JPH05502979A - 高速ターン―オン・スイッチング用scr構造 - Google Patents
高速ターン―オン・スイッチング用scr構造Info
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/70—Bipolar devices
- H01L29/74—Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の名称
高速ターン−オン・スイッチング用SCR構造技術分野
本発明は、一般にラッチスイッチ、ことに改良されり高速ターン−オン・ラッチ
ング・スイッチ(fastturn−on latching 5w1tch
)に関する。
背景技術
〉リコン制御整流累子(SCR)と[7て一般に知られているラッチング・スイ
ッチは、4層PNPNサイリスタである。この構造けP陽極、N陽極ビート、P
陰極’7’−ト及びN陰極を備えている。このSCR構造は、その単位面積当た
り大電流を通すことのできる能力で多くの他の固体スイッチ(5olid 5t
ate 5w1tch )に勝った利点がある。この理由でEiCRは、パワー
MO3に対し%[レベル信号をケ9−ト・ドライブ(gate drxve )
に3i1fるパワー・ドライバ回路に使われる。高速回路製作に対し、SCRの
ターン−オン時間は最小でなければならない。
現用の集積回路処理法と共存できる従来のSCR構造は第1図に例示しである。
埋込みN十層12を持つN−アイランド10は、絶縁層16により支持構造14
から絶縁する。N十陰極領域18は、P十陰極ゲ9−ト′接触領域22も含むP
−陰極r−ト接触領域10に形成しである。P十陽極24は、N十陽極ケ9−ト
接触頭域28と同様に11〜陽極’7”−トルJ域10に形成しである。
第2図に示すように第1図のSCRは横方向PNP トランジスタQL2に接続
した縦方向NPN トランジスタQV1全備えている。陽極領域24はトランジ
スタQL2のエミッタを形成し、14極ゲート又は基板10はQL20ベースを
形成し、陰極デート領域20ばQ L 2のコレクタを形成する。陰憧18は縦
方向トランジスタQVIのエミッタを形成し、陰極デート20はQVlのベース
を形成し、又陽極r−ト又は基板10はQVlのコレクタを形成する。陽極ゲ9
−ト又は基板10と陰極ケ”−ト20との共用によりQVIのベースに対するQ
L2のコレクタとQL2のベースに対するQVlのコレクタとの相互接続ができ
る。この相互接続は正のフィードバックループを形成する。スイッチをターフ・
オンするには各トランジスタのベースのいずれかに電流を加える。SCRは、信
号が第2図の破線で例示したフィードパンク・ループの全周に伝わるまでは十分
にはターン・オンされない。
分りやすいように集積回路の領域は、そのSCHの名前でなくてトランジスタの
名前を使って表わし、これ等の領域がそのSCRの機能を表わすのはもちろんで
ある。
たとえばターン−オン信号を領域22でQVlのべ−スに加えると、この信号が
QVlのコレクタ10に表われるまで遅延を伴う。この時間遅延は、陰極又はエ
ミッタ18から注入されベース領域20を経てコレクタ10に拡散する電子を取
る時間である。この電子電流は、次いでQL2のエミツタ24ベース10接合に
順方向バイアスを加え、ベース領域10内にホールを注入する。これ等のホール
は次いでベース5[10を経て拡散し、横方向トランジスタQL2のコレクタ2
0により収集される。コレクタ20は又QViのベースであり出発点である。こ
れはフィードバックループに終る。ターンオン時間は縦方向トランジスタQ1及
び横方向トランジスタQ2の各遅延の和に比例する。
一定の値Vbeに対し、ベースに蓄積された1荷は、ベース幅及びコレクタ電流
に比例する。従ってベータはベース幅に逆比例する。この場合ベース過渡時間が
ベース幅の自乗に逆比例する。横方向トランジスタの縦方向ベース幅の10程度
の比に対し、横方向及び縦方向の電気的パラメータの間の差は重要である。第1
図に示すように縦方向ベース幅Wt/1は横方向ベース幅“y +−2に比べて
実質的に小さい。
この問題の解決法はtJPN及びPNPの各トランジスを縦方向素子として形成
することによりベース幅及びター)−オノ時間金最小にすることである。縦方向
のPNP及びN PNの谷トランジスタの組合せ1)′:t、現在1でのブレー
す処理ではできなかった。
発明の開示
すなわち本発明の目的は、縦方向NPN及び横方向PNP ’i互いに集積して
ラッチング・スイッチを形成fるようにした集積回路を提供することにある。
本発明の他の目的は、集積回路に組込んだSCRのターン−オン時間を向上させ
ることにある。
なお本発明の他の目的は、単位体積当たりのSCRの陽極及び陰極のr−ト接合
を最大にすることにある。
これ等の又その他の目的は、相互に並列に接続されそれぞれベースを並列接続の
縦方向及び横方向のNPNトランジスタのコレクタに接続され又それぞれコレク
タを各NPN トランジスタのベースに接続した縦方向及び横方向のPNPを持
つラッチング・スイッチを形成スることにより達成される。ラッチング・スイッ
チでPNPエミッタは陽極を形成し、PNPベースは陽極デートラ形成し、NP
Nベースは陰極y”−トを形成し、NPNエミッタは陰1に一形成する。縦方向
及び横方向のPNPは共通のベースエミッタ接合を持ち、又縦方向及び横方向の
NPNは共通のペースエミッタ接合を持つ。縦方向及び横方向のPNPは、縦方
向PNPのコレクタ領域との接合と縦方向PNPのコレクタ領域の境界とを持つ
共通のベース領域を備える。縦方向及び横方向のNPNは、縦方向NPNのコレ
クタ領域との接合と縦方向PNPのコレクタ領域との境界とを持つ共通のベース
領域を備える。
プレーナ処理における集積は、第1の項六に隣接するN及びPのウェルに備え適
当なウェル内に適当なベース領域及びエミッタ領域を設けて縦方向のNPN )
ランジスタ及びPNP トランジスタ全生成することによってできる。縦方向P
NPのベースを形成するN陽極デ9−ト領暖は、縦方向コレクタ全形成しウェル
境界(て交差するPウェル内に形成される。陽極又はPエミッタ領域はベース額
域内に形成する。PNP g1方向トランジスタのPベース領域は、Nウェル領
域に形成されウェル境界に交差しこの境界内にNエミッタ領域を形成する。
Nベース及びPベースの領域は互いに異なる区域のつx ル境”7%に交差する
。Pエミッタ、Nベース、Nエミッタ及びPベースは境界を横切ってP及びNの
ウェル間に9mびる。この場合、互いに等しいペースエミッタ接合を持ち又共通
のペースエミッタ接合を持つ4つの並列のSCR接続のトランジスタが得られる
。
本発明の他の目的、利点及び新規な特長は添付図面による本発明の以下の詳しい
説明から明らかである。
図面の簡単な説明
第1図は従来のSCRの横断面図である。
第2図はターン−オン中の第1図のSCHの回路図である。
第3図は本発明によるラッチング・スイッチを一部を横断面にして示す斜視図で
ある。
第4図はターン−オン中の第3図のスイッチの回路図である。
第5図は本発明による別のラッチング・スイッチを一部を横断面にして示す斜視
図である。
第6図は本発明によるさらに別のラッチング・スイッチ金一部全横断面にして示
す斜視図である。
実施例
本発明による第3図の集積回路は、共通の区域に対し第1図の従来の素子と同じ
参照数字を使う。陽極r−ト接触領域28及び陰極r−ト接触領域22は、分り
やすいように第3図からは省いて製造したデバイス内に含めである。先ず第4図
に示すように本発明は4個のトランジスタを備えたラッチング・スイッチすなわ
ちSCR’i影形成る。−万は縦方向トランジスタQV4であり、他方は横方向
トランジスタQL2である1対のPNP トランジスタは、それぞれエミッタ、
ベース及びコレクタにおいて並列に接続しである。1つは縦方向QV1であり1
つは横方向QL3である2個のNPN トランジスタも又、それぞれコレクタ、
ベース及びエミッタにおいて並列に接続しである。各PNP l−ランジスタQ
L2及びQV4のベースは、各NPN )ランソスタQL3及びQVlのコレク
タに接続しである。
各NPN トランジスタQL3及びQVlのベースは、各PNP トランジスタ
QV4及びQL2のコレクタに接続しである。
第2図に示した高速縦方向トランジスタQV1及び低速横方向トランジスタQL
2に通るフィードパンクの代りに、第4図の回路は、破線で示すように縦方向ト
ランジスタQV1及びQVdに一通る高速ターン−オン経路を形成する。信号が
QVlのベースに送られるものとすると、この信号はQVlのベースからコレク
タに、又QV4のベースからコレクタに進む。これ等の時間は共に比較的短いか
ら、全ターンオン時間はこれ等の2つの縦方向トランジスタの和である。
特定の集積回路構成を第3図に例示しである。Nウェル(welk )領域はP
ウェル領域ろDとの境界40を持つ。一般的処理順序ではP−不純物のN基板へ
の選択的導入はP−ウェル30を生ずる。P陰極ケ9−ト領域20は、N十陰極
領域18の場合と同様にに一ウェル10及びPウェル30内に境界40を横切っ
て延びるものとして示しである。P十陽極24も又、N−ウェル領域10及びP
−ウェル領域30を横切って延びる。P十陽極が生成されP−ウェルろ0から絶
縁された付加的湯極ケ9−ト領域26が加えである。この′79−ト領域26も
又境界40を横切ってN−ウェル領域10及びP−ウェル領域ろO内に娘びてい
る。
NPN 及びPNPの各トランジスタのエミッタを形成するN十領域18及びP
十領蛾24は、文字Vを使う縦方向トランジスタと、文字Li使う横方向トラン
ジスタとに協働するエミッタの部分1表わす2つの文字で示しである。同様にバ
イポーラ・トランジスタの各ベースを形成するP領域20及びN領域26も又文
字V及びLを含む。N−ウェル領域10は、縦方向NPN トランジスタのコレ
クタと、横方向PNP )ランジスタのベースの部分とを形成する。P−ウェル
領域30は、PNP縦方向トランジスタのコレクタと、NPN横方向トランゾス
タのベースの部分とを形成する。第3図について前記した表示は又第4図でも使
用する。又第4図では上下方向の破線は左側ではP−ウェル30と右側ではN−
ウェル10とを表わすようにしである。
ベース20に信号を加えると、縦方向トランジスタとして電子流がN十エミッタ
18VからPベース20Vを経て反−コレクタ領域10内に流れる。N−コレク
タ10はN領域26LによりPNP縦方向トランジスタのNベース領域26Vに
接続しであるから、P十エミッタ24vからP−コレクタ30への電荷の流れも
又縦方向トランジスタを通る。P−コレクタ30はベース領域20Vに共通のP
ベース領域2OLに接続しであるから、全円フィードバックはすべて縦方向トラ
ンジスタ金経て完了する。
第3図に示すように縦方向及び横方向のNPNと縦方向及び横方向のPNPの各
ベースエミッタ接合は共通である。すなわちこれ等は接合縁部で同じVbe及び
同じ少数キャリア密度を持つ。横方向ベース幅の縦方向ベース偏に対する比が1
0でありPウェル及びNウェルの面積が互いに等しいものとすると、始動時に9
1%の回流が縦方向トランジスタQV1及びQVdを経て流れる。この場合縦方
向素子において、電流密度及びベース電荷密度が82チだけ増す。Vbeの増加
uiir流密度の増加を伴いこの増IJOKよジベース電流も増す。
ベース幅の差によって横方向デバイスの電流密度及びベース電荷密度は、並列の
縦方向構造QL2及びQL3が存在しなければこれ等の密度のわずかに18%で
ある。
縦方向及び横方向を並列に含む複合スイッチは、縦方向トランジスタの約半分の
ベータ及びFti持つが、横方向トラ7ソスタよ95倍大きいベータ及び50倍
大きいFtを持つ。NPNに加えるベース電流によるPNPのコレクタ電流間の
伝播遅延のコンピュータ・ノミュレーションは、この析たl構造が出力が入力に
等しい点を考匣すると2倍早いことを示す。
P−ウェルろOをN−ウェル10と組合せて使うことにより、接合区域がr−)
対y”−ト接合に加えられるが、素子体積は増さない。このケ9−ト対デート接
合がl1li方向バイアスを受けたときのターンオンの後段階では、少数キャリ
アが移動してデバイス体積を完全に伝導率変調するには接合面積当たりの距離又
は体積が一層小さい。
第3図の実施例におけるベース領域20.26の間隔は、このデバイスの電圧の
降伏と接地法則とにより指示される。第6図は1対のベース領域20.26を示
すが復数対の並列のベース領域は表面上の導電体により加えられ並列に接続され
る。
第3図の回路の変型を第5図に例示しである。縦方向ベース領域20vば、境界
40を過ぎては咄びていない。このような例ではエミッタ18Vは、境界40に
達しないで停止し、コレクタ10と共にP−ウェルろ0から絶縁される。同様に
ベース領域26は、P−ウェル領域30だけにあり、N−ウェル領域10内には
咄びないで境界40に延びこれに交差する。又エミッタ領域24は、境界には延
びないで、P−コレクタ30及びN−ウェル領域10から絶縁されるように位置
する。各横方向トランジスタのベースは、縦方向トランジスタに関して非動作に
なるように十分に大きくなる。
許容差を隠蔽するので、ベース20.261d境界40を越えて最小距離だけ延
びこれ等のベースが境界40に確実に交差するようにする。これ等のベースが境
界40に交差しなければ、この構造は、2つの接合絶縁相補形トランジスタにな
る。この構造では、各ベース領域間の距離は減小するが、互すに異なる区域でつ
ねに境界40に交差しなければならない。
第5図についてはこの実施例は陽極及び陰極のr−ト対デート接合が第6図の場
合と同じ大きさにならない。
横方向トランジスタ構造が縮小し又陽極及び陰極のデート対デート接合の増大し
た第6図及び第5図の実施例の組合せは、第6図に例示しである。各ベース領域
20.26は、互いに等しい寸法を持ち、相互に並列で大きい陽極及び陰極のヒ
ート対’l’−)接合を形成する。陽極24及び陰極18は、それぞれのベース
より短い長さを持ち各ウェル10.30から絶縁されるようにする。各ウェル1
0.5[1とその境界とは、境界40がウェル及び各ベース20.26を横切る
対角線である場合に修正しである。横方向ベース領域26L 、 2 Q Lに
対し生成表面は最小になる。第5図の場合と同様に各ベース20.26は、対向
するウェルに確実に接続するのに境界を越えて成る最小距離だけ延びなければな
らない。
以上本発面をその実施例について詳細に説明したが本発明はなおその精神を逸脱
しないで種種の変化変型を行うことができるのはもちろんである。
FfG、I
Fl(1; 2
P−WELL 1 N−WELL
□
■
F’16;岳
Fl(1; Ii;
要約書
本発明ラッチング・スイッチは、相互に並列に接続した縦方向及び横方向のPN
P ′!il−持ち、これ等の各PNPのベースを並列接続の縦方向及び横方向
のNPN )ランジスタのコレクタに接続し、又それぞれ前記各PNP トラン
ジスタのコレクタを前記NPN トランジスタのベースに接続する。
PNP 1ミッタ24V、24Lは陽極を形成し、PNPのベース26V、26
L、10は陽極デートを形成し、NPNのベース20V l 2OL 、30は
陰極’rデート形成し、NPNエミッタ18V、18Lは陰ffl’を形成する
。
ブレーナ処理における集積は、(イ1第1の境界40に隣接するN及びPのウェ
ル10,30t−設け、(口1適当なウェル10.30に適当なベース頭載20
.26及びエミッタ領域18.24e設けて相互に接続した縦方向NPN )ラ
ンジスタ及びPNP トランジスタを作ることにより、得られる。若干の実施例
では集積結線を保持しながら、横方向トランジスタを最少にし実際上なくす。
国際調査報告
Claims (11)
- 1.陽極、陽極ゲート、陰極ゲート及び陰極を持つラッチング・スイッチにおい て、 それぞれのコレクタ、ベース及びエミッタにより、横方向PNPトランジスタに 並列に接続した縦方向PNPトランジスタと、 それぞれのコレクタ、ベース及びエミッタにより、横方向NPNトランジスタに 並列に接続した縦方向NPNトランジスタとを備え、 前記縦方向PNPトランジスタのコレクタ及びベースを、それそれ前記横方向N PNトランジスタのベース及びコレクタに接続し、 前記横方向PNPトランジスタのコレクタ及びベースを、それそれ前記縦方向N PNトランジスタのベース及びコレクタに接続し、 前記PNPトランジスタのエミッタは前記陽極であり、前記PNPトランジスタ のベースは前記陽極ゲートであり、前記各NPNトランジスタのベースは前記陰 極ゲートであり、前記NPNトランジスタのエミッタは前記陰極である、ラッチ ング・スイッチ。
- 2.前記縦方向及び横方向PNPトランジスタに、共通のベースーエミツタ接合 を設け、前記縦方向及び横方向NPNトランジスタに、共通のベースーエミツタ 接合を設けた、請求の範囲第1項のラッチング・スイッチ。
- 3.前記縦方向及び横方向PNPトランジスタに、前記縦方向PNPトランジス タのコレクタ領域との接合と、前記縦方向NPNトランジスタのコレクタ領域と の境界とを持つ共通のベース領域を設け、 前記縦方向及び横方向のNPNトランジスタに、前記縦方向NPNトランジスタ の前記コレクタ領域との接合と、前記縦方向PNPトランジスタの前記コレクタ 領域との境界とを持つ共通のベース領域を設けた、請求の範囲第1項又は第2項 のラッチング・スイッチ。
- 4.前記縦方向PNPトランジスタに、基板のPコレクタ・ウエル部分内のNベ ース領域と、このNベース領域内のPエミッタ領域とを設け、 前記縦方向NPNトランジスタに、前記基板のNコレクタ・ウエル部分内のPベ ース領域と、このPベース領域内のNエミッタ領域とを設け、 前記Nベース領域を前記Nコレクタ・ウエル部分に接続するように前記基板内に 設けたN−型手段と、前記Pベース領域を前記Pコレクタ・ウエル部分に接続す るように、前記基板内に設けたP−型手段とを備えた、請求の範囲第1項のラッ チング・スイツチ。
- 5.前記N−型手段に、前記Nベース領域と共通の境界を持つ前記Nコレクタ・ ウエル部分を設け、前記P−型手段に、前記Pベース領域に共通の境界を持つ前 記Pコレクタ・ウエル部分を設けた、請求の範囲第4項のラッチング・スイッチ 。
- 6.前記Nベース領域が、前記Nコレクタ・ウエル部分内に延び、 前記Pベース領域が、前記Pコレクタ・ウエル部分内に延び、 前記Pエミッタ領域が、前記Nコレクタ・ウエル部分を越えて前記Nベース領域 内に延び、前記Nエミッタ領域が、前記Pコレクタ・ウエル部分を越えて前記P ベース領域内に延びるようにした、請求の範囲第5項のラッチング・スイッチ。
- 7.陽極領域、陽極ゲート領域、陰極ゲート領域及び陰極領域を基板内で集積し たラッチング・スイッチにおいて、 第1の境界に隣接するN及びPウエル領域と、前記Pウエル領域内に設けられ、 第1の区域において前記第1の境界と交差するN陽極ゲート領域と、このN陽極 ゲート領域内のP陽極領域と、前記Nウエル領域に設けられ、前記第1の区域と は異なる第2の区域において、前記第1の境界と交差する陰極ゲート領域と、 前記陰極ゲート領域内のN陰極領域と、を包含するラッチング・スイッチ。
- 8.前記陽極領域及び陽極ゲート領域により、それぞれ横方向及び縦方向のPN Pトランジスタのエミッタ及びベースを形成し、前記Pウエル領域により前記縦 方向PNPトランジスタのコレクタを形成し、前記P陰極ゲートにより、前記横 方向トランジスタのコレクタを形成し、 前記陰極領域及び陰極ゲート領域により、それぞれ前記横方向及び縦方向NPN トランジスタのエミッタ及びベースを形成し、前記Nウエル領域により、前記縦 方向NPNトランジスタのコレクタを形成し、前記N陰極ゲートにより、前記横 方向NPNトランジスタのコレクタを形成した、請求の範囲第7項のラッチング ・スイッチ。
- 9.前記のN陽極ゲート領域、前記P陽極領域、前記P陰極ゲート領域及び前記 N陽極領域が、前記第1境界を実質的に横切り両方向に延びるようにした、請求 の範囲第7項のラッチング・スイッチ。
- 10.前記第1の境界を、前記各ウエルに対する前記の陽極ゲート領域及び陰極 ゲート領域の境界に関して対角線上に位置させた、請求の範囲第7項のラッチン グ・スイッチ。
- 11.前記第1の境界を、前記各ウエルに対する前記陽極ゲート領域及び陰極ゲ ート領域の境界に対し横方向にした、請求の範囲第5項のラッチング・スイッチ 。
Applications Claiming Priority (2)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5086242A (en) * | 1990-10-16 | 1992-02-04 | Harris Corporation | Fast turn-off of thyristor structure |
US5504449A (en) * | 1992-04-09 | 1996-04-02 | Harris Corporation | Power driver circuit |
US6164557A (en) * | 1998-04-30 | 2000-12-26 | Sioux Steam Cleaner Corporation | Fluid temperature control for a heated fluid cleaner with multiple outlets |
Family Cites Families (7)
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---|---|---|---|---|
US3617827A (en) * | 1970-03-30 | 1971-11-02 | Albert Schmitz | Semiconductor device with complementary transistors |
FR2523370B1 (fr) * | 1982-03-12 | 1985-12-13 | Thomson Csf | Transistor pnp fort courant faisant partie d'un circuit integre monolithique |
DE3380004D1 (en) * | 1982-03-30 | 1989-07-06 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory device |
EP0093304B1 (en) * | 1982-04-19 | 1986-01-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor ic and method of making the same |
JPS6173364A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-15 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置 |
US4635087A (en) * | 1984-12-28 | 1987-01-06 | Motorola, Inc. | Monolithic bipolar SCR memory cell |
EP0295097B1 (en) * | 1987-06-11 | 1993-11-18 | Fairchild Semiconductor Corporation | Fabricating a semiconductor structure |
-
1989
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009038257A (ja) * | 2007-08-02 | 2009-02-19 | Texas Instr Japan Ltd | 半導体装置及びその駆動方法 |
JP4605194B2 (ja) * | 2007-08-02 | 2011-01-05 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 半導体装置及びその駆動方法 |
Also Published As
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