JPH0564905B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0564905B2 JPH0564905B2 JP61184812A JP18481286A JPH0564905B2 JP H0564905 B2 JPH0564905 B2 JP H0564905B2 JP 61184812 A JP61184812 A JP 61184812A JP 18481286 A JP18481286 A JP 18481286A JP H0564905 B2 JPH0564905 B2 JP H0564905B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mark
- signal
- read
- mark detection
- outputs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 52
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 101100087530 Caenorhabditis elegans rom-1 gene Proteins 0.000 description 5
- 101100305983 Mus musculus Rom1 gene Proteins 0.000 description 5
- 101001106432 Homo sapiens Rod outer segment membrane protein 1 Proteins 0.000 description 4
- 102100021424 Rod outer segment membrane protein 1 Human genes 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はスキヤナのマーク検出回路に関し、特
にフアクシミリ装置で画像を読みとるスキヤナの
マーク検出回路に関する。
にフアクシミリ装置で画像を読みとるスキヤナの
マーク検出回路に関する。
従来、スキヤナのマーク検出回路は、第２図に
示すようなマークM1及びM2を記録した原稿１３
を用い、マークM1及びM2を順次読取つた信号が
マークの主走査方向Ｘの長さ及び副走査方向Ｙの
幅以上であれば、マークであると判定していた。
示すようなマークM1及びM2を記録した原稿１３
を用い、マークM1及びM2を順次読取つた信号が
マークの主走査方向Ｘの長さ及び副走査方向Ｙの
幅以上であれば、マークであると判定していた。
第２図に示すように、原稿１３は主走査方向Ｘ
の主走査区間１４がマーク検出区間１５と画像読
取区間１６とに分割され、マークM1及びM2は共
にマーク検出区間１５内に記録される。
の主走査区間１４がマーク検出区間１５と画像読
取区間１６とに分割され、マークM1及びM2は共
にマーク検出区間１５内に記録される。
例えば、飛越走査のスキヤナの場合、マーク
M1を認識したとき飛越走査を開始し、マークM2
を認識したとき飛越走査から通常走査に戻るよう
に制御される。従つて、領域Ａの画像が読取ら
れ、領域Ｂの画像は読取られない。
M1を認識したとき飛越走査を開始し、マークM2
を認識したとき飛越走査から通常走査に戻るよう
に制御される。従つて、領域Ａの画像が読取ら
れ、領域Ｂの画像は読取られない。
上述した従来のスキヤナのマーク検出回路は、
マーク検出区間内にはマーク以外の画像が存在し
てはならず、原稿上の汚れや、画像の一部がマー
ク検出区間に存在する場合はマークと誤検出して
誤動作を発生するという問題点がある。
マーク検出区間内にはマーク以外の画像が存在し
てはならず、原稿上の汚れや、画像の一部がマー
ク検出区間に存在する場合はマークと誤検出して
誤動作を発生するという問題点がある。
本発明の目的は、マークの誤検出の発生を防止
できるスキヤナのマーク検出回路を提供すること
にある。
できるスキヤナのマーク検出回路を提供すること
にある。
本発明のスキヤナのマーク検出回路は、原稿上
の主走査区間をマークが記録されるマーク検出区
間と画像が記録される画像読取区間とに設定し、
予め格納された前記マークに対応するパターンデ
ータの読出データ及び前記マークの検出完了を示
すマーク検出信号を入力の読出アドレスにより出
力するメモリと、前記メモリから読み出された読
出データと前記マークを読取つた読取画信号とを
比較し両者が一致しないとき誤り信号を出力する
比較回路と、前記誤り信号の計数結果が予め設定
する値に達したとき非マーク判定信号を出力する
マーク判定回路と、前記メモリが所定回数の前記
読出データを出力中に前記非マーク判定信号が入
力されないとき前記メモリにマーク検出信号を出
力させ前記非マーク判定信号が入力されたとき読
出アドレスを初期値から出力するアドレスカウン
タとを含んで構成される。
の主走査区間をマークが記録されるマーク検出区
間と画像が記録される画像読取区間とに設定し、
予め格納された前記マークに対応するパターンデ
ータの読出データ及び前記マークの検出完了を示
すマーク検出信号を入力の読出アドレスにより出
力するメモリと、前記メモリから読み出された読
出データと前記マークを読取つた読取画信号とを
比較し両者が一致しないとき誤り信号を出力する
比較回路と、前記誤り信号の計数結果が予め設定
する値に達したとき非マーク判定信号を出力する
マーク判定回路と、前記メモリが所定回数の前記
読出データを出力中に前記非マーク判定信号が入
力されないとき前記メモリにマーク検出信号を出
力させ前記非マーク判定信号が入力されたとき読
出アドレスを初期値から出力するアドレスカウン
タとを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロツク図であ
る。
る。
第１図に示すように、本実施例は原稿１３上の
主走査区間１４をマークが記録されるマーク検出
区間１５と画像が記録される画像読取区間１６と
に設定し、予め格納されたマークM1，M2に対応
するパターンデータの読出データ１１及びマーク
M1，M2の検出完了を示すマーク検出信号１２を
入力（A0A1……Ao）の読出アドレスにより出力
するメモリとしてのROM１と、ROM１から読
み出された読出データ１１とマークM1，M2を読
取つた読取画信号７とを比較し両者が一致しない
とき誤り信号９を出力する比較回路としての排他
的論理和回路２と、誤り信号９の計数結果が予め
設定する値に達したとき非マーク判定信号１０を
出力するマーク判定回路としてのカウンタ４と、
マーク検出区間１５に出力されるマーク検出信号
８に同期してROM１が所定回数の読出データ１
１を出力中にAND回路５からの非マーク判定信
号１０が入力されないときROM１にマーク検出
信号１２を出力させ、非マーク判定信号１０が入
力されたとき読出アドレスを初期値から出力
（Q1Q2……Qo-1）するアドレスカウンタ３とを含
む。
主走査区間１４をマークが記録されるマーク検出
区間１５と画像が記録される画像読取区間１６と
に設定し、予め格納されたマークM1，M2に対応
するパターンデータの読出データ１１及びマーク
M1，M2の検出完了を示すマーク検出信号１２を
入力（A0A1……Ao）の読出アドレスにより出力
するメモリとしてのROM１と、ROM１から読
み出された読出データ１１とマークM1，M2を読
取つた読取画信号７とを比較し両者が一致しない
とき誤り信号９を出力する比較回路としての排他
的論理和回路２と、誤り信号９の計数結果が予め
設定する値に達したとき非マーク判定信号１０を
出力するマーク判定回路としてのカウンタ４と、
マーク検出区間１５に出力されるマーク検出信号
８に同期してROM１が所定回数の読出データ１
１を出力中にAND回路５からの非マーク判定信
号１０が入力されないときROM１にマーク検出
信号１２を出力させ、非マーク判定信号１０が入
力されたとき読出アドレスを初期値から出力
（Q1Q2……Qo-1）するアドレスカウンタ３とを含
む。
なお、本実施例において使用する原稿は前述し
た第２図に示すものと同様に、主走査区間１４は
マーク検出区間１５と画像読取区間１６とに分割
されていて、マークM1及びM2はマーク検出区間
１５内に記録されている。
た第２図に示すものと同様に、主走査区間１４は
マーク検出区間１５と画像読取区間１６とに分割
されていて、マークM1及びM2はマーク検出区間
１５内に記録されている。
第３図は第１図の実施例の動作を説明するため
の入力信号のタイミング図である。
の入力信号のタイミング図である。
第３図に示すように、第１図の実施例における
読取画信号７及びマーク検出区間信号８の各入力
信号は、画信号クロツク６に同期しており、第２
図に示す主走査区間１４の１周期の中で、マーク
検出区間信号８の幅に従つて、読取画信号７がマ
ーク検出区間１５と画像読取区間１６に分かれて
いる。
読取画信号７及びマーク検出区間信号８の各入力
信号は、画信号クロツク６に同期しており、第２
図に示す主走査区間１４の１周期の中で、マーク
検出区間信号８の幅に従つて、読取画信号７がマ
ーク検出区間１５と画像読取区間１６に分かれて
いる。
以下に、第１図の実施例の動作について第２図
及び第３図を参照して説明する。
及び第３図を参照して説明する。
第１図において、入力された読取画信号７は排
他的論理和回路２でROM１からの読出データ１
１と、マーク検出区間信号８によりマーク検出区
間１５内でのみ比較され、両データが一致しない
とき排他的論理和回路２から誤り信号９が出力さ
れ、カウンタ４が誤り信号９の回数を計数する。
他的論理和回路２でROM１からの読出データ１
１と、マーク検出区間信号８によりマーク検出区
間１５内でのみ比較され、両データが一致しない
とき排他的論理和回路２から誤り信号９が出力さ
れ、カウンタ４が誤り信号９の回数を計数する。
カウンタ４には予め誤り判定値Qnが設定され
ていて、マーク検出区間信号８内で計数結果が誤
り判定値Qnに達すると、その読取画信号７はマ
ークを読取つた信号でないと判定する非マーク判
定信号１０を出力する。
ていて、マーク検出区間信号８内で計数結果が誤
り判定値Qnに達すると、その読取画信号７はマ
ークを読取つた信号でないと判定する非マーク判
定信号１０を出力する。
非マーク判定信号１０はAND回路５を通して
次の主走査ラインにおけるマーク検出区間信号８
の立上り時に、アドレスカウンタ３及びカウンタ
４を初期値に設定し、次の検出動作が開始され
る。
次の主走査ラインにおけるマーク検出区間信号８
の立上り時に、アドレスカウンタ３及びカウンタ
４を初期値に設定し、次の検出動作が開始され
る。
アドレスカウンタ３は、マーク検出区間信号８
の期間、画信号クロツク６を計数してROM１の
読出アドレスを発生し、読取画信号７との比較デ
ータである読出データ１１とマーク検出完了を示
すマーク検出信号１２を出力させる。
の期間、画信号クロツク６を計数してROM１の
読出アドレスを発生し、読取画信号７との比較デ
ータである読出データ１１とマーク検出完了を示
すマーク検出信号１２を出力させる。
この場合、上述した非マーク判定信号１０が発
生する以前にマーク検出信号１２が出力されれ
ば、マーク検出完了とみなすものであり、マーク
検出信号１２は次に述べる画信号比較の後のアド
レスとしてROM１に設定される。
生する以前にマーク検出信号１２が出力されれ
ば、マーク検出完了とみなすものであり、マーク
検出信号１２は次に述べる画信号比較の後のアド
レスとしてROM１に設定される。
第４図は第１図のROMに格納されるパターン
データの配置図である。
データの配置図である。
第４図に示すように、マーク検出区間信号８は
１主走査ライン分がｌ（但し、ｌ＝１mm当りの画
信号クロツク数×マーク検出区間長）ビツトから
成り、そのうちｎビツト目からｍ（０＜ｎ＜ｍ＜
ｌ）ビツト目までが、第２図に示すマークM1及
びM2の主走査方向Ｘの長さに対応する。
１主走査ライン分がｌ（但し、ｌ＝１mm当りの画
信号クロツク数×マーク検出区間長）ビツトから
成り、そのうちｎビツト目からｍ（０＜ｎ＜ｍ＜
ｌ）ビツト目までが、第２図に示すマークM1及
びM2の主走査方向Ｘの長さに対応する。
又、第２図に示すマークM1及びM2の副走査方
向Ｙの幅に対応する主走査ライン数が（ｋ＋１）
本（但し、ｋ≧０の整数）の場合を示し、第４図
において太線で囲つた部分がマークM1及びM2に
対応するパターンデータである。
向Ｙの幅に対応する主走査ライン数が（ｋ＋１）
本（但し、ｋ≧０の整数）の場合を示し、第４図
において太線で囲つた部分がマークM1及びM2に
対応するパターンデータである。
従つて、ROM１への読出アドレスが（ｋ＋
１）ｎ〜（ｋ＋１）ｍで黒を示す論理“１”の読
出データ１１がROM１から出力される。なお、
マーク検出信号１２は読出アドレスが（ｋ＋１）
ｌ−１より大きいアドレスで出力させる。
１）ｎ〜（ｋ＋１）ｍで黒を示す論理“１”の読
出データ１１がROM１から出力される。なお、
マーク検出信号１２は読出アドレスが（ｋ＋１）
ｌ−１より大きいアドレスで出力させる。
以上述べたように、本実施例ではマーク検出区
間の位置を主走査区間の初めにしたが、主走査区
間の終りでもよく、かつ、マークの形状は長方形
でなく、丸、だ円等任意の形状でよいことは言う
までもない。
間の位置を主走査区間の初めにしたが、主走査区
間の終りでもよく、かつ、マークの形状は長方形
でなく、丸、だ円等任意の形状でよいことは言う
までもない。
以上説明したように本発明のスキヤナのマーク
検出回路は、原稿に記録したマークに対応したパ
ターンデータをメモリに格納しておき、メモリか
ら読出したパターンデータと原稿上のマークを読
取つたデータとを比較することにより、マークの
形状及び大きさによりマークか否かを判定できる
ので、マーク検出区間における原稿の汚れに起因
する誤検出を防止できるという効果がある。
検出回路は、原稿に記録したマークに対応したパ
ターンデータをメモリに格納しておき、メモリか
ら読出したパターンデータと原稿上のマークを読
取つたデータとを比較することにより、マークの
形状及び大きさによりマークか否かを判定できる
ので、マーク検出区間における原稿の汚れに起因
する誤検出を防止できるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例のブロツク図、第２
図は一般的なマーク入り原稿の平面図、第３図は
第１図の実施例の動作を説明するための入力信号
のタイミング図、第４図は第１図のROMに格納
されるパターンデータの配置図である。 １……ROM、２……排他的論理和回路、３…
…アドレスカウンタ、４……カウンタ、５……
AND回路、６……画信号クロツク、７……読取
画信号、８……マーク検出区間信号、９……誤り
信号、１０……非マーク判定信号、１１……読出
データ、１２……マーク検出信号、１３……原
稿、１４……主走査区間、１５……マーク検出区
間、１６……画像読取区間、M1，M2……マー
ク。
図は一般的なマーク入り原稿の平面図、第３図は
第１図の実施例の動作を説明するための入力信号
のタイミング図、第４図は第１図のROMに格納
されるパターンデータの配置図である。 １……ROM、２……排他的論理和回路、３…
…アドレスカウンタ、４……カウンタ、５……
AND回路、６……画信号クロツク、７……読取
画信号、８……マーク検出区間信号、９……誤り
信号、１０……非マーク判定信号、１１……読出
データ、１２……マーク検出信号、１３……原
稿、１４……主走査区間、１５……マーク検出区
間、１６……画像読取区間、M1，M2……マー
ク。
Claims (1)
- １ 原稿上の主走査区間をマークが記録されるマ
ーク検出区間と画像が記録される画像読取区間と
に設定し、予め格納された前記マークに対応する
パターンデータの読出データ及び前記マークの検
出完了を示すマーク検出信号を入力の読出アドレ
スにより出力するメモリと、前記メモリから読み
出された読出データと前記マークを読取つた読取
画信号とを比較し両者が一致しないとき誤り信号
を出力する比較回路と、前記誤り信号の計数結果
が予め設定する値に達したとき非マーク判定信号
を出力するマーク判定回路と、前記メモリが所定
回数の前記読出データを出力中に前記非マーク判
定信号が入力されないとき前記メモリにマーク検
出信号を出力させ前記非マーク判定信号が入力さ
れたとき読出アドレスを初期値から出力するアド
レスカウンタとを有することを特徴とするスキヤ
ナのマーク検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61184812A JPS6340452A (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | スキヤナのマ−ク検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61184812A JPS6340452A (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | スキヤナのマ−ク検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6340452A JPS6340452A (ja) | 1988-02-20 |
| JPH0564905B2 true JPH0564905B2 (ja) | 1993-09-16 |
Family
ID=16159718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61184812A Granted JPS6340452A (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | スキヤナのマ−ク検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6340452A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6344868B1 (en) | 1997-07-23 | 2002-02-05 | Tdk Corporation | Thermal head and method of manufacturing the same |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2487350A (en) * | 2011-01-11 | 2012-07-25 | 3M Innovative Properties Co | Method of detecting a fault on an imaging device |
-
1986
- 1986-08-05 JP JP61184812A patent/JPS6340452A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6344868B1 (en) | 1997-07-23 | 2002-02-05 | Tdk Corporation | Thermal head and method of manufacturing the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6340452A (ja) | 1988-02-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |