JPH0550261U - 逆止弁 - Google Patents

逆止弁

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JPH0550261U
JPH0550261U JP10108391U JP10108391U JPH0550261U JP H0550261 U JPH0550261 U JP H0550261U JP 10108391 U JP10108391 U JP 10108391U JP 10108391 U JP10108391 U JP 10108391U JP H0550261 U JPH0550261 U JP H0550261U
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diaphragm
main body
valve
cavity chamber
check valve
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洋一郎 風間
拓矢 野上
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体製造装置などの配管系に使用される逆
止弁として、金属粉などの塵埃の発生のない逆止弁を提
供すること。 【構成】 流入口に連通する凹所を上面に設け、流出口
に連通する弁座を前記凹所に形成した本体と、該本体の
上部に固定するふたと、前記弁座に直接、着座あるいは
離座する薄板金属製のダイアフラムと、前記本体とふた
との間で前記ダイアフラムの周縁部を密封挟持するダイ
アフラム押えとからなり、前記ダイアフラムを隔壁とし
て、前記ふた側に上キャビティ室を、前記本体凹所の弁
座回りに下キャビティ室を形成すると共に、前記流出口
と前記上キャビティ室とを連通する貫通孔を設けたこと
を特徴とする逆止弁。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、主に半導体製造設備のガス配管に用いられる逆止弁に関するもので 、発塵を嫌うクリーンな配管に適した逆止弁に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体を製造するプロセスの重要なものとして成膜、エッチングの工程がある 。これらプロセスは半導体用の特殊ガスを用いたプロセスで、近年の半導体の高 集積化によってそのガスに含まれる細かい塵、即ちパーティクルの低減がさらに 強く要求されている。したがってこのガスを供給する配管系の配管機器について も発塵しないことが望まれているが、逆止弁については弁内部にある弁体を流入 口に付勢するコイルばねによって閉止する例えば図3に示す構造のものが一般的 に用いられている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
前述の構造の逆止弁は摺動部からの発塵が問題であった。即ち、弁内部にある コイルばね21が作動時に弁本体の支持部20との間で擦り合わされることで生じる 摩耗粉、さらに弁体22の作動時に弁体22と弁本体23との間で発生する摩耗粉など により、該逆止弁で制御される流体に多量の摩耗粉が混入し、半導体プロセスに 甚大な損害を与えることになる。 本考案の目的は、前述の摩耗粉などの塵埃の発生を確実に防止した逆止弁を提 供することである。
【0004】
【課題を解決するための手段及び作用】
本考案の逆止弁は、前述に示した従来の逆止弁の問題点であった発塵を防止す るため弁体およびコイルばねをなくした弁である。つまり、本考案は、流入口に 連通する凹所を上面に設け、流出口に連通する弁座を前記凹部のほぼ中央部に形 成し、さらに流出口と連通するパイロットを前記凹部の外側位置に設けた本体と 、該本体の上部に固定するふたと、前記弁座に直接、着座あるいは離座する金属 製のダイアフラムと、該本体の上部と前記ふたの間で前記金属製ダイアフラムを 挾持するダイアフラム押え部材とからなり、このダイアフラム押えに連絡孔を形 成し、ふたを本体に固定したとき前記本体と前記ダイアフラム押え部材との間で ダイアフラムの周縁部を密封挾持すると共に、前記ふた側に上キャビティ室を、 前記本体都凹所の弁座回りに大キャビティ室を構成し、前記流出口と連通するパ イロット孔とダイアフラム押えの連絡孔とを連通して、流出口の流体圧力を上キ ャビティ室に導入できるようにした逆止弁である。従って、流入口の圧力が流出 口の圧力より高いときは、前記弁座に圧接したダイアフラムが上方に弾性変形し て弁は開弁し、流入口の圧力が流出口の圧力より低いとき、流出口の圧力を前記 貫通孔からダイアフラム上面の上キャビティ室に導入した流出口側の流体の圧力 を利用してダイアフラムを前記弁座に圧接することで弁を閉とするよう構成した 逆止弁である。したがって部材が擦り合わすことによる摩耗粉などの塵埃の発生 を確実に防止できる。
【0005】
【実施例】
図1は本考案の実施例を示す断面図である。図1は逆止弁が閉弁している状態 を示す。 1は逆止弁の本体で、次のように構成されている。左側に流入口3、右側に流 出口4を形成し流入口3には下キャビティ室13へ連通する上向き流路10を形成し 、流出口4には同じく下キャビティ室13からシート部5を介して連通する下向き 流路11を形成している。さらに流出口4には、これから分岐したパイロット孔9 を前記下向き流路11と並列に形成し、このパイロット孔9はダイアフラム押え7 に形成した連絡孔15を通じて上キャビティ室12に連通している。 また、下向き流路11の上端部には合成樹脂などの弁座シート5を本体1にかし め等により装着する。ここで弁座は本体と一体的に形成したものであっても良い 。本体1とダイアフラム押え7との間に薄板のダイアラム6を設けてその外周部 を本体断差部14とダイアフラム押さえ7の外周部下面とで挟持する。この挟持を するには本体上部の外周におねじを切り、このおねじに螺合するふた2を螺着、 締め付けることによって行う。ダイアフラム6を弁体1とダイアフラム押さえ7 の間に挟持することによって上キャビティ室12と下キャビティ室13はダイアフラ ム6によって分断される。 前述のようにふた2を本体上部のおねじに締め付けることによって本体の上面 部とダイアフラム押さえ7との間に装着したメタルOリング8が挟持され、弁内 部からの漏れをシールする。またダイアフラム押さえ7の上面とふたの内側上面 は平滑な金属面同士を強く接触させることで弁内部からの漏れをシールする。 ダイアフラム6は金属製の薄板(例えばステンレス鋼)からなり、図2に示す 荷重・変位特性を有し、無負荷状態では部分球殻形状を呈し、即ち上部に向かっ て球面が膨出した形になっている。図1に示す弁は全閉状態であるので、下向き に荷重を持ち、下方に変位し、シート5のシール面に面圧を発生させている。 なお、金属ダイアフラムは複数枚重ねたものであってもよい。
【0006】 本考案の逆止弁の作動は次のとおりである。 流出口4の圧力がパイロット孔9と連絡孔15を通して上キャビティ室12に導かれ 、ダイアフラム6の上面の全面に流出口と同等の圧力を受ける。また、上向き流 路10から導かれた流入口の圧力はダイアフラム6の下面の内下キャビティ室13に 開いた部分にかかる。一方、流出口4の圧力は下向き流路11を通じ、ダイアフラ ム6の下面の下向き流路の断面積に相当する部分にかかる。 ここで、流入口3の圧力をP1、流出口の圧力P2、ダイアフラム6の上面で上 キャビティ室に開いた面積をS、ダイアフラム6の下面で下キャビティ室に開い た面積をS1、下向き流路10に開いた面積をS2、ダイアフラム6の下向きの荷重 をf(t)とする。 ダイアフラム6の下向きにかかる力Fは F=P2・S−(P1・S1+P2・S2)+f(t) ここで S=S1+S2 F=S1(P2−P1)+f(t) となる。したがって、流出口4の圧力P2が流入口3の圧力P1より高い場合は、 ダイアフラムは下向きに変位し、弁を全閉状態にして、流出口側の流体を流入口 側に逆流させない逆止弁として働く。一方上述の式より、流入口の圧力P1が流 出口の圧力P2よりある程度まで大きくなると、具体的にはS1(P2−P1) >f(t)となる条件以上になると、ダイアフラム6は上向きに変位し始め、ダ イアフラム6の荷重f(t)と流入口と流出口の圧力差により生じるS1(P2 −P1)が釣り合った所でダイアフラム6の変形は停止する。ここでダイアフラ ム形状を実施例に示すような部分球殻形状とすると、ダイアフラムの荷重と変位 の関係は図2となる。このダイアフラムの特徴は次のとおりである。変位が図2 のA点まで達すると、ダイフアラムの変位は飛び移り座屈によりB点へ移る。作 用する力を減らすと、ダイアフラムの変位はC点まで来て始めてD点へと飛び移 ることになる。こうした特徴を持ったダイアフラムを本考案の逆止弁に適用する と、飛び移り座屈を利用することで、流入口の圧力と流出口の圧力の差に、ある 程度の変動をきたしても、応答性よく確実に下方あるいは上方への変位をとるこ とができる。従って、自らの流体圧を利用しダイアフラムのみの働きによって逆 止弁を機能させることができ、従来の逆止弁の欠点であった弁体の摺動による発 塵、騒音、耐久性などの問題の発生を防止することができる。
【0007】
【考案の効果】
本考案の効果は次のとおりである。 (1) 弁内部の通過流体接触部に摩耗摺動がないので、金属粉が全く発生せず、発 生金属粉のシート面かみ込みによるシート漏れや配管系の金属粉汚染がない。 (2) 逆圧がかかったとき弁座にあ圧接するダイアフラム面に、弁流入口と流出口 の圧力差に比例した力がかかるため弁に圧力差が大きくなればなるほど、動作が より確実となる。 (3) ダイアフラムの荷重・変位特性にヒステリシスを持たせることで、弁作動時 のダイアフラムの振動、騒音などを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本考案の一実施例を示す弁閉時の断面図であ
る。
【図2】 ダイアフラムにかかる荷重と変位の関係を示
す図。
【図3】 従来の逆止弁の断面図である。
【符号の説明】
1…本体 2…ふた 3…流入口 4…流出口 5…シート 6…ダイアフラム 7…ダイアフラム押え 9…パイロット口 12…上キャビティ室 13…下キャビティ室

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 流入口に連通する凹所を上面に設け、流
    出口に連通する弁座を前記凹所に形成した本体と、該本
    体の上部に固定するふたと、前記弁座に直接、着座ある
    いは離座する金属製のダイアフラムと、前記本体とふた
    の間で前記ダイアフラムの周縁部を密封挾持するダイア
    フラム押えとからなり、前記ダイアフラムを隔壁とし
    て、前記ふた側に上キャビティ室を、前記本体凹所の弁
    座回りに下キャビティ室を構成すると共に、前記流出口
    と前記上キャビティ室とを連通する貫通孔を前記本体と
    ダイアフラム押えに設けたことを特徴とする逆止弁。
  2. 【請求項2】 前記金属製のダイアフラムは、中央部が
    球状に膨出した部分球殻形状で、荷重一変位特性は極大
    値と極小値とを有することを特徴とする請求項1記載の
    逆止弁。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014519935A (ja) * 2011-06-22 2014-08-21 サノフィ−アベンティス・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング バルブ機構

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