砥石6
と研削砥石7とを主軸8で共用しているが、言うまでも
なく、装置スペースに余裕があれば、分離して2軸構成
としても良い。
【0023】以上の説明から明らかなように、上記実施
例によれば、ウェハからブロックを切り出す前に、ブロ
ックの基準面の形成と該基準面へのブロック固定治具4
の接着が行われ、剛性の高いブロック固定治具を基準面
に密着させた状態でウェハからブロック片に切り出すた
め、ブロックに切り出すときにブロックに生じるソリが
防止でき、その結果素子パターンの並びの精度をウェハ
状態における素子パターンの並び精度と同様のサブミク
ロンオーダに保つことができる。
【0024】また、剛性の高いブロック固定治具を基準
面に密着させた状態でウェハの切断加工を行うため、切
断加工面の平面度の向上、面粗さの向上、切断加工面に
おける欠陥発生防止や切断加工の高速化等の効果が生じ
る。
【0025】また、装置上において、基準面形成とその
仕上げ加工、基準面へのブロック固定治具の接着が行え
るため、自動運転時間は増加するものの、従来技術で必
要とされた基準面作成のための反対側の面へのブロック
固定治具の取り付けや取り付けたブロック固定治具の分
離工程等を省略することができる。
【0026】また、本実施例を磁気ヘッドの製造に利用
した場合には、ブロック切断加工時にブロックにソリが
生じないため、記録密度向上に起因する小型化のための
薄膜化、生産効率向上に起因する同時加工数増大のため
のブロック片の長尺化などのブロック片の加工量増大要
因に対しても、容易に対応することができ、近い将来の
性能向上および量産に対して、十分な素子パターンの並
び精度を確保することができるため、歩留りの低下を防
止することができる。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、ウェハの状態で保たれ
ているサブミクロンオーダの素子パターン並び精度を、
ブロック片に切り出した状態においても維持することが
可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかるウェハの切断装置の一実施例を
示す斜視説明図。
【図2】図1に示す主軸と切断砥石と研削砥石まわりの
詳細を示す側面説明図。
【図3】図1に示す保持治具の詳細を示す斜視説明図。
【図4】図1から図3に示すウェハの切断装置の動作を
示すフローチャート。
【符号の説明】
1…ウェハ、2…保持治具、3…顕微鏡システム、4…
ブロック固定治具、5…治具固定アーム、6…切断砥
石、7…研削砥石、8…主軸、9…素子パターン、10
…治具ホルダ、11…治具クランプ、12…XYθテー
ブル、15…ブロック。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 遊佐 幸栄 東京都千代田区神田駿河台四丁目6番地 株式会社日立製作所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の素子パターン列が平行に形成されて
    いるウェハから、1つの素子パターン列を含んでいるブ
    ロックを一定ピッチで切り出すウェハの切断方法におい
    て、 素子パターン列と平行にウェハを切断して形成したウェ
    ハ切断面に基準面加工を行い、上記基準面にブロック状
    の治具を接着してウェハと上記治具を一体化し、この状
    態において1つの素子パターン列を含むブロックをウェ
    ハから切り出すことを特徴とするウェハの切断方法。
  2. 【請求項2】ウェハに形成されている互いに平行な複数
    の素子パターン列を測定する測定手段と、 上記ウェハから1つの素子パターン列を含むブロックを
    一定ピッチで平行に切り出すため、上記測定手段によっ
    てウェハの切断位置を調整する位置調整手段と、 上記ウェハを切断するための切断手段と、 上記ウェハの切断面を仕上げ加工してブロックの基準面
    を作成する加工手段と、 上記基準面にブロック固定治具を密着させて固定する固
    定手段と、 上記切断手段を用いてウェハをブロック状に切り出した
    後、切り出されたブロック片とこれに固定したブロック
    固定治具をブロック単位で上記切断位置から退避させる
    退避手段を備えたことを特徴とするウェハの切断装置。
JP24165691A 1991-09-20 1991-09-20 ウェハの切断方法および装置 Expired - Lifetime JP2908915B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001277110A (ja) * 2000-04-03 2001-10-09 Sony Corp 矩形部材を棒状部材に形成する加工方法および加工装置
JP2011036939A (ja) * 2009-08-07 2011-02-24 Disco Abrasive Syst Ltd 切断研磨加工装置
JP2012043826A (ja) * 2010-08-12 2012-03-01 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置

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