JPH0575075B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

［産業上の利用分野］ 本発明は計数率計、特に入力パルス信号数の変
動の大きいパルス列の計数率を連続的に出力する
計数率計に関する。 ［従来の技術］ 現在、放射線の強度を測定するには、一般に計
数器に粒子が入射するときに発生する電気的パル
ス信号数を計数する方法が用いられている。この
測定方法においては、単位時間（主として１秒あ
るいは１分）当たりの計数値を計数率（計数時間
が１秒のときはcps、１分のときはcpm）として
放射線強度を直接指示記録することができる。そ
して、連続的に計数率をメータあるいは自動記録
計上に表示する計数率計は、計数率変動が容易に
分かるため、携帯用の放射線検出器や、放射線強
度検出器の動作監視装置等として広く用いられて
いる。 従来、この種の計数率計としては、入力パルス
列をダイオードポンプ回路等でアナログレベルに
変換することにより計数率を得る方式（アナログ
方式）、あるいは一定時間パルス信号をカウント
し、総カウント値をカウント時間で除算すること
により計数率を得る方式（カウント方式）等があ
つた。 ［発明が解決しようとする問題点］ 従来技術の問題点 しかしながら、同一放射線源からの放射線の計
数を同一条件で行つた場合にも、その単位時間当
たりの計数値は一般的に同一とはならない。 これは、放射性原子核の崩壊等による放射線の
発生が、時間的に独立して起こるものであるため
の統計的変動の起因し、不可避的なものである。 この状態を第１表及び第３図に基づき説明す
る。 第３図は放射線の検出パルスを１秒間計数し、
その計数値を計数率（cps）として経時的に自動
記録した計測図である。ここで、放射線源として
は第１表Ａ欄に示す時間中の計数率の平均値がＢ
欄となるようなものを用いている。

【表】 同図よりも明らかなように、その測定値のばら
つきは極めて大きく、ばらつきの標準偏差は第１
表Ｃ欄に示すとおりとなる。 このような測定結果では、計数率計の持つ簡易
な放射線測定が可能であるという利点は十分に生
かせず、その利用価値は著しく低くなる。 このような測定値のばらつきは、計数時間を長
く取り、その間の計数値を積算して平均すること
により改善することができるが、この場合には入
力パルス信号数の大幅な変動に対して応答が遅れ
るという問題点を生じる。 すなわち、この状態は第４図に示されており、
同図においては積分回路の時定数が30秒の計数率
計を用いて第１表に示す放射線の測定結果を計数
率（cps）として経時的に自動記録したものであ
る。 同図より明らかなとおり、第３図に見られるよ
うな測定値のばらつきはほとんど生じず、極めて
安定した測定結果を得ることができるが、反面計
数率の大幅な変動に対しては応答が遅れ、入力パ
ルス信号数の大幅な変動、すなわち放射線強度の
レベル変動が頻繁に起こる測定対象に対しては適
さないことが明らかである。 発明の目的 本発明はかかる問題点を解決するためになされ
たものであり、入力パルス信号数の大幅な変動に
対する応答性に優れ、かつ測定値のばらつきを解
消することのできる計数率計を得ることを目的と
する。 ［問題点を解決するための手段］ 前記目的を達成するために、本発明に係る計数
率計は、まず長積算平均化回路により長い計数時
間（例えば30秒）のパルス信号数の積算平均値を
計数値として出力することとしている。 また、同時に短積算平均化回路により短い計数
時間（例えば１秒）のパルス信号数の積算平均値
を求める。 そして、前記短積算平均化回路の出力すなわち
短い計数時間の積算平均値と、長積算平均化回路
の出力すなわち長い計数時間の積算平均値を比較
器により比較し、その差値が予め設定された所定
値以上の場合に、長積算平均化回路の積算平均値
を当該時点での短積算平均化回路の積算平均値に
変更制御するものである。 ［作用］ 前述した構成から明らかなように、本発明に係
る計数率計によれば、外部へ出力される計数率は
長い計数時間のパルス信号数の積算平均値である
から入力パルス信号数の小変動は平均化され、測
定値のばらつきは解消される。 更に、短積算平均化回路により入力パルス信号
数のレベル変動に敏感な短い計数時間の積算平均
値が求められ、この短い計数時間の積算平均値と
前記長積算平均化回路による長い計数時間の積算
平均値が比較され、その差値が所定値以上の場合
には入力パルス信号数の変動は単に統計的変動に
よるものではなく、放射線強度のレベル変動であ
ると判断し、長積算平均化回路の積算平均値を当
該時点での短積算平均化回路の積算平均値すなわ
放射線強度に対応した値に変更制御する。 従つて、長積算平均化回路よりの計数率出力は
放射線強度のレベル変動に対しては迅速な応答が
可能となる。 ［実施例］ 以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説
明する。 第１図には、本発明の適用された計数率計のブ
ロツク図が示されている。 計数率計１０内には入力端子１４ａより電気的
パルス信号を入力する短積算平均化回路１２が設
けられている。ここで、短積算平均化回路１２は
入力端子１４ａよりの入力パルス列のパルス信号
数を１秒間カウントしその積算値（計数時間１秒
当たりの積算平均値）を出力するように構成され
ている。 また、前記短積算平均化回路１２からの１秒間
の積算平均値出力を入力し、該積算平均値を更に
積算平均して計数率として外部出力端子１４ｂへ
出力する長積算平均化回路１６が設けられてい
る。本実施例において、積算平均化回路１６はア
ナログ式の長積算平均化回路であり、該長積算平
均化回路１６を構成する積分回路の時定数は30秒
である。 更に、本実施例においては、比較器１８が設け
られ、該比較器１８には短積算平均化回路１２か
らの出力及び長積算平均化回路１６からの出力が
入力され、各出力の差値が予め設定された所定値
以上の場合にはリセツト信号を計数率回路１２へ
出力するよう構成されている。 なお、本発明において、比較器１８のリセツト
信号を出力するか否かのスレツシヨルドレベル
は、測定対象により各個別に定まるものである
が、本実施例においては、測定値の標準偏差の２
倍に設定されている。 本発明に係る計数率計は以上のように構成さ
れ、次にその作用について説明する。 まず、入力端子１４ａからパルス列が入力され
ると、短積算平均化回路１２によりパルス信号数
がカウントされ１秒間積算した値が出力される。 本実施例において計数率はcps単位で出力され
るため短積算平均化回路１２においては１秒間積
算し、その積算値を積算平均値（cps）として出
力する。 従つて、入力端子１４ａからの入力パルス列が
前記第１表のような放射線源からの放射線を測定
した結果であるなら、Ａ点での出力は第３図で示
すように入力パルス信号数変動に対し即応性は良
好であるが、反面測定値のばらつきの大きい出力
となる。 そして、この短積算平均化回路１２の出力は長
積算平均化回路１６へ入力される。 長積算平均化回路１６は短積算平均化回路１２
からの出力を積分回路を用いて更に平均化してお
り、本実施例においては、前述のとおりその時定
数は30秒である。 従つて、この長積算平均化回路１６で入力パル
ス信号数のばらつきは長時間の平均化により解消
され、外部出力端子１４ｂへは安定した計数率が
出力される。 更に、長積算平均化回路１６の出力は比較器１
８へも入力され、長積算平均化回路１６からの出
力すなわち安定化された積算平均値（計数率）
と、短積算平均化回路１２からの出力すなわち入
力パルス信号数の変動に敏感な積算平均値とが比
較される。 ここで、入力パルス信号数の大幅な変動、すな
わち放射線強度のレベル変動が生じた場合には、
短積算平均化回路１２ではそのレベル変動に応じ
た迅速な応答が行われるが、短積算平均化回路１
２からの出力を入力した長積算平均化回路１６に
おいては、そのレベル変動に対しても時定数によ
り定まる応答速度しか有さない。従つて、この時
点で短積算平均化回路１２からの出力と長積算平
均化回路１６からの出力との差値は極めて大きく
なり、比較器１８はこの入力パルス信号数の変動
は放射線強度のレベル変動に相当する大幅な変動
であると判定し、長積算平均化回路１６へリセツ
ト信号を発する。 リセツト信号を入力した長積算平均化回路１６
は当該時点で記憶されている積算平均値をリセツ
トし、次に入力される短積算平均化回路１２から
の出力を長積算平均化回路１６の積算平均値とす
る。 従つて、長積算平均化回路１６からの出力は直
ちに入力パルス信号数の変動に応じたレベルとな
り、放射線強度のレベル変動に対する即応性が確
保される。 すなわち、本実施例に係る計数率計によれば、
前記第１表のような放射線源の放射線強度を測定
した場合にも第２図に示すような測定結果が得ら
れ、入力パルス信号数の単なる統計的ばらつきに
対しては極めて安定に動作し、更に放射線強度の
レベル変動と判断される大幅な入力パルス信号数
の変動に対しては極めて迅速に対処された測定結
果を得ることが可能となる。 なお、本実施例においては、長積算平均化回路
１６への測定データ入力は短積算平均化回路１２
を介して行われているが、これに限られるもので
はなく、入力端子１４ａより直接の入力が行われ
ても同様な結果を得ることが可能である。 また、本発明はカウント式、アナログ式いずれ
の計数率計についても適用可能である。 ［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る計数率計によ
れば、長い計数時間のパルス信号数の積算平均値
を計数率として出力する長積算平均化回路を備
え、その積算平均値と短積算平均化回路からの短
い計数時間のパルス信号数の積算平均値を比較
し、その差値が所定値以上の場合には長積算平均
化回路の積算平均値を当該時点での短積算平均化
回路の積算平均値の変更制御するように構成した
ので、入力パルス信号数の大幅な変動に対しては
迅速に応答し、小変動に対しては安定に動作する
計数率計を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１実施例に係る計数率計のブ
ロツク図、第２図は第１図に係る計数率計により
放射線強度を計数率として測定した結果を示す説
明図、第３図は計数時間の短い従来の計数率計で
放射線強度を測定した結果を示す説明図、第４図
は従来の計数時間（時定数）の長い件数率計で放
射性強度を測定した結果を示す説明図である。 １０……計数率計、１２……短積算平均化回
路、１６……長積算平均化回路、１８……比較
器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 電気的パルス信号を計数しパルス信号数の積
   算平均値を計数率として連続的に出力する計数率
   計において、 短い計数時間のパルス信号数の積算平均値を出
   力する短積算平均化回路と、 長い計数時間のパルス信号数の積算平均値を出
   力する長積算平均化回路と、 前記各積算平均化回路の出力の差値が所定値以
   上の場合にのみ長積算平均化回路の積算平均値を
   当該時点での短積算平均化回路の積算平均値に変
   更制御する比較器と、 を備え、前記長積算平均化回路の積算平均値を計
   数率として出力することを特徴とする計数率計。 ２ 特許請求の範囲１記載の計数率計において、
   長積算平均化回路は短積算平均化回路の積算平均
   値出力を積算平均することを特徴とする計数率
   計。