JPH0560540B2 - - Google Patents
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- JPH0560540B2 JPH0560540B2 JP61223430A JP22343086A JPH0560540B2 JP H0560540 B2 JPH0560540 B2 JP H0560540B2 JP 61223430 A JP61223430 A JP 61223430A JP 22343086 A JP22343086 A JP 22343086A JP H0560540 B2 JPH0560540 B2 JP H0560540B2
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- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、フローサイトメータ等に使用され、
光ビームを流体中を流れる被検粒子に照射し、得
られる前方及び側方散乱光の信号を被検粒子と異
物とに区別する粒子解析装置に関するものであ
る。
光ビームを流体中を流れる被検粒子に照射し、得
られる前方及び側方散乱光の信号を被検粒子と異
物とに区別する粒子解析装置に関するものであ
る。
［従来の技術］
フローサイトメータとは、高速で流れる細胞浮
遊溶液、即ちサンプル液に例えばレーザー光を照
射し、その散乱光・蛍光による光信号を検出し、
細胞の性質・構造を解明する装置であり、細胞化
学、免疫学、血液学、腫瘍学、遺伝学等の分野で
使用されている。
遊溶液、即ちサンプル液に例えばレーザー光を照
射し、その散乱光・蛍光による光信号を検出し、
細胞の性質・構造を解明する装置であり、細胞化
学、免疫学、血液学、腫瘍学、遺伝学等の分野で
使用されている。
このフローサイトメータ等に用いられる従来の
粒子解析装置では、フローセルの中央部の例えば
200μｍ×200μｍの微小な四角形断面を有する流
通部内を、シース液に包まれて通過する血球細胞
などの被検粒子にレーザー光等の照射光を照射
し、その結果として生ずる前方及び側方散乱光に
より、被検粒子の形状・大きさ・屈折率等の粒子
的性質を得ることが可能である。また、蛍光剤に
より染色される被検粒子に対しては、照射光とほ
ぼ直角方向の側方散乱光から被検粒子の蛍光を検
出することにより、被検粒子を解析するための重
要な情報を求めることができる。
粒子解析装置では、フローセルの中央部の例えば
200μｍ×200μｍの微小な四角形断面を有する流
通部内を、シース液に包まれて通過する血球細胞
などの被検粒子にレーザー光等の照射光を照射
し、その結果として生ずる前方及び側方散乱光に
より、被検粒子の形状・大きさ・屈折率等の粒子
的性質を得ることが可能である。また、蛍光剤に
より染色される被検粒子に対しては、照射光とほ
ぼ直角方向の側方散乱光から被検粒子の蛍光を検
出することにより、被検粒子を解析するための重
要な情報を求めることができる。
そして、従来からこの種の装置は測定誤差の原
因となる塵埃などの微小な異物の混入を避けるた
めに、サンプル液・シース液に異物が混入しない
ようにメツシユの細かなフイルタを流路中に配置
するなどしていたが、それでも異物を完全に除去
することは難しい。
因となる塵埃などの微小な異物の混入を避けるた
めに、サンプル液・シース液に異物が混入しない
ようにメツシユの細かなフイルタを流路中に配置
するなどしていたが、それでも異物を完全に除去
することは難しい。
［発明の目的］
本発明の目的は、フイルタを使用しても除去不
能の異物を信号処理によつて除去して、被検粒子
と異物の判定を可能とする粒子解析装置を提供す
ることにある。
能の異物を信号処理によつて除去して、被検粒子
と異物の判定を可能とする粒子解析装置を提供す
ることにある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、
被検粒子に光を照射して発生する散乱光を検出し
て被検粒子の測定を行う装置において、前方散乱
光と側方散乱光を検出する検出手段と、被検粒子
と異物とを区別するための閾値を設定する設定手
段と、前記側方散乱光の検出値と前記閾値とを比
較し、この結果に応じて側方散乱光及び前方散乱
光の検出値が被検粒子によるものか異物によるも
のかを判別する判別手段とを有することを特徴と
する粒子解析装置である。
被検粒子に光を照射して発生する散乱光を検出し
て被検粒子の測定を行う装置において、前方散乱
光と側方散乱光を検出する検出手段と、被検粒子
と異物とを区別するための閾値を設定する設定手
段と、前記側方散乱光の検出値と前記閾値とを比
較し、この結果に応じて側方散乱光及び前方散乱
光の検出値が被検粒子によるものか異物によるも
のかを判別する判別手段とを有することを特徴と
する粒子解析装置である。
［発明の実施例］
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明の構成図を示し、１は鉛直方向
に流通部１ａを有するフローセルであり、このフ
ローセル１の上部にはフローチヤンバ２が設けら
れ、フローチヤンバ２にはシース液流入管３及び
サンプル液槽４からのサンプル液入管５が接続さ
れている。また、サンプル液槽４には空気管６が
接続され、サンプル液Ｓを押し出すようになつて
いる。フローセル１の片側にはレーザー光源７が
配置され、このレーザー光源７とフローセル１の
間にレーザー光を所定の結像ビームとする結像光
学系８が設けられ、フローセル１の反対側には前
方散乱光を検出するための集光レンズ９、光検出
器１０が配置されている。また、フローセル１の
側方、つまりレーザー光の光軸と直交する90°方
向には側方散乱光を検出するための集光レンズ１
１、光検出器１２が設けられている。
に流通部１ａを有するフローセルであり、このフ
ローセル１の上部にはフローチヤンバ２が設けら
れ、フローチヤンバ２にはシース液流入管３及び
サンプル液槽４からのサンプル液入管５が接続さ
れている。また、サンプル液槽４には空気管６が
接続され、サンプル液Ｓを押し出すようになつて
いる。フローセル１の片側にはレーザー光源７が
配置され、このレーザー光源７とフローセル１の
間にレーザー光を所定の結像ビームとする結像光
学系８が設けられ、フローセル１の反対側には前
方散乱光を検出するための集光レンズ９、光検出
器１０が配置されている。また、フローセル１の
側方、つまりレーザー光の光軸と直交する90°方
向には側方散乱光を検出するための集光レンズ１
１、光検出器１２が設けられている。
フローチヤンバ２は流体力学的フオーカス法を
行うためのものであり、層流条件が満足されてい
ればシース液に包まれたサンプル液がフローセル
１の流通部１ａの中心部を流れることになる。こ
のサンプル流中の被検粒子にレーザー光が照射さ
れて測定が行われる。このとき、シース液或いは
サンプル液中の異物は被検粒子と同様に散乱さ
れ、装置の検出精度に大きな影響を与えることに
なる。
行うためのものであり、層流条件が満足されてい
ればシース液に包まれたサンプル液がフローセル
１の流通部１ａの中心部を流れることになる。こ
のサンプル流中の被検粒子にレーザー光が照射さ
れて測定が行われる。このとき、シース液或いは
サンプル液中の異物は被検粒子と同様に散乱さ
れ、装置の検出精度に大きな影響を与えることに
なる。
第２図ａ，ｂはそれぞれ前方散乱光、側方散乱
光を検出した場合のヒストグラムであり、横軸は
検出光量、縦軸は計数値を示している。この場合
に異物は不透過性の球状とし、被検粒子は透明な
球状のものと仮定すると、ほぼ中央のピークＡは
被検粒子によるものであるが、光量の少ない側で
のカーブＢは異物によるものである。被検粒子と
異物はａの前方散乱光ヒストグラムではその区別
は明確ではないが、ｂの側方散乱光ヒストグラム
では明確に区別可能となる。従つて、ｂの閾値
Thのところでゲートを設定することにより、側
方散乱光が閾値Th以下のものは除去し、この信
号と対応する前方散乱光をも除去すると、前方散
乱光においても被検粒子のみのデータが得られる
ことになる。
光を検出した場合のヒストグラムであり、横軸は
検出光量、縦軸は計数値を示している。この場合
に異物は不透過性の球状とし、被検粒子は透明な
球状のものと仮定すると、ほぼ中央のピークＡは
被検粒子によるものであるが、光量の少ない側で
のカーブＢは異物によるものである。被検粒子と
異物はａの前方散乱光ヒストグラムではその区別
は明確ではないが、ｂの側方散乱光ヒストグラム
では明確に区別可能となる。従つて、ｂの閾値
Thのところでゲートを設定することにより、側
方散乱光が閾値Th以下のものは除去し、この信
号と対応する前方散乱光をも除去すると、前方散
乱光においても被検粒子のみのデータが得られる
ことになる。
第３図はこの閾値Thを用いて検体粒子と異物
を選別するための回路構成図である。側方散乱光
用の光検出器１２の出力は前置増幅器２０、積分
回路２１を経て、判別回路２２とＡ／Ｄ変換器２
３に並列して接続されている。また、前方散乱光
用の光検出器１０の出力は前置増幅器２４、積分
回路２５を経てＡ／Ｄ変換器２６に接続されてい
る。判別回路２２の出力はＡ／Ｄ変換器２３，２
６に接続されＡ／Ｄ変換器２３，２６を作動させ
るようにし、判別回路２２に閾値Thを設定する
ための設定回路２７が接続されている。また、
Ａ／Ｄ変換器２３，２６の出力はデータ転送部２
８に接続され、解析用コンピユータに転送される
ようになつている。
を選別するための回路構成図である。側方散乱光
用の光検出器１２の出力は前置増幅器２０、積分
回路２１を経て、判別回路２２とＡ／Ｄ変換器２
３に並列して接続されている。また、前方散乱光
用の光検出器１０の出力は前置増幅器２４、積分
回路２５を経てＡ／Ｄ変換器２６に接続されてい
る。判別回路２２の出力はＡ／Ｄ変換器２３，２
６に接続されＡ／Ｄ変換器２３，２６を作動させ
るようにし、判別回路２２に閾値Thを設定する
ための設定回路２７が接続されている。また、
Ａ／Ｄ変換器２３，２６の出力はデータ転送部２
８に接続され、解析用コンピユータに転送される
ようになつている。
側方及び前方散乱光はそれぞれ検出器１２，１
０で光電信号に変換され、前置増幅器２０，２４
で増幅された後に、積分回路２１，２５で積分或
いはビークホールドという形で解析のための信号
レベルに変換され、Ａ／Ｄ変換器２３，２６へそ
れぞれ送りこまれる。Ａ／Ｄ変換後のデータはデ
ータ転送部２８を経て解析用コンピユータに転送
される。
０で光電信号に変換され、前置増幅器２０，２４
で増幅された後に、積分回路２１，２５で積分或
いはビークホールドという形で解析のための信号
レベルに変換され、Ａ／Ｄ変換器２３，２６へそ
れぞれ送りこまれる。Ａ／Ｄ変換後のデータはデ
ータ転送部２８を経て解析用コンピユータに転送
される。
ここで、積分回路２１の出力が設定回路２７で
設定された閾値Thよりも出力レベルが低いと判
別回路２２で判別されれば、判別回路２２はＡ／
Ｄ変換器２３，２６に指令してＡ／Ｄ変換を実行
しないようにする。このようにして、側方散乱光
が一定レベル以上であれば、Ａ／Ｄ変換器２３，
２６はＡ／Ｄ変換を実行し、データ解析用コンピ
ユータにデータが送られ、第４図ａ，ｂのヒスト
グラムに示すピークＡのように異物を除去した被
検粒子のみのデータが得られることになる。
設定された閾値Thよりも出力レベルが低いと判
別回路２２で判別されれば、判別回路２２はＡ／
Ｄ変換器２３，２６に指令してＡ／Ｄ変換を実行
しないようにする。このようにして、側方散乱光
が一定レベル以上であれば、Ａ／Ｄ変換器２３，
２６はＡ／Ｄ変換を実行し、データ解析用コンピ
ユータにデータが送られ、第４図ａ，ｂのヒスト
グラムに示すピークＡのように異物を除去した被
検粒子のみのデータが得られることになる。
なお、上述の実施例においては、異物のデータ
は除去し被検粒子のみのデータを得るようにした
が、異物についても計測を行い、異物と被検粒子
を区別してそれぞれのデータを得るようにしても
よい。また、吸収性の強い粒子、或いは透過性の
弱い粒子の例えば濃度、色素量の判定にも閾値
Thのレベルを変えることにより使用できる。
は除去し被検粒子のみのデータを得るようにした
が、異物についても計測を行い、異物と被検粒子
を区別してそれぞれのデータを得るようにしても
よい。また、吸収性の強い粒子、或いは透過性の
弱い粒子の例えば濃度、色素量の判定にも閾値
Thのレベルを変えることにより使用できる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置
は、側方散乱光のデータを基に被検粒子と異物の
区別を行い、異物の混入のない被検粒子のデータ
が得ることができる。
は、側方散乱光のデータを基に被検粒子と異物の
区別を行い、異物の混入のない被検粒子のデータ
が得ることができる。
図面は本発明に係る粒子解析装置の実施例を示
し、第１図はその光学的構成図、第２図ａ，ｂは
異物信号除去前の前方散乱光と側方散乱光のヒス
トグラム、第３図は信号処理のためのブロツク回
路構成図、第４図ａ，ｂは異物信号除去後の前方
散乱光と側方散乱光のヒストグラムである。 符号１はフローセル、２はフローチヤンバ、７
はレーザー光源、８は結像光学系、９，１１は集
光レンズ、１０，１２は光検出器、２０，２４は
前置増幅器、２１，２５は積分回路、２２は判定
回路、２３，２６はＡ／Ｄ変換器、２７は設定回
路である。
し、第１図はその光学的構成図、第２図ａ，ｂは
異物信号除去前の前方散乱光と側方散乱光のヒス
トグラム、第３図は信号処理のためのブロツク回
路構成図、第４図ａ，ｂは異物信号除去後の前方
散乱光と側方散乱光のヒストグラムである。 符号１はフローセル、２はフローチヤンバ、７
はレーザー光源、８は結像光学系、９，１１は集
光レンズ、１０，１２は光検出器、２０，２４は
前置増幅器、２１，２５は積分回路、２２は判定
回路、２３，２６はＡ／Ｄ変換器、２７は設定回
路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検粒子に光を照射して発生する散乱光を検
出して被検粒子の測定を行う装置において、前方
散乱光と側方散乱光を検出する検出手段と、被検
粒子と異物とを区別するための閾値を設定する設
定手段と、前記側方散乱光の検出値と前記閾値と
を比較し、この結果を応じて側方散乱光及び前方
散乱光の検出値が被検粒子によるものか異物によ
るものかを判別する判別手段とを有することを特
徴とする粒子解析装置。 ２ 前記判別手段は、側方散乱光の検出値が閾値
以上であるとき、側方散乱光及び前方散乱光の検
出値を被検粒子の信号とする特許請求の範囲第１
項に記載の粒子解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61223430A JPS6378047A (ja) | 1986-09-20 | 1986-09-20 | 粒子解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61223430A JPS6378047A (ja) | 1986-09-20 | 1986-09-20 | 粒子解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6378047A JPS6378047A (ja) | 1988-04-08 |
| JPH0560540B2 true JPH0560540B2 (ja) | 1993-09-02 |
Family
ID=16798020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61223430A Granted JPS6378047A (ja) | 1986-09-20 | 1986-09-20 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6378047A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0251044A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-21 | Omron Tateisi Electron Co | 細胞分析装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3824402A (en) * | 1973-06-04 | 1974-07-16 | Energy Commission | Dual parameter flow photometric apparatus and method |
| JPS5616872A (en) * | 1979-07-13 | 1981-02-18 | Ortho Diagnostics | Automatized identification and counting method of and apparatus for subclass of specified blood cell |
-
1986
- 1986-09-20 JP JP61223430A patent/JPS6378047A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3824402A (en) * | 1973-06-04 | 1974-07-16 | Energy Commission | Dual parameter flow photometric apparatus and method |
| JPS5616872A (en) * | 1979-07-13 | 1981-02-18 | Ortho Diagnostics | Automatized identification and counting method of and apparatus for subclass of specified blood cell |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6378047A (ja) | 1988-04-08 |
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| JPH03221836A (ja) | 粒子解析装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |