JPH0436682A - 放射線量計 - Google Patents
放射線量計Info
- Publication number
- JPH0436682A JPH0436682A JP14416990A JP14416990A JPH0436682A JP H0436682 A JPH0436682 A JP H0436682A JP 14416990 A JP14416990 A JP 14416990A JP 14416990 A JP14416990 A JP 14416990A JP H0436682 A JPH0436682 A JP H0436682A
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- JP
- Japan
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- comparator
- output
- pile
- circuit
- radiation
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- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 46
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は放射線作業者の被爆線量を測定するための放射
線量計に関し、特にパイルアップ現象が生じても確実に
放射線量を測定できるようにした放射線量計に関するも
のである。
線量計に関し、特にパイルアップ現象が生じても確実に
放射線量を測定できるようにした放射線量計に関するも
のである。
第３図は入射した放射線量を検出する小形の放射線量計
を示す回路図である。この放射線量計ではバイアス電源
ｌによって半導体放射線検出器２にバイアス電圧が印加
されており、放射線が入射するとこの半導体放射線検出
器２よりパルス出力が得られる。この出力は増幅器３に
よって増幅され基準電源４によって設定される閾値を有
するコンパレータ５によって波形整形される。そしてコ
ンパレータ５の出力を所定時間毎にカウンタ６で計数し
、表示器７によって表示することによって放射線量を検
出するようにした装置が用いられている。
を示す回路図である。この放射線量計ではバイアス電源
ｌによって半導体放射線検出器２にバイアス電圧が印加
されており、放射線が入射するとこの半導体放射線検出
器２よりパルス出力が得られる。この出力は増幅器３に
よって増幅され基準電源４によって設定される閾値を有
するコンパレータ５によって波形整形される。そしてコ
ンパレータ５の出力を所定時間毎にカウンタ６で計数し
、表示器７によって表示することによって放射線量を検
出するようにした装置が用いられている。
しかるにこのような従来の放射線量針では、放射線が入
射したときに第４図（ａ）に示すような増幅器３からの
出力を波形整形することによって放射線量を検出するこ
とができる。しかし第４図（ロ）に示すように、短時間
で放射線が連続して半導体放射線検出器２に入射すると
、増幅器３の出力波形はパイルアップ現象が発生し、第
４図（ｂ）に破線で示す複数の信号を計数する必要があ
るにもかかわらず実線で示す１つのパルスとなってしま
う。従ってこのパルスがコンパレータ５によって弁別さ
れても１つのパルスとしてしか出力されず、放射線量計
として正しい放射線量を計測することができないという
欠点があった。
射したときに第４図（ａ）に示すような増幅器３からの
出力を波形整形することによって放射線量を検出するこ
とができる。しかし第４図（ロ）に示すように、短時間
で放射線が連続して半導体放射線検出器２に入射すると
、増幅器３の出力波形はパイルアップ現象が発生し、第
４図（ｂ）に破線で示す複数の信号を計数する必要があ
るにもかかわらず実線で示す１つのパルスとなってしま
う。従ってこのパルスがコンパレータ５によって弁別さ
れても１つのパルスとしてしか出力されず、放射線量計
として正しい放射線量を計測することができないという
欠点があった。
本発明はこのような従来の放射線量計の問題点に鑑みて
なされたものであって、パイルアップ現象が発生しても
正確に放射線量を計測できるようにすることを技術的課
題とする。
なされたものであって、パイルアップ現象が発生しても
正確に放射線量を計測できるようにすることを技術的課
題とする。
本発明は放射線を検出してパルス信号を出力する半導体
放射線検出器と、半導体放射線検出器の出力を波形整形
する第１のコンパレータと、第１のコンパレータのパル
ス数を計数するカウンタと、を有する放射線量を放射線
量計であって、第１のコンパレータより高い閾値を有し
、パイルアップ時に出力を与える第２のコンパレータと
、半導体放射線検出器より出力される出力パルス幅に実
質的に等しいクロック信号を発生する発振器と、第２の
コンパレータの出力に基づいて一定時間発振器のクロッ
ク信号をカウンタに与えるパイルアップ補正回路と、を
具備することを特徴とするものである。
放射線検出器と、半導体放射線検出器の出力を波形整形
する第１のコンパレータと、第１のコンパレータのパル
ス数を計数するカウンタと、を有する放射線量を放射線
量計であって、第１のコンパレータより高い閾値を有し
、パイルアップ時に出力を与える第２のコンパレータと
、半導体放射線検出器より出力される出力パルス幅に実
質的に等しいクロック信号を発生する発振器と、第２の
コンパレータの出力に基づいて一定時間発振器のクロッ
ク信号をカウンタに与えるパイルアップ補正回路と、を
具備することを特徴とするものである。
このような特徴を有する本発明によれば、半導体放射線
検出器の出力を第１のコンパレータで弁別すると共に第
２のコンパレータによって所定の闇値を越えたことを弁
別し、この出力に基づいて一定時間１つのパルスに等し
い周期を持つ発振回路からの発振出力をカウンタに与え
てそのクロック数を計数している。こうすればパイルア
ップ現象が生じてもそのパルスの幅に対応したパルス数
を計数することができる。
検出器の出力を第１のコンパレータで弁別すると共に第
２のコンパレータによって所定の闇値を越えたことを弁
別し、この出力に基づいて一定時間１つのパルスに等し
い周期を持つ発振回路からの発振出力をカウンタに与え
てそのクロック数を計数している。こうすればパイルア
ップ現象が生じてもそのパルスの幅に対応したパルス数
を計数することができる。
第１図は本発明の一実施例による放射線量針の構成を示
す回路図である。本図において前述した従来例と同一部
分は同一符号を付して詳細な説明を省略する。本実施例
においては半導体放射線検出器２の出力を増幅器３によ
って増幅し、その増幅出力を第１のコンパレータ５及び
第２のコンパレータ１１に与える。コンパレータＩｆに
ハ基準電源４の閾値レベルＶｒｅｆｌより高い所定の閾
値レベルＶｒｅｆ２の基準電源１２が接続されており、
このレベルを越える信号を単安定マルチバイブレータ（
ＭＭ）１３に与える。単安定マルチバイブレーク１３に
は可変抵抗器１４によってその動作時間が定められてお
り、その出力をアンド回路１５に与える。アンド回路１
５の他方の入力端には発振器工６の出力が接続される。
す回路図である。本図において前述した従来例と同一部
分は同一符号を付して詳細な説明を省略する。本実施例
においては半導体放射線検出器２の出力を増幅器３によ
って増幅し、その増幅出力を第１のコンパレータ５及び
第２のコンパレータ１１に与える。コンパレータＩｆに
ハ基準電源４の閾値レベルＶｒｅｆｌより高い所定の閾
値レベルＶｒｅｆ２の基準電源１２が接続されており、
このレベルを越える信号を単安定マルチバイブレータ（
ＭＭ）１３に与える。単安定マルチバイブレーク１３に
は可変抵抗器１４によってその動作時間が定められてお
り、その出力をアンド回路１５に与える。アンド回路１
５の他方の入力端には発振器工６の出力が接続される。
発振器１６は第４図（６）に示す１つの放射線の増幅器
の出力にほぼ等しい周期を有するクロック信号を発振す
る発振器である。さてアンド回！ｓ１５の出力はオア回
路１７に与えられる。オア回路１７はコンパレータ５及
びアンド回路１５の出力の論理和をカウンタ６に与える
。カウンタ６はこの信号を計数し表示器７に表示するこ
とによって放射線量を表示するものである。ここで単安
定マルチバイブレーク１３゜可変抵抗器１４及びアンド
回路１５はパイルアップが検出されたときに一定時間発
振器１６の出力をカウンタ６に与えるパイルアップ補正
回路１８を構成している。
の出力にほぼ等しい周期を有するクロック信号を発振す
る発振器である。さてアンド回！ｓ１５の出力はオア回
路１７に与えられる。オア回路１７はコンパレータ５及
びアンド回路１５の出力の論理和をカウンタ６に与える
。カウンタ６はこの信号を計数し表示器７に表示するこ
とによって放射線量を表示するものである。ここで単安
定マルチバイブレーク１３゜可変抵抗器１４及びアンド
回路１５はパイルアップが検出されたときに一定時間発
振器１６の出力をカウンタ６に与えるパイルアップ補正
回路１８を構成している。
次に本実施例の動作について説明する。半導体放射線検
出器２に放射線が断続的に入射した場合には、第４図（
ａ）に示すように１つのパルスが増幅器５の出力がオア
回路１７を介してカウンタ６に与えられる。この場合に
は基準電源１２の閾値レベルは基準電源４の閾値レベル
より高いレベルに設定されるため、コンパレータ１１よ
り比較出力が得られることはない。
出器２に放射線が断続的に入射した場合には、第４図（
ａ）に示すように１つのパルスが増幅器５の出力がオア
回路１７を介してカウンタ６に与えられる。この場合に
は基準電源１２の閾値レベルは基準電源４の閾値レベル
より高いレベルに設定されるため、コンパレータ１１よ
り比較出力が得られることはない。
一方前述したように短時間に放射線が連続して半導体放
射線検出器２に入射するとパイルアップ現象が発生する
。パイルアップ現象が発生すれば、半導体放射線検出器
２の出力が低下するまでに連続して信号が得られるため
、その出力レベルは高（なる。従って第２図（ａ）に示
すようなレベルの増幅出力が得られる。この信号を閾値
Ｖｒｅｆ２で弁別することによって第２のコンパレータ
１１よす第２図（ハ）に示す信号が得られる。この信号
を単安定マルチバイブレーク１３で引き延ばし、アンド
回路１５によって第２図（ｄ）に示すクロック信号を発
生している発振器１６との論理積をとる。こうすれば第
２図（ｅ）に示すような信号が得られ、この信号がオア
回路１７に与えられる。従ってこの信号を計数すること
によってパイルアップ現象が生じているときも適切なパ
ルス数を計数することができる。
射線検出器２に入射するとパイルアップ現象が発生する
。パイルアップ現象が発生すれば、半導体放射線検出器
２の出力が低下するまでに連続して信号が得られるため
、その出力レベルは高（なる。従って第２図（ａ）に示
すようなレベルの増幅出力が得られる。この信号を閾値
Ｖｒｅｆ２で弁別することによって第２のコンパレータ
１１よす第２図（ハ）に示す信号が得られる。この信号
を単安定マルチバイブレーク１３で引き延ばし、アンド
回路１５によって第２図（ｄ）に示すクロック信号を発
生している発振器１６との論理積をとる。こうすれば第
２図（ｅ）に示すような信号が得られ、この信号がオア
回路１７に与えられる。従ってこの信号を計数すること
によってパイルアップ現象が生じているときも適切なパ
ルス数を計数することができる。
以上詳細に説明したように本発明によれば、高線量率で
パイルアップ現象が発生した場合にも、放射線の線量を
正確に計測することができるという効果が得られる。
パイルアップ現象が発生した場合にも、放射線の線量を
正確に計測することができるという効果が得られる。
第１図は本発明の一実施例による放射線量計の構成を示
す回路図、第２図はその動作を示す波形図、第３図は従
来の放射線量計の構成を示す回路図、第４図はその動作
を示す波形図である。 １−−−−−−−バイアス電源、 ２・・−・半導体放
射線検出器、 ３−−−−−−一増幅器、 ４，１２−
・−−−−一基準電源、５−−−−−−一第１のコンパ
レータ、 ６・−−−−−一カウンタ、１１−一−−
−−−・第２のコンパレータ、 １３− ・−単安定
マルチパイプレーク、 １５−−−−−アンド回路、
１６−・−・・−発振器、 １７−−−−−−−オア
回路 １８・−バイルアップ補正回路。 特許出願人 松下電器産業株式会社
す回路図、第２図はその動作を示す波形図、第３図は従
来の放射線量計の構成を示す回路図、第４図はその動作
を示す波形図である。 １−−−−−−−バイアス電源、 ２・・−・半導体放
射線検出器、 ３−−−−−−一増幅器、 ４，１２−
・−−−−一基準電源、５−−−−−−一第１のコンパ
レータ、 ６・−−−−−一カウンタ、１１−一−−
−−−・第２のコンパレータ、 １３− ・−単安定
マルチパイプレーク、 １５−−−−−アンド回路、
１６−・−・・−発振器、 １７−−−−−−−オア
回路 １８・−バイルアップ補正回路。 特許出願人 松下電器産業株式会社
Claims (1)
- （１）放射線を検出してパルス信号を出力する半導体放
射線検出器と、前記半導体放射線検出器の出力を波形整
形する第１のコンパレータと、前記第１のコンパレータ
のパルス数を計数するカウンタと、を有する放射線量を
放射線量計において、前記第１のコンパレータより高い
閾値を有し、パイルアップ時に出力を与える第２のコン
パレータと、 前記半導体放射線検出器より出力される出力パルス幅に
実質的に等しいクロック信号を発生する発振器と、 前記第２のコンパレータの出力に基づいて一定時間前記
発振器のクロック信号を前記カウンタに与えるパイルア
ップ補正回路と、を具備することを特徴とする放射線量
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14416990A JPH0436682A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 放射線量計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14416990A JPH0436682A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 放射線量計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0436682A true JPH0436682A (ja) | 1992-02-06 |
Family
ID=15355808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14416990A Pending JPH0436682A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 放射線量計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0436682A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06138237A (ja) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Toshiba Corp | シンチレーションカメラ |
| GB2493397A (en) * | 2011-08-05 | 2013-02-06 | Base4 Innovation Ltd | Pulse counter for single photon events |
| WO2013047824A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | 株式会社東芝 | 放射線測定器 |
| JP2014081253A (ja) * | 2012-10-16 | 2014-05-08 | Toyota Central R&D Labs Inc | 光検出器 |
| JP2015224894A (ja) * | 2014-05-26 | 2015-12-14 | 日立アロカメディカル株式会社 | 放射線測定装置 |
| CN106821409A (zh) * | 2017-01-22 | 2017-06-13 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 堆积事件处理方法及装置 |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP14416990A patent/JPH0436682A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06138237A (ja) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Toshiba Corp | シンチレーションカメラ |
| GB2493397A (en) * | 2011-08-05 | 2013-02-06 | Base4 Innovation Ltd | Pulse counter for single photon events |
| WO2013021175A2 (en) | 2011-08-05 | 2013-02-14 | Base4 Innovation Ltd | Device, apparatus and method |
| WO2013047824A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | 株式会社東芝 | 放射線測定器 |
| JP2013076676A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Toshiba Corp | 放射線測定器 |
| US9383455B2 (en) | 2011-09-30 | 2016-07-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation measurement apparatus |
| JP2014081253A (ja) * | 2012-10-16 | 2014-05-08 | Toyota Central R&D Labs Inc | 光検出器 |
| US9431439B2 (en) | 2012-10-16 | 2016-08-30 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Light detector |
| JP2015224894A (ja) * | 2014-05-26 | 2015-12-14 | 日立アロカメディカル株式会社 | 放射線測定装置 |
| CN106821409A (zh) * | 2017-01-22 | 2017-06-13 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 堆积事件处理方法及装置 |
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