JPH0542212B2 - - Google Patents

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JPH0542212B2
JPH0542212B2 JP19888886A JP19888886A JPH0542212B2 JP H0542212 B2 JPH0542212 B2 JP H0542212B2 JP 19888886 A JP19888886 A JP 19888886A JP 19888886 A JP19888886 A JP 19888886A JP H0542212 B2 JPH0542212 B2 JP H0542212B2
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JP
Japan
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current
voltage
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JP19888886A
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JPS6356123A (ja
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Hiroyuki Kudo
Hiroshi Sasaki
Kunio Matsuzawa
Kazuyoshi Yoshida
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Hitachi Ltd
Tokyo Electric Power Co Holdings Inc
Original Assignee
Tokyo Electric Power Co Inc
Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電力系統の故障点までのインピーダ
ンスを回路方程式を解く手法により求め、故障の
有無及び故障点の位置を検知する保護継電装置に
関するものである。
〔従来の技術〕
従来、電力系統の電圧v、電流i、抵抗R、及
びインダクタンスLの関係式 v(t)=Ri(t)+Ldi(t)/dt …(1) に基づき、R及びLを時刻tkのサンプリング値
vk,ik及びその合成量jkより、異なる時点tn,to
サンプル値から(1)式第2項の近似式 di(t)/dt=in−io/tn−to …(2) を利用して求める手法については、特開昭60−
39312に述べられている。この公知例では、Lは
次式により求められる。
また、角周波数ωの正弦波入力に対するLの誤
差εは、次式で与えられる。
サンプリング間隔Tを基本波角周波数ω1に対
してω1T=30゜となるようにとると、第3図に示
すように定数Klを選ぶことにより、ω/ω1=2
(第2次)又はω/ω1=3(第3次)でLの誤差
を零にできる。しかし、第3次より高周波の入力
に対する誤差は急増し、第5次でか50〜100%程
度、第6次では無限大になり、故障判定が困難に
なるという問題がある。
系統事故時に発生する高調波の周波数oは、ほ
ぼ事故点から見た系統のインダクタンスLとキヤ
パシタンスCにより決まり、次式で与えられる。
o=1/2π1/√LC …(5) oの値は、全系統の大半を占める架空系統の場
合、第3次より低周波になることは少ない。たと
えば、200(km)の500(kV)の場合、L=163
(mH)、C=2.82(μF)程度であり、o=234(Hz)
となり、50(Hz)の基本波に対して5倍程度の高
調波が発生する。したがつて、このような発生頻
度の高い周波数成分を含む入力に対して、上記公
知例の場合測距誤差が大きくなるため、故障判定
が困難になるという問題がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明の目的は、発生頻度が高い第3次より高
周波の成分を含む電圧・電流入力に対して測距誤
差が大きくなる従来技術を改善し、低次から高次
まで広い範囲の高調波を含む入力から求めたR,
Lの精度を向上し、高信頼度な故障判定ができる
デイジタル形保護継電装置を提供することにあ
る。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的を達成するため本発明では、電力系統
の電圧・電流から得た電気量を一定の周波数でサ
ンプリングし、サンプリング値から系統インピー
ダンス相当量をデイジタル演算により求め、系統
故障の有無及び故障点の位置を判定する保護継電
装置において、電圧量vと電流量iを得て各々の
相隣り合うサンプル値の中間値を求め、その積分
値と差分値を求め、その結果から回路方程式に基
づく故障点までの抵抗分Rとインダクタンス分L
を下式により求め、 但し、Ksは定数、n及びmは等しくない整数 その求めたR及びLの値から事故の有無を判定
するようにしたものである。
尚、上記2式を とする。
〔作用〕
以下に本発明の主要部である演算回路における
R,Lの演算手法について述べる。
本発明では、異なる二つの時点tnとtoにおける
(1)式の回路方程式を積分した次式から、R,Lを
求める。
Sv(tn)=R・Si(tn)+L・Di(tn) …(8) Sv(to)=R・Si(to)+L・Di(to) …(9) 但し、Sv,Siは電圧・電流積分値、Diは電流差
分値であり、各々次式で与えられる。
Sv(tn)=Δt/4(vn-1+v^n)+Δt/4(v^n
vn)=n+1s=m-2 ksvs=Svn …(10) Si(tn)=Δt/4(in-1+i^n)+Δt/4(i^n
in)=n+1s=m-2 ksvs=Sin …(11) Di(tn)=in−in-1=Din …(12) 但し、v^n,i^nは第4図に示すように相隣り合う
サンプル値の中間値を4サンプルの値から求めた
近似値であり、次式で与えられる。
v^nn+1s=m-2 ks′vs …(14) i^nn+1s=m-2 ks′is …(15) 但し、ks,ks′は定数である。
(8)、(9)式より、R,Lは次式のように求まる。
〔実施例〕 以下、本発明の一実施例を第1図を用いて説明
する。本発明によるデイジタル形継電装置のハー
ドウエア構成は第2図と同様なので、省略する。
第1図において、入力変換部1では第2図の
AD変換部26から入力したデータに零相補償な
どの変換を施す。電圧量メモリ部2及び電流量メ
モリ部3では、積分及び差分に必要なサンプル数
のv,iデータを記憶する。電圧積分演算部4及
び電流積分演算部5では、第4図及び(10)式、(11)式
に示した積分近似値Svn,Svo,Sin及びSioの演算
を行う。電流差分演算部6では、(12)式に示した1
サンプル前のデータとの差分値Din,Dioを求め
る。分子値演算部7及び8では、(16)式及び(17)
式の分子の値NR,NLを求める。分母値演算部9
では、両式の分母の値Dを求める。R値演算部1
0及びL値演算部11では、(16)式及び(17)式の
演算を実行し、R及びLの値を求める。動作判定
部12では、R,Lの値が別途定める整定値の一
定範囲にあるかどうかにより、事故の有無を判定
する。
第5図に本発明の実施例による測距誤差の周波
数特性を示す。低次高調波領域、たとえば第2高
調波入力時の測距誤差は+1(%)より小さく、
非常に高精度である。一方、高次高調波領域、た
とえば第5次入力時の誤差は−28(%)であり、
第3図の−28(%)にくらべ約2/3に少なくで
きるという効果がある。
更に、第6図に本発明の実施例と従来技術の測
距誤差高調は特性を示す。第2高調波成分と基本
波成分の量が等しく、含有率100(%)のとき、本
発明の実施例の特性(実線)は測距誤差が0.35
(%)と従来例(点線)の1.5(%)より小さい。
更に、高調波の含有率が大きくなり300(%)の場
合には、実施例の0.05(%)に対し、従来例の
0.15(%)より大きいという効果がある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、高調波含有時の測距誤差を小
さくできるため、その分高調波成分を除去するた
めのフイルタの減衰度を少なくでき、フイルタで
の遅れの減少による保護継電装置の動作を高速化
できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるデイジタル形保護継電器
の一実施例を説明する機能ブロツク図、第2図は
一般的なデイジタル形保護継電器のブロツク構成
図、第3図は従来例の測距誤差の周波数特性図、
第4図は本発明の距離演算近似法を説明する波形
図、第5図は本発明の実施例の測距誤差周波数特
性図、第6図は同実施例の測距誤差高調波特性図
である。 1……入力変換部、2……電圧量メモリ部、3
……電流量メモリ部、4……電圧積分演算部、5
……電流積分演算部、6……電流差分演算部、7
……分子値演算部、8……分子値演算部、9……
分子値演算部、10……R値演算部、11……L
値演算部、12……動作判定部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 電力系統の電圧・電流から得た電気量を一定
    の周波数でサンプリングし、サンプリング値から
    系統インピーダンス相当量をデイジタル演算によ
    り求め、系統故障の有無及び故障点の位置を判定
    する保護継電装置において、電圧量vと電流量i
    を得て各々の相隣り合うサンプル値の中間値を求
    め、その積分値と差分値を求め、その結果から回
    路方程式に基づく故障点までの抵抗分Rとインダ
    クタンス分Lを下式により求め、 但し、Ksは定数、n及びmは等しくない整数 前記求めたR及びLの値から事故の有無を判定
    することを特徴とするデイジタル形保護継電装
    置。
JP19888886A 1986-08-27 1986-08-27 デイジタル形保護継電装置 Granted JPS6356123A (ja)

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JP19888886A JPS6356123A (ja) 1986-08-27 1986-08-27 デイジタル形保護継電装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP19888886A JPS6356123A (ja) 1986-08-27 1986-08-27 デイジタル形保護継電装置

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Publication Number Publication Date
JPS6356123A JPS6356123A (ja) 1988-03-10
JPH0542212B2 true JPH0542212B2 (ja) 1993-06-25

Family

ID=16398602

Family Applications (1)

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JP19888886A Granted JPS6356123A (ja) 1986-08-27 1986-08-27 デイジタル形保護継電装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022239391A1 (ja) 2021-05-12 2022-11-17 東洋システム株式会社 電池性能評価装置および電池性能評価方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2665759B2 (ja) * 1988-02-24 1997-10-22 東京電力株式会社 デジタル保護継電器
JP2582113B2 (ja) * 1988-03-08 1997-02-19 株式会社日立製作所 距離測定方式

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JPS6356123A (ja) 1988-03-10

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