JPH057218A - Ａｔｍセルシーケンス評価回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 セルシーケンス試験において、シーケンス番
号の欠落とシーケンス逆転を分離することにより、シー
ケンスエラーの原因分析を容易にする。 【構成】 試験パターンと、期待値と、比較器３の出力
を入力とし、期待値と、カウント指示と、期待値置き換
え指示を出力とする機能切換器１と、機能切換器１の出
力を入力とし、次回期待値を出力とする基準シーケンス
発生器２と、試験パターンＡと基準シーケンス発生器２
の出力Ｂを比較し、Ａ＞Ｂのときはセル紛失信号を出
し、Ａ＝Ｂのときは正常動作信号を出し、Ａ＜Ｂのとき
はセル逆転信号を出す比較器３とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、セルシーケンス評価
回路についてのものである。セルシーケンスは、ＡＴＭ
の特性評価手段の中の１つであるセル廃棄率を算出する
ためのものであり、ＡＴＭ（アシンクロナス・トランス
ファ・モード）は、ディジタル通信分野の高速広帯域通
信を実現するための伝送網構築手段である。

【０００２】

【従来の技術】従来のセルシーケンス試験では、測定す
るセルにシーケンス番号をつけて試験パターンとして送
り出し、評価装置またはネットワークを経て戻ってきた
ときにシーケンスの乱れがないかを検査する。これは被
測定体の中でセル廃棄が生じたときにシーケンスの欠落
が生じるので、これを検出するものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来のセルシーケンス
試験では、被測定体の中でセル廃棄ではなく、セルシー
ケンスの逆転を生じたときには、これらもセル廃棄によ
るものと区別することができない。この発明は、シーケ
ンス番号の欠落とシーケンス逆転を分離することによ
り、シーケンスエラーの原因分析を容易にすることを目
的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、試験パターンと、期待値と、比較器
３の出力を入力とし、期待値と、カウント指示と、期待
値置き換え指示を出力とする機能切換器１と、機能切換
器１の出力を入力とし、次回期待値を出力とする基準シ
ーケンス発生器２と、試験パターンＡと基準シーケンス
発生器２の出力Ｂを比較し、Ａ＞Ｂのときはセル紛失信
号を出し、Ａ＝Ｂのときは正常動作信号を出し、Ａ＜Ｂ
のときはセル逆転信号を出す比較器３とを備える。

【０００５】次に、この発明によるセルシーケンス評価
回路の構成を図１により説明する。図１の１は機能切換
器、２は基準シーケンス発生器、３は比較器である。

【０００６】試験パターンは機能切換器１と比較器３の
入力３Ａに入り、機能切換器１の出力は基準シーケンス
発生器２に入る。基準シーケンス発生器２の出力は比較
器３の入力３Ｂに入り、一部は機能切換器１に戻る。

【０００７】

【作用】次に、図１のタイムチャートを図２により説明
する。図２アは「７」のセルが紛失している場合と、
「１２」と「１３」のセルが逆転している場合を例示し
たものである。

【０００８】シーケンスエラーだけをカウントすると、
２つの障害要因について４カウントする。このカウント
結果から障害要因を分析しようとすると、セル逆転が４
回発生したのか、セル紛失と逆転が１回ずつあったのか
は判別することができない。

【０００９】セル紛失が生じたときには、試験パターン
は基準シーケンス発生器２による期待値よりも大きくな
る。これに対し、逆転が生じたときには、期待値より大
きい試験パターンを受信した後これが期待値より小さく
なる。

【００１０】図２イの上側は試験パターンであり、下側
は期待値である。図２イの「＊０」は通常動作であり、
受信値＝期待値なので、エラーをカウントすることな
く、次の照合に備えて期待値を＋１にする。「＊１」で
は受信値＞期待値を検出して、これをセル紛失としてカ
ウントし、次の期待値を受信値＋１に置き換える。

【００１１】「＊２」は逆転ではあるが、ここではセル
紛失か逆転かは不明なので、セル紛失があったと同じ動
作をし、セル紛失のカウントをして期待値を置き換え
る。「＊３」は受信値＜期待値なので、ここで逆転検出
とし、逆転カウントをする。逆転が生じた場合は、期待
値はこの後くると予想されるので、期待値は＋１されな
いでそのまま保持される。「＊４」は受信値と期待値が
一致するので、通常動作に戻る。

【００１２】ここで得られた結果からセル紛失カウント
は２であり、セル逆転カウントが１である。これから１
回は逆転時のカウントであると判定でき、セル廃棄１
回、逆転１回と分析することができる。

【００１３】

【実施例】次に、機能切換器１の入出力関係を図３によ
り説明する。機能切換器１の入力には、試験パターン
と、基準シーケンス発生器２からの期待値と、比較器３
の比較結果Ａ＞Ｂ、Ａ＝Ｂ、Ａ＜Ｂが供給される。機能
切換器１からは、期待値と、カウント指示と、期待値置
き換え指示が次の基準シーケンス発生器２に出ていく。

【００１４】次に、機能切換器１の出力を図４の表によ
り説明する。機能切換器１からは、比較器３の比較結果
Ａ＞Ｂ、Ａ＝Ｂ、Ａ＜Ｂに対応して図４の内容が出てい
く。

【００１５】Ａ＞Ｂのときは、受信パターンが出力とな
り、カウント指示は「＋１」、期待値置き換え指示は、
「置き換え指示」を指示する。Ａ＝Ｂのときは、期待値
が出力となり、カウント指示は「＋１」、期待値置き換
え指示は、「指示なし」を指示する。Ａ＜Ｂのときは、
期待値が出力となり、カウント指示は「０」、期待値置
き換え指示は、「指示なし」を指示する。

【００１６】次に、基準シーケンス発生器２の入出力関
係を図５により説明する。機能切換器１からの指示に従
い、カウント指示があった場合には機能切換器１の出力
に＋１を加え、カウント指示がない場合には現在の期待
値を保持する。基準シーケンス発生器２は加算器または
カウンタで実現できるが、カウンタで実現した場合は期
待値置き換え指示でカウント値を期待値に置き換えた
後、カウント指示により＋１する機能が必要になる。

【００１７】次に、比較器３の入出力関係を図６により
説明する。試験パターンをＡとし、期待値をＢとし、Ａ
とＢの大小関係を比較器３で比較する。Ａ＞Ｂのとき
は、セル紛失信号を出し、Ａ＝Ｂのときは、セル動作信
号を出す。Ａ＜Ｂのときは、セル逆転信号を出す。

【００１８】

【発明の効果】この発明によれば、シーケンス番号の欠
落とシーケンス逆転を分離してシーケンスエラーを検出
しているので、障害原因の分析が容易になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明によるセルシーケンス評価回路の構成
図である。

【図２】図１のタイムチャートである。

【図３】機能切換器１の入出力関係説明図である。

【図４】機能切換器１の出力を示す表である。

【図５】基準シーケンス２の入出力関係説明図である。

【図６】比較器３の入出力関係説明図である。

【符号の説明】

１ 機能切換器 ２ 基準シーケンス発生器 ３ 比較器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 晃二 東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株 式会社内 (72)発明者 中島 英規 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 高部 孝也 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 試験パターンと、期待値と、比較器(3)
   出力を入力とし、期待値と、カウント指示と、期待値置
   き換え指示を出力とする機能切換器(1)と、機能切換器
   (1) の出力を入力とし、次回期待値を出力とする基準シ
   ーケンス発生器(2) と、試験パターンＡと基準シーケン
   ス発生器(2) の出力Ｂを比較し、Ａ＞Ｂのときはセル紛
   失信号を出し、Ａ＝Ｂのときは正常動作信号を出し、Ａ
   ＜Ｂのときはセル逆転信号を出す比較器(3) とを備える
   ことを特徴とするＡＴＭセルシーケンス評価回路。