JPH0552833A - 微量成分分析用のオ―トサンプラ - Google Patents
微量成分分析用のオ―トサンプラInfo
- Publication number
- JPH0552833A JPH0552833A JP21377691A JP21377691A JPH0552833A JP H0552833 A JPH0552833 A JP H0552833A JP 21377691 A JP21377691 A JP 21377691A JP 21377691 A JP21377691 A JP 21377691A JP H0552833 A JPH0552833 A JP H0552833A
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- JP
- Japan
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- sample
- cover
- suction
- sample container
- needle
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- Pending
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】分析を待っている間の試料の汚染を防止できる
オ―トサンプラを提供することにある。 【構成】試料が入った試料容器が配置されて順次送られ
るタ―ンテ―ブルと、試料容器から試料を吸引する吸引
針と、試料針を上下動させる昇降機構と、試料の吸引量
や吸引の順番などを予め設定するための操作パネルと、
カバ―に設けられたガス導入口とを設け、該ガス導入口
から高純度ガスをカバ―内に導入するようにしたもの。
オ―トサンプラを提供することにある。 【構成】試料が入った試料容器が配置されて順次送られ
るタ―ンテ―ブルと、試料容器から試料を吸引する吸引
針と、試料針を上下動させる昇降機構と、試料の吸引量
や吸引の順番などを予め設定するための操作パネルと、
カバ―に設けられたガス導入口とを設け、該ガス導入口
から高純度ガスをカバ―内に導入するようにしたもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、微量成分分析用のオ―
トサンプラに関し、更に詳しくは、分析を待っている間
の試料の汚染を防止できるオ―トサンプラに関する。
トサンプラに関し、更に詳しくは、分析を待っている間
の試料の汚染を防止できるオ―トサンプラに関する。
【０００２】
【従来の技術】図５はイオンクロマトグラフなどの分析
装置で使用される一般的なオ―トサンプラである。この
図において、１はタ―ンテ―ブル、２は試料が入った例
えば試験管でなる試料容器、３は試料容器２から試料を
吸引する吸引針、４は試料針３を例えば実線と破線の位
置に上下動させる昇降機構、５は試料の吸引量や吸引の
順番などを予め設定するための操作パネル、６はカバ―
である。また、吸引針の上端は図示しない流路切換弁や
シリンジからなる試料吸引機構に接続され、試料の吸引
が行われるようになっている。
装置で使用される一般的なオ―トサンプラである。この
図において、１はタ―ンテ―ブル、２は試料が入った例
えば試験管でなる試料容器、３は試料容器２から試料を
吸引する吸引針、４は試料針３を例えば実線と破線の位
置に上下動させる昇降機構、５は試料の吸引量や吸引の
順番などを予め設定するための操作パネル、６はカバ―
である。また、吸引針の上端は図示しない流路切換弁や
シリンジからなる試料吸引機構に接続され、試料の吸引
が行われるようになっている。
【０００３】このような構成からなる従来のオ―トサン
プラにおいて、最初、試料容器２には薄いシ―トで蓋が
されている。また、昇降機構４が作動し吸引針３が下降
すると、該吸引針の先端で薄いシ―トの蓋が突き破られ
る。この状態で試料吸引機構が作動し、試料容器２内の
試料が吸引される。その後、昇降機構４が作動して吸引
針３が、図５の破線の位置から実線の位置まで上昇す
る。その後、タ―ンテ―ブル１が一定角度回転し、試料
容器２の位置に図示しない次の試料容器が位置するよう
になる。
プラにおいて、最初、試料容器２には薄いシ―トで蓋が
されている。また、昇降機構４が作動し吸引針３が下降
すると、該吸引針の先端で薄いシ―トの蓋が突き破られ
る。この状態で試料吸引機構が作動し、試料容器２内の
試料が吸引される。その後、昇降機構４が作動して吸引
針３が、図５の破線の位置から実線の位置まで上昇す
る。その後、タ―ンテ―ブル１が一定角度回転し、試料
容器２の位置に図示しない次の試料容器が位置するよう
になる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のオ―トサンプラにおいては、試料容器２の内部やカ
バ―６内の雰囲気に含まれている微量の成分が試料内に
溶け込み、その結果、試料内に含まれる微量の被測定成
分を測定する際に大きな測定誤差を生ずるという欠点が
あった。
来のオ―トサンプラにおいては、試料容器２の内部やカ
バ―６内の雰囲気に含まれている微量の成分が試料内に
溶け込み、その結果、試料内に含まれる微量の被測定成
分を測定する際に大きな測定誤差を生ずるという欠点が
あった。
【０００５】本発明は、かかる従来例の欠点などに鑑み
てなされたものであり、その目的は、分析を待っている
間の試料の汚染を防止できるオ―トサンプラを提供する
ことにある。
てなされたものであり、その目的は、分析を待っている
間の試料の汚染を防止できるオ―トサンプラを提供する
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、微量成分分析
用のオ―トサンプラにおいて、試料が入った試料容器が
配置されて順次送られるタ―ンテ―ブルと、試料容器か
ら試料を吸引する吸引針と、吸引針を上下動させる昇降
機構と、試料の吸引量や吸引の順番などを予め設定する
ための操作パネルと、カバ―に設けられたガス導入口と
を設け、該ガス導入口から高純度ガスをカバ―内に導入
することによって前記課題を解決したものである。
用のオ―トサンプラにおいて、試料が入った試料容器が
配置されて順次送られるタ―ンテ―ブルと、試料容器か
ら試料を吸引する吸引針と、吸引針を上下動させる昇降
機構と、試料の吸引量や吸引の順番などを予め設定する
ための操作パネルと、カバ―に設けられたガス導入口と
を設け、該ガス導入口から高純度ガスをカバ―内に導入
することによって前記課題を解決したものである。
【０００７】
【作用】本発明は次のように作用する。即ち、試料容器
に試料が入れられ薄いシ―トで蓋がされ、該試料容器が
タ―ンテ―ブルにセットされたのちカバ―がとじられ
る。その後、ガス導入口から連続して高純度ガスがカバ
―内に注入される。昇降機構が作動し吸引針が下降する
と、該吸引針の先端で薄いシ―トの蓋が突き破られる。
次いで、試料吸引機構が作動し、試料容器内の試料が吸
引される。その後、昇降機構が再び作動し、吸引針が上
昇する。その後、タ―ンテ―ブルが一定角度回転し、試
料容器の位置に次の試料容器が位置するようになる。こ
のようにして、試料が順次吸引されイオンクロマトグラ
フなどの分析装置で分析される。
に試料が入れられ薄いシ―トで蓋がされ、該試料容器が
タ―ンテ―ブルにセットされたのちカバ―がとじられ
る。その後、ガス導入口から連続して高純度ガスがカバ
―内に注入される。昇降機構が作動し吸引針が下降する
と、該吸引針の先端で薄いシ―トの蓋が突き破られる。
次いで、試料吸引機構が作動し、試料容器内の試料が吸
引される。その後、昇降機構が再び作動し、吸引針が上
昇する。その後、タ―ンテ―ブルが一定角度回転し、試
料容器の位置に次の試料容器が位置するようになる。こ
のようにして、試料が順次吸引されイオンクロマトグラ
フなどの分析装置で分析される。
【０００８】
【実施例】以下、本発明について図を用いて詳細に説明
する。図１は本発明実施例としての微量成分分析用のオ
―トサンプラの構成断面図であり、図中、図５と同一記
号は同一意味をもたせて使用しここでの重複説明は省略
する。また、７ａはカバ―６に設けられたガス導入口、
７ｂはカバ―６に設けられたガス導出口である。尚、カ
バ―６が密閉構造となっていない場合には、ガス導出口
７ｂは不要である。
する。図１は本発明実施例としての微量成分分析用のオ
―トサンプラの構成断面図であり、図中、図５と同一記
号は同一意味をもたせて使用しここでの重複説明は省略
する。また、７ａはカバ―６に設けられたガス導入口、
７ｂはカバ―６に設けられたガス導出口である。尚、カ
バ―６が密閉構造となっていない場合には、ガス導出口
７ｂは不要である。
【０００９】このような構成からなる本発明の実施例に
おいて、最初に、試料容器２に試料を入れ薄いシ―トで
蓋がされる。また、試料容器２をタ―ンテ―ブル１にセ
ットしたのちカバ―６をとじる。その後、ガス導入口７
ａから連続して例えばＨｅなどの高純度ガスをカバ―６
内に注入する。このようにしてカバ―６内に注入された
高純度ガスは、カバ―６が密閉構造の場合にはガス導出
口７ｂから排出され、カバ―６が密閉構造でない場合に
はカバ―６の隙間などからオ―トサンプラ―の外に排出
される。
おいて、最初に、試料容器２に試料を入れ薄いシ―トで
蓋がされる。また、試料容器２をタ―ンテ―ブル１にセ
ットしたのちカバ―６をとじる。その後、ガス導入口７
ａから連続して例えばＨｅなどの高純度ガスをカバ―６
内に注入する。このようにしてカバ―６内に注入された
高純度ガスは、カバ―６が密閉構造の場合にはガス導出
口７ｂから排出され、カバ―６が密閉構造でない場合に
はカバ―６の隙間などからオ―トサンプラ―の外に排出
される。
【００１０】この状態で、昇降機構４が作動し吸引針３
が下降すると、該吸引針の先端で薄いシ―トの蓋が突き
破られる。次いで、試料吸引機構が作動し、試料容器２
内の試料が吸引される。その後、昇降機構４が再び作動
し、吸引針３が図５の破線の位置から実線の位置まで上
昇する。その後、タ―ンテ―ブル１が一定角度回転し、
試料容器２の位置に図示しない次の試料容器が位置する
ようになる。このようにして、試料が順次吸引され図示
しないイオンクロマトグラフなどの分析装置で分析され
る。
が下降すると、該吸引針の先端で薄いシ―トの蓋が突き
破られる。次いで、試料吸引機構が作動し、試料容器２
内の試料が吸引される。その後、昇降機構４が再び作動
し、吸引針３が図５の破線の位置から実線の位置まで上
昇する。その後、タ―ンテ―ブル１が一定角度回転し、
試料容器２の位置に図示しない次の試料容器が位置する
ようになる。このようにして、試料が順次吸引され図示
しないイオンクロマトグラフなどの分析装置で分析され
る。
【００１１】図２〜図４は上述のような本発明に係わる
微量成分分析用のオ―トサンプラを使用し超純水を分析
した結果を示すクロマトグラムである。即ち、同一の超
純水を試料とし、Ｈｅバブリングを開始する前のクロマ
トグラムが図２であり、Ｈｅバブリングを開始後２０分
経過したときのクロマトグラムが図３であり、Ｈｅバブ
リングを開始後４５分経過したときのクロマトグラムが
図４である。ここで、「Ｈｅバブリング」とは、図１の
ガス導入口７ａからＨｅガスをカバ―６内に供給した場
合の試料の経時変化を調べるため、試料容器内にパイプ
などで直接Ｈｅを供給してバブリングさせることをい
い、約５０倍も加速された経時変化デ―タが得られる。
これらのクロマトグラムにおいて、Ｃｌ- ，Ｎ
Ｏ2 - ，及び，ＳＯ4 -2の各イオン濃度は一定であり、
経時変化が見られないことが分かる。
微量成分分析用のオ―トサンプラを使用し超純水を分析
した結果を示すクロマトグラムである。即ち、同一の超
純水を試料とし、Ｈｅバブリングを開始する前のクロマ
トグラムが図２であり、Ｈｅバブリングを開始後２０分
経過したときのクロマトグラムが図３であり、Ｈｅバブ
リングを開始後４５分経過したときのクロマトグラムが
図４である。ここで、「Ｈｅバブリング」とは、図１の
ガス導入口７ａからＨｅガスをカバ―６内に供給した場
合の試料の経時変化を調べるため、試料容器内にパイプ
などで直接Ｈｅを供給してバブリングさせることをい
い、約５０倍も加速された経時変化デ―タが得られる。
これらのクロマトグラムにおいて、Ｃｌ- ，Ｎ
Ｏ2 - ，及び，ＳＯ4 -2の各イオン濃度は一定であり、
経時変化が見られないことが分かる。
【００１２】一方、図６〜図８は図５に示した前記従来
例のオ―トサンプラ―の状態を調べるため、図１のガス
導入口７ａから空気をカバ―６内に供給する空気バブリ
ングを行い図２〜図４の場合の試料と同一の超純水を分
析した結果を示すクロマトグラムである。即ち、同一の
超純水を試料とし空気バブリングを開始する前のクロマ
トグラムが図６であり、空気バブリングを開始後２０分
経過したときのクロマトグラムが図７であり、空気バブ
リングを開始後４５分経過したときのクロマトグラムが
図８である。ここで、「空気バブリング」とは、図１の
ガス導入口７ａから圧縮空気などをカバ―６内に供給し
た場合の試料の経時変化を調べるため、試料容器内にパ
イプなどで圧縮空気などを直接供給してバブリングさせ
ることをいい、約５０倍も加速された経時変化デ―タが
得られる。
例のオ―トサンプラ―の状態を調べるため、図１のガス
導入口７ａから空気をカバ―６内に供給する空気バブリ
ングを行い図２〜図４の場合の試料と同一の超純水を分
析した結果を示すクロマトグラムである。即ち、同一の
超純水を試料とし空気バブリングを開始する前のクロマ
トグラムが図６であり、空気バブリングを開始後２０分
経過したときのクロマトグラムが図７であり、空気バブ
リングを開始後４５分経過したときのクロマトグラムが
図８である。ここで、「空気バブリング」とは、図１の
ガス導入口７ａから圧縮空気などをカバ―６内に供給し
た場合の試料の経時変化を調べるため、試料容器内にパ
イプなどで圧縮空気などを直接供給してバブリングさせ
ることをいい、約５０倍も加速された経時変化デ―タが
得られる。
【００１３】図６〜図８のクロマトグラムにおいて、Ｃ
ｌ- ，ＮＯ2 - ，ＮＯ3 - ，及びＳＯ4 -2の各イオン濃
度が時間と共に増加しており、これらのイオンが試料中
に非常に多く溶け込んで行くことが分かる。また、本発
明実施例を用いて作成した図２〜図４と前記従来例に相
当する図６〜図８を比較すれば明らかなように、本発明
実施例を使用すれば試料容器２の内部やカバ―６内の雰
囲気に含まれている微量の成分が試料内に溶け込むこと
もなくなる。従って、本発明によれば、試料内に含まれ
る微量の被測定成分を測定する際に大きな測定誤差を生
ずることもなく、分析を待っている間の試料の汚染を防
止できるようになる。
ｌ- ，ＮＯ2 - ，ＮＯ3 - ，及びＳＯ4 -2の各イオン濃
度が時間と共に増加しており、これらのイオンが試料中
に非常に多く溶け込んで行くことが分かる。また、本発
明実施例を用いて作成した図２〜図４と前記従来例に相
当する図６〜図８を比較すれば明らかなように、本発明
実施例を使用すれば試料容器２の内部やカバ―６内の雰
囲気に含まれている微量の成分が試料内に溶け込むこと
もなくなる。従って、本発明によれば、試料内に含まれ
る微量の被測定成分を測定する際に大きな測定誤差を生
ずることもなく、分析を待っている間の試料の汚染を防
止できるようになる。
【００１４】尚、本発明は図１の実施例に限定されるこ
となく種々の変形が可能であり、オ―トサンプラ―の方
式にとらわれず液体分析用の殆ど全てのオ―トサンプラ
に適用できる。
となく種々の変形が可能であり、オ―トサンプラ―の方
式にとらわれず液体分析用の殆ど全てのオ―トサンプラ
に適用できる。
【００１５】
【発明の効果】以上詳しく説明したような本発明によれ
ば、試料容器の内部やカバ―内の雰囲気に含まれている
微量の成分が試料内に溶け込むこともなく、試料内に含
まれる微量の被測定成分を測定する際に大きな測定誤差
を生ずることもなくなる。このため、本発明によれば、
分析を待っている間の試料の汚染を防止できる微量成分
分析用のオ―トサンプラが実現する。
ば、試料容器の内部やカバ―内の雰囲気に含まれている
微量の成分が試料内に溶け込むこともなく、試料内に含
まれる微量の被測定成分を測定する際に大きな測定誤差
を生ずることもなくなる。このため、本発明によれば、
分析を待っている間の試料の汚染を防止できる微量成分
分析用のオ―トサンプラが実現する。
【図１】本発明実施例の構成説明図である。
【図２】本発明実施例を用いて作成したクロマトグラム
である。
である。
【図３】本発明実施例を用いて作成したクロマトグラム
である。
である。
【図４】本発明実施例を用いて作成したクロマトグラム
である。
である。
【図５】従来例の構成説明図である。
【図６】従来例を用いて作成したクロマトグラムであ
る。
る。
【図７】従来例を用いて作成したクロマトグラムであ
る。
る。
【図８】従来例を用いて作成したクロマトグラムであ
る。
る。
１ タ―ンテ―ブル ２ 試料容器 ３ 吸引針 ４ 昇降機構 ５ 操作パネル ６ カバ― ７ａ ガス導入口 ７ｂ ガス導出口
Claims (1)
- 【請求項１】試料が入った試料容器が配置されて順次送
られるタ―ンテ―ブルと、前記試料容器から試料を吸引
する吸引針と、該吸引針を上下動させる昇降機構と、前
記試料の吸引量や吸引の順番などを予め設定するための
操作パネルと、前記カバ―に設けられたガス導入口とを
具備し、該ガス導入口から高純度ガスを前記カバ―内に
導入することを特徴とする微量成分分析用のオ―トサン
プラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21377691A JPH0552833A (ja) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | 微量成分分析用のオ―トサンプラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21377691A JPH0552833A (ja) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | 微量成分分析用のオ―トサンプラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0552833A true JPH0552833A (ja) | 1993-03-02 |
Family
ID=16644847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21377691A Pending JPH0552833A (ja) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | 微量成分分析用のオ―トサンプラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0552833A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6272916B1 (en) | 1998-10-14 | 2001-08-14 | Japan National Oil Corporation | Acoustic wave transmission system and method for transmitting an acoustic wave to a drilling metal tubular member |
-
1991
- 1991-08-26 JP JP21377691A patent/JPH0552833A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6272916B1 (en) | 1998-10-14 | 2001-08-14 | Japan National Oil Corporation | Acoustic wave transmission system and method for transmitting an acoustic wave to a drilling metal tubular member |
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