JPH0561766B2 - - Google Patents

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JPH0561766B2
JPH0561766B2 JP13253887A JP13253887A JPH0561766B2 JP H0561766 B2 JPH0561766 B2 JP H0561766B2 JP 13253887 A JP13253887 A JP 13253887A JP 13253887 A JP13253887 A JP 13253887A JP H0561766 B2 JPH0561766 B2 JP H0561766B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
metallized
capacitor
film
oxide insulator
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP13253887A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63296324A (ja
Inventor
Koreyasu Nishikawa
Shinsuke Itoi
Kenji Ishida
Minoru Kikuchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP13253887A priority Critical patent/JPS63296324A/ja
Publication of JPS63296324A publication Critical patent/JPS63296324A/ja
Publication of JPH0561766B2 publication Critical patent/JPH0561766B2/ja
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電子機器・電気機器に用いられる安
全機能を具備したコンデンサに関するものであ
る。
従来の技術 電子機器・電気機器の高集積化に伴ない、それ
を構成する電子部品には従来以上に品質の安定、
小型化、そして安全性が求められるようになつて
きた。この流れの中でコンデンサの安全対策とし
ては従来次の3通りがある。
(1) 素子絶縁破壊のアーク等によるケース内圧の
上昇、それによるケース変形を利用して内部リ
ード線の一部を切断して、素子を外部回路から
切り離す方式。
(2) コンデンサ素子に直列にヒユーズを取り付け
ておき、素子絶縁破壊の過電流により、ヒユー
ズが切断して、素子を外部回路から切り離す方
式。
(3) 蒸着電極面を多数の小区画に区分し、異常時
にその区間のみを切り離して異常部分の拡大を
防ぐ方式。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記(1)(2)の方式においては、安全
性は確保できるものの、形状が大きくなつたり、
コストが高くなつてしまうため、限られた用途に
のみ用いられていた。
また(3)の方式においては、小区画に区分するた
め、金属化膜を形成する時点でマスクを用いた
り、あらかじめ均一に金属化された金属化膜を取
り除いたりする工程が必要となり、コスト高とな
る。また小形部品においては、小区画に区分する
高度な精度が求められると同時に、電極全体に占
める分割線の面積の割合が多くなり、小型化には
不向きである。
本発明は、このような従来の欠点に鑑み、小形
でしかも安全性の高いコンデンサを提供するもの
である。
問題点を解決するための手段 この問題点を解決するために、本発明のコンデ
ンサは、基板の少なくとも片面に、第1層として
金属化電極被膜、第2層として金属化酸化物絶縁
体被膜、第3層として金属化電極被膜を設けた構
造となつている。
作 用 本発明のコンデンサによれば、第1層と第3層
の金属化被膜電極を通じて第2層の金属化酸化物
絶縁体被膜に異常な電圧が印加されると、第2層
の金属化酸化物絶縁体被膜は絶縁破壊を起こし、
網目状のクラツクが多数入り破壊する。この時
に、第1層・第3層の金属化電極被膜も同時に、
その影響でクラツクが入り、この第1層・第3層
の金属化電極被膜に電流が流れなくなり、コンデ
ンサ全体がオープン状態となり、発煙発火などの
事故を防ぐことができる、すなわち、安全機能を
持たせることができる。
また、第1、第2、第3層は、それぞれ蒸着・
スパツタリング等により、非常に薄膜であるた
め、コンデンサも小形化が可能となる。
実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照し
ながら説明する。第1図に本発明の一実施例によ
るコンデンサの構造の概略図を示す。1はポリエ
ステルフイルム、2はアルミニウムの真空蒸着法
で形成した第1層の金属化電極被膜、3は酸化ア
ルミニウムの真空蒸着法で形成した第2層の金属
化酸化物絶縁体被膜、4はアルミニウムの真空蒸
着法で形成した第3層の金属化電極被膜である。
このコンデンサに定格電圧の3倍の電圧を1分間
印加する耐圧試験を行なつた。その結果、試験を
行なつた全てのコンデンサにおいて発煙発火は生
じなかつた。第2図a,bにこの耐圧試験後のコ
ンデンサの構造の概略図を示す。なお、第2図b
は第2図aのA部の拡大図である。第1層の金属
化電極被膜2、第2層の金属化酸化物絶縁体被膜
3、第3層の金属化電極被膜4に多数の網目状の
クラツク5が発生しているのが解る。
本発明においては、安全機能が得られるように
することを目的として種々の検討を行なつた結
果、第1層及び第3層の金属化電極被膜の厚みを
50〜1000Å、第2層の金属化酸化物絶縁体被膜の
厚みを200〜5000Åとすれば最もよいとの結果を
見出した。
この第2層の金属化酸化絶縁被膜は、異常時に
破壊し、網目状のクラツクが発生しやすく、かつ
誘電体として十分絶縁が保てるように、また第1
層及び第3層の金属化酸化絶縁被膜は、異常に発
生する第2層が破壊し網目状のクラツクが入るそ
の力によつて引き破られやすく、かつ電極として
十分導電性があることを考慮して、本発明の最大
のポイントである安全機能が100%発揮できる第
1層及び第3層の金属化電極被膜、第2層の金属
化酸化物絶縁体被膜の厚みにつき種々検討した結
果を第3図、第4図に示す。第3図、第4図の安
全確保率とは、室温〜100℃の雰囲気中でコンデ
ンサの定格電圧の3倍の電圧を1分間印加する耐
圧試験において、(発煙発火等の異状がなくコン
デンサが完全にオープン状態になつたコンデンサ
の台数)/(試験をした全コンデンサの台数)×
100である。
この第3図、第4図から明らかなように、第1
層及び第3層の金属化電極被膜の厚みを50〜1000
Å、第2層の金属化酸化物絶縁体被膜の厚みを
200〜5000Åとすれば、100%の安全性を確保する
ことができる。
なお、上記実施例においては、第2層の金属化
酸化物絶縁体被膜を酸化アルミニウムとしたが、
SiO2、Y2O3、Ta2O5、MgO等金属化酸化物絶縁
体であれば良い。また、基板の材質は上記実施例
では、ポリエステルフイルムとしたが、これに限
るものではなく、ポリプロピレン、ポリフエニレ
ンサルフイド、ポリイミド等でも良い。また、単
板コンデンサとしても良いが、このフイルムを巻
回又は積層して容量を大きくすることも可能であ
る。また、本実施例では、基板の片面のみに、第
1層、第3層の金属化電極被膜、第2層の金属化
酸化物絶縁体被膜を設けたが、基板の両面に、お
のおの第1層、第3層の金属化電極被膜、第2層
の金属化酸化物絶縁体被膜を設け、巻回又は積層
しても良い。
発明の効果 以上のように本発明のコンデンサは、基板の少
なくとも片面に、第1層として金属化電極被膜、
第2層として金属化酸化物絶縁体被膜、第3層と
して金属化電極被膜を設け、また前記第1層及び
第3層の金属化電極被膜の厚みが50〜1000Å、前
記第2層の金属化酸化物絶縁体被膜の厚みが200
〜5000Åであり、このコンデンサに異常な電圧が
印加されると、第2層の金属化酸化物絶縁体被膜
は絶縁破壊を起こし、網目状のクラツクが多数入
り破壊する。この時に、第1層、第3層の金属化
電極被膜も同時に、その影響でクラツクが入り、
この第1層、第3層の金属化電極被膜に電極が流
れなくなり、コンデンサ全体がオープン状態とな
り、発煙発火などの事故を防ぐことができる。す
なわち、安全機能を持たせることができる。ま
た、第1、第2、第3層は、それぞれ蒸着・スパ
ツタリング等により、非常に薄膜であるため小型
化がはかれる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるコンデンサの
要部構造の斜視図、第2図aは本発明によるコン
デンサの耐圧試験後の構造を示す斜視図、第2図
bは第2図aのA部の拡大図、第3図および第4
図はそれぞれ本発明のコンデンサの効果を説明す
るための特性図である。 1……ポリエステルフイルム、2……第1層の
金属化電極被膜、3……第2層の金属化酸化物絶
縁体被膜、4……第3層の金属化電極被膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基板の少なくとも片面に、第1層として金属
    化電極被膜、第2層として金属化酸化物絶縁体被
    膜、第3層として金属化電極被膜を設けたことを
    特徴とするコンデンサ。 2 第1属及び第3層の金属化電極被膜の厚みを
    50〜1000Å、第2層の金属化酸化物絶縁体被膜の
    厚みを200〜5000Åとしたことを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載のコンデンサ。 3 基板をプラスチツクフイルムとし、巻回又は
    積層したことを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載のコンデンサ。
JP13253887A 1987-05-28 1987-05-28 コンデンサ Granted JPS63296324A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13253887A JPS63296324A (ja) 1987-05-28 1987-05-28 コンデンサ

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JP13253887A JPS63296324A (ja) 1987-05-28 1987-05-28 コンデンサ

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Publication Number Publication Date
JPS63296324A JPS63296324A (ja) 1988-12-02
JPH0561766B2 true JPH0561766B2 (ja) 1993-09-07

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ID=15083619

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JP13253887A Granted JPS63296324A (ja) 1987-05-28 1987-05-28 コンデンサ

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US6283859B1 (en) * 1998-11-10 2001-09-04 Lord Corporation Magnetically-controllable, active haptic interface system and apparatus

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JPS63296324A (ja) 1988-12-02

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