JPH0575654U - 干渉成分補償型n2 0ガス分析計 - Google Patents

干渉成分補償型n2 0ガス分析計

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JPH0575654U
JPH0575654U JP2239692U JP2239692U JPH0575654U JP H0575654 U JPH0575654 U JP H0575654U JP 2239692 U JP2239692 U JP 2239692U JP 2239692 U JP2239692 U JP 2239692U JP H0575654 U JPH0575654 U JP H0575654U
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JP
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detector
pneumatic
interference component
cell
type
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Application number
JP2239692U
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English (en)
Inventor
正彦 石田
純治 加藤
秀一 石本
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Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学フイルタの分光特性にあまり影響されず
にS/N良くCO2 干渉を抑えた干渉成分補償型N2
ガス分析計を得ること。 【構成】 測定セル1の一側に並行状に比較セル2が配
置され、この測定セル1と比較セル2の一側に赤外線の
光源3,4が、他側にニューマティック型測定用検出器
5及びニューマティック型干渉成分補償用検出器6がそ
の順に且つ光学的に直列に配置されている。また両セル
1,2とニューマティック型測定用検出器5との間に約
4μm付近で立ち上がり、約5μm付近で立ち下がるワ
イドバンドパス型の光学フイルタ10が配置されている。
そしてニューマティック型測定用検出器5とニューマテ
ィック型干渉成分補償用検出器6の出力信号を演算し
て、干渉成分CO2 の影響を補償してN2 0ガスを測定
する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、各種サンプルガス中のN2 0ガス濃度を測定する干渉成分補償型N 2 0ガス分析計に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば赤外線ガス分析計でN2 0の濃度を測定する場合、赤外線におけるN2 0の主吸収帯は、約4.5μm付近と約7.8μm付近のものが知られている( 図2参照)。
【0003】 しかし、約4.5μm付近は、C02 のメインの吸収帯(約4.3μm)とオ ーバーラップするために、約7.8μm付近の吸収帯を利用すべくニューマティ ック型測定用検出器の前に約7μmで立ち上がるカットオンフイルタを使用して いた。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
しかし、この構成であると、光源の強度が弱い波長を利用している点と、N2 0の吸収強度も約4.5μm付近に比べて弱いので、分析計のS/Nが悪く(感 度は約1/8に落ちた)安定しないという問題があった。
【0005】 そこで本考案者等は、C02 のメインの吸収帯(約4.3μm)とオーバーラ ップするが、光源の強度も強い波長を利用でき、N2 0の吸収強度もこの約7. 8μm付近に比べてはるかに強い4.5μm付近の吸収帯を利用することを考え 、種々試行錯誤の結果、N2 0の約4.5μmの吸収帯をC02 の干渉を抑えな がら、利用する一つの手段として、約4.5μm付近で立ち上がり約4.7付近 で立ち下がるバンドパスフイルタを使用してみた。
【0006】 しかし、このものは分光特性が大きく影響して満足な検出結果を得ることが出 来なかった。
【0007】 そこで本考案は、上述の問題点を解決するもので、光学フイルタの分光特性に あまり影響されずにS/Nが良く、C02 の干渉を抑えることができる干渉成分 補償型N2 0分析計を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために本考案の干渉成分補償型N2 0分析計は、照射用 光源に対してセル、ニューマティック型測定用検出器、ニューマティック型干渉 成分補償用検出器をその順に且つ光学的に直列に配置すると共に、前記測定用検 出器と干渉成分補償型検出器の出力差を演算処理して濃度信号を取り出すように した干渉成分補償型N2 0ガス分析計において、照射用光源と前記ニューマティ ック型測定用検出器との間に約4μm付近で立ち上がり、約5μm付近で立ち下 がるワイドバンドパス型の光学フイルタを配置したものである。
【0009】
【作用】
以上のように構成された本考案のN2 0分析計は、セルにサンプルガスを導入 し、かつ、光源が照射した赤外線をセルに入射する。このようにして、サンプル ガスを透過して検出器に入射された赤外線に基づいて、検出器がN2 0の濃度に 対応した検出信号を出力する。
【0010】 そこで、本考案において使用する光学フイルタの光学特性は、図2において太 線Aで示す通りであり、この図2からも理解されるように、約4μm付近で立ち 上がり、約5μm付近で立ち下がるワイドバンドパス型の光学フイルタは、CO 2 の主吸収波長帯域の赤外線も良く透過されるから、前記干渉成分補償用検出器 もこれを十分に感じ、従って検出器増幅率kを余り上げなくても済む。
【0011】
【実施例】
次に本考案の実施例を図面を参照しながら説明する。 図1は、本考案の一実施例に係るN2 0分析計の構成を示すもので、所謂ダブ ルセルタイプに構成してある。即ち、同図において、1はガスの入口1a、出口 1bを備えて成る測定セル、2は比較セルである。3,4はこれらのセル1,2 の一端側に対向して設けられる光源で、赤外光を発する。
【0012】 5,6はセル1,2の他端側において互いに光学的に直列に配置された測定用 ニューマティック型検出器(以下、測定用検出器と言う)、干渉成分補償用ニュ ーマティック型検出器(以下、補償用検出器と言う)で、測定用検出器5がセル 1,2により近くなるように配置され、前記測定セル1及び比較セル2に対応す る二つの受光室5a,5b,6a,6bを備えている。Cはセル1,2と光源3 ,4との間に設けられ、図外の駆動機構によって回転するように構成された変調 用のチョッパである。
【0013】 そして、両検出器5,6は、例えばニューマティック型検出器の一例であるコ ンデンサマイクロフォン検出器よりなる。つまり、測定用検出器5の内部は測定 対象物と同一成分である、比較的低濃度の、N2 0(またはN2 0と同様の吸収 波長帯域を有するガス)を封入し、前記補償用検出器6の内部には、比較的高濃 度の、N2 0を封入し、両検出器5,6の出力を演算器7によって演算すること により、干渉成分であるCO2 の干渉補償を行うようにしてある。なお、8,9 は前置増幅器である。
【0014】 ここで本考案の特徴は、前記測定用検出器5の直前に、その測定対象であるN 2 0ガスによる主吸収波長帯域(約4.5μm付近)のみならず、CO2 ガスに よる主吸収帯域(約4.3μm付近)をも含みながら、全体としてやゝ広目に設 定された光学フイルタ10を配置した点にある。この光学フイルタ10は、約4μm で立ち上がり約5μmで立ち下がる赤外線透過波長帯域を有する、ワイドバンド パス型の多層膜干渉フイルタで構成され、その光学特性は、透過率の波長により 変化を示す図2における太線Aで示す通りである。尚、同図において、細線Bは 約4.5μm付近で立ち上がり約4.7付近で立ち下がるバンドパスフイルタの 光学特性を示し、又破線C,一点鎖線Dは夫々N2 0,CO2 の吸収特性を示す 曲線である。
【0015】 前記光学フイルタ10は、前記測定用検出器5の直前に限らずその前方に設けさ えすればよく、例えば、前記比較セル1及び測定セル2の直前とか、前記両赤外 線照射用光源3,4の直後に設けても同様の効果を奏する。
【0016】 上記のように構成された干渉成分補償型N2 0ガス分析計によれば、CO2 干 渉を補償するために、予め測定セルに約14%のCO2 ガスを流し、前記測定用 検出器5と補償用検出器6との感度を調べ、M−kC=0になるように検出器増 幅率を設定する。
【0017】 次いで、ガス測定に際して、測定セル1にサンプルガスSを導入し、これに光 源3から赤外線を照射して、チョッパーCによって変調を行うと、測定セル1を 通過する赤外光は、測定セル1内で所定の吸収を受けた後、測定用検出器5を通 過し、補償用検出器6にも入射される。そして図2に示した特性から明らかなよ うに、前記測定用検出器5へは、前記光学フイルタ10の存在により、測定対象成 分であるN2 0ガス及びCO2 ガス以外の妨害成分による吸収波長帯域の赤外線 はカットされ、N2 0ガス及びCO2 ガスの主吸収波長帯域の赤外線のみが測定 用検出器5補償用検出6に入射する。
【0018】 そして両検出器5,6の各出力は、前置増幅器8,9により所定の増幅率で増 幅された後、演算器7に入力され、この演算器7の演算によりCO2 ガスによる 干渉が補償されN2 0ガスの濃度が得られる。
【0019】 そして、本考案の前記光学フイルタ10を用いた場合と約4.5μm付近で立ち 上がり約4.7付近で立ち下がる他の光学フイルタを用いた場合では、図2に示 すところからも理解されるように、後者の場合は光学フイルタの分光特性に大き く影響されるのに対して、本考案の場合はワイドバンドパス型なので殆どその影 響が見られない。併せて本考案の光学フイルタはCO2 の主吸収波長帯域の赤外 線も良く透過されるから、補償用検出器6もこれを十分に感じ、従って検出器増 幅率kを余り上げなくても済む。即ち、ノイズを低く抑えられるので、結果とし て分析計全体のS/Nが改善されることゝなる。
【0020】 尚、本考案は図例の形態の分析計に限らず、図3に示す、流体変調方式の赤外 線分析計に採用しても同様の効果を発揮する。又、検出器は、マイクロフローセ ンサー型等の他のニューマティック型検出器等も使用可能である。
【0021】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案によれば、光学フイルタの分光特性にあまり影響 されずにS/Nが大きく、検出精度の高い干渉成分補償型N2 0ガス分析計が得 られた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係る干渉成分補償型N2 0ガス分析計
の構成図である。
【図2】光学フイルタの理論特性分光特性図である。
【図3】別の実施例の構成図である。
【符号の説明】
1…セル、2…セル、3…光源、4…光源、5…測定用
検出器、6…補償用検出器、10…光学フイルタ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照射用光源に対してセル、ニューマティ
    ック型測定用検出器、ニューマティック型干渉成分補償
    用検出器をその順に且つ光学的に直列に配置すると共
    に、前記測定用検出器と干渉成分補償型検出器の出力差
    を演算処理して濃度信号を取り出すようにした干渉成分
    補償型N2 0ガス分析計において、照射用光源と前記ニ
    ューマティック型測定用検出器との間に約4μm付近で
    立ち上がり、約5μm付近で立ち下がるワイドバンドパ
    ス型の光学フイルタを配置してあることを特徴とする干
    渉成分補償型N2 0ガス分析計。
JP2239692U 1992-03-13 1992-03-13 干渉成分補償型n2 0ガス分析計 Pending JPH0575654U (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5421896A (en) * 1977-07-20 1979-02-19 Mitsubishi Heavy Ind Ltd No2 densitometer
JPH02116737A (ja) * 1988-10-26 1990-05-01 Horiba Ltd Co分析計

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5421896A (en) * 1977-07-20 1979-02-19 Mitsubishi Heavy Ind Ltd No2 densitometer
JPH02116737A (ja) * 1988-10-26 1990-05-01 Horiba Ltd Co分析計

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