JPH0554744A - 避雷碍子の劣化診断方法 - Google Patents
避雷碍子の劣化診断方法Info
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- JPH0554744A JPH0554744A JP21760691A JP21760691A JPH0554744A JP H0554744 A JPH0554744 A JP H0554744A JP 21760691 A JP21760691 A JP 21760691A JP 21760691 A JP21760691 A JP 21760691A JP H0554744 A JPH0554744 A JP H0554744A
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- JP
- Japan
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- deterioration
- voltage
- time constant
- insulator
- resistance element
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Abstract
(57)【要約】
【目的】避雷碍子に内蔵した抵抗素子の劣化状態を確実
に診断する。 【構成】電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子２を内蔵
した避雷碍子５に抵抗Ｒ3 を直列に接続するとともに、
この直列回路に対し直流電源１１により直流電圧を印加
し、その際、前記直列回路に生じる時定数の変化から抵
抗素子２の劣化を診断する。
に診断する。 【構成】電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子２を内蔵
した避雷碍子５に抵抗Ｒ3 を直列に接続するとともに、
この直列回路に対し直流電源１１により直流電圧を印加
し、その際、前記直列回路に生じる時定数の変化から抵
抗素子２の劣化を診断する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は送配電線路に雷サージ
電流が侵入した場合に、それを大地に速やかに放電する
とともに、その後に生じる続流電流を抑制遮断して地絡
事故を未然に防止することができる避雷碍子の劣化診断
方法に関わり、さらに詳しくは電圧−電流特性が非直線
性の例えば酸化亜鉛を主材とする抵抗素子の劣化診断方
法に関するものである。
電流が侵入した場合に、それを大地に速やかに放電する
とともに、その後に生じる続流電流を抑制遮断して地絡
事故を未然に防止することができる避雷碍子の劣化診断
方法に関わり、さらに詳しくは電圧−電流特性が非直線
性の例えば酸化亜鉛を主材とする抵抗素子の劣化診断方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、懸垂型避雷碍子装置は図４に示す
ように、碍子本体１の上下にキャップ金具２１とピン金
具２２を備え、前記碍子本体１の笠部１ａに形成した取
付筒部１ｂに対し電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子
２を収容するとともに、前記取付筒部１ｂの両端部に電
極金具３，４を嵌合固定し、さらに前記電極金具３，４
とキャップ金具２１及びピン金具２２をそれぞれリード
線２３，２４により接続して構成されている。この懸垂
型避雷碍子５は複数直列に連結された状態で鉄塔の支持
アーム６等に支持され、その下端部に電線把持金具７に
より装着された送電線８から懸垂型避雷碍子５に侵入し
た雷サージ電流を支持アーム６から鉄塔を介して大地に
放電し、その後に生じる交流の運転電圧に基づく続流電
流を前記抵抗素子２の抵抗値の復元により抑制遮断する
ようになっていた。そして、設定値以上の雷サージ電流
を処理すると、前記抵抗素子２が劣化して絶縁耐力が低
下し、続流電流を抑制遮断することができなくなるとい
う問題があった。このため、定期的に非直線抵抗素子２
の劣化状態を診断する必要が生じる。
ように、碍子本体１の上下にキャップ金具２１とピン金
具２２を備え、前記碍子本体１の笠部１ａに形成した取
付筒部１ｂに対し電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子
２を収容するとともに、前記取付筒部１ｂの両端部に電
極金具３，４を嵌合固定し、さらに前記電極金具３，４
とキャップ金具２１及びピン金具２２をそれぞれリード
線２３，２４により接続して構成されている。この懸垂
型避雷碍子５は複数直列に連結された状態で鉄塔の支持
アーム６等に支持され、その下端部に電線把持金具７に
より装着された送電線８から懸垂型避雷碍子５に侵入し
た雷サージ電流を支持アーム６から鉄塔を介して大地に
放電し、その後に生じる交流の運転電圧に基づく続流電
流を前記抵抗素子２の抵抗値の復元により抑制遮断する
ようになっていた。そして、設定値以上の雷サージ電流
を処理すると、前記抵抗素子２が劣化して絶縁耐力が低
下し、続流電流を抑制遮断することができなくなるとい
う問題があった。このため、定期的に非直線抵抗素子２
の劣化状態を診断する必要が生じる。
【０００３】避雷碍子５に内蔵された抵抗素子２は、図
６に示すように、抵抗素子２の酸化亜鉛粒子の抵抗Ｒ1
（以下、粒子抵抗Ｒ1 という）と、粒界層の抵抗Ｒ
2 （以下、粒界抵抗Ｒ2 という）と、粒界層の静電容量
Ｃとの等価回路で表される。そして、抵抗素子２が劣化
すると、前記粒界抵抗Ｒ2 が１〜２桁低下することが知
られている。
６に示すように、抵抗素子２の酸化亜鉛粒子の抵抗Ｒ1
（以下、粒子抵抗Ｒ1 という）と、粒界層の抵抗Ｒ
2 （以下、粒界抵抗Ｒ2 という）と、粒界層の静電容量
Ｃとの等価回路で表される。そして、抵抗素子２が劣化
すると、前記粒界抵抗Ｒ2 が１〜２桁低下することが知
られている。
【０００４】そこで、抵抗素子２の劣化により前記粒界
抵抗Ｒ2 が変わることから、送電系統から避雷碍子５を
切離して図７に示すように抵抗素子２の両端に直流電源
１１により直流電圧Ｖを印加し、その際、抵抗素子２の
両端部に現れる直流電圧の変化を測定判別すれば、抵抗
素子２の劣化を検出することが考えられる。
抵抗Ｒ2 が変わることから、送電系統から避雷碍子５を
切離して図７に示すように抵抗素子２の両端に直流電源
１１により直流電圧Ｖを印加し、その際、抵抗素子２の
両端部に現れる直流電圧の変化を測定判別すれば、抵抗
素子２の劣化を検出することが考えられる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したように直流電
圧Ｖを印加した場合、抵抗素子２の両端に現れる電圧Ｖ
c1の経時変化は、粒子抵抗Ｒ1 ，粒界抵抗Ｒ2 、時定数
Ｋ、時間ｔ、誘電率εにより次式で表される。
圧Ｖを印加した場合、抵抗素子２の両端に現れる電圧Ｖ
c1の経時変化は、粒子抵抗Ｒ1 ，粒界抵抗Ｒ2 、時定数
Ｋ、時間ｔ、誘電率εにより次式で表される。
【０００６】
【数１】 Ｖc1＝Ｒ2 Ｖ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）・（１−ε-t/K） …（１） 但し、時定数Ｋは、次式で表される。
【０００７】
【数２】 Ｋ＝ＣＲ1 Ｒ2 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ） …（２） 又、充電電圧（定常値）Ｖa は、次式で表される。
【０００８】
【数３】 Ｖa ＝Ｒ2 Ｖ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ） …（３） 一方、避雷碍子５を系統に接続したまま、図８に示すよ
うに直流電圧Ｖを印加した場合には、抵抗素子２の両端
に現れる電圧の経時変化は、重ねの定理により、直流電
圧Ｖを印加した場合と、交流電圧Ｅm を印加した場合の
それぞれの値を加算することにより求められる。すなわ
ち、交流電圧Ｅm のみを印加した場合の電圧Ｖc2の経時
変化は、
うに直流電圧Ｖを印加した場合には、抵抗素子２の両端
に現れる電圧の経時変化は、重ねの定理により、直流電
圧Ｖを印加した場合と、交流電圧Ｅm を印加した場合の
それぞれの値を加算することにより求められる。すなわ
ち、交流電圧Ｅm のみを印加した場合の電圧Ｖc2の経時
変化は、
【０００９】
【数４】
【００１０】で表される。従って、交流と直流を重畳し
た場合は、
た場合は、
【００１１】
【数５】
【００１２】又、この場合も時定数Ｋは、次式で表され
る。
る。
【００１３】
【数６】 Ｋ＝ＣＲ1 Ｒ2 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ） …（６） 又、充電電圧（定常値）Ｖa は、次式で表される。
【００１４】
【数７】
【００１５】ここで、時定数Ｋについて検討すると、前
述した（２）式、（６）式より、時定数Ｋは直流のみの
場合も直流と交流を重畳した場合も同じである。
述した（２）式、（６）式より、時定数Ｋは直流のみの
場合も直流と交流を重畳した場合も同じである。
【００１６】
【数８】 Ｋ＝ＣＲ1 Ｒ2 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）＝ＣＲ1 ／〔（Ｒ1 ／Ｒ2 ＋１〕…（８） そこで、抵抗素子２が正常状態では、抵抗Ｒ1 ：１〜１
０Ωｃｍ、抵抗Ｒ2 ：１０10Ωｃｍであり、抵抗素子が
劣化することにより、抵抗Ｒ2 は変化する。しかし、
（８）式により抵抗Ｒ2が多少変化しても時定数Ｋには
ほとんど影響を及ぼさない。従って、時定数Ｋから劣化
診断を行うのは困難である。
０Ωｃｍ、抵抗Ｒ2 ：１０10Ωｃｍであり、抵抗素子が
劣化することにより、抵抗Ｒ2 は変化する。しかし、
（８）式により抵抗Ｒ2が多少変化しても時定数Ｋには
ほとんど影響を及ぼさない。従って、時定数Ｋから劣化
診断を行うのは困難である。
【００１７】又、充電電圧Ｖa について以下に検討す
る。前述した（３）式より、直流電圧のみの場合、
る。前述した（３）式より、直流電圧のみの場合、
【００１８】
【数９】 Ｖa ＝Ｒ2 Ｖ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）＝Ｖ／〔（Ｒ1 ／Ｒ2 ）＋１〕 …（９） （７）式より、直流、交流重畳の場合、
【００１９】
【数１０】
【００２０】両者とも、前述した時定数Ｋの場合と同様
な理由により抵抗素子２の劣化検出は困難である。さら
に、具体例をあげて説明すると、粒子抵抗Ｒ1 ：１〜１
０Ωｃｍ、粒界抵抗Ｒ2 ：１０10Ωｃｍ、静電容量Ｃ：
１００ｐＦの場合、上記各数値を（６）式に代入して計
算すると、劣化前の時定数Ｋ0 は１×１０-9（ｓ）、劣
化後の時定数Ｋa は１×１０-9（ｓ）で殆ど変化はみら
れなかった。
な理由により抵抗素子２の劣化検出は困難である。さら
に、具体例をあげて説明すると、粒子抵抗Ｒ1 ：１〜１
０Ωｃｍ、粒界抵抗Ｒ2 ：１０10Ωｃｍ、静電容量Ｃ：
１００ｐＦの場合、上記各数値を（６）式に代入して計
算すると、劣化前の時定数Ｋ0 は１×１０-9（ｓ）、劣
化後の時定数Ｋa は１×１０-9（ｓ）で殆ど変化はみら
れなかった。
【００２１】このように上述した方法では、抵抗Ｒ1 ，
Ｒ2 の間にＲ1 ≪Ｒ2 の大小関係が存在するため、劣化
による時定数Ｋa の変化、充電電圧Ｖa の変化を検出で
きず、抵抗素子の劣化診断を行うことができない。
Ｒ2 の間にＲ1 ≪Ｒ2 の大小関係が存在するため、劣化
による時定数Ｋa の変化、充電電圧Ｖa の変化を検出で
きず、抵抗素子の劣化診断を行うことができない。
【００２２】この発明の目的は避雷碍子に内蔵した抵抗
素子の劣化状態を確実に診断することができる避雷碍子
の劣化診断方法を提供することにある。
素子の劣化状態を確実に診断することができる避雷碍子
の劣化診断方法を提供することにある。
【００２３】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は上
記の目的を達成するため、電圧−電流特性が非直線性の
抵抗素子を内蔵した避雷碍子に抵抗を直列に接続すると
ともに、この直列回路に直流電圧を印加し、その際、前
記直列回路に生じる電圧の時定数の変化から抵抗素子の
劣化を診断するという手段をとっている。
記の目的を達成するため、電圧−電流特性が非直線性の
抵抗素子を内蔵した避雷碍子に抵抗を直列に接続すると
ともに、この直列回路に直流電圧を印加し、その際、前
記直列回路に生じる電圧の時定数の変化から抵抗素子の
劣化を診断するという手段をとっている。
【００２４】又、請求項２記載の発明は上記の目的を達
成するため、電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子を内
蔵した避雷碍子に抵抗を直列に接続するとともに、この
直列回路に直流電圧を印加し、その際、前記直列回路に
生じる充電電圧の変化から抵抗素子の劣化を診断すると
いう手段をとっている。
成するため、電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子を内
蔵した避雷碍子に抵抗を直列に接続するとともに、この
直列回路に直流電圧を印加し、その際、前記直列回路に
生じる充電電圧の変化から抵抗素子の劣化を診断すると
いう手段をとっている。
【００２５】
【作用】請求項１記載の発明は上記手段をとったことに
より、避雷碍子と抵抗の直列回路に直流電圧を印加する
と、この直列回路に生じる電圧の時定数が抵抗素子の劣
化前と劣化後とで大きく変化するので、その変化量から
抵抗素子の劣化を診断する。
より、避雷碍子と抵抗の直列回路に直流電圧を印加する
と、この直列回路に生じる電圧の時定数が抵抗素子の劣
化前と劣化後とで大きく変化するので、その変化量から
抵抗素子の劣化を診断する。
【００２６】又、請求項２記載の発明は上記手段をとっ
たことにより、避雷碍子と抵抗の直列回路に直流電圧を
印加すると、この直列回路に生じる充電電圧が抵抗素子
の劣化前と劣化後とで大きく変化するので、その変化量
から抵抗素子の劣化を診断する。
たことにより、避雷碍子と抵抗の直列回路に直流電圧を
印加すると、この直列回路に生じる充電電圧が抵抗素子
の劣化前と劣化後とで大きく変化するので、その変化量
から抵抗素子の劣化を診断する。
【００２７】
【実施例】以下、この発明を具体化した一実施例を図面
に基づいて説明する。最初に、抵抗素子２を内蔵した避
雷碍子５を鉄塔支持アーム６に装着したままの状態で、
その劣化診断方法に使用される劣化診断装置１９の構成
を図１，図２により説明する。
に基づいて説明する。最初に、抵抗素子２を内蔵した避
雷碍子５を鉄塔支持アーム６に装着したままの状態で、
その劣化診断方法に使用される劣化診断装置１９の構成
を図１，図２により説明する。
【００２８】前記直流電源１１は避雷碍子５の両電極金
具３，４間に所定の直流電圧を印加することができる。
又、電圧測定回路１２は、直流電圧を印加したときの避
雷碍子５の両端部間に現れる電圧を測定するためのもの
である。この電圧測定回路１２には交流電圧と直流電圧
との重畳された波形から直流成分を検出するための直流
電圧検出回路１３が接続されている。さらに、この直流
電圧検出回路１３には検出した直流電圧から時定数Ｋa
を判定するための時定数判定回路１４が接続されてい
る。そして、この時定数判定回路１４には劣化前の抵抗
素子２の基準となる時定数Ｋ0 の設定操作回路１５が接
続されている。さらに、前記判定回路１４には増幅回路
１７及びブザー１８が直列に接続されている。
具３，４間に所定の直流電圧を印加することができる。
又、電圧測定回路１２は、直流電圧を印加したときの避
雷碍子５の両端部間に現れる電圧を測定するためのもの
である。この電圧測定回路１２には交流電圧と直流電圧
との重畳された波形から直流成分を検出するための直流
電圧検出回路１３が接続されている。さらに、この直流
電圧検出回路１３には検出した直流電圧から時定数Ｋa
を判定するための時定数判定回路１４が接続されてい
る。そして、この時定数判定回路１４には劣化前の抵抗
素子２の基準となる時定数Ｋ0 の設定操作回路１５が接
続されている。さらに、前記判定回路１４には増幅回路
１７及びブザー１８が直列に接続されている。
【００２９】又、前記直流電源１１には図１に示すよう
に高い抵抗値の抵抗Ｒ3 が直列に接続されている。この
抵抗Ｒ3 により抵抗素子２の劣化前と劣化後とで、時定
数Ｋを大きく変化することができ、抵抗素子２の劣化の
診断を行うことができる。すなわち、抵抗Ｒ3 を直流電
源１１と避雷碍子５の直列回路に対し直列に接続するこ
とにより、抵抗素子２の劣化検出を可能とした。
に高い抵抗値の抵抗Ｒ3 が直列に接続されている。この
抵抗Ｒ3 により抵抗素子２の劣化前と劣化後とで、時定
数Ｋを大きく変化することができ、抵抗素子２の劣化の
診断を行うことができる。すなわち、抵抗Ｒ3 を直流電
源１１と避雷碍子５の直列回路に対し直列に接続するこ
とにより、抵抗素子２の劣化検出を可能とした。
【００３０】次に、前記のように構成した劣化診断装置
１９により、避雷碍子５の劣化状態を診断する方法につ
いて説明する。最初に、避雷碍子５の装柱状態におい
て、診断装置１９の診断用の端子Ｔ１，Ｔ２を避雷碍子
５の電極金具３，４に接続する。この状態で図示しない
スイッチをオンして直流電源１１から避雷碍子５に直流
電圧Ｖを印加する。
１９により、避雷碍子５の劣化状態を診断する方法につ
いて説明する。最初に、避雷碍子５の装柱状態におい
て、診断装置１９の診断用の端子Ｔ１，Ｔ２を避雷碍子
５の電極金具３，４に接続する。この状態で図示しない
スイッチをオンして直流電源１１から避雷碍子５に直流
電圧Ｖを印加する。
【００３１】その後、交流電圧に直流電圧が重畳された
電圧が避雷碍子５の両端に現れるので、この電圧が測定
回路１２により測定されるとともに、重畳電圧から交流
電圧を減算した直流電圧ＶC1が検出される。この直流電
圧ＶC1から時定数Ｋa が判定回路１４により求められる
とともに、予め設定された正常抵抗素子２の時定数Ｋ0
と比較され、両時定数Ｋ0 ，Ｋa の間に所定の差がある
場合には、劣化状態として増幅回路１７からブザー１８
に検出信号が出力される。
電圧が避雷碍子５の両端に現れるので、この電圧が測定
回路１２により測定されるとともに、重畳電圧から交流
電圧を減算した直流電圧ＶC1が検出される。この直流電
圧ＶC1から時定数Ｋa が判定回路１４により求められる
とともに、予め設定された正常抵抗素子２の時定数Ｋ0
と比較され、両時定数Ｋ0 ，Ｋa の間に所定の差がある
場合には、劣化状態として増幅回路１７からブザー１８
に検出信号が出力される。
【００３２】ところで、前記抵抗Ｒ3 により時定数Ｋを
求める式は、次のようになる。
求める式は、次のようになる。
【００３３】
【数１１】 Ｋ＝〔Ｃ（Ｒ1 ＋Ｒ3 ）Ｒ2 〕／〔（Ｒ1 ＋Ｒ3 ）＋Ｒ2 〕 …（１１） そこで、粒子抵抗Ｒ1 ：１０Ωｃｍ、粒界抵抗Ｒ2 ：１
０10Ωｃｍ、静電容量Ｃ：１０-10 ｐＦ、抵抗Ｒ3 ：１
０10Ωｃｍとして、これらの各数値を（１１）式に代入
して計算すると、劣化前の時定数Ｋ0 は０．５（ｓ）、
劣化後の時定数Ｋa は０．０１（ｓ）で大きな変化がみ
られた。
０10Ωｃｍ、静電容量Ｃ：１０-10 ｐＦ、抵抗Ｒ3 ：１
０10Ωｃｍとして、これらの各数値を（１１）式に代入
して計算すると、劣化前の時定数Ｋ0 は０．５（ｓ）、
劣化後の時定数Ｋa は０．０１（ｓ）で大きな変化がみ
られた。
【００３４】又、抵抗Ｒ3 ＝１０11Ωｃｍとすると、劣
化前の時定数Ｋ0 は０．９１（ｓ）、劣化後の時定数Ｋ
a は９．９９×１０-9（ｓ）で大きな変化がみられた。
ここで、前記抵抗素子２の正常状態における直流電圧Ｖ
C1の波形と、図３に示すようになるとすると、抵抗素子
２が劣化した場合の直流電圧ＶC2の波形とを比較する
と、時定数Ｋが大きく変化することがわかる。
化前の時定数Ｋ0 は０．９１（ｓ）、劣化後の時定数Ｋ
a は９．９９×１０-9（ｓ）で大きな変化がみられた。
ここで、前記抵抗素子２の正常状態における直流電圧Ｖ
C1の波形と、図３に示すようになるとすると、抵抗素子
２が劣化した場合の直流電圧ＶC2の波形とを比較する
と、時定数Ｋが大きく変化することがわかる。
【００３５】次に、この発明の別の実施例を図５に基づ
いて説明する。この実施例においては、前述した時定数
の判別回路１４に代えて、充電電圧の判別回路２０を使
用するとともに、時定数の設定回路１５に代えて、充電
電圧の設定回路１６を使用している。そして、抵抗素子
２の劣化前と劣化後の充電電圧の変化を次の（１２）式
で判別することにより、劣化状態を判別するようにして
いる。
いて説明する。この実施例においては、前述した時定数
の判別回路１４に代えて、充電電圧の判別回路２０を使
用するとともに、時定数の設定回路１５に代えて、充電
電圧の設定回路１６を使用している。そして、抵抗素子
２の劣化前と劣化後の充電電圧の変化を次の（１２）式
で判別することにより、劣化状態を判別するようにして
いる。
【００３６】
【数１２】 ＶO ＝Ｒ2 ・Ｖ／〔（Ｒ1 ＋Ｒ3 ）＋Ｒ2 〕 …（１２） 今、抵抗Ｒ3 ＝１０10Ωｃｍとすると、抵抗素子２の劣
化前の充電電圧Ｖ0 は、０．５Ｖ、劣化後の充電電圧Ｖ
a は０．０１Ｖで大きな変化がみられた。又、抵抗Ｒ3
＝１０11Ωｃｍとすると、劣化前の充電電圧Ｖ0 は０．
０９Ｖ、劣化後の充電電圧Ｖa は０．００１Ｖで大きな
変化がみられた。
化前の充電電圧Ｖ0 は、０．５Ｖ、劣化後の充電電圧Ｖ
a は０．０１Ｖで大きな変化がみられた。又、抵抗Ｒ3
＝１０11Ωｃｍとすると、劣化前の充電電圧Ｖ0 は０．
０９Ｖ、劣化後の充電電圧Ｖa は０．００１Ｖで大きな
変化がみられた。
【００３７】なお、この発明は前記実施例に限定される
ものではなく、次のように具体化してもよい。 （１）前記実施例では避雷碍子５を装柱状態でその劣化
診断を行うようにしたが、避雷碍子５を鉄塔支持アーム
６から取り外して、その劣化を診断すること。
ものではなく、次のように具体化してもよい。 （１）前記実施例では避雷碍子５を装柱状態でその劣化
診断を行うようにしたが、避雷碍子５を鉄塔支持アーム
６から取り外して、その劣化を診断すること。
【００３８】（２）一つの診断装置により電圧の時定数
及び充電電圧を選択的に測定できるようにすること。
及び充電電圧を選択的に測定できるようにすること。
【００３９】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明は、避雷
碍子に内蔵した抵抗素子の劣化状態を確実に診断するこ
とができる効果がある。
碍子に内蔵した抵抗素子の劣化状態を確実に診断するこ
とができる効果がある。
【図１】この発明の劣化診断方法に使用される劣化診断
装置の使用状態を示す回路図である。
装置の使用状態を示す回路図である。
【図２】劣化診断装置のブロック回路図である。
【図３】抵抗素子に現れる電圧を示すグラフである。
【図４】避雷碍子装置の正面図である。
【図５】劣化診断装置の別の実施例を示すブロック回路
図である。
図である。
【図６】避雷碍子の等価回路図である。
【図７】従来の劣化診断方法を示すブロック回路図であ
る。
る。
【図８】避雷碍子を装柱した状態での劣化診断方法を示
すブロック回路図である。
すブロック回路図である。
２ 非直線抵抗素子、５ 避雷碍子、１１ 直流電源、
１２ 電圧測定回路、１４ 時定数判定回路、１５ 時
定数の設定回路、１６ 充電電圧の設定回路、２０ 充
電電圧判定回路。
１２ 電圧測定回路、１４ 時定数判定回路、１５ 時
定数の設定回路、１６ 充電電圧の設定回路、２０ 充
電電圧判定回路。
Claims (2)
- 【請求項１】 電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子を
内蔵した避雷碍子に抵抗を直列に接続するとともに、こ
の直列回路に直流電圧を印加し、その際、前記直列回路
に生じる電圧の時定数の変化から抵抗素子の劣化を診断
することを特徴とする避雷碍子の劣化診断方法。 - 【請求項２】 電圧−電流特性が非直線性の抵抗素子を
内蔵した避雷碍子に抵抗を直列に接続するとともに、こ
の直列回路に直流電圧を印加し、その際、前記直列回路
に生じる充電電圧の変化から抵抗素子の劣化を診断する
ことを特徴とする避雷碍子の劣化診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21760691A JPH0554744A (ja) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | 避雷碍子の劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21760691A JPH0554744A (ja) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | 避雷碍子の劣化診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0554744A true JPH0554744A (ja) | 1993-03-05 |
Family
ID=16706929
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21760691A Pending JPH0554744A (ja) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | 避雷碍子の劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0554744A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111707910A (zh) * | 2020-05-28 | 2020-09-25 | 广州广华智电科技有限公司 | 瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路 |
| US11879931B2 (en) | 2021-08-25 | 2024-01-23 | Hamilton Sundstrand Corporation | Circuit testing and diagnosis |
-
1991
- 1991-08-28 JP JP21760691A patent/JPH0554744A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111707910A (zh) * | 2020-05-28 | 2020-09-25 | 广州广华智电科技有限公司 | 瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路 |
| CN111707910B (zh) * | 2020-05-28 | 2024-04-19 | 广州广华智电科技有限公司 | 瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路 |
| US11879931B2 (en) | 2021-08-25 | 2024-01-23 | Hamilton Sundstrand Corporation | Circuit testing and diagnosis |
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