JPH0550741U - 突起電極付き半導体装置 - Google Patents
突起電極付き半導体装置Info
- Publication number
- JPH0550741U JPH0550741U JP10210391U JP10210391U JPH0550741U JP H0550741 U JPH0550741 U JP H0550741U JP 10210391 U JP10210391 U JP 10210391U JP 10210391 U JP10210391 U JP 10210391U JP H0550741 U JPH0550741 U JP H0550741U
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- Japan
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- semiconductor device
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- external electrode
- lead
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- Pending
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- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多数リード半導体装置の実装密度を上げ且つ
実装を精度よく容易に行う。 【構成】 フィルムキャリア半導体装置を実装した耐熱
性絶縁フィルムにおいて、フィルムキャリア半導体装置
の外部リード2bが接続するOLBパッド5bがスルー
ホール8bを介して導通された外部電極パッド4bを半
導体チップ1b下の耐熱性絶縁フィルム6bの裏面に設
け、その上に金や半田等かなる金属製突起17bを形成
する。また外部電極パッド4bは半導体チップ1bの実
装面内に散在させてある。 【効果】 金属製突起電極17bによる接合であり、そ
れらのピッチを広く出来ることで、実装時に電極間ショ
ートが発生せず、接合の信頼性が上がり、半導体装置の
寸法を拡大する必要がないので実装密度を高められる。
実装を精度よく容易に行う。 【構成】 フィルムキャリア半導体装置を実装した耐熱
性絶縁フィルムにおいて、フィルムキャリア半導体装置
の外部リード2bが接続するOLBパッド5bがスルー
ホール8bを介して導通された外部電極パッド4bを半
導体チップ1b下の耐熱性絶縁フィルム6bの裏面に設
け、その上に金や半田等かなる金属製突起17bを形成
する。また外部電極パッド4bは半導体チップ1bの実
装面内に散在させてある。 【効果】 金属製突起電極17bによる接合であり、そ
れらのピッチを広く出来ることで、実装時に電極間ショ
ートが発生せず、接合の信頼性が上がり、半導体装置の
寸法を拡大する必要がないので実装密度を高められる。
Description
【0001】
この考案は、突起電極付き半導体装置に関し、特に多ピン化及び高密度実装を 要求される半導体装置に関する。
【0002】
従来のフィルム方式による半導体装置の製造方法は、図6及び図7に示す如く 、搬送及び位置決め用のスプロケットホール13aと、半導体チップ1aが入る 開孔部であるデバイスホール14aを有するポリイミド等の絶縁フィルム上に、 銅等の金属箔を接着し、この金属箔をエッチング等によりパターニングして所望 の形状のリード2aと電気選別のためのパッド15aとを形成したフィルムキャ リアテープ12aと、予め電極端子上に金属突起物であるバンプ3aを設けた半 導体チップ1aとを準備し、次にフィルムキャリアテープ12aのリード2aと 半導体チップ1aとを熱圧着法または共晶法等によりインナーリードボンディン グし、フィルムキャリアテープ12aの状態で、電気選別用パッド15a上に接 触子を接触させて電気選別やバイアス試験を実施し、樹脂7aで保護コートする ことにより完成する。
【0003】 上記のようなフィルムキャリア半導体装置を実装する場合は、リード2aを所 望の長さに切断し、リード加工したのち、図7の如く、プリント基板9a上に接 着剤11aにより半導体チップ1aを固着後、リード2aをプリント基板上9a 上のボンディングパッド10aにアウターリードボンディングして実施すること ができる。
【0004】 これらのフィルムキャリア半導体装置は、ボンディングがリード数と無関係に 一度で可能であるため、スピードが速いこと、フィルムキャリアテープ12aを 使用するため作業の自動化が容易である等の利点を有している。
【0005】
上述した従来のフィルムキャリア半導体装置は、アウターリードボンディング するためのリードが細く、かつ薄いため、リード変形が生じ易く、実装が難しい という欠点がある。特に多数リードの半導体装置は、リードピッチが狭いため、 半田による接合の場合は半田ブリッジによるショート等があり、実装をさらに困 難にしている。現状では、半田による実装が、安定して可能となる限界は、一般 に0.5mmのリードピッチと言われているが、200〜300ピン以上の多数 リード半導体装置に対し、0.5mmのリードピッチを適用した場合は、半導体 装置の面積が大きくなり、実装密度を小さく出来ないことになる。最近の半導体 装置は、その能力増加にともなって多数リード化が著しいが、上述した実装密度 の問題があり、特にフィルムキャリア半導体装置はインナーリードボンディング が多数リード化に対応し易いのに対し、アウターリードボンディング側の制約に より、実装密度の点では、他のパッケージと同一であり、さらにリードが薄いた め実装が難しいという欠点がある。
【0006】
本考案の突起電極付き半導体装置は、フィルムキャリア半導体装置を、実装し た耐熱性絶縁フィルムにおいて、フィルムキャリア半導体装置の外部リードが接 続する外部リードボンディング(以下OLBという)パッドがスルーホールを介 して導通された外部電極ハッドを耐熱性絶縁フィルムの裏面に設け、この外部電 極パッドにAuや半田等からなる金属突起を設けた構造とすることを特徴とする 。さらに外部電極パッドを表面の半導体チップの実装面積内に散在させることも できる。
【0007】
上記の構成によると、外部電極を突起電極にし、且つ半導体チップ裏面内に散 在させて設けることで、外部電極間のピッチを広くとれるので、実装する時に電 極間ショートの発生がなく、信頼性の高い接続が得られる。したがって、半導体 装置の寸法を拡大することなく外部電極間のピッチを拡大できるので、高密度の 実装も容易に可能となる。
【0008】
以下、この考案について図面を参照して説明する。
【0009】 図1(a)及び(b)は、この考案の一実施例の半導体装置の表面と裏面の平 面図である。
【0010】 図1(a)に示すように、半導体チップ1bは、耐熱性絶縁フィルム6bに固 着され、電極端子に設けられたバンプ3bを介してリード2bの一端と、ボンデ ィングされており、リード2bの他端が耐熱性絶縁フィルム6bに形成されたO LBパッド5bに接合されている。この製法は前述の従来技術の説明に於ける実 装法(図7を参照)と同様に行う。リード2bはOLBパッド5bにあるスルー ホール8bを介し、図1(b)に示すように、耐熱性絶縁フィルム6bの裏面に 形成された外部電極に接続されている。外部電極4bは、隣接するパッドとの間 隔が出来る限り大きくとれる位置に形成されている。
【0011】 このような両面にパターンを有するフィルムは米国3M社より市販されている グランドテープ等の応用により容易に製作出来る。例えば、最初にポリイミドフ ィルムに50μm径のスルーホールを形成し、無電解メッキにてポリイミドフィ ルム両面にCuを薄く被覆後、次にOLBパッドや外部電極パッド等のパターン 部のみを選択的にCuの電解メッキによりパターン形成とスルーホールメッキを 行い、さらにCuを薄くエッキングすることにより、パターン間に残された不要 な薄いCuを除去する。AuやSn等のメッキをパターン部に施したのち、外部 電極4b上にフォトマスク法等により選択的に半田メッキを10〜20μm程度 施して半田突起17bを形成する。このようにして完成した突起電極付き半導体 装置の側面図が図2である。図3は、その実装状態を示す側面図である。半田突 起17bを溶融して、プリント基板9b上に接続される。
【0012】 上記のような突起電極付き半導体装置は、製造工程においてはフィルムキャリ ア半導体装置の特長とそのまま生かすことが出来る上に、外部電極をチップ裏面 内のフィルム上に、可能な限り間隔をあけて形成しているため、半田ブリッジに よるショートを発生させず、赤外線加熱等のリフロー等で多数リードの半導体装 置を一括して容易に精度よく実装できるという利点を有する。
【0013】
【実施例2】 図4は、この考案の第2実施例の側面図である。この実施例は前記第1の実施 例の半田突起に代えて、Auボール16bで突起電極を形成する。その形成方法 は特開昭54−2662号公報,特開昭60−194543号公報,USP4, 442,967等で紹介されているようにワイヤーボンディングにおけるAuボ ール16bのみを外部電極パッド4b上に形成したものである。
【0014】 図5はその実装状態を示す側面図である。プリント基板9b上に設けられたボ ンディングパッド10bと上記の突起電極付き半導体装置のフィルムの裏面に設 けられた外部電極パッド4b上のAuボール16bとの間に異方導電性接着シー ト18bをはさみ、プリント基板9bを加熱しながら、樹脂7bで封止された半 導体チップ1bをツールにより加圧することで、容易に実装することが出来る。 例えば、日経マイクロデバイス1988年12月号にて紹介されている日立化成 工業の異方導電性シートであれば、約150℃で接着可能であり、ポリイミドの 耐熱性に対し十分低い温度で実施可能である。この実施例においても、前記第1 の実施例と同様の利点を有する。
【0015】
以上説明したように、この考案は、外部電極を半導体チップ下の耐熱性絶縁フ ィルムの裏面に金属製突起電極パッドとしてピッチを広げて設けたことで実装が 精度よく容易に可能となる。また電極間のショート等も発生せず、接合の信頼性 が上がり、実装密度を高めることが出来る効果がある。
【図1】 この考案の突起電極付き半導体装置の表面と
裏面の平面図
裏面の平面図
【図2】 図1の側面図
【図3】 本考案の半導体装置の実装状態を示す側面図
【図4】 本考案の別の実施例の側面図
【図5】 別の実施例の実装状態を示す側面図
【図6】 従来のフィルムキャリア方式による半導体装
置の平面図
置の平面図
【図7】 従来のフィルムキャリア方式による半導体装
置の実装状態を示す側面図
置の実装状態を示す側面図
1b 半導体チップ 2b リード 3b バンプ 4b 外部電極パッド 5b 外部リードボンディング(OLB)パッド 6b 耐熱性絶縁フィルム 7b 樹脂 8b スルーホール 9b プリント基板 10b ボンディングパッド 11b 接着剤 16b Auボール 17b 半田突起 18b 異方導電性接着シート
Claims (2)
- 【請求項1】フィルムキャリア半導体装置を実装した耐
熱性絶縁フィルムにおいて、前記フィルムキャリア半導
体装置の外部リードが接続する外部リードボンディング
パッドがスルーホールを介して導通された外部電極パッ
ドを耐熱性絶縁フィルムの裏面に設け前記外部電極パッ
ドに突起電極を設けたことを特徴とする突起電極付き半
導体装置。 - 【請求項2】外部電極パッドは表面の半導体チップの実
装面に対向する位置に散在させた請求項1記載の突起電
極付き半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10210391U JPH0550741U (ja) | 1991-12-11 | 1991-12-11 | 突起電極付き半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10210391U JPH0550741U (ja) | 1991-12-11 | 1991-12-11 | 突起電極付き半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0550741U true JPH0550741U (ja) | 1993-07-02 |
Family
ID=14318462
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10210391U Pending JPH0550741U (ja) | 1991-12-11 | 1991-12-11 | 突起電極付き半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0550741U (ja) |
-
1991
- 1991-12-11 JP JP10210391U patent/JPH0550741U/ja active Pending
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