JPH0570326B2 - - Google Patents

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JPH0570326B2
JPH0570326B2 JP63159022A JP15902288A JPH0570326B2 JP H0570326 B2 JPH0570326 B2 JP H0570326B2 JP 63159022 A JP63159022 A JP 63159022A JP 15902288 A JP15902288 A JP 15902288A JP H0570326 B2 JPH0570326 B2 JP H0570326B2
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transistor
current
terminal
coupled
transistors
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JP63159022A
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JPH01143510A (ja
Inventor
Teii Baato Rodonii
Maaku Suteitsuto Za Se Robaato
Maikeru Toomasu Deebitsudo
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Texas Instruments Tucson Corp
Original Assignee
Burr Brown Corp
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Publication date
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Publication of JPH01143510A publication Critical patent/JPH01143510A/ja
Publication of JPH0570326B2 publication Critical patent/JPH0570326B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/30Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F8/00Chemical modification by after-treatment
    • C08F8/18Introducing halogen atoms or halogen-containing groups
    • C08F8/20Halogenation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S323/00Electricity: power supply or regulation systems
    • Y10S323/907Temperature compensation of semiconductor

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は温度補償式電流源に、更に詳しく
は、1)正の温度係数を持つた第1電流を発生す
る「ΔVBEオーバR」回路、及び2)負の温度係
数を持つた第2電流を発生する、抵抗に加えられ
たVBE電圧のような他の回路部を備えていて、第
1及び第2の電流が加え合わされて全温度補償電
流が流れるようになる二端子電流源に関係してい
る。
多くのアナログ回路及びシステムは、「コンプ
ライアンス電圧」、すなわち電流源の二つの端子
間の電圧に感じず且つ電流が零又は選択可能な温
度係数を持つている二端子電流基準回路を必要と
する。(ここで使用する、「二端子基準回路」又は
「二端子電流源」の用語は、第1端子からある電
流だけを受けてこの同じ電流だけを第2端子に加
える「二端子回路」を指している。) 二端子電流源に対する一つの典型的な応用はブ
リツジ回路の脚部のためのバイアス電流を与える
ことであろう。別の典型的な応用は、JFETのよ
うな単一の二端子電流源に応答してすべてが制御
される多数のPNP電流鏡映(ミラー)回路及び
多数のNPN電流鏡映回路を含むバイポーラ集積
回路であろう。
米国特許第4460865号(バイナム(Bynum)
外)は、負の温度係数を持つた電圧VBE及び正の
温度係数を持つた電圧ΔVBEを発生する精密温度
補償式電圧基準回路を開示している。電圧VBE
第1抵抗に加えられて負の温度係数を持つた電流
を発生する。電圧ΔVBEは第2抵抗に加えられて
正の温度係数を持つた電流を発生する。これら二
つの電流は、第3抵抗を通して流される制御電流
を発生する。第3抵抗の第1端子は供給電圧導体
に接続され且つ第3抵抗の第2端子は温度補償基
準電圧を発生する。第1及び第2抵抗の倍率を適
当に決めることによつて、出力基準電圧に対して
応範囲の温度係数を選択することができる。第1
及び第2抵抗は接地電圧導体に接続されている。
VBE電圧及びΔVBEを発生するトランジスタを流れ
る電流は制御する構成部品は正の供給電圧に接続
されている。この回路に温度補償電圧基準回路と
して十分に機能するけれども、端子電圧が不定で
あり得る二端子基準電流源としての使用のために
は、この基準電流源の端子の一つに関係づけられ
た電気的に浮動の電源が必要とされるであろうか
ら、実用的でない。
米国特許第4472675号(シノミヤ(Shinomiya)
は、端子が接地電圧導体T2及び正の供給基準電
圧導体T1に接続されている基準電圧発生回路を
開示している。この回路は第1抵抗にΔVBE電圧
を発生して、正の温度係数を持つた第1電流を発
生する。第2回路が第2抵抗にVBE電圧を発生し
て、負の温度係数を持つた第2電流を発生する。
第1回路は第1電流鏡映回路を駆動して正の温度
係数を持つた第3電流を発生するために利用さ
れ、且つ第2回路は第2電流鏡映回路を駆動して
負の温度係数を持つた第4電流を発生するために
使用される。第3及び第4電流が加え合わされ
て、結果として生じた電流が第3抵抗は通つて接
地電圧導体に流れて温度補償基準電圧を発生す
る。この基準電圧の温度依存性は第1及び第2抵
抗の抵抗値を選択することによつて選択すること
ができる。この回路は、13のトランジスタ及び
三つの抵抗を含んでいるので、複雑である。
シノミヤの文献は、そこに開示された回路が二
端子電流源として接続され得るであろうという示
唆を含んでいないけれども、正電源から端子T1
へ流れる電流は端子T2から接地基準導体へ流れ
るのと同じ電流であり、この回路はトランジスタ
Q9,Q10,Q11,Q12及びQ13を流れ
る五つの「正の温度係数」の電流の和、並びにト
ランジスタQ5,Q6及びQ7を流れる「負の温
度係数」の電流の和を表している。この回路は、
多数のトランジスタがあまりに多くの半導体チツ
プ面積を占めるので、二端子電流源として実用的
でないであろう。多数の電流鏡映回路のために、
端子T1及びT2を流れる電流は、精密温度補償
式二端子電流源を必要とするような多くの回路に
おいて許容可能であると思われるより多くの雑音
を持つであろう。ΔVBE発生回路部とVBE発生回路
部とを結合するためのシノミヤの技法は、ΔVBE
電圧を直接発生する二つのトランジスタ及びVBE
電圧を発生すする一つのトランジスタをシリコン
における熱的温度こう配が別の誤差源を導入する
ように十分に離して配置することを必要とする。
更に、シノミヤの回路を二端子電流源として使用
したとすれば、最初電気的に「浮動して」いるよ
うな多くのトランジスタ・コレクタに初期電流を
供給するために不当に複雑な始動回路を準備しな
ければならないであろう。この始動回路はこれの
種種のコレクタ電流に及ぼす影響が始動の完了後
には無視できるようなものでなければならない。
これらの理由のためにシノミヤの回路を二端子電
流源として使用することはますます実用的ではな
い。
高度の電圧コンプライアンスを持つた、簡単,
高精度の低雑音二端子温度補償式電流源回路に対
する満たされない必要性が存在する。
発生の要約 従つて、改良型温度補償式二端子電流源回路を
提供することがこの発明の目的である。
抵抗値を調整することによつて温度係数を調整
するこのできる安価な二端子温度補償式電流源を
提供することがこの発明の別の目的である。
低いコンプライアンス電圧及びコンプライアン
ス電圧の変化に対する低い感度を持つた安価な温
度補償式二端子電流源回路を提供することがこの
発明の別の目的である。
非常に低いレベルの雑音を持つた簡単,安価な
二端子温度補償式電流基準回路を提供することが
この発明の別の目的である。
回路が製造されている半導体材料における熱的
こう配に起因する不正確さを回避する簡単な二端
子温度補償式電流基準回路を提供することがこの
発明の別の目的である。
正常動作に影響しない簡単な始動回路部を使用
することのできる二端子温度補償式電流源を提供
することがこの発明の別の目的である。
一実施例に従つて簡単に記述すれば、この発明
は、第1及び第2の端子、第1,第2及び第3の
トランジスタを備えていて、各トランジスタがベ
ース,エミツタ及びコレクタを備えており、第2
トランジスタのエミツタ面積が第1トランジスタ
のそれより大きく、第1及び第2のトランジスタ
のベースが互いに接続されていて、第2トランジ
スタのエミツタと第2端子との間に結合された第
1抵抗にVBE電圧を発生し、第1トランジスタの
エミツタが第2端子に接続されており、第1及び
第2のトランジスタのコレクタが、第1端子から
電流のすべてを受けている電流鏡映回路から等し
い電流を受ける二端子電流源を提供する。第1ト
ランジスタのベースとエミツタとの間には第2抵
抗が結合されている。制御電極が第1トランジス
タのコレクタに結合され且つ第1電流搬送電極が
第1トランジスタのベースに結合されている第3
トランジスタは第2電流搬送電極が第1端子に接
続されている。正の温度係数を持つた定電流が第
2トランジスタのコレクタを流れ、且つ同じ大き
さ及び同じ正の温度係数を持つた電流が第1トラ
ンジスタのコレクタを流れる。負の温度係数を持
つた電流が第2抵抗並びに第3トランジスタの第
1及び第2の電流搬送端子を流れる。第1及び第
2端子を流れる電流はそれゆえ第1及び第2抵抗
の抵抗値の比によつて決定される温度係数を持つ
ている。この発明の一つの記述された発明におい
ては、典型的な横形PNP電流鏡映回路によつて
発生されるベータ誤差及び雑音を低減するために
電流鏡映回路と第1及び第2のトランジスタのコ
レクタとの間に増幅器回路部が挿入されている。
第1及び第2の両端子間に初期電流路を確保する
ために幾つかの始動回路が開示示されている。こ
の発明の別の実施例においては、第2抵抗が第1
トランジスタのベース及びエミツタ間ではなく電
流鏡映回路のトランジスタのベース及びエミツタ
間に結合されている。この発明の別の実施例にお
いては、二端子電流源は、小さい大きさの、非常
に直線的な正の温度係数を持つた第1電流を得る
ために第1抵抗にツエナーダイオード電圧降下を
発生する第1回路部、及び負の温度係数を持つた
第2電流を得るために第2抵抗がVBE電圧降下を
発生する第2回路部を備えている。第1及び第2
の電流は加え合わされて、第1及び第2抵抗の比
によつて選択された温度係数を持つた二端子間の
非常に正確な電流を与える。更に別の実施例にお
いては、二端子電流源における電流の負の温度係
数成分が抵抗にJEFTのゲートーソース電圧を発
生することによつて発生される。
発明の詳細な説明 図1に言及すると、二端子電流源1は端子2及
び3を備えている。温度補償基準電流IREFは端子
2から流れ出て端子3へ流れ込む。(もちろん、
トランジスタ形式は反対にする、すなわちNPN
からPNPにすることができ、従つてIREFの方向を
反対にすることができる。)端子3は電流鏡映回
路4に接続されている。それぞれ正の温度係数を
持つた二つの等しい電流Ipはそれぞれ導体5及び
12を通つてNPNトランジスタ7及び10のコ
レクタへ流れる。導体5は又NPNトランジスタ
6のベースに接続されているが、このトランジス
タのベース電流は無視することができる。トラン
ジスタ6のコレクタ端子3に接続されている。ト
ランジスタ6のエミツタは導体8によつてNPN
トランジスタ7び10のベース電極と抵抗11の
一方の端子とに接続されており、この抵抗の抵抗
値はR2である。抵抗11の他方の端子は端子2
に接続されている。トランジスタ7のエミツタは
端子2に接続されている。トランジスタ10のエ
ミツタは抵抗値がR1である抵抗13によつて端
子2に結合されている。
抵抗R1及びR2は温度に感じないニクロム抵
抗でよい。電流INは負の温度係数を持つており、
トランジスタ6のコレクタ−エミツタ路を通り且
つ抵抗R2を通つて流れる。それゆえ、IREFはIN
プラス2Ipの和に等しい。
トランジスタ10のエミツタ面積はトランジス
タ7のエミツタ面積のN倍大きく、この場合Nは
典型的には2から20の範囲にある。同じコレクタ
電流Ipがトランジスタ7及び10を流れるので、
トランジスタ10のベース−エミツタ電圧VBE(10)
はトランジスタ7のベース−エミツタ電圧VBE(7)
より小さい。(トランジスタ7及び10並びに抵
抗R1は「ΔVBEオーバR」回路と呼ばれる。)技
術に通じた者は知つているように、ΔVBEは絶対
温度係数Tに比例している。シリコントランジス
タに対しては、ΔVBEはC目盛1度当り約+3300
パーツ・パー・ミリオン(ppm)に等しい。それ
ゆえ、Ip(これはΔVBEをR1で割つたものに等し
い)はトランジスタ10によつて強制的に電流鏡
映回路4から導体12を通つて流れるようにされ
る。電流鏡映回路4は同じ電流Ipを導体5経由で
トランジスタ7のコレクタへ流れさせる。
ΔVBEを発生する同じトランジスタ7は又抵抗
R2に電流VBE(7)を発生して、抵抗R2を通る電
流INを発生するが、このINはVBE(7)をR2で割つ
たものに等しい。(トランジスタ6及び7並びに
抵抗R2を含む回路部は「VBEオーバR」回路と
呼ばれる。)トランジスタ7及び10のベース電
流はIpの温度係数に影響を与えない。
それゆえ、図1の回路は正の温度係数の電流Ip
及び負の温度係数の電流INの「混合物」を含む二
端子電流源を与えることがわかる。技術に通じた
者は知つていることであるが、シリコントランジ
スタのVBE(7)の温度係数はC目盛1度当り−
3500ppmである。IREFの温度係数は抵抗値R1及
びR2を適当に選択することによつて−
3500ppm/℃と+3300ppm/℃との間の任意の値
に設定することができる。抵抗R1及びR2は典
型的にはほぼ零の温度係数を持つたニクロムから
なつており、容易にレーザトリミング可能であ
る。
容易にわかることであるが、端子3の電圧が端
子2の電圧よりも高く少なくとも3VBEであるか
ぎりIp及びINが両方共端子2及び3における端子
電圧に実質上独立であるので、二端子電流源回路
1の電圧コンプライアンス感度は低い。端子2若
しくは3が接地電圧導体若しくは正の供給電圧導
体に接続されるという、又は技術上既知である多
くの従来技術の電圧基準回路に対して必要とされ
るであろうように、電気的に「浮動の」電源が端
子2又は3に関係づけられるという要件はない。
図2はVBE及びΔVBE電圧がNPNトランジスタの
代わりにPNPトランジスタによつて発生される
この発明の実施例を示している。初期始動電流を
確保するために、導体8は三つのダイオード接続
のトランジスタ16,17及び18並びに「オ
ン」PチヤネルJFET(接合形電界効果トランジ
スタ)19の直列接続によつて端子3に結合され
ており、このJFETのソースはトランジスタ18
のエミツタに接続され且つそれのドレーンは端子
3に接続されて、導体8と端子3との間の連続的
電気路を与えている。JFET19のゲート電極は
導体5に接続されている。第2PチヤネルJFET2
0はそのゲート電極が導体5に接続され、そのソ
ース電極が導体12に接続され且つそのドレーン
電極が導体23によつてNPN電流鏡映トランジ
スタ25のコレクタに接続されており、このトラ
ンジスタのエミツタは端子3に接続されている。
NPNトランジスタ22はそのコレクタが導体5
に接続され、そのベースが導体23に接続され且
つそのエミツタがNPN電流鏡映制御トランジス
タ24のベース及びコレクタに接続されている。
トランジスタ24のエミツタは端子3に接続され
ている。電流鏡映トランジスタ25のベースは導
体26によつてトランジスタ24のベースに接続
されている。(トランジスタ22,24及び25
はウイルソン電流鏡映回路(Wilson current
mirror)を形成している。)図2の回路におい
て、JFET20の接続は図2の二端子電流源回路
の出力インピーダンスを相当に増大させる。負温
度係数電流INは抵抗R2からダイオード接続トラ
ンジスタ16〜18及びJFET19を通つて端子
3に流れる。正温度係数電流Ipは図1におけるよ
うに流れる。ゲート電極電流及びベース電極電流
はすべて無視可能である。
図1の二端子回路源の回路部は非常に簡単であ
り得るものであつて、その最も簡単なものが図3
の回路部に示されており、これにおいては電流鏡
映回路4は単に二つのPNPトランジスタ24及
び25からなつている。同じトランジスタ7は負
の温度係数の電流INを発生するVBE電圧と正の温
度係数の電流Ipとの両方を発生する。それゆえ、
トランジスタ7及び10の幾何学的中心が同じ点
にあるならば、二端子電流源が製造されている半
導体チツプについて熱的こう配によつて誤差が引
き起こされることはあり得ない。それは大きい方
のトランジスタ10の有効エミツタ面積の半分を
トランジスタ7の対立する側に配置することによ
つて行われ得る。この二端子電流源は少数のトラ
ンジスタのために抵雑音回路になる。上述の二端
子電流源回路は少数のトランジスタ及び抵抗だけ
で済むので、必要とされるチツプ面積の量に関し
て大いに心配することなく集積回路において必要
とされる場合にはどこにでも使用されることがで
きる。
図4の回路は図3の回路と同じであるが、但し
INを発生するために使用されたVBE電圧は「ΔVBE
発生用」トランジスタ10の代わりにPNP電流
鏡映トランジスタ24及び25によつて発生され
る。
図3及び4に示された回路はPNP電流鏡映回
路を利用している。現在の最高技術水準では、
PNP電流鏡映回路は通常横形PNPトランジスタ
で実現されるが、このトランジスタは最も普通の
バイポーラ集積回路製造工程において容易に利用
可能である。しかしながら、そのようなPNP電
流鏡映回路は、電流源の温度デリフトの直線性及
び電流基準回路の雑音の量における不正確さを引
き起こすベータ誤差及び雑音を呈することが周知
である。図5は、トランジスタ7及び10のコレ
クタに接続された「負荷」回路部に帰還及び利得
を与えて、横形PNP電流鏡映回路により発生さ
れた上述のベータ誤差及び雑音によつて引き起こ
された不正確さを低減するこの発明の実施例の回
路を示している。
図5において、トランジスタ7のコレクタは導
体7によつてNPNトランジスタ30のベースと
抵抗29の一方の端子とに接続されており、この
抵抗の他方の端子は導体40によつてエミツタホ
ロワNPNトランジスタ35に接続されている。
トランジスタ30のエミツタは導体8によつてト
ランジスタ7及び10のベースと抵抗R2とが接
続されている。トランジスタ30のコレクタは
NPNトランジスタ33のエミツタに接続され、
そしてトランジスタ33のベースは導体34によ
つてPNPトランジスタ36のコレクタ及びエミ
ツタホロワトランジスタ35のベースに接続され
ている。トランジスタ33のコレクタは導体37
によつてPNP電流鏡映トランジスタ38のコレ
クタとPNPトランジスタ36のベースに接続さ
れている。トランジスタ36のエミツタはPNP
電流鏡映トランジスタ39のコレクタ及びベース
に接続され、トランジスタ36のコレクタは導体
34に接続されている。トランジスタ38及び3
9のエミツタは端子3に接続されている。
トランジスタ10のコレクタは導体12によつ
てNPNトランジスタ6のベースとニクロム抵抗
31の一方の端子とに接続され、そして抵抗31
の他方の端子は導体40に接続されている。トラ
ンジスタ6のコレクタは導体34に接続されてい
る。トランジスタ6のエミツタは導体8に接続さ
れている。エミツタホロワトランジスタ35のコ
レクタは端子3に接続されている。Pチヤネル
JFET45はそのゲート電極が端子3に接続さ
れ、そのソースがトランジスタ36のエミツタに
接続され且つそのドレーンが導体34に接続され
ている。周波数補償を与えるために導体34と導
体12との間にコンデンサ47が結合されてい
る。JFET45は初期始動を確実にするために導
体34に初期電流を与える。
図5においてトランジスタ6及び30は、差動
入力が導体5及び12に接続されている実効上演
算増幅器であるものの差動入力段を形成してい
る。同じニクロム抵抗29及び31は、言及され
ている演算増幅器の出力として機能する導体40
から入力導体5及び12への帰還ループを与えて
いる。PNP電流鏡映トランジスタは演算増幅器
に対する高インピーダンス負荷素子として機能
し、そしてこのそれぞれは、トランジスタ30及
び6のコレクタを流れ且つ加え合わされて抵抗R
2を流れる負温度係数電流IN発生る電流IN/2を
供給する。トランジスタ36,38及び39は、
技術に通じた者には周知のウイルソン電流鏡映回
路として機能して高インピーダンスを与え且つベ
ータ誤差を除去する。トランジスタ33は二端子
電流源の端子電圧における変化にもかかわらずト
ランジスタ30のコレクタ−ベース電圧を一定に
保つという機能を行い、それの確度を改善する。
導体5及び12間に電圧差が現れる場合には、上
述の演算増幅器の利得は導体34上に対応する増
幅され、反転した変化を発生する。エミツタホロ
ワトランジスタ35はこの変化を導体40に結合
して、トランジスタ29及び31によつて必要と
されるどのような電流をも供給してこれら二つの
電流を等しくする。トランジスタ7及び10並び
に抵抗R1からなる帰還ループは、言及した演算
増幅器がトランジスタ7及び10のコレクタを等
しく保つている間にIpの大きさを決定するように
動作する。
図6は、上述の回路におけるようにトランジス
タ7及び10並びにニクロム抵抗R1からなる
「ΔVBEオーバR」回路によつてIpが発生されるこ
の発明の代替実施例を示している。しかしなが
ら、負温度係数電流INは抵抗11と直列のPチヤ
ネルJFET50の接続によつて発生される。
JFET50のゲートは、ニクロム抵抗R2の上方
端子と同様に、端子3に接続されている。JFET
50のドレーン電極はダイオード51及び52の
アノードに接続されている。ダイオード51のカ
ソードはトランジスタ7及び10のベースに接続
されている。ダイオード52のカソードは導体2
に接続されている。ダイオード52のカソードは
導体2に接続されている。ダイオー51及び52
はこの二端子電流源の初期始動を確実にする。
図7は、抵抗値がR3であるニクロム抵抗64
にツエナーダイオード65の非常に直線的な逆電
圧を加えることによつて正温度係数電流Ipが発生
されるこの発明の別の実施例を示している。ダイ
オード59及び60並びにJFET58は、PNPト
ラジスタ62及び63のベースに接続されている
導体66上にバイアス電圧を発生する。負温度係
数電流INは抵抗R2にNPNトランジスタ55及
び56のVBEを加えることによつて発生される。
この回路において、Ipは+300ppm/℃の温度係
数を持ち、且つINは−3300ppm/℃の負の温度係
数を持つていて、IREFの総合電流係数はこれら二
つの限界の間の範囲内において調整可能である。
この回路におけるIpの正の温度係数は大きさが小
さく且つC目盛−55゜からC盛+125゜まで非常に
直線的であるので、抵抗R2及びR3の比を切換
可能に決めることによつて、端子2及び3間に非
常に直線的な、温度補償された全電流を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
図1はこの発明の温度補償式二端子電流源回路
の概略的回路図である。図2はこの発明の別の実
施例の概略的回路図である。図3はこの発明の別
の実施例の概略図である。図4はこの発明の別の
実施例の概略図である。図5はこの発明の別の実
施例の概略的回路図である。図6は正の温度係数
を持つたΔVBE電流源及び負の温度係数を持つた
JFET電流源を備えたこの発明の別の実施例の概
略図である。図7は正の温度係数を持つた電流源
を発生するためにツエナーダイオードを且つ負の
温度係数を持つた電流源を発生するためにVBE
圧を利用したこの発明の別の実施例の概略図であ
る。 これらの図面において、1は二端子電流源、
2,3は端子、4は電流鏡映回路、6,7,10
はトランジスタ、11(R2)、13(R1)は抵
抗、16,17,18はダイオード接続のトラン
ジスタ、19,20はJFET、22,24,25
は電流鏡映回路を構成するトランジスタ、36,
38,39は電流鏡映回路を構成するトランジス
タを示している。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 二端子電流源であつて、 a 第1の端子3及び第2の端子2と、 b 第1のトランジスタ7、第2のトランジスタ
    10及び第3のトランジスタ6,15,19で
    あつて、該第1及び第2のトランジスタはそれ
    ぞれベース、コレクタ及びエミツタを備えてお
    り、前記第2トランジスタは前記第1トランジ
    スタよりも実質的に大きいエミツタ面積を持つ
    ており、前記第3トランジスタは制御電極、第
    1電流搬送電極及び第2電流搬送電極を備えて
    おり、前記第1トランジスタのベースは前記第
    2トランジスタのベースに接続されており、前
    記第3トランジスタの第1電流搬送電極は前記
    第1及び第2のトランジスタのベースに直接接
    続されており、前記第3トランジスタの前記第
    2電流搬送電極は前記第1端子に結合されてお
    り、前記第3トランジスタの前記制御電極は前
    記第1トランジスタのコレクタに結合されてお
    り、前記第1トランジスタのエミツタは前記第
    2端子に結合されている、前記の第1、第2及
    び第3のトランジスタと、 c 前記第2トランジスタのコレクタにおいて第
    1の電流(Ip)を発生するために、前記第2ト
    ランジスタのエミツタと前記第2端子との間に
    結合された第1の抵抗13と、 d 前記第3トランジスタの第1及び第2の電流
    搬送電極において第2の電流(IN)を発生する
    ために、前記第3トランジスタの前記第1電流
    搬送電極と前記第2端子との間に結合された第
    2の抵抗11と、 e 前記第1電流に比例した第3の電流(Ip)を
    前記第1トランジスタのコレクタにおいて発生
    するために、前記第1及び第2のトランジスタ
    の各コレクタと前記第1端子とにのみ結合され
    た電流鏡映装置4と、 を備えており、これにより前記第1及び第3の電
    流が正の温度係数を持ち且つ前記第2電流が負の
    温度係数を持ち、且つ前記第1及び第2の端子を
    流れる合計の定電流が前記第1及び第2の抵抗の
    抵抗値の比によつて決まる温度係数を持ち、前記
    合計定電流が前記第1及び第2の端子の双方を流
    れる電流だけとなるようにしたこと、を特徴とす
    る二端子電流源。 2 請求項1に記載の二端子電流源において、前
    記電流鏡映装置4は、 前記第1端子に結合された第1電流搬送電極
    と、前記第1トランジスタ7のコレクタに結合さ
    れた第2電流搬送電極と、及び該第2電流搬送電
    極に結合された制御電極とを備えた第4のトラン
    ジスタ24と、並びに 前記第1端子に結合された第1電流搬送電極
    と、前記第2トランジスタ10のコレクタに結合
    された第2電流搬送電極と、及び前記第4トラン
    ジスタの制御電極に結合された制御電極とを備え
    た第5トランジスタ25と、 を含んでいること、を特徴とする二端子電流源。 3 請求項1に記載の二端子電流源において、前
    記電流鏡映装置4は、 前記第1端子に結合された第1電流搬送電極
    と、前記第2トランジスタ10のコレクタに結合
    された第2電流搬送電極と、及び該第2電流搬送
    電極に結合された制御電極とを備えた第4のトラ
    ンジスタ25と、並びに 前記第1端子に結合された第1電流搬送電極
    と、前記第1トランジスタ7のコレクタに結合さ
    れた第2電流搬送電極と、及び前記第4トランジ
    スタの制御電極に結合された制御電極とを備えた
    第5トランジスタ24と、 を含んでいること、を特徴とする二端子電流源。 4 請求項1に記載の二端子電流源において、前
    記電流鏡映装置4に結合された第1電流搬送電極
    と、前記第2トランジスタ10のコレクタに結合
    された第2電流搬送電極と、及び前記第1トラン
    ジスタ7のコレクタに結合された制御電極とを持
    つた第4のトランジスタ20を備えていること、
    を特徴とする二端子電流源。 5 請求項1に記載の二端子電流源において、前
    記第3トランジスタはバイポーラトランジスタ1
    5であつて、その制御電極はベースであり、その
    第1電流搬送電極はエミツタであり、且つその第
    2電流搬送電極はコレクタであること、を特徴と
    する二端子電流源。 6 請求項1に記載の二端子電流源において、前
    記第3トランジスタは電界効果トランジスタ19
    であつて、その制御電極はゲートであり、その第
    1及び第2の電流搬送電極の一方はソースであ
    り、且つその電流搬送電極の他方はドレーンであ
    ること、を特徴とする二端子電流源。 7 請求項1に記載の二端子電流源において、第
    4トランジスタ30を備えていて、前記第3トラ
    ンジスタ6及び第4トランジスタ30はNPNト
    ランジスタであり、前記第4トランジスタのエミ
    ツタは前記第3トランジスタのエミツタ及び前記
    第2トランジスタのベースに結合されており、前
    記第3及び第4トランジスタは、該第3及び第4
    のトランジスタに対する負荷回路として接続され
    た電流鏡映装置38,39を含む差動増幅回路を
    形成しており、この差動増幅回路は、ベースとエ
    ミツタと有する第5トランジスタ35と、及び前
    記第3及び第4のトランジスタのうちの一方のコ
    レクタと前記第5トランジスタのベースとに接続
    された出力接続点34とを備えており、前記第5
    トランジスタのエミツタは、前記第1及び第3の
    電流を前記第1及び第2のトランジスタのコレク
    タに供給するように第3及び第4の抵抗29,3
    1によつて結合されていること、を特徴とする二
    端子電流源。
JP63159022A 1987-11-17 1988-06-27 二端子温度補償式電流源回路 Granted JPH01143510A (ja)

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Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4943737A (en) * 1989-10-13 1990-07-24 Advanced Micro Devices, Inc. BICMOS regulator which controls MOS transistor current
US5038053A (en) * 1990-03-23 1991-08-06 Power Integrations, Inc. Temperature-compensated integrated circuit for uniform current generation
US5121049A (en) * 1990-03-30 1992-06-09 Texas Instruments Incorporated Voltage reference having steep temperature coefficient and method of operation
IT1244341B (it) * 1990-12-21 1994-07-08 Sgs Thomson Microelectronics Generatore di tensione di riferimento con deriva termica programmabile
US5198701A (en) * 1990-12-24 1993-03-30 Davies Robert B Current source with adjustable temperature variation
IT1252324B (it) * 1991-07-18 1995-06-08 Sgs Thomson Microelectronics Circuito integrato regolatore di tensione ad elevata stabilita' e basso consumo di corrente.
US5241261A (en) * 1992-02-26 1993-08-31 Motorola, Inc. Thermally dependent self-modifying voltage source
US5334929A (en) * 1992-08-26 1994-08-02 Harris Corporation Circuit for providing a current proportional to absolute temperature
GB9223338D0 (en) * 1992-11-06 1992-12-23 Sgs Thomson Microelectronics Low voltage reference current generating circuit
US5430367A (en) * 1993-01-19 1995-07-04 Delco Electronics Corporation Self-regulating band-gap voltage regulator
GB9304954D0 (en) * 1993-03-11 1993-04-28 Sgs Thomson Microelectronics Reference current generating circuit
US5402061A (en) * 1993-08-13 1995-03-28 Tektronix, Inc. Temperature independent current source
DE4416711C1 (de) * 1994-05-11 1995-08-03 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines Referenzstroms
US5621307A (en) * 1995-07-21 1997-04-15 Harris Corporation Fast recovery temperature compensated reference source
US5701071A (en) * 1995-08-21 1997-12-23 Fujitsu Limited Systems for controlling power consumption in integrated circuits
US5637993A (en) * 1995-10-16 1997-06-10 Analog Devices, Inc. Error compensated current mirror
US5818294A (en) * 1996-07-18 1998-10-06 Advanced Micro Devices, Inc. Temperature insensitive current source
GB2332760A (en) * 1997-12-24 1999-06-30 Motorola Inc Low voltage stabilised current source
GB2338803B (en) * 1998-06-24 2002-10-09 Motorola Inc Temperature compensation arrangement and current reference circuit
US6124753A (en) * 1998-10-05 2000-09-26 Pease; Robert A. Ultra low voltage cascoded current sources
JP2001092545A (ja) * 1999-09-24 2001-04-06 Mitsubishi Electric Corp セルフバイアス回路
DE10047620B4 (de) * 2000-09-26 2012-01-26 Infineon Technologies Ag Schaltung zum Erzeugen einer Referenzspannung auf einem Halbleiterchip
US6351111B1 (en) * 2001-04-13 2002-02-26 Ami Semiconductor, Inc. Circuits and methods for providing a current reference with a controlled temperature coefficient using a series composite resistor
US6630818B1 (en) * 2002-03-26 2003-10-07 Intel Corporation Current mirror circuits
US6667608B2 (en) * 2002-04-22 2003-12-23 King Billion Electronics Co., Ltd. Low voltage generating circuit
WO2003093848A1 (en) 2002-05-03 2003-11-13 Mcgill University Method and device for use in dc parametric tests
US6737849B2 (en) * 2002-06-19 2004-05-18 International Business Machines Corporation Constant current source having a controlled temperature coefficient
WO2004025390A2 (en) * 2002-09-16 2004-03-25 Atmel Corporation Temperature-compensated current reference circuit
US7286002B1 (en) * 2003-12-05 2007-10-23 Cypress Semiconductor Corporation Circuit and method for startup of a band-gap reference circuit
DE102004004305B4 (de) * 2004-01-28 2007-05-10 Infineon Technologies Ag Bandabstands-Referenzstromquelle
US7498868B2 (en) * 2005-08-05 2009-03-03 Denso Corporation Current mirror circuit and constant current circuit having the same
AU2010206053B2 (en) 2009-07-31 2014-08-07 ResMed Pty Ltd Wire Heated Tube with Temperature Control System, Tube Type Detection, and Active Over Temperature Protection for Humidifier for Respiratory Apparatus
JP5554134B2 (ja) * 2010-04-27 2014-07-23 ローム株式会社 電流生成回路およびそれを用いた基準電圧回路
NZ743034A (en) 2013-02-01 2019-12-20 ResMed Pty Ltd Wire heated tube with temperature control system for humidifier for respiratory apparatus
CN114546019B (zh) * 2021-08-24 2022-12-23 南京航空航天大学 一种温度系数可调的基准电压源

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61154303A (ja) * 1984-12-27 1986-07-14 Toshiba Corp バイアス回路

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5221649A (en) * 1975-08-12 1977-02-18 Toshiba Corp Constant-voltage circuit
US4030023A (en) * 1976-05-25 1977-06-14 Rockwell International Corporation Temperature compensated constant voltage apparatus
US4123698A (en) * 1976-07-06 1978-10-31 Analog Devices, Incorporated Integrated circuit two terminal temperature transducer
US4091321A (en) * 1976-12-08 1978-05-23 Motorola Inc. Low voltage reference
US4447784B1 (en) * 1978-03-21 2000-10-17 Nat Semiconductor Corp Temperature compensated bandgap voltage reference circuit
US4302718A (en) * 1980-05-27 1981-11-24 Rca Corporation Reference potential generating circuits
US4342926A (en) * 1980-11-17 1982-08-03 Motorola, Inc. Bias current reference circuit
US4352056A (en) * 1980-12-24 1982-09-28 Motorola, Inc. Solid-state voltage reference providing a regulated voltage having a high magnitude
US4460865A (en) * 1981-02-20 1984-07-17 Motorola, Inc. Variable temperature coefficient level shifting circuit and method
US4380728A (en) * 1981-05-19 1983-04-19 General Motors Corporation Circuit for generating a temperature stabilized output signal
NL8103813A (nl) * 1981-08-14 1983-03-01 Philips Nv Stroomstabilisatieschakeling.
JPS5880718A (ja) * 1981-11-06 1983-05-14 Mitsubishi Electric Corp 基準電圧発生回路
US4450367A (en) * 1981-12-14 1984-05-22 Motorola, Inc. Delta VBE bias current reference circuit
CA1215434A (en) * 1984-01-09 1986-12-16 James A. Mckenzie Bias current reference circuit having a substantially zero temperature coefficient
US4590419A (en) * 1984-11-05 1986-05-20 General Motors Corporation Circuit for generating a temperature-stabilized reference voltage
US4622512A (en) * 1985-02-11 1986-11-11 Analog Devices, Inc. Band-gap reference circuit for use with CMOS IC chips
US4673867A (en) * 1986-06-30 1987-06-16 Motorola, Inc. Current mirror circuit and method for providing zero temperature coefficient trimmable current ratios
US4677368A (en) * 1986-10-06 1987-06-30 Motorola, Inc. Precision thermal current source
US4683416A (en) * 1986-10-06 1987-07-28 Motorola, Inc. Voltage regulator

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61154303A (ja) * 1984-12-27 1986-07-14 Toshiba Corp バイアス回路

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Publication number Publication date
GB8812432D0 (en) 1988-06-29
GB2212633B (en) 1992-01-08
FR2623307A1 (fr) 1989-05-19
FR2623307B1 (fr) 1991-08-09
JPH01143510A (ja) 1989-06-06
GB2212633A (en) 1989-07-26
DE3836338A1 (de) 1989-05-24
US4792748A (en) 1988-12-20

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