JPH0575656U - 電子部品の外観検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 照射光の乱反射による影響を極力防止して正
確な画像デ−タを得ることができる電子部品の外観検査
装置を提供すること。 【構成】 回転対称形状を成す電子部品１をその軸線と
直交する向きで撮像する撮像器２と、撮像器２と対峙す
る電子部品１の表面部分を撮像器側から照明する光源５
ｂと、電子部品１をその軸線を中心として回転させなが
ら得られる画像デ−タに基づいて外観形状の良否を判定
する画像判定手段４とを具備した電子部品の外観検査装
置において、光源５ｂの照射側に、電子部品１の軸線と
平行なスリット５ｃ1 を有し該スリット５ｃ1 を通過し
た光Ｒ１によって電子部品１の表面一部を軸線に沿う狭
範囲で照明可能な通過光制御板５ｃを設けている。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、電子部品の外観形状の検査を画像認識によって行なう外観検査装置 に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

円柱形や球形等の回転対称形状を成すインダクタ，コンデンサ等の外観形状の 検査、例えば表面傷や塗装剥げの検査を行なう外観検査装置として従来図４に示 すものが知られている。

【０００３】 この外観検査装置は、単位素子を２次元に配列したＣＣＤ等の撮像素子を具備 し、横向き状態にある被検査部品１をその真上から撮像する２次元カメラ２と、 該カメラ２に隣接して斜め下向きに配置された照明器３と、カメラ２に接続され た画像判定装置４とから構成されている。

【０００４】 照明器３の光源３ａには照射部分に鮮明なコントラストをつける関係から白熱 ランプ等の点光源が使用されており、カメラ２の真下に横向き状態で搬送される 被検査部品１は該照明器３によって斜め上から照明される。被検査部品１は検査 時に軸線を中心として回転され、カメラ２は回転する被検査部品１の照明部分を 撮像してその画像デ−タを画像判定装置４に送出する。

【０００５】 画像判定装置４における判定は、上記の画像デ−タから明暗や濃淡をパラメ− タとした被検査部分のパタ−ンを逐次取出し、予め記憶されている基準パタ−ン と比較することで行なわれる。被検査部分のパタ−ンと基準パタ−ンとに許容範 囲を越える距離がある場合に外観形状が不良であると判定される。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

しかし、上記従来の外観検査装置では、図５に示すように照明器３と向き合う 被検査部品１に広い範囲で該照明器３の光Ｒが照射されるため、同照射範囲内に ある表面傷や塗装剥げ等を含む表面凹凸で多くの乱反射を発生し、得ようとする 表面傷や塗装剥げの像が該乱反射によってぼやけたり不明瞭になり易く、画像デ −タが不正確になって被検査部品１における実際の特徴量を抽出することが難し くなる。

【０００７】 本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、照射光 の乱反射による影響を極力防止して正確な画像デ−タを得ることができる電子部 品の外観検査装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、請求項１では、回転対称形状を成す電子部品をその 軸線と直交する向きで撮像する撮像器と、撮像器と対峙する電子部品の表面部分 を撮像器側から照明する光源と、電子部品をその軸線を中心として回転させなが ら得られる画像デ−タに基づいて外観形状の良否を判定する画像判定手段とを具 備した電子部品の外観検査装置において、光源の照射側に、電子部品の軸線と平 行なスリットを有し該スリットを通過した光によって電子部品の表面一部を軸線 に沿う狭範囲で照明可能な通過光制御板を設けている。

【０００９】 また、請求項２では、請求項１記載の電子部品の外観検査装置に、スリットの 開口幅を変化可能な通過光調整板を設けている。

【００１０】 一方、請求項３では、回転対称形状を成す電子部品をその軸線と直交する方向 から撮像する撮像器と、撮像器と対峙する電子部品の表面部分を撮像器側から照 明する光源と、電子部品をその軸線を中心として回転させながら得られる画像デ −タに基づいて外観形状の良否を判定する画像判定手段とを具備した電子部品の 外観検査装置において、上記撮像器として、電子部品の軸線と直交する細長い領 域の撮像視野を有するものを用いている。

【００１１】

【作用】

請求項１記載の外観検査装置では、光源の照射側に設けられた通過光制御板の スリットを通過した光によって、電子部品の表面一部がその軸線に沿う狭範囲で 照明される。つまり、検査対象となる電子部品には、その表面一部に狭範囲で光 が照射されるため、同部分で発生する乱反射を僅かに止めることができる。

【００１２】 また、請求項２記載の外観検査装置では、通過光調整板によってスリットの開 口幅を調整し、電子部品に対する照射幅を任意に変更できる。

【００１３】 請求項３記載の外観検査装置では、照明を受ける電子部品はその軸線方向と直 交する細長い領域を撮像器によって撮像される。つまり、電子部品が広い範囲で 照明を受ける場合でも、撮像視野内の像にその周囲で発生した乱反射の影響が及 ぶことがない。

【００１４】

【実施例】

図１乃至図３は本考案の第１実施例を示すもので、図１は外観検査装置の概略 構成図、図２は図１に示した照明器の断面図、図３は照射状態を示す図である。 尚、本実施例では図４に示した従来例と構成を同じくする部分に同一符号を用い その詳細説明を省略する。即ち、同図において１は被検査部品、２はカメラ、４ は画像判定装置である。

【００１５】 図１に示した照明器５は被検査部品１を斜め上から照明するためのもので、図 ２に示すように本体５ａ，光源５ｂ，通過光制御板５ｃ及び通過光調整板５ｄか ら成り、カメラ２に隣接して斜め下向きに配置されている。

【００１６】 本体５ａは一端を開口した箱形を成しており、他端内側中央に設けられたソケ ット５ｂ1 には白熱ランプ等の光源５ｂが開口部に向けて取付けられている。

【００１７】 通過光制御板５ｃは本体５ａの開口部に固定配置されており、その中央には被 検査部品１の軸線と平行な細長いスリット５ｃ1 が形成されている。また、通過 光制御板５ｂ外面には、通過光調整板５ｄを該制御板５ｂに沿って摺動案内する 複数対のＬ字形ガイド５ｃ2 が設けられている。

【００１８】 通過光調整板５ｄはスリット５ｃ1 と同一形状の調整孔５ｄ1 を有しており、 上記ガイド５ｃ2 に摺動自在に嵌め込まれている。図２にはスリット５ｃ1 と調 整孔５ｄ1 が一致した状態を示してあるが、該スリット５ｃ1 の開口幅は通過光 調整板５ｄをガイド５ｃ2 に沿って摺動させることで任意に変化させることが可 能である。

【００１９】 上記の照明器５では、光源５ｂを点灯させると、その照射側に設けられた通過 光制御板５ｃのスリット５ｃ1 及び通過光調整板５ｄの調整孔５ｄ1 を通じ、ス リット５ｃ1 の形状にほぼ一致した細長い光Ｒが導き出される。この光Ｒ１は光 軸を被検査部品１の中心と交差しており、被検査部品１は図３に示すように該光 Ｒ１によってその表面一部を軸線に沿って照明されることになる。

【００２０】 上記光Ｒ１による照射範囲が極めて狭いため、同照射範囲内に表面傷や塗装剥 げ等を含む表面凹凸がある場合でもここで発生する乱反射は極めて少なく、表面 傷や塗装剥げの像が乱反射の影響でぼやけたり不明瞭になることはない。つまり 、カメラ２によって撮像される照明部分の画像は極めて鮮明であり、実際のもの と合致した正確な画像デ−タを画像判定装置４に送り込むことができる。

【００２１】 上記の光Ｒ１でも未だ乱反射の影響が画像デ−タに現れる場合には、通過光調 整板５ｄによってスリット５ｃ1 の開口幅を狭くし、光Ｒ１をより細長いものに して乱反射の発生を低減させることが可能である。また、外径の異なる別の部品 を検査する場合には、光Ｒ１の幅、即ち被検査部品１に対する照射幅を調整して 画像の質を該部品に合わせて適切なものとすればよい。

【００２２】 このように第１実施例で示した外観検査装置によれば、被検査部品１の表面一 部を軸線に沿う狭範囲で照明することにより、同照射範囲内に表面傷や塗装剥げ 等を含む表面凹凸がある場合でもここで発生する乱反射を極力防止できるので、 被検査部品１に存在する表面傷や塗装剥げの像を鮮明に撮像して、実際のものと 合致した正確な画像デ−タを得ることができる。

【００２３】 また、被検査部品１に対する照射幅を通過光調整板５ｄによって任意に調整で きるので、乱反射の状態を考慮しつつ画像の質を該被検査部品１の外径等に合わ せて適切にコントロ−ルすることができる。

【００２４】 尚、第１実施例で示した通過光調整板は、被検査部品に対しスリット幅が固定 できるような場合には必ずしも必要なものではない。

【００２５】 図６は本考案の第２実施例を示す外観検査装置の要部斜視図であり、同図にお いて１は被検査部品、２´はカメラである。図示を省略したが、照明器及び画像 判定装置は図４に示した従来例のものと同様である。

【００２６】 本実施例のカメラ２´は単位素子を一次元に連ねたＣＣＤ等の撮像素子を具備 しており、第１実施例のカメラ２に比べ細長い領域の撮像視野Ｓを有している。 このカメラ２´はその撮像視野Ｓの長辺が被検査部品１の軸線と直交するよう に配置されており、横向き状態にある被検査部品１の中央一部分をその真上から 撮像する。

【００２７】 上記カメラ２´による撮像視野Ｓが極めて細長いため、被検査部品１が広い範 囲で照明を受ける場合でも、該視野Ｓの像にその周囲で発生した乱反射の影響が 及ぶことがない。つまり、カメラ２´によって撮像される視野Ｓの画像は極めて 鮮明であり、実際のものと合致した正確な画像デ−タを画像判定装置に送り込む ことが可能であり、第１実施例と同様の効果を得ることができる。

【００２８】 また、カメラ２´から画像判定装置に送り込まれる画像デ−タの情報量を低減 することができるので、一連の判定に複雑な処理を要せず、外観検査を高速で実 施できる利点がある。

【００２９】

【考案の効果】

以上詳述したように、請求項１記載の外観検査装置によれば、検査対象となる 電子部品の表面一部を軸線に沿う狭範囲で照明することにより、同照射範囲内に 表面傷や塗装剥げ等を含む表面凹凸がある場合でもここで発生する乱反射を極力 防止できるので、電子部品に存在する表面傷や塗装剥げの像を鮮明に撮像して実 際のものと合致した正確な画像デ−タを得ることができる。

【００３０】 また、請求項２記載の外観検査装置によれば、上記効果に加え、電子部品に対 する照射幅を通過光調整板によって任意に調整して、乱反射の状態を考慮しつつ 画像の質を該電子部品の外径等に合わせて適切にコントロ−ルできる。

【００３１】 請求項３記載の外観検査装置によれば、電子部品のその軸線方向と直交する細 長い領域を撮像器によって撮像しているので、検査対象となる電子部品が広い範 囲で照明を受ける場合でも、撮像視野内の像にその周囲で発生した乱反射の影響 が及ぶことがなく、電子部品に存在する表面傷や塗装剥げの像を鮮明に撮像して 実際のものと合致した正確な画像デ−タを得ることができる。しかも、撮像器か ら画像判定手段に送り込まれる画像デ−タの情報量を低減することができるので 、一連の判定に複雑な処理を要せず、外観検査を高速で実施できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示す外観検査装置の概略構
成図

【図２】図１に示した照明器の断面図

【図３】照射状態を示す図

【図４】従来例を示す外観検査装置の概略構成図

【図５】照射状態を示す図

【図６】本考案の第２実施例を示す外観検査装置の要部
斜視図

【符号の説明】

１…被検査部品、２，２´…カメラ、４…画像判定装
置、５ｂ…光源、５ｃ…通過光制御板、５ｃ1 …スリッ
ト、５ｄ…通過光調整板、Ｒ１…光、Ｓ…撮像視野。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 後村 建二 東京都台東区上野６丁目16番20号 太陽誘 電株式会社内

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 回転対称形状を成す電子部品をその軸線
   と直交する方向から撮像する撮像器と、撮像器と対峙す
   る電子部品の表面部分を撮像器側から照明する光源と、
   電子部品をその軸線を中心として回転させながら得られ
   る画像デ−タに基づいて外観形状の良否を判定する画像
   判定手段とを具備した電子部品の外観検査装置におい
   て、 光源の照射側に、電子部品の軸線と平行なスリットを有
   し該スリットを通過した光によって電子部品の表面一部
   を軸線に沿う狭範囲で照明可能な通過光制御板を設け
   た、 ことを特徴とする電子部品の外観検査装置。
2. 【請求項２】 スリットの開口幅を変化可能な通過光調
   整板を設けた、ことを特徴とする請求項１記載の電子部
   品の外観検査装置。
3. 【請求項３】 回転対称形状を成す電子部品をその軸線
   と直交する方向から撮像する撮像器と、撮像器と対峙す
   る電子部品の表面部分を撮像器側から照明する光源と、
   電子部品をその軸線を中心として回転させながら得られ
   る画像デ−タに基づいて外観形状の良否を判定する画像
   判定手段とを具備した電子部品の外観検査装置におい
   て、 上記撮像器として、電子部品の軸線と直交する細長い領
   域の撮像視野を有するものを用いた、 ことを特徴とする電子部品の外観検査装置。