JPH0563806A - デイジタルハイウエイインタフエース試験方式 - Google Patents
デイジタルハイウエイインタフエース試験方式Info
- Publication number
- JPH0563806A JPH0563806A JP3217702A JP21770291A JPH0563806A JP H0563806 A JPH0563806 A JP H0563806A JP 3217702 A JP3217702 A JP 3217702A JP 21770291 A JP21770291 A JP 21770291A JP H0563806 A JPH0563806 A JP H0563806A
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- JP
- Japan
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- test
- data
- tested
- speed
- equipment
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【構成】被試験Ａ装置１０を試験装置１に接続して試験
するときは、試験装置１の試験データ送出部３０からデ
ータ長がＡビットの試験データをＩＮＦＡ１１の実際の
使用時のデータ速度とは異なるデータ速度ｃビット／秒
でＩＮＦＡ１１に送出して試験を行う。また被試験Ｂ装
置２０を試験するときは、同様にデータ長がＢビットの
試験データをＩＮＦＢ２１の実際の使用時のデータ速度
とは異なるデータ速度ｃビット／秒でＩＮＦＢ２１に送
出して試験を行う。 【効果】被試験装置のデータ構成およびデータ速度の種
類毎に合わせた被試験装置対応の試験装置を用意する必
要がなく、データ構成を可変できる１種類の試験装置を
用意すれば良い。
するときは、試験装置１の試験データ送出部３０からデ
ータ長がＡビットの試験データをＩＮＦＡ１１の実際の
使用時のデータ速度とは異なるデータ速度ｃビット／秒
でＩＮＦＡ１１に送出して試験を行う。また被試験Ｂ装
置２０を試験するときは、同様にデータ長がＢビットの
試験データをＩＮＦＢ２１の実際の使用時のデータ速度
とは異なるデータ速度ｃビット／秒でＩＮＦＢ２１に送
出して試験を行う。 【効果】被試験装置のデータ構成およびデータ速度の種
類毎に合わせた被試験装置対応の試験装置を用意する必
要がなく、データ構成を可変できる１種類の試験装置を
用意すれば良い。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はディジタルハイウェイイ
ンタフェース試験方式に関し、特に電話交換機を構成す
る被試験装置とその試験装置との間のディジタルハイウ
ェイインタフェース試験方式に関する。
ンタフェース試験方式に関し、特に電話交換機を構成す
る被試験装置とその試験装置との間のディジタルハイウ
ェイインタフェース試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のディジタルハイウェイインタフェ
ース試験方式は、被試験装置のディジタルハイウェイイ
ンタフェースのデータ構成およびデータ速度を実際に使
用する状態と全く同一にして試験を行っている。
ース試験方式は、被試験装置のディジタルハイウェイイ
ンタフェースのデータ構成およびデータ速度を実際に使
用する状態と全く同一にして試験を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のディジタル
ハイウェイインタフェース試験方式では、被試験装置対
応にそのディジタルハイウェイインタフェースのデータ
構成およびデータ速度と合わせたデータ構成およびデー
タ速度の複数種の試験装置を用意して試験をしなければ
ならないという問題点があった。
ハイウェイインタフェース試験方式では、被試験装置対
応にそのディジタルハイウェイインタフェースのデータ
構成およびデータ速度と合わせたデータ構成およびデー
タ速度の複数種の試験装置を用意して試験をしなければ
ならないという問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のディジタルハイ
ウェイインタフェース試験方式は、試験装置がディジタ
ルハイウェイインタフェースを持つ被試験装置に送出す
る試験データの速度のみを実際の使用時の速度と異なる
速度で送出する手段を備えている。
ウェイインタフェース試験方式は、試験装置がディジタ
ルハイウェイインタフェースを持つ被試験装置に送出す
る試験データの速度のみを実際の使用時の速度と異なる
速度で送出する手段を備えている。
【０００５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明のディジタルハイウェイインタフェー
ス方式の一実施例を示すブロック図、図２は図１におけ
るディジタルハイウェイインタフェースのデータ構成と
データ速度の例を示す図である。
る。図１は本発明のディジタルハイウェイインタフェー
ス方式の一実施例を示すブロック図、図２は図１におけ
るディジタルハイウェイインタフェースのデータ構成と
データ速度の例を示す図である。
【０００６】図１に示すように本実施例では、試験装置
１はディジタルハイウェイＡインタフェース（以下ＩＮ
ＦＡ）１１を持つ被試験Ａ装置１０を試験し、次にディ
ジタルハイウェイＢインタフェース（以下ＩＮＦＢ）２
１を持つ被試験Ｂ装置２０を試験するものとする。な
お、図２（ａ）に示すようにＩＮＦＡ１１の実際の使用
時のデータ長はＡビット、データ速度はａビット／秒で
あり、図２（ｃ）に示すようにＩＮＦＢ２１の実際の使
用時のデータ長はＢビット、データ速度はｂビット／秒
であるとする。
１はディジタルハイウェイＡインタフェース（以下ＩＮ
ＦＡ）１１を持つ被試験Ａ装置１０を試験し、次にディ
ジタルハイウェイＢインタフェース（以下ＩＮＦＢ）２
１を持つ被試験Ｂ装置２０を試験するものとする。な
お、図２（ａ）に示すようにＩＮＦＡ１１の実際の使用
時のデータ長はＡビット、データ速度はａビット／秒で
あり、図２（ｃ）に示すようにＩＮＦＢ２１の実際の使
用時のデータ長はＢビット、データ速度はｂビット／秒
であるとする。
【０００７】次に本実施例の動作について説明する。被
試験Ａ装置１０を試験装置１に接続して試験するとき
は、試験装置１の試験データ送出部３０から図２（ｂ）
に示すデータ長がＡビット（図２（ａ）に示すデータ長
と同じ）の試験データをデータ速度ｃビット／秒でＩＮ
ＦＡ１１に送出して試験を行う。また被試験Ｂ装置２０
を試験するときは、同様に図２（ｄ）に示すデータ長が
Ｂビット（図２（ｃ）に示すデータ長と同じ）の試験デ
ータをデータ速度ｃビット／秒でＩＮＦＢ２１に送出し
て試験を行う。
試験Ａ装置１０を試験装置１に接続して試験するとき
は、試験装置１の試験データ送出部３０から図２（ｂ）
に示すデータ長がＡビット（図２（ａ）に示すデータ長
と同じ）の試験データをデータ速度ｃビット／秒でＩＮ
ＦＡ１１に送出して試験を行う。また被試験Ｂ装置２０
を試験するときは、同様に図２（ｄ）に示すデータ長が
Ｂビット（図２（ｃ）に示すデータ長と同じ）の試験デ
ータをデータ速度ｃビット／秒でＩＮＦＢ２１に送出し
て試験を行う。
【０００８】つまり、本実施例では、各ディジタルハイ
ウェイインタフェースの実際の使用時のデータ構成（デ
ータ長）と同じデータ構成の試験データを実際の使用時
のデータ速度とは異なるデータ速度（どのディジタルハ
イウェイインタフェースの試験時も同じ速度）ｃビット
／秒で送出して試験を行う。
ウェイインタフェースの実際の使用時のデータ構成（デ
ータ長）と同じデータ構成の試験データを実際の使用時
のデータ速度とは異なるデータ速度（どのディジタルハ
イウェイインタフェースの試験時も同じ速度）ｃビット
／秒で送出して試験を行う。
【０００９】このようにすると、被試験Ａ装置１０，被
試験Ｂ装置２０を試験する場合に、それぞれデータ長Ａ
ビット，Ｂビットの試験データを同一のデータ速度ｃビ
ット／秒で送出すればよいことになり、各種のディジタ
ルハイウェイインタフェースに対応することができる。
試験Ｂ装置２０を試験する場合に、それぞれデータ長Ａ
ビット，Ｂビットの試験データを同一のデータ速度ｃビ
ット／秒で送出すればよいことになり、各種のディジタ
ルハイウェイインタフェースに対応することができる。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ディジタ
ルハイウェイインタフェースを持つ被試験装置に対して
送出する試験データのデータ構成をディジタルハイウェ
イインタフェースの実際使用時のデータ構成と同じと
し、データ速度のみを実際使用時の速度と異なる速度で
送出して試験するようにしたので、被試験装置のデータ
構成およびデータ速度の種類毎に合わせた被試験装置対
応の試験装置を用意する必要がなく、データ構成を可変
できる１種類の試験装置を用意すれば良いばかりでな
く、今後のディジタルハイウェイインタフェースのデー
タ速度の高速化に対してもデータ速度を下げることによ
り容易に対応ができるという効果を有する。
ルハイウェイインタフェースを持つ被試験装置に対して
送出する試験データのデータ構成をディジタルハイウェ
イインタフェースの実際使用時のデータ構成と同じと
し、データ速度のみを実際使用時の速度と異なる速度で
送出して試験するようにしたので、被試験装置のデータ
構成およびデータ速度の種類毎に合わせた被試験装置対
応の試験装置を用意する必要がなく、データ構成を可変
できる１種類の試験装置を用意すれば良いばかりでな
く、今後のディジタルハイウェイインタフェースのデー
タ速度の高速化に対してもデータ速度を下げることによ
り容易に対応ができるという効果を有する。
【図１】本発明のディジタルハイウェイインタフェース
方式の一実施例を示すブロック図である。
方式の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１におけるディジタルハイウェイインタフェ
ースのデータ構成とデータ速度の例を示す図である。
ースのデータ構成とデータ速度の例を示す図である。
１ 試験装置 １０ 被試験Ａ装置 １１ ディジタルハイウェイＡインタフェース（ＩＮ
ＦＡ） ２０ 被試験Ｂ装置 ２１ ディジタルハイウェイＢインタフェース（ＩＮ
ＦＢ） ３０ 試験データ送出部
ＦＡ） ２０ 被試験Ｂ装置 ２１ ディジタルハイウェイＢインタフェース（ＩＮ
ＦＢ） ３０ 試験データ送出部
Claims (1)
- 【請求項１】 試験装置はディジタルハイウェイインタ
フェースを持つ被試験装置に送出する試験データの速度
のみを実際の使用時の速度と異なる速度で送出する手段
を備えることを特徴とするディジタルハイウェイインタ
フェース試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3217702A JPH0563806A (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | デイジタルハイウエイインタフエース試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3217702A JPH0563806A (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | デイジタルハイウエイインタフエース試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0563806A true JPH0563806A (ja) | 1993-03-12 |
Family
ID=16708394
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3217702A Pending JPH0563806A (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | デイジタルハイウエイインタフエース試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0563806A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7412863B2 (en) | 2001-06-20 | 2008-08-19 | Amada Co., Ltd. | Work positioning device |
-
1991
- 1991-08-29 JP JP3217702A patent/JPH0563806A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7412863B2 (en) | 2001-06-20 | 2008-08-19 | Amada Co., Ltd. | Work positioning device |
| US7610785B2 (en) | 2001-06-20 | 2009-11-03 | Amada Co., Ltd. | Work positioning device |
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