JPH0556870B2 - - Google Patents
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- JPH0556870B2 JPH0556870B2 JP60250089A JP25008985A JPH0556870B2 JP H0556870 B2 JPH0556870 B2 JP H0556870B2 JP 60250089 A JP60250089 A JP 60250089A JP 25008985 A JP25008985 A JP 25008985A JP H0556870 B2 JPH0556870 B2 JP H0556870B2
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- 229920000747 poly(lactic acid) Polymers 0.000 description 38
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/10—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
- H01L27/118—Masterslice integrated circuits
- H01L27/11803—Masterslice integrated circuits using field effect technology
- H01L27/11807—CMOS gate arrays
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はマスタースライス基板、特にプログラ
マブルロジツクアレイとゲートアレイを融合化
し、かつ能動層が2層であるCMOS型のマスタ
ースライス基板に関する。
マブルロジツクアレイとゲートアレイを融合化
し、かつ能動層が2層であるCMOS型のマスタ
ースライス基板に関する。
(従来の技術)
従来、半導体集積回路で用いられている
CMOS型のプログラマブルロジツクアレイ(以
下PLAと略す)の構造は、第8図に示す様に
AND平面85とOR平面87から構成されてい
る。AND平面85はNMOSFET群107と
PMOSFET群105から構成されている。同様
にOR平面87もNMOSFET群108と
PMOSFET群106から構成されている。又、
この場合PLAの入力線84と積項線86が、又
積項線86と出力線88が直交していた。(アー
ル・エツチ・クランベツク、ジヤーナル・オブ・
ソリツド−ステート・サーキツト、:R.H.
KRAM BECK、Journal of Solid−State
Circuits、Vol.sc−17、No.3、pp614−619 June
1982) 又、PLAで順序回路を構成する場合、第9図
のように出力レジスタ89からの出力の一部10
0を直接入力レジスタ83にフイードバツクする
方法があつた。又この場合には、レジスタ83,
89の部分に特定のフリツプ・フロツプ等をあら
かじめ設計しておく必要がある。
CMOS型のプログラマブルロジツクアレイ(以
下PLAと略す)の構造は、第8図に示す様に
AND平面85とOR平面87から構成されてい
る。AND平面85はNMOSFET群107と
PMOSFET群105から構成されている。同様
にOR平面87もNMOSFET群108と
PMOSFET群106から構成されている。又、
この場合PLAの入力線84と積項線86が、又
積項線86と出力線88が直交していた。(アー
ル・エツチ・クランベツク、ジヤーナル・オブ・
ソリツド−ステート・サーキツト、:R.H.
KRAM BECK、Journal of Solid−State
Circuits、Vol.sc−17、No.3、pp614−619 June
1982) 又、PLAで順序回路を構成する場合、第9図
のように出力レジスタ89からの出力の一部10
0を直接入力レジスタ83にフイードバツクする
方法があつた。又この場合には、レジスタ83,
89の部分に特定のフリツプ・フロツプ等をあら
かじめ設計しておく必要がある。
(発明が解決しようとする問題点)
上述した従来のPLAは、入力数、積項数、出
力数等によつて、回路の規模が変化すると、その
形状が二次元方向に変化する。この結果、複数の
PLAをチツプ上にレイアウトする場合、すき間
ができやすく、高密度化が困難となつたり、入出
力の信号線や電源線の配線が複雑になるという欠
点がある。また順序回路を構成するためには
PLAだけでなく、フリツプフロツプを第9図に
示す様にAND平面85、OR平面87とは別に、
入出力レジスタ83,89の位置にあらかじめ準
備する必要があつた。準備するフリツプ・フロツ
プはある一定の機能しか実現できない。それゆえ
に、あらたに別の機能や、それをこえる能力の回
路を実現するには、別のフリツプフロツプ回路等
を金属配線のレベルだけでなく、それ以前のレベ
ルから設計しなおす必要があり、開発期間が増大
すると言う欠点があつた。
力数等によつて、回路の規模が変化すると、その
形状が二次元方向に変化する。この結果、複数の
PLAをチツプ上にレイアウトする場合、すき間
ができやすく、高密度化が困難となつたり、入出
力の信号線や電源線の配線が複雑になるという欠
点がある。また順序回路を構成するためには
PLAだけでなく、フリツプフロツプを第9図に
示す様にAND平面85、OR平面87とは別に、
入出力レジスタ83,89の位置にあらかじめ準
備する必要があつた。準備するフリツプ・フロツ
プはある一定の機能しか実現できない。それゆえ
に、あらたに別の機能や、それをこえる能力の回
路を実現するには、別のフリツプフロツプ回路等
を金属配線のレベルだけでなく、それ以前のレベ
ルから設計しなおす必要があり、開発期間が増大
すると言う欠点があつた。
本発明の目的は、種々の論理回路を金属配線レ
ベルの変更のみで実現でき、しかも高密度のマス
タースライス基板を提供することにある。
ベルの変更のみで実現でき、しかも高密度のマス
タースライス基板を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明を用いれば、第1の導電形のMISFET
と第2の導電形のMISFETをそれぞれ1個ずつ
備え、これらを左右に、かつドレイン電流方向に
配置し第1のMISFET対を形成し、この対をl
個(lは任意の整数)ドレイン電流方向と直角方
向に縦に一直線に配列して第1の基本セル群と
し、前記第1のMISFET対と同じ構成の第2の
MISFET対をm個(mは任意の整数)ドレイン
電流方向と直角方向に、一直線配列し、第1の導
電形のMISFETの全てのゲート電極を相互に接
続し、ゲート電極から見て第2の導電形の
MISFETと反対側に位置する全ての電極を相互
に接続し、さらに第2の導電形のMISFETの全
てのゲート電極を相互に接続して、第2の基本セ
ル群とし、前記第2の基本セル群と同じ構成で、
かつn個(nは任意の整数)の第3のMISFET
対より構成されるセル群を第3の基本セル群と
し、第1の基本セル群、第2の基本セル群、第3
の基本セル群をドレイン電流方向と直角の方向と
順に一列に配列して単位列とし、複数個の単位列
をお互いに線対称となるようにドレイン電流方向
に並べて単位ブロツクとし、さらに1個以上の該
単位ブロツクをドレイン電流方向と直角の方向に
順次配置したブロツクと、前記第1の基本セル群
と同様な構造を有する第4の基本セル群を前記単
位列と同数だけドレイン電流方向に配列したブロ
ツクとをドレイン電流方向に直角な方向に並べた
ことを特徴とするマスタースライス基板が得られ
る。
と第2の導電形のMISFETをそれぞれ1個ずつ
備え、これらを左右に、かつドレイン電流方向に
配置し第1のMISFET対を形成し、この対をl
個(lは任意の整数)ドレイン電流方向と直角方
向に縦に一直線に配列して第1の基本セル群と
し、前記第1のMISFET対と同じ構成の第2の
MISFET対をm個(mは任意の整数)ドレイン
電流方向と直角方向に、一直線配列し、第1の導
電形のMISFETの全てのゲート電極を相互に接
続し、ゲート電極から見て第2の導電形の
MISFETと反対側に位置する全ての電極を相互
に接続し、さらに第2の導電形のMISFETの全
てのゲート電極を相互に接続して、第2の基本セ
ル群とし、前記第2の基本セル群と同じ構成で、
かつn個(nは任意の整数)の第3のMISFET
対より構成されるセル群を第3の基本セル群と
し、第1の基本セル群、第2の基本セル群、第3
の基本セル群をドレイン電流方向と直角の方向と
順に一列に配列して単位列とし、複数個の単位列
をお互いに線対称となるようにドレイン電流方向
に並べて単位ブロツクとし、さらに1個以上の該
単位ブロツクをドレイン電流方向と直角の方向に
順次配置したブロツクと、前記第1の基本セル群
と同様な構造を有する第4の基本セル群を前記単
位列と同数だけドレイン電流方向に配列したブロ
ツクとをドレイン電流方向に直角な方向に並べた
ことを特徴とするマスタースライス基板が得られ
る。
(実施例)
本発明を実施例を用いて説明する。
第1図eは、基板に敷きつめたMOSFET単位
列27とCMOS構成のゲートアレイ(以下G.A.
と略称する)を作製するための単位セル(以下
G.A.セルと略称する)からなる列(以下G.A.用
基本セル群と略称する)29の配置を示す図であ
る。MOSFET単位列27とG.A.用基本セル群2
9の内容を第1図aに示す。第1図aは作成され
たMOSFETのレイアウトを示す概略図、第1図
bは、第1図aに示したMOSFETからなる回路
の等価回路図である。
列27とCMOS構成のゲートアレイ(以下G.A.
と略称する)を作製するための単位セル(以下
G.A.セルと略称する)からなる列(以下G.A.用
基本セル群と略称する)29の配置を示す図であ
る。MOSFET単位列27とG.A.用基本セル群2
9の内容を第1図aに示す。第1図aは作成され
たMOSFETのレイアウトを示す概略図、第1図
bは、第1図aに示したMOSFETからなる回路
の等価回路図である。
図において、1はG.A.用基本セル群で、
nMOSFET、pMOSFETからなるCMOS構成の
G.A.セルがl個(lは2以上)用意してある。
6はnMOSFET用のポリシリコンゲート電極、
7はpMOSFET用のポリシリコンゲート電極、
4はnMOSFETのソースまたはドレイン電極、
5はpMOSFETのソースまたはドレイン電極で
ある。
nMOSFET、pMOSFETからなるCMOS構成の
G.A.セルがl個(lは2以上)用意してある。
6はnMOSFET用のポリシリコンゲート電極、
7はpMOSFET用のポリシリコンゲート電極、
4はnMOSFETのソースまたはドレイン電極、
5はpMOSFETのソースまたはドレイン電極で
ある。
2は、CMOS構成のPLAを作製するための基
本セル群であり、セルは、共通接続されたソース
電極8と、共通接続されたポリシリコンゲート電
極11を持つたnMOSFET列、および、共通接
続されたゲート電極12を持つpMOSFETの列
からなりそれぞれm個のnチヤネル、pチヤネル
のMOSFETが用意してある。ただしG.A.用基本
セル群1のMOSFETよりチヤンネル幅は狭い。
3は、基本セル群2と同じチヤネル幅で、同じ配
置と接続をしたnMOSFET列、pMOSFET列か
らなり、それぞれn個のMOSFETが用意してあ
る。
本セル群であり、セルは、共通接続されたソース
電極8と、共通接続されたポリシリコンゲート電
極11を持つたnMOSFET列、および、共通接
続されたゲート電極12を持つpMOSFETの列
からなりそれぞれm個のnチヤネル、pチヤネル
のMOSFETが用意してある。ただしG.A.用基本
セル群1のMOSFETよりチヤンネル幅は狭い。
3は、基本セル群2と同じチヤネル幅で、同じ配
置と接続をしたnMOSFET列、pMOSFET列か
らなり、それぞれn個のMOSFETが用意してあ
る。
第1図eに示したMOSFET単位列内には、G.
A.用基本セル群1、基本セル群2,3がそれぞ
れ1個ずつドレイン電流と直角方向に並んでい
る。この単位列をドレイン電流方向に複数個配置
して作成した単位ブロツク13のレイアウト図お
よびその等価回路図を第1図c,dに示す。この
時、MOSFET単位列28をドレイン電流方向と
直角な方向に対して線対称になる様に移動させた
MOSFET単位列27と、MOSFET単位列28
を交互に、ドレイン電流方向に配置する。また、
最近接の同導電型MOSFETのソースまたはドレ
イン電極は接続する。
A.用基本セル群1、基本セル群2,3がそれぞ
れ1個ずつドレイン電流と直角方向に並んでい
る。この単位列をドレイン電流方向に複数個配置
して作成した単位ブロツク13のレイアウト図お
よびその等価回路図を第1図c,dに示す。この
時、MOSFET単位列28をドレイン電流方向と
直角な方向に対して線対称になる様に移動させた
MOSFET単位列27と、MOSFET単位列28
を交互に、ドレイン電流方向に配置する。また、
最近接の同導電型MOSFETのソースまたはドレ
イン電極は接続する。
G.A.用基本セル群29についても同様に配置
接続する。
接続する。
以上述べた、MOSFET単位列27およびG.A.
用基本セル群29が第1図eの様に敷きつめられ
たマスタースライス基板を使用して、任意の回路
を作成する例を次に示す。
用基本セル群29が第1図eの様に敷きつめられ
たマスタースライス基板を使用して、任意の回路
を作成する例を次に示す。
前述のマスタースライス基板においては、
MOSFETのドレイン電流に垂直な方向にG.A.セ
ルがl個並んでいるが、このうち2個のG.A.セ
ルを用い金属配線63,64を形成する事でDタ
イプフリツプフロツプ(D−F/F)を作製する
ことができる。第2図aはG.A.セル2個を用い
作製したD−F/Fの等価回路どある。第2図b
は作製したD−F/Fのレイアウトの概略図であ
る。
MOSFETのドレイン電流に垂直な方向にG.A.セ
ルがl個並んでいるが、このうち2個のG.A.セ
ルを用い金属配線63,64を形成する事でDタ
イプフリツプフロツプ(D−F/F)を作製する
ことができる。第2図aはG.A.セル2個を用い
作製したD−F/Fの等価回路どある。第2図b
は作製したD−F/Fのレイアウトの概略図であ
る。
なお、図中の端子名は第2図a,bで一致して
いる。このD−F/Fを使用すれば、入出力レジ
スタを作製することができる。
いる。このD−F/Fを使用すれば、入出力レジ
スタを作製することができる。
第3図には、前述の基本セル2を用い、入力信
号A,B,C,Dに対して出力信号f1=+、
f2=+を出力する組み合せ回路を作成した例
を示す。第3図aに等価回路図、第3図b,cに
第3図aに対応するレイアウト例を示す。この例
では、基本セル群2を4列のみで回路を作製して
いる。
号A,B,C,Dに対して出力信号f1=+、
f2=+を出力する組み合せ回路を作成した例
を示す。第3図aに等価回路図、第3図b,cに
第3図aに対応するレイアウト例を示す。この例
では、基本セル群2を4列のみで回路を作製して
いる。
図において、35,36,45,47,48は
第1層目金属配線、37,38,46は第2層目
金属配線、22はpMOSFET、25は
nMOSFETである。また、後述する様に、基本
単位セル群2を用いPLAのAND平面NORアレ
イを作成した場合、38,48は電流電源線、3
5,45は入力線、36,37,46,47は積
項線となる。39は、第1層目金属配線と
MOSFETを接続するためのコンタクトホール、
40は第1層目金属配線と第2層金属配線を接続
するスルーホール、41はコンタクトホールとス
ルーホールが同時に形成されてつくられた穴を意
味する。基本セル群3においても同様な金属配線
を行ない、任意のNOR回路を作成できる。
第1層目金属配線、37,38,46は第2層目
金属配線、22はpMOSFET、25は
nMOSFETである。また、後述する様に、基本
単位セル群2を用いPLAのAND平面NORアレ
イを作成した場合、38,48は電流電源線、3
5,45は入力線、36,37,46,47は積
項線となる。39は、第1層目金属配線と
MOSFETを接続するためのコンタクトホール、
40は第1層目金属配線と第2層金属配線を接続
するスルーホール、41はコンタクトホールとス
ルーホールが同時に形成されてつくられた穴を意
味する。基本セル群3においても同様な金属配線
を行ない、任意のNOR回路を作成できる。
第4図aはG.A.用基本セル群1、基本セル群
2,3を用い、G.A.でインバータを、基本セル
群2,3でNORアレイをつくり、インバータ群
72とNORアレイ73でAND平面70を、
NORアレイ74とインバータ群75でOR平面7
1を作成しPLAをつくり、入力信号A,B,C
に対して出力信号f=A・+・Cを出力する
組み合せ回路を作成した例である。この場合、
AND平面70内NORアレイ73は基本セル群2
を、OR平面71内NORアレイ74は基本セル群
3を用いて作製する。この例では横に並んだ
MOSFET単位列3列と、次段MOSFET単位列
内のG.A.セルを用いてPLAを作製している。
2,3を用い、G.A.でインバータを、基本セル
群2,3でNORアレイをつくり、インバータ群
72とNORアレイ73でAND平面70を、
NORアレイ74とインバータ群75でOR平面7
1を作成しPLAをつくり、入力信号A,B,C
に対して出力信号f=A・+・Cを出力する
組み合せ回路を作成した例である。この場合、
AND平面70内NORアレイ73は基本セル群2
を、OR平面71内NORアレイ74は基本セル群
3を用いて作製する。この例では横に並んだ
MOSFET単位列3列と、次段MOSFET単位列
内のG.A.セルを用いてPLAを作製している。
図において、80はpMOSFET、81は
nMOSFET、76はPLAへの入力線、77,7
8は積項線、79はPLAからの出力線、48は
電流電源線である。なお、第4図aにおいて、回
路作成に必要でないMOSFETは、便宜上、省略
して書いた。
nMOSFET、76はPLAへの入力線、77,7
8は積項線、79はPLAからの出力線、48は
電流電源線である。なお、第4図aにおいて、回
路作成に必要でないMOSFETは、便宜上、省略
して書いた。
以上の例から、任意の組み合せ回路を作成でき
ることが判る。
ることが判る。
第4図bは、G.A.用基本セル群1、基本セル
群2,3を用い作成したPLAに、さらにG.A.用
基本セル群1によつて作成した入出力レジスタを
付加した場合を示した模式図である。
群2,3を用い作成したPLAに、さらにG.A.用
基本セル群1によつて作成した入出力レジスタを
付加した場合を示した模式図である。
図において、83は入力レジスタ、85は
PLAを構成するAND平面、87はPLAを構成す
るOR平面89は出力レジスタを示す。また82
は回路への入力線、84はPLAへの入力線、8
6は積項線、88はPLAからの出力線、90は
回路からの出力線である。図で示されている様
に、本発明を用いて作製した入出力レジスタ付
PLAでは、信号が図面の上から下へ直線的に流
れている。
PLAを構成するAND平面、87はPLAを構成す
るOR平面89は出力レジスタを示す。また82
は回路への入力線、84はPLAへの入力線、8
6は積項線、88はPLAからの出力線、90は
回路からの出力線である。図で示されている様
に、本発明を用いて作製した入出力レジスタ付
PLAでは、信号が図面の上から下へ直線的に流
れている。
第5図は、複数のPLAを作成した場合の配置
図である。
図である。
図において、85はAND平面、87はOR平面、
84は入力線、86は積項線、88は出力線であ
る。
84は入力線、86は積項線、88は出力線であ
る。
本発明を用いれば、(入力数、積項数、出力数)
が(i1、s1、1)、(i2、s2、2)、(i3、s3、3
)
と異なつた回路を効率的に配置し、PLA間に存
在する余分なすきまをはぶき集積度を高めること
が可能になることがわかる。ただし、s1、s2、s3
≦m、O1、O2、O3≦nである。
が(i1、s1、1)、(i2、s2、2)、(i3、s3、3
)
と異なつた回路を効率的に配置し、PLA間に存
在する余分なすきまをはぶき集積度を高めること
が可能になることがわかる。ただし、s1、s2、s3
≦m、O1、O2、O3≦nである。
第6図は本マスタースライス基板を用い、金属
配線を用いてPLAによる順序回路を表現したも
のである。91,92は第2図aで示した回路に
対応し91は入力用Dラツチ、92は出力用Dラ
ツチとなつている。93は入力用Dラツチへの第
1のクロツク信号線で94は出力用Dラツチへの
第2のクロツク信号線である。95は第1aの基
本セル群2,3からなるMOSFET群に対応す
る。
配線を用いてPLAによる順序回路を表現したも
のである。91,92は第2図aで示した回路に
対応し91は入力用Dラツチ、92は出力用Dラ
ツチとなつている。93は入力用Dラツチへの第
1のクロツク信号線で94は出力用Dラツチへの
第2のクロツク信号線である。95は第1aの基
本セル群2,3からなるMOSFET群に対応す
る。
入力用Dラツチ91の出力96は入力用Dラツ
チへの入力97の正反転信号で直接PLAのAND
平面内NORアレイへの正反入力となり、出力用
Dラツチ92の出力98は、PLAのOR平面内
NORアレイからの出力99の正反転出力で、
PLAのそれぞれ正.反出力となつている。また
100は出力用Dラツチからの正反いずれかの出
力であり、PLAの入力用Dラツチへフイードバ
ツクされている。
チへの入力97の正反転信号で直接PLAのAND
平面内NORアレイへの正反入力となり、出力用
Dラツチ92の出力98は、PLAのOR平面内
NORアレイからの出力99の正反転出力で、
PLAのそれぞれ正.反出力となつている。また
100は出力用Dラツチからの正反いずれかの出
力であり、PLAの入力用Dラツチへフイードバ
ツクされている。
第7図はPLAの入力用Dラツチと出力用Dラ
ツチを兼用した場合を示すものであり、第1の
PLA101のOR平面内NORアレイからの出力
105をDラツチ109を通して第2のPLA1
03に入力しており、第3のPLA102のOR平
面内NORアレイからの出力107,108をD
ラツチ109を通じて、第2のPLA103に入
力している。106は第1のPLAの101のOR
平面内NORアレイからの出力でDラツチ109
を通して第4のPLA104に入力されている。
ツチを兼用した場合を示すものであり、第1の
PLA101のOR平面内NORアレイからの出力
105をDラツチ109を通して第2のPLA1
03に入力しており、第3のPLA102のOR平
面内NORアレイからの出力107,108をD
ラツチ109を通じて、第2のPLA103に入
力している。106は第1のPLAの101のOR
平面内NORアレイからの出力でDラツチ109
を通して第4のPLA104に入力されている。
本実施例においては、基本セル群2,3内の
nMOSFETとpMOSFETのゲート電極は別個に
作成しているが、共通接続したポリシリコンゲー
ト電極を用いても問題はない。
nMOSFETとpMOSFETのゲート電極は別個に
作成しているが、共通接続したポリシリコンゲー
ト電極を用いても問題はない。
以上説明した様に、集積回路の開発にあたり、
本発明による構成のマスタースライス基板をあら
かじめ作成しておけば、以下に示す効果がある。
本発明による構成のマスタースライス基板をあら
かじめ作成しておけば、以下に示す効果がある。
第1に所望のCMOS型及び他の型の回路を必
要最小限のMOSFET単位列およびG.A.用基本セ
ル群を用い作成できる。この結果、残りの
MOSFET単位列およびG.A.用基本セル群は他の
回路作成に使用できる。
要最小限のMOSFET単位列およびG.A.用基本セ
ル群を用い作成できる。この結果、残りの
MOSFET単位列およびG.A.用基本セル群は他の
回路作成に使用できる。
第2に複数の回路を作成する時に、回路間のす
きまを従来より少なくすることができ、高集積な
回路を作成できる。
きまを従来より少なくすることができ、高集積な
回路を作成できる。
第3に金属線の変更のみで、必要な所へ、必要
なフリツプフロツプを作成できるので、任意の順
序回路を短時間で開発することができる。
なフリツプフロツプを作成できるので、任意の順
序回路を短時間で開発することができる。
第1図は、本発明において用いられるマスター
スライス基板内のMOSFETの配置を示した図、
第2図は、本発明を用いてD−F/Fを作成した
場合の等価回路およびレイアウト図、第3図は、
本発明を用いて、任意のNOR回路を作成した場
合の等価回路およびレイアウト図、第4図は本発
明を用いて任意の組み合せ回路を作成した場合の
構成図、第5図は、本発明を用いて多数のPLA
を作成した場合の、各PLAの配置図、第6図は、
出力信号の一部が入力信号にフイードバツクされ
ている回路を作製する場合の入出力レジスタ付
PLAの構成図、第7図は、本発明を用いた場合
の、PLA間の接続の仕方を示した構成図、第8
図は従来法におけるCMOS構成のPLAの構成図、
第9図は従来法における入出力レジスタ付PLA
の構成図である。 図において、1〜3は基本セル群、4,5,
8,9,10はソースまたはドレイン電極、6,
7,11,12はゲート電極、21〜23,80
はpMOSFET、24〜26,81はnMOSFET、
27,28は単位列、13は単位ブロツク、14
はゲートアレイ用基本セル群のブロツク、63,
35,36,45,47,48は第1層目金属配
線、64,37,38,46は第2層目金属配
置、30,35,45は、NORアレイへの入力
線、31,32,36,37,46,47は積項
線、33,38,48は電源線、34はGND線、
39はコンタクトホール、40はスルーホール、
41はコンタクトホールとスルーホール、70,
85はAND平面、71,87はOR平面、72,
75はインバータ群、73,74はNORアレイ、
83,91は入力レジスタ、89,92は出力レ
ジスタ、76,84,96はPLAへの入力線、
77,78,86は積項線、79,88,99は
PLAからの出力線、82は入力線、90は出力
線、93はクロツク信号、100はフイードバツ
ク線、である。
スライス基板内のMOSFETの配置を示した図、
第2図は、本発明を用いてD−F/Fを作成した
場合の等価回路およびレイアウト図、第3図は、
本発明を用いて、任意のNOR回路を作成した場
合の等価回路およびレイアウト図、第4図は本発
明を用いて任意の組み合せ回路を作成した場合の
構成図、第5図は、本発明を用いて多数のPLA
を作成した場合の、各PLAの配置図、第6図は、
出力信号の一部が入力信号にフイードバツクされ
ている回路を作製する場合の入出力レジスタ付
PLAの構成図、第7図は、本発明を用いた場合
の、PLA間の接続の仕方を示した構成図、第8
図は従来法におけるCMOS構成のPLAの構成図、
第9図は従来法における入出力レジスタ付PLA
の構成図である。 図において、1〜3は基本セル群、4,5,
8,9,10はソースまたはドレイン電極、6,
7,11,12はゲート電極、21〜23,80
はpMOSFET、24〜26,81はnMOSFET、
27,28は単位列、13は単位ブロツク、14
はゲートアレイ用基本セル群のブロツク、63,
35,36,45,47,48は第1層目金属配
線、64,37,38,46は第2層目金属配
置、30,35,45は、NORアレイへの入力
線、31,32,36,37,46,47は積項
線、33,38,48は電源線、34はGND線、
39はコンタクトホール、40はスルーホール、
41はコンタクトホールとスルーホール、70,
85はAND平面、71,87はOR平面、72,
75はインバータ群、73,74はNORアレイ、
83,91は入力レジスタ、89,92は出力レ
ジスタ、76,84,96はPLAへの入力線、
77,78,86は積項線、79,88,99は
PLAからの出力線、82は入力線、90は出力
線、93はクロツク信号、100はフイードバツ
ク線、である。
Claims (1)
- 1 第1の導電形のMISFETと第2の導電形の
MISFETをそれぞれ1個ずつ備え、これらを左
右に、かつドレイン電流方向に配置し、第1の
MISFET対を形成し、この対をl個(lは任意
の整数)ドレイン電流方向と直角方向に一直線に
配列して第1の基本セル群とし、前記第1の
MISFET対と同じ構成の第2のMISFET対をm
個(mは任意の整数)ドレイン電流方向と直角方
向に一直線に配列し、第1の導電形のMISFET
の全てのゲート電極を相互に接続し、ゲート電極
から見て第2の導電形のMISFETと反対側に位
置する全ての電極を相互に接続し、さらに第2の
導電形のMISFETの全てのゲート電極を相互に
接続して、第2の基本セル群とし、前記第2の基
本セル群と同じ構成で、かつn個(nは任意の整
数)の第3のMISFET対より構成されるセル群
を第3の基本セル群とし、第1の基本セル群、第
2の基本セル群、第3の基本セル群をドレイン電
流方向と直角の方向に順に一列に配列して単位列
とし、複数個の単位列をお互いに線対称となるよ
うにドレイン電流方向に並べて単位ブロツクと
し、さらに1個以上の該単位ブロツクをドレイン
電流方向と直角の方向に順次配置したブロツク
と、前記第1の基本セル群と同じ構造を有する第
4の基本セル群を前記単位列と同数だけドレイン
電流方向に配列したブロツクとをドレイン電流方
向に直角な方向に並べたことを特徴とするマスタ
ースライス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60250089A JPS62109340A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | マスタ−スライス基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60250089A JPS62109340A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | マスタ−スライス基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62109340A JPS62109340A (ja) | 1987-05-20 |
JPH0556870B2 true JPH0556870B2 (ja) | 1993-08-20 |
Family
ID=17202646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60250089A Granted JPS62109340A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | マスタ−スライス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62109340A (ja) |
-
1985
- 1985-11-08 JP JP60250089A patent/JPS62109340A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62109340A (ja) | 1987-05-20 |
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