JPH0552078B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0552078B2 JPH0552078B2 JP12248687A JP12248687A JPH0552078B2 JP H0552078 B2 JPH0552078 B2 JP H0552078B2 JP 12248687 A JP12248687 A JP 12248687A JP 12248687 A JP12248687 A JP 12248687A JP H0552078 B2 JPH0552078 B2 JP H0552078B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- copper
- weight
- less
- conductor
- paste
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 19
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 12
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 8
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 claims description 5
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018626 Al(OH) Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017770 Cu—Ag Inorganic materials 0.000 description 1
- MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N Di-n-octyl phthalate Natural products CCCCCCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCCCCCC MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N Perchloroethylene Chemical group ClC(Cl)=C(Cl)Cl CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は超多ピンのピングリツドアレイICパ
ツケージのように高密度配線を有する多層基板の
製造法に関する。 〔従来の技術〕 結晶化ガラスは、熱膨張係数がシリコンに近
く、誘電率が低く、低温焼成が可能であるなどの
特性を有するので、これを主成分とするか或いは
これを含有させたものを絶縁基板とし、導体材料
にはAg、Cu等の低融点低抵抗金属を用いた高密
度配線基盤が脚光を浴びており、特開昭55−
12899号公報に見られるように、「銅の融点よりも
低い温度で結晶化するガラス粒子からなるグリー
ンシートの表面に銅ペーストを用いてパターン印
刷し、積層一体化した後、所定雰囲気中で焼成す
るガラス・セラミツク構造の製造方法が開示され
ている。 特願昭61−294459号(特公平04−55557号公報
参照)ではこの銅ペーストの組成として銅もしく
は酸化銅を銅基準で80重量%以上と、MnO212重
量%以下及びAg2O8重量%以下のうちから選ば
れる一種以上とでなるものとし、導体部の気密性
を高めることが発明された。 〔発明が解決すべき問題点〕 しかし同多層基板の最上部のパターンの銅ペー
ストの接着強度は0.5Kg/mm2であり、この接着強
度を高めることが要請されている。 本発明はこの問題点を解決することを目的とす
る。 問題点を解決するための手段 本発明は導体ペースト中の導体成分として、銅
及び酸化銅のうちから選ばれる一種以上を銅を基
準として77重量%以上、残部をMnO212重量%以
下、Ag2O8重量%以下及びTiO2、TiH2のうちか
ら選ばれる一種以上3重量%以下とよりなるもの
としたところにある。 〔作用〕 導体ペースト中の銅及び酸化銅は、グリーンシ
ートとともに還元雰囲気で加熱還元され、焼成さ
れて導体化する。その含有量は銅基準で77重量%
以上とした。そして同時に配合される、MnO2は
還元されてMn2O3、MnOないしMnとなり、基板
中のセラミツクや結晶化ガラスと銅との濡れ性を
高める。但しその含有量が12重量%を越えると銅
粒子同志の焼結を妨げ、リーク不良又は抵抗増大
を招来するので12重量%以下とした。Ag2Oは水
素雰囲気中にて100℃で還元されてAgとなり、所
謂銀ろうと称されるCu−Ag合金の液相を銅粒子
間の境界に局部的に形成し、銅粒子同志を緻密に
焼結させる。 但しその含有量が8重量%を超えると上記銀ろ
うが基板上で玉となつてしまい、基板との密着強
度の低下を招来するので8重量%以下とした。 又、TiO2又はTiH2はメタライズ中よりセラミ
ツク中へ拡散して行き、接着強度を高める。ただ
しそれらが3重量%を超えて多いとセラミツク中
への拡散量が多くなり過ぎ、絶縁抵抗や耐電圧の
低下となる。又、メタライズもポーラスになつ
て、導体抵抗も大きくなり過ぎる。 実施例 1 (1) ZnO4重量%、MgO13重量%、Al2O333重量
%、SiO258重量%、B2O3及びP2O5各1重量%
となるように、ZnO、MgCO3、Al(OH)3、
SiO2、H3BO3及びH3PO4を秤量し、ライカイ
機で混合し、アルミナ坩堝を用いて1450℃で溶
融した後水中に投入し急冷してガラス化し、次
にこれをアルミナ製ボールミルにて平均粒径
2μmに粉砕してフリツトを製造する。 (2) 上記フリツトにポリビニルブチラール、ジオ
クチルフタレート、の如き有機質のバインダー
と、パークロルエチレン、ブチルアルコール等
の溶剤を混合してスラリーを作り、ドクターブ
レード法によつて厚さ0.6mmのグリーンシート
を製造した。 (3) 一方、平均粒径1.5μmのCuOを用いその他第
1表に示すような配合のものに有機結合剤と溶
剤とを配合して銅ペーストを作成した。
ツケージのように高密度配線を有する多層基板の
製造法に関する。 〔従来の技術〕 結晶化ガラスは、熱膨張係数がシリコンに近
く、誘電率が低く、低温焼成が可能であるなどの
特性を有するので、これを主成分とするか或いは
これを含有させたものを絶縁基板とし、導体材料
にはAg、Cu等の低融点低抵抗金属を用いた高密
度配線基盤が脚光を浴びており、特開昭55−
12899号公報に見られるように、「銅の融点よりも
低い温度で結晶化するガラス粒子からなるグリー
ンシートの表面に銅ペーストを用いてパターン印
刷し、積層一体化した後、所定雰囲気中で焼成す
るガラス・セラミツク構造の製造方法が開示され
ている。 特願昭61−294459号(特公平04−55557号公報
参照)ではこの銅ペーストの組成として銅もしく
は酸化銅を銅基準で80重量%以上と、MnO212重
量%以下及びAg2O8重量%以下のうちから選ば
れる一種以上とでなるものとし、導体部の気密性
を高めることが発明された。 〔発明が解決すべき問題点〕 しかし同多層基板の最上部のパターンの銅ペー
ストの接着強度は0.5Kg/mm2であり、この接着強
度を高めることが要請されている。 本発明はこの問題点を解決することを目的とす
る。 問題点を解決するための手段 本発明は導体ペースト中の導体成分として、銅
及び酸化銅のうちから選ばれる一種以上を銅を基
準として77重量%以上、残部をMnO212重量%以
下、Ag2O8重量%以下及びTiO2、TiH2のうちか
ら選ばれる一種以上3重量%以下とよりなるもの
としたところにある。 〔作用〕 導体ペースト中の銅及び酸化銅は、グリーンシ
ートとともに還元雰囲気で加熱還元され、焼成さ
れて導体化する。その含有量は銅基準で77重量%
以上とした。そして同時に配合される、MnO2は
還元されてMn2O3、MnOないしMnとなり、基板
中のセラミツクや結晶化ガラスと銅との濡れ性を
高める。但しその含有量が12重量%を越えると銅
粒子同志の焼結を妨げ、リーク不良又は抵抗増大
を招来するので12重量%以下とした。Ag2Oは水
素雰囲気中にて100℃で還元されてAgとなり、所
謂銀ろうと称されるCu−Ag合金の液相を銅粒子
間の境界に局部的に形成し、銅粒子同志を緻密に
焼結させる。 但しその含有量が8重量%を超えると上記銀ろ
うが基板上で玉となつてしまい、基板との密着強
度の低下を招来するので8重量%以下とした。 又、TiO2又はTiH2はメタライズ中よりセラミ
ツク中へ拡散して行き、接着強度を高める。ただ
しそれらが3重量%を超えて多いとセラミツク中
への拡散量が多くなり過ぎ、絶縁抵抗や耐電圧の
低下となる。又、メタライズもポーラスになつ
て、導体抵抗も大きくなり過ぎる。 実施例 1 (1) ZnO4重量%、MgO13重量%、Al2O333重量
%、SiO258重量%、B2O3及びP2O5各1重量%
となるように、ZnO、MgCO3、Al(OH)3、
SiO2、H3BO3及びH3PO4を秤量し、ライカイ
機で混合し、アルミナ坩堝を用いて1450℃で溶
融した後水中に投入し急冷してガラス化し、次
にこれをアルミナ製ボールミルにて平均粒径
2μmに粉砕してフリツトを製造する。 (2) 上記フリツトにポリビニルブチラール、ジオ
クチルフタレート、の如き有機質のバインダー
と、パークロルエチレン、ブチルアルコール等
の溶剤を混合してスラリーを作り、ドクターブ
レード法によつて厚さ0.6mmのグリーンシート
を製造した。 (3) 一方、平均粒径1.5μmのCuOを用いその他第
1表に示すような配合のものに有機結合剤と溶
剤とを配合して銅ペーストを作成した。
【表】
(4) 前記(2)のグリーンシートの表面に、上記(3)の
銅ペーストを厚さ20μmで、導電層となる配線
パターンをスクリーン印刷した。 (5) 上記配線パターンの200箇所に300μmφの貫
通孔を設け前記メタライズを充填し、以下に積
層されるシート上にも上記配線パターンに対し
て直角方向で上記貫通孔を通る位置に同様に配
線パターンをスクリーン印刷した。 (6) スクリーン印刷したグリーンシートの6枚
と、ベースとなる肉厚のシート1枚を積層し、
熱圧着した後、50×50mmに切断した。 (7) 切断した積層体を大気で750℃まで昇温し、
加熱し、0.2〜1.0時間保持した。 (8) ついで積層体を水素雰囲気中に移し、常温よ
り0.5℃/分の昇温速度で、350℃まで加熱し、
0.5〜1.5時間保持した後、水素雰囲気中で950
℃で焼成した。 これによつて第1図に示すようにガラス基板
1,1,1…の上に(導体)パターン2,2,2
…が印刷され、各基板はスルーホール3,3,3
…に充填された導体ペーストによつて電気的に導
通している7枚の絶縁基板からなる多層基板を製
造した。 この多層基板についてHeデイテクターを用い
て気密性を測定したところ1×10-8cc/std・sec
以下であつた。又接着強度の測定は第2図に示す
ように結晶化ガラス基板4の上に口1.6mmのパタ
ーン5を有する基板を作り、これに0.6φmmの銅線
を60Sn/40Pbの半田で接合した後、銅線を垂直
方向に引つ張ることにより測定した。 その結果は第2表に示すとおりである。
銅ペーストを厚さ20μmで、導電層となる配線
パターンをスクリーン印刷した。 (5) 上記配線パターンの200箇所に300μmφの貫
通孔を設け前記メタライズを充填し、以下に積
層されるシート上にも上記配線パターンに対し
て直角方向で上記貫通孔を通る位置に同様に配
線パターンをスクリーン印刷した。 (6) スクリーン印刷したグリーンシートの6枚
と、ベースとなる肉厚のシート1枚を積層し、
熱圧着した後、50×50mmに切断した。 (7) 切断した積層体を大気で750℃まで昇温し、
加熱し、0.2〜1.0時間保持した。 (8) ついで積層体を水素雰囲気中に移し、常温よ
り0.5℃/分の昇温速度で、350℃まで加熱し、
0.5〜1.5時間保持した後、水素雰囲気中で950
℃で焼成した。 これによつて第1図に示すようにガラス基板
1,1,1…の上に(導体)パターン2,2,2
…が印刷され、各基板はスルーホール3,3,3
…に充填された導体ペーストによつて電気的に導
通している7枚の絶縁基板からなる多層基板を製
造した。 この多層基板についてHeデイテクターを用い
て気密性を測定したところ1×10-8cc/std・sec
以下であつた。又接着強度の測定は第2図に示す
ように結晶化ガラス基板4の上に口1.6mmのパタ
ーン5を有する基板を作り、これに0.6φmmの銅線
を60Sn/40Pbの半田で接合した後、銅線を垂直
方向に引つ張ることにより測定した。 その結果は第2表に示すとおりである。
本発明は比較的簡単な方法で特に、TiO2もし
くはTiH2を添加した銅ペーストを用いるのみで
気密性に優れ、接着強度の向上した多層基板を容
易に製造することができる。
くはTiH2を添加した銅ペーストを用いるのみで
気密性に優れ、接着強度の向上した多層基板を容
易に製造することができる。
第1図は本発明の一実施例により製造された多
層基板の断面図で、第2図は接着強度の測定ピー
スの平面図である。 1:結晶化ガラス、2:導体ペースト、3:ス
ルーホール、4:結晶化ガラス、5:パターン。
層基板の断面図で、第2図は接着強度の測定ピー
スの平面図である。 1:結晶化ガラス、2:導体ペースト、3:ス
ルーホール、4:結晶化ガラス、5:パターン。
Claims (1)
- 1 導体ペーストを結晶可能なガラスを含有する
グリーンシートの表面に印刷し、積層し、同時焼
成する方法において、導体ペースト中の導体成分
が銅及び酸化銅のうちから選ばれる一種以上を銅
を基準として77重量%以上と、残部MnO212重量
%以下、Ag2O8重量%以下及びTiO2、TiH2のう
ちから選ばれる一種3重量%以下とからなること
を特徴とする高密度多層基板の製造法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12248687A JPS63289896A (ja) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | 高密度多層基板の製造法 |
US07/133,817 US4871608A (en) | 1986-12-10 | 1987-12-10 | High-density wiring multilayered substrate |
US07/196,408 US4837408A (en) | 1987-05-21 | 1988-05-20 | High density multilayer wiring board and the manufacturing thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12248687A JPS63289896A (ja) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | 高密度多層基板の製造法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63289896A JPS63289896A (ja) | 1988-11-28 |
JPH0552078B2 true JPH0552078B2 (ja) | 1993-08-04 |
Family
ID=14837039
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12248687A Granted JPS63289896A (ja) | 1986-12-10 | 1987-05-21 | 高密度多層基板の製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63289896A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0753625B2 (ja) * | 1987-10-12 | 1995-06-07 | 日本特殊陶業株式会社 | セラミック用メタライズ組成物 |
-
1987
- 1987-05-21 JP JP12248687A patent/JPS63289896A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63289896A (ja) | 1988-11-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7611645B2 (en) | Thick film conductor compositions and the use thereof in LTCC circuits and devices | |
US6610621B2 (en) | Glass-ceramic composition for ceramic electronic part, ceramic electronic part, and method for manufacturing multilayer ceramic electronic part | |
JPH0361359B2 (ja) | ||
JPH0343786B2 (ja) | ||
EP1717858A1 (en) | Thick film conductor paste compositions for LTCC tape in microwave applications | |
JP3331083B2 (ja) | 低温焼成セラミック回路基板 | |
JPH01231398A (ja) | セラミック多層配線基板とその製造方法 | |
JP3528037B2 (ja) | ガラスセラミック基板の製造方法 | |
EP1505040B1 (en) | Thick film dielectric compositions for use on aluminium nitride substrates | |
US4837408A (en) | High density multilayer wiring board and the manufacturing thereof | |
JP2010531044A (ja) | 金属コア基板および電子デバイスのための絶縁ペースト | |
JP2598872B2 (ja) | ガラスセラミックス多層基板 | |
JP2006236921A (ja) | 導体ペーストおよびこれを用いたセラミック配線基板とその製造方法 | |
EP0704864B1 (en) | Resistor on a ceramic circuit board | |
JP2695587B2 (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
JPH0552078B2 (ja) | ||
US5120473A (en) | Metallizing composition for use with ceramics | |
JP2539169B2 (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
JPS63209150A (ja) | 低誘電率絶縁体基板 | |
JP4646362B2 (ja) | 導体組成物およびこれを用いた配線基板 | |
JPH068189B2 (ja) | 酸化物誘電体材料 | |
JP3934811B2 (ja) | 高熱膨張ガラスセラミック焼結体およびその製造方法、配線基板ならびにその実装構造 | |
JPH0686327B2 (ja) | セラミツク基板用組成物 | |
JPS61278195A (ja) | 多層回路基板及びその製造方法 | |
JPS63147395A (ja) | 高密度配線多層基板の製造法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |