JPH0567727A - 半導体装置用回路基板 - Google Patents
半導体装置用回路基板Info
- Publication number
- JPH0567727A JPH0567727A JP25583291A JP25583291A JPH0567727A JP H0567727 A JPH0567727 A JP H0567727A JP 25583291 A JP25583291 A JP 25583291A JP 25583291 A JP25583291 A JP 25583291A JP H0567727 A JPH0567727 A JP H0567727A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- copper circuit
- circuit
- semiconductor chip
- board
- circuit board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
Landscapes
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 金属基板の銅回路上への半導体チップの半田
付けと、プリント配線板の銅回路上への制御部品の半田
付けとを別々に行うことによって製造過程における検査
を容易にし、かつ作業性の向上をはかる。 【構成】 金属基板１の絶縁層２上に積層した銅回路３
ａに半導体チップ４を半田付けし、銅回路３ｂには予め
制御部品８を半田付けしたプリント配線板７を接着する
ようにした。
付けと、プリント配線板の銅回路上への制御部品の半田
付けとを別々に行うことによって製造過程における検査
を容易にし、かつ作業性の向上をはかる。 【構成】 金属基板１の絶縁層２上に積層した銅回路３
ａに半導体チップ４を半田付けし、銅回路３ｂには予め
制御部品８を半田付けしたプリント配線板７を接着する
ようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、電力用半導体チップ
と該半導体チップの制御部品とを同一金属基板上に搭載
した半導体装置用回路基板に関するものである。
と該半導体チップの制御部品とを同一金属基板上に搭載
した半導体装置用回路基板に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、半導体装置用回路基板としては、
図２、３に示す構造のものが知られている。即ち、全面
に絶縁層２２を形成した金属基板２１上のほぼ中央部か
ら一方端にかけて銅回路２３が接着、半田付けされ、ま
た、他方端にかけて絶縁層２６ｂの上に銅回路パターン
２６ａを印刷したプリント配線板２６が接着シート（絶
縁層）２４によって絶縁層２２上に接着されている。そ
して、上記で積層した金属基板２１上の銅回路２３およ
びプリント配線板２６の必要箇所にクリーム半田を印刷
し、銅回路パターン２３上に電力用半導体チップ２７
を、またプリント配線板２６上の銅回路パターン２６ａ
上に表面実装部品である抵抗、ＩＣ、コンデンサ等の制
御部品２６ｃを搭載し、リフロー炉で全部品を半田付け
している。その後回路間のワイヤボンデイングを行い、
必要な場合はケーシングを行っている。
図２、３に示す構造のものが知られている。即ち、全面
に絶縁層２２を形成した金属基板２１上のほぼ中央部か
ら一方端にかけて銅回路２３が接着、半田付けされ、ま
た、他方端にかけて絶縁層２６ｂの上に銅回路パターン
２６ａを印刷したプリント配線板２６が接着シート（絶
縁層）２４によって絶縁層２２上に接着されている。そ
して、上記で積層した金属基板２１上の銅回路２３およ
びプリント配線板２６の必要箇所にクリーム半田を印刷
し、銅回路パターン２３上に電力用半導体チップ２７
を、またプリント配線板２６上の銅回路パターン２６ａ
上に表面実装部品である抵抗、ＩＣ、コンデンサ等の制
御部品２６ｃを搭載し、リフロー炉で全部品を半田付け
している。その後回路間のワイヤボンデイングを行い、
必要な場合はケーシングを行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のような構造の従
来の半導体装置用の回路基板においては、銅回路２３に
半導体チップ２７を、プリント配線板２６に制御部品２
６ｃを載置する場合、これらを同時に半田付け等の接合
を行われなければならず、従って銅回路２３やプリント
配線板２６に載置する半導体チップや制御部品等の数が
増えれば、それだけ接合後に不良半導体チップや制御部
品等の修正や交換の作業が難しいという問題があった。
来の半導体装置用の回路基板においては、銅回路２３に
半導体チップ２７を、プリント配線板２６に制御部品２
６ｃを載置する場合、これらを同時に半田付け等の接合
を行われなければならず、従って銅回路２３やプリント
配線板２６に載置する半導体チップや制御部品等の数が
増えれば、それだけ接合後に不良半導体チップや制御部
品等の修正や交換の作業が難しいという問題があった。
【０００４】また、上記半田付け等による接合後、次工
程の半導体チップと回路とのワイヤボンデイングの段階
で不良が生じた場合には、修正がさらに難しかったり、
修正ができない場合があったりして歩留りが悪くなるな
どの欠点があった。また、電力用半導体チップと制御部
品とを同時に半田付けしようとすると、半導体チップの
熱耐量は大きいが、チップが他の部品よりも半田付け部
分の面積が大きいので、長時間熱をかけなければならな
い。これに対し、半導体チップを除く他の制御部品、例
えば電解コンデンサなどの熱耐量の小さいものは、半導
体チップの長時間の半田付け時間に耐えられず、熱によ
り不良が生じたりすることがあり、このためそれら不良
部品を交換しなければならないという問題も生じる。
程の半導体チップと回路とのワイヤボンデイングの段階
で不良が生じた場合には、修正がさらに難しかったり、
修正ができない場合があったりして歩留りが悪くなるな
どの欠点があった。また、電力用半導体チップと制御部
品とを同時に半田付けしようとすると、半導体チップの
熱耐量は大きいが、チップが他の部品よりも半田付け部
分の面積が大きいので、長時間熱をかけなければならな
い。これに対し、半導体チップを除く他の制御部品、例
えば電解コンデンサなどの熱耐量の小さいものは、半導
体チップの長時間の半田付け時間に耐えられず、熱によ
り不良が生じたりすることがあり、このためそれら不良
部品を交換しなければならないという問題も生じる。
【０００５】さらにまた、従来の半導体装置用回路基板
は、絶縁層２４内の浮遊容量によってプリント配線板２
６上に搭載している制御部品に過電圧が印加されること
があり、このため部品が破損したりして、交換すると
か、また、電位変動による誤動作を発生させることがあ
り、不良として処理しなければならないという問題もあ
った。
は、絶縁層２４内の浮遊容量によってプリント配線板２
６上に搭載している制御部品に過電圧が印加されること
があり、このため部品が破損したりして、交換すると
か、また、電位変動による誤動作を発生させることがあ
り、不良として処理しなければならないという問題もあ
った。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記した従
来の半導体装置用回路基板における問題点を解消するべ
く検討の結果、得られたものであって、金属基板上に絶
縁層を介して銅回路を積層し、該銅回路の一方側上面に
電力用半導体チップを載置、固定した回路基板の前記銅
回路の他方側に、予め制御部品を載置、固定したプリン
ト配線板を取り付けた半導体装置用回路基板を提供する
ものである。
来の半導体装置用回路基板における問題点を解消するべ
く検討の結果、得られたものであって、金属基板上に絶
縁層を介して銅回路を積層し、該銅回路の一方側上面に
電力用半導体チップを載置、固定した回路基板の前記銅
回路の他方側に、予め制御部品を載置、固定したプリン
ト配線板を取り付けた半導体装置用回路基板を提供する
ものである。
【０００７】
【作用】この発明の半導体装置用回路基板は、金属基板
の銅回路上への半導体チップの搭載と、プリント配線板
上の銅回路パターンへの制御部品等の搭載とを別個に行
い、その後制御部品等を搭載したプリント配線板を金属
基板上の銅回路の所要部位に接着して取り付けるように
したものであり、回路基板の銅回路に半田付けした半導
体チップおよびプリント配線板の銅回路に半田付けした
制御部品の夫々の半田付け後の良否を別々に検査するこ
とができ、従って不良部品の修正や交換が簡単に行え、
ワイヤボンデイング工程後の回路基板の歩留りを著しく
向上させるこができる。
の銅回路上への半導体チップの搭載と、プリント配線板
上の銅回路パターンへの制御部品等の搭載とを別個に行
い、その後制御部品等を搭載したプリント配線板を金属
基板上の銅回路の所要部位に接着して取り付けるように
したものであり、回路基板の銅回路に半田付けした半導
体チップおよびプリント配線板の銅回路に半田付けした
制御部品の夫々の半田付け後の良否を別々に検査するこ
とができ、従って不良部品の修正や交換が簡単に行え、
ワイヤボンデイング工程後の回路基板の歩留りを著しく
向上させるこができる。
【０００８】また、上記のように金属基板の銅回路上へ
の半導体チップの半田付けと、プリント配線板の銅回路
パターン上への制御部品の半田付けとを別々に行うよう
にしたので、夫々の半田付け条件を独自で任意に設定す
ることができ、これによって夫々が信頼性の高い半田付
けをすることができる。
の半導体チップの半田付けと、プリント配線板の銅回路
パターン上への制御部品の半田付けとを別々に行うよう
にしたので、夫々の半田付け条件を独自で任意に設定す
ることができ、これによって夫々が信頼性の高い半田付
けをすることができる。
【０００９】
【実施例】以下、この発明をその一実施例を示す図１
（ａ）〜（ｈ）の製造工程図に基づいて詳細に説明す
る。まず、図１（ａ）に示すように、金属基板１の絶縁
層２上に一方側は凸形状に、他方側は凹形状に銅回路３
ａ、３ｂを半田付けして形成する。次に、凸形状の銅回
路３ａ上の所要部位に図１（ｂ）のように半導体チップ
４、外部出力端子５を半田付けする。そして、図１
（ｃ）に示すように半田付けした半導体チップ４の必要
なものについては、銅回路３とワイヤボンデイング６を
行う。このようにして銅回路３ａ上に半導体チップ４お
よび外部出力端子５を形成した金属基板１は、この段階
で部品個々の品質やワイヤボンデイングの状態などを検
査し、不良な箇所や部品は修理または交換を行う。
（ａ）〜（ｈ）の製造工程図に基づいて詳細に説明す
る。まず、図１（ａ）に示すように、金属基板１の絶縁
層２上に一方側は凸形状に、他方側は凹形状に銅回路３
ａ、３ｂを半田付けして形成する。次に、凸形状の銅回
路３ａ上の所要部位に図１（ｂ）のように半導体チップ
４、外部出力端子５を半田付けする。そして、図１
（ｃ）に示すように半田付けした半導体チップ４の必要
なものについては、銅回路３とワイヤボンデイング６を
行う。このようにして銅回路３ａ上に半導体チップ４お
よび外部出力端子５を形成した金属基板１は、この段階
で部品個々の品質やワイヤボンデイングの状態などを検
査し、不良な箇所や部品は修理または交換を行う。
【００１０】一方、絶縁層の片面または両面に銅回路パ
ターンを印刷した図１（ｄ）に示す凹形状のプリント配
線板７上に半導体チップを制御する抵抗、ＩＣ、コンデ
ンサなどの制御部品８を半田付けにより図１（ｅ）に示
すように表面実装し、必要なものについては図１（ｆ）
のようにワイヤボンデイング９を行う。このようにして
銅回路パターン上に制御部品８を搭載したプリント配線
板７は、この段階で部品の品質や取り付け状態などを検
査し、不良な箇所や部品は修理または交換を行う。
ターンを印刷した図１（ｄ）に示す凹形状のプリント配
線板７上に半導体チップを制御する抵抗、ＩＣ、コンデ
ンサなどの制御部品８を半田付けにより図１（ｅ）に示
すように表面実装し、必要なものについては図１（ｆ）
のようにワイヤボンデイング９を行う。このようにして
銅回路パターン上に制御部品８を搭載したプリント配線
板７は、この段階で部品の品質や取り付け状態などを検
査し、不良な箇所や部品は修理または交換を行う。
【００１１】検査を終わった図１（ｆ）のプリント配線
板７は、図１（ｃ）の金属基板の凹形状の銅回路３ｂ上
に接着シートなどの絶縁物または接着剤を用いて接着す
る（図１（ｇ））。その後金属基板の凹形状銅回路３ｂ
とプリント配線板７および銅回路３ａと３ｂとをワイヤ
ボンデイング９して図１（ｈ）のように接続する。これ
によってこの発明の半導体装置用回路基板が得られる。
なお、プリント配線板７としては、銅回路パターンを絶
縁層の片面もしくは両面に形成したものいずれでもよ
く、プリント配線板をスルホール加工し、プリント配線
板と金属基板上の銅回路を直接接触させることもでき
る。
板７は、図１（ｃ）の金属基板の凹形状の銅回路３ｂ上
に接着シートなどの絶縁物または接着剤を用いて接着す
る（図１（ｇ））。その後金属基板の凹形状銅回路３ｂ
とプリント配線板７および銅回路３ａと３ｂとをワイヤ
ボンデイング９して図１（ｈ）のように接続する。これ
によってこの発明の半導体装置用回路基板が得られる。
なお、プリント配線板７としては、銅回路パターンを絶
縁層の片面もしくは両面に形成したものいずれでもよ
く、プリント配線板をスルホール加工し、プリント配線
板と金属基板上の銅回路を直接接触させることもでき
る。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
金属基板の銅回路への半導体チップの半田付けと、プリ
ント配線板の銅回路パターンへの制御部品の半田付けと
を別々に行うようにしたので、夫々の半田付け条件を任
意に設定できることとあわせて回路基板組み立ての作業
性が向上し、半導体チップ、制御部品等の不良品の修正
あるいは交換が容易となり、これに伴って回路基板製造
時の歩留りを向上させることができる。
金属基板の銅回路への半導体チップの半田付けと、プリ
ント配線板の銅回路パターンへの制御部品の半田付けと
を別々に行うようにしたので、夫々の半田付け条件を任
意に設定できることとあわせて回路基板組み立ての作業
性が向上し、半導体チップ、制御部品等の不良品の修正
あるいは交換が容易となり、これに伴って回路基板製造
時の歩留りを向上させることができる。
【図１】（ａ）乃至（ｈ）はこの発明の半導体装置用回
路基板の製造工程説明図である。
路基板の製造工程説明図である。
【図２】従来の半導体装置用回路基板の平面図である。
【図３】従来の半導体装置用回路基板の断面図である。
１ 金属基板 ２ 絶縁層 ３ａ 凸形状銅回路 ３ｂ 凹形状銅回路 ４ 半導体チップ ６ ワイヤボンデイング ７ プリント配線板 ８ 制御部品 ９ ワイヤボンデイング
Claims (2)
- 【請求項１】 金属基板上に絶縁層を介して銅回路を積
層し、該銅回路の一方側上面に電力用半導体チップを載
置、固定した回路基板の前記銅回路の他方側に予め制御
部品を載置、固定したプリント配線板を取り付けたこと
を特徴とする半導体装置用回路基板。 - 【請求項２】 金属基板上に絶縁層を介して積層した銅
回路の他方側に固定したプリント配線板と銅回路との間
を短絡したことを特徴とする請求項１記載の半導体装置
用回路基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25583291A JPH0567727A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | 半導体装置用回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25583291A JPH0567727A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | 半導体装置用回路基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0567727A true JPH0567727A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=17284227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25583291A Pending JPH0567727A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | 半導体装置用回路基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0567727A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0884781A3 (en) * | 1997-06-12 | 1999-06-30 | Hitachi, Ltd. | Power semiconductor module |
| DE102013226544A1 (de) | 2013-02-13 | 2014-08-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Halbleitervorrichtung |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04164384A (ja) * | 1990-10-29 | 1992-06-10 | Nec Corp | 電力用混成集積回路 |
-
1991
- 1991-09-06 JP JP25583291A patent/JPH0567727A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04164384A (ja) * | 1990-10-29 | 1992-06-10 | Nec Corp | 電力用混成集積回路 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0884781A3 (en) * | 1997-06-12 | 1999-06-30 | Hitachi, Ltd. | Power semiconductor module |
| DE102013226544A1 (de) | 2013-02-13 | 2014-08-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Halbleitervorrichtung |
| US9048227B2 (en) | 2013-02-13 | 2015-06-02 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor device |
| DE102013226544B4 (de) * | 2013-02-13 | 2021-02-18 | Arigna Technology Ltd. | Halbleitervorrichtung |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19960109 |