JPH0541050A - 位置決めサーボ情報の検証方法 - Google Patents
位置決めサーボ情報の検証方法Info
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- JPH0541050A JPH0541050A JP21623291A JP21623291A JPH0541050A JP H0541050 A JPH0541050 A JP H0541050A JP 21623291 A JP21623291 A JP 21623291A JP 21623291 A JP21623291 A JP 21623291A JP H0541050 A JPH0541050 A JP H0541050A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 データ面サーボ方式に対するサーボライタに
おいて、各データ面の各トラックに設定された位置決め
サーボ情報の検証時間を短縮する方法を提供する。 【構成】 ヘッド群に対するサーボ制御を停止し、メモ
リに記憶された所定の位置または間隔データとレーザ測
長部５の位置情報とを制御回路42に与えて、ヘッド群を
ＶＣＭ41により所定の位置または間隔をシーク移動して
各シリンダの位置にそれぞれ停止し、各シリンダの第１
のデータトラックに対するサーボ情報Ｓｖを読み出して
ポジション信号Ｓｐを発生し、Ｓｐより各シリンダの位
置ズレ量Δｒを求める。Δｒが許容値以内のシリンダに
対して、各データトラックに対するサーボ情報の検証を
順次に行う。Δｒが許容値を越えたシリンダに対して、
Δｒを制御回路に与えてヘッド群をシーク移動し、位置
ズレ量を０に補正してから各データトラックに対する上
記の検証を行う。
おいて、各データ面の各トラックに設定された位置決め
サーボ情報の検証時間を短縮する方法を提供する。 【構成】 ヘッド群に対するサーボ制御を停止し、メモ
リに記憶された所定の位置または間隔データとレーザ測
長部５の位置情報とを制御回路42に与えて、ヘッド群を
ＶＣＭ41により所定の位置または間隔をシーク移動して
各シリンダの位置にそれぞれ停止し、各シリンダの第１
のデータトラックに対するサーボ情報Ｓｖを読み出して
ポジション信号Ｓｐを発生し、Ｓｐより各シリンダの位
置ズレ量Δｒを求める。Δｒが許容値以内のシリンダに
対して、各データトラックに対するサーボ情報の検証を
順次に行う。Δｒが許容値を越えたシリンダに対して、
Δｒを制御回路に与えてヘッド群をシーク移動し、位置
ズレ量を０に補正してから各データトラックに対する上
記の検証を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、データ面サーボ方式
に対するサーボライタにおいて、各磁気ディスクの各ト
ラックに設定された位置決め用のサーボ情報の検証方法
に関する。
に対するサーボライタにおいて、各磁気ディスクの各ト
ラックに設定された位置決め用のサーボ情報の検証方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】図２(a) 〜(c) によりデータ面サーボ方
式を説明する。(a) において、ディスクパッケージ１は
複数ｎ枚の磁気ディスク（以下単にディスクという）１
-1, １-2, ……１-nにより構成され、スピンドルモータ
２により回転する。各ディスクの両面のデータ面に対応
して磁気ヘッド（以下単にヘッドという）31をそれぞれ
設け、各ヘッドを共通の支持体32に取り付けてヘッド群
３が構成され、各ヘッドは制御部４の制御回路42により
制御されたボイスコイル（ＶＣＭ）41により、各データ
面に対して同時にシーク移動する。(b) において、各デ
ータ面には多数のトラックＴR が設けられ、各ＴR は複
数ｍのセクタ（Ｓｅｃ）Ｓ1 〜Ｓm に区分される。各Ｓ
ｅｃの前頭には(c) の(イ) に示すように、ヘッドをＴR
に対して位置決めするサーボ情報Ｓｖ1,Ｓｖ2 〜Ｓｖm
が設定され、これにつづいて識別部（ＩＤ），データ部
（ＤＡＴＡ）が設けられる。図(c) の(ロ) はサーボ情報
Ｓｖの詳細を示し、Ｓｖは各ＴR の間に順次に位相を反
転して書込まれ、２本のＴRの中間がデータを書込むデ
ータＴR とされる。各データＴR は全データ面に共通し
ており、あたかもシリンダ状をなすのでこれらを一括し
てシリンダＴR または単にシリンダとよばれる。データ
のアクセスにおいてはヘッド31が目的のデータＴR をシ
ークし、両側のサーボ情報Ｓｖにより制御されてデータ
ＴR の中心をトレースして行われる。
式を説明する。(a) において、ディスクパッケージ１は
複数ｎ枚の磁気ディスク（以下単にディスクという）１
-1, １-2, ……１-nにより構成され、スピンドルモータ
２により回転する。各ディスクの両面のデータ面に対応
して磁気ヘッド（以下単にヘッドという）31をそれぞれ
設け、各ヘッドを共通の支持体32に取り付けてヘッド群
３が構成され、各ヘッドは制御部４の制御回路42により
制御されたボイスコイル（ＶＣＭ）41により、各データ
面に対して同時にシーク移動する。(b) において、各デ
ータ面には多数のトラックＴR が設けられ、各ＴR は複
数ｍのセクタ（Ｓｅｃ）Ｓ1 〜Ｓm に区分される。各Ｓ
ｅｃの前頭には(c) の(イ) に示すように、ヘッドをＴR
に対して位置決めするサーボ情報Ｓｖ1,Ｓｖ2 〜Ｓｖm
が設定され、これにつづいて識別部（ＩＤ），データ部
（ＤＡＴＡ）が設けられる。図(c) の(ロ) はサーボ情報
Ｓｖの詳細を示し、Ｓｖは各ＴR の間に順次に位相を反
転して書込まれ、２本のＴRの中間がデータを書込むデ
ータＴR とされる。各データＴR は全データ面に共通し
ており、あたかもシリンダ状をなすのでこれらを一括し
てシリンダＴR または単にシリンダとよばれる。データ
のアクセスにおいてはヘッド31が目的のデータＴR をシ
ークし、両側のサーボ情報Ｓｖにより制御されてデータ
ＴR の中心をトレースして行われる。
【０００３】サーボ情報Ｓｖは各データ面に対してサー
ボライタにより書込まれ、書込みの直後に読出しを行っ
てその正否が各データ面ごとにチェックされる。さら
に、全データ面に対する書込みが終了した段階で、改め
てサーボ情報を読出して各データＴR の位置ズレが検証
される。このような検証を行う理由は、各ディスクは温
度変化により微小に伸縮するのでサーボ情報Ｓｖが書込
み時の位置に対してズレを生じ、ヘッドのサーボ制御、
従ってデータアクセスに悪い影響を及ぼすからである。
従来は記録密度が比較的に小さかったため上記の検証は
なされなかったが、最近における記憶密度の向上により
このような検証が必要となったわけである。なお、この
検証はランニングアウト、またはランナウト検証とよば
れているが、以下においてはこれを単に検証とよぶこと
とする。
ボライタにより書込まれ、書込みの直後に読出しを行っ
てその正否が各データ面ごとにチェックされる。さら
に、全データ面に対する書込みが終了した段階で、改め
てサーボ情報を読出して各データＴR の位置ズレが検証
される。このような検証を行う理由は、各ディスクは温
度変化により微小に伸縮するのでサーボ情報Ｓｖが書込
み時の位置に対してズレを生じ、ヘッドのサーボ制御、
従ってデータアクセスに悪い影響を及ぼすからである。
従来は記録密度が比較的に小さかったため上記の検証は
なされなかったが、最近における記憶密度の向上により
このような検証が必要となったわけである。なお、この
検証はランニングアウト、またはランナウト検証とよば
れているが、以下においてはこれを単に検証とよぶこと
とする。
【０００４】図３(a) 〜(c) により、従来の検証方法を
説明する。図(a) において、制御部４に設けられたメモ
リ44に記憶されている各シリンダの位置データを、マイ
クロプロセッサ（ＭＰＵ）43により逐次に読出して制御
回路42に入力し、これにより駆動されるＶＣＭ41により
ヘッド群３を移動してシリンダをシークする。ディスク
の回転に伴って読出されたサーボ情報Ｓｖを制御回路42
にフィードバックし、このサーボ制御によりヘッドを絶
えずデータＴR の中心に追従させる。サーボ制御された
ヘッドにより読出されたサーボ情報Ｓｖを、ポジション
信号発生回路45によりサンプリングしてポジション信号
Ｓｐを発生し、ＭＰＵ43においてＳｐよりサーボ信号Ｓ
ｖの位置ズレ量を算出して検証がなされる。以上の検証
は全シリンダに対してデータＴR ごとになされる。図
(b)によりサーボ情報Ｓｖの位置ズレを求める方法を説
明する。一般に、ディスクは回転中心に対して偏心して
いるので、ディスクの１周に対するポジション信号Ｓｐ
は図示のように正弦波曲線であり、この平均値ＭをＭＰ
Ｕ43により算出する。これに対して、Ｓｐに位置ズレが
ないときは平均値は０であるから、Ｍの値がデータＴR
の位置ズレ量Δｒを示し、Δｒを基準値に比較してその
良否が評価される。図３(c) は上記の検証のタイムチャ
ートを示す。ディスクの２回転中に、ヘッドをサーボ制
御して任意の＃Ｎのシリンダをシークし、その＃１のデ
ータＴR に対するＳｖを読出してポジション信号Ｓｐを
発生し、つづく１回転によりＳｖの位置ズレ量Δｒが算
出されて検証される。ついでディスクをさらに３回転
し、同一シリンダの＃２のデータＴRに対する上記のサ
ーボシークと検証がなされ、以下同様に＃３以下のデー
タＴR が順次に検証される。
説明する。図(a) において、制御部４に設けられたメモ
リ44に記憶されている各シリンダの位置データを、マイ
クロプロセッサ（ＭＰＵ）43により逐次に読出して制御
回路42に入力し、これにより駆動されるＶＣＭ41により
ヘッド群３を移動してシリンダをシークする。ディスク
の回転に伴って読出されたサーボ情報Ｓｖを制御回路42
にフィードバックし、このサーボ制御によりヘッドを絶
えずデータＴR の中心に追従させる。サーボ制御された
ヘッドにより読出されたサーボ情報Ｓｖを、ポジション
信号発生回路45によりサンプリングしてポジション信号
Ｓｐを発生し、ＭＰＵ43においてＳｐよりサーボ信号Ｓ
ｖの位置ズレ量を算出して検証がなされる。以上の検証
は全シリンダに対してデータＴR ごとになされる。図
(b)によりサーボ情報Ｓｖの位置ズレを求める方法を説
明する。一般に、ディスクは回転中心に対して偏心して
いるので、ディスクの１周に対するポジション信号Ｓｐ
は図示のように正弦波曲線であり、この平均値ＭをＭＰ
Ｕ43により算出する。これに対して、Ｓｐに位置ズレが
ないときは平均値は０であるから、Ｍの値がデータＴR
の位置ズレ量Δｒを示し、Δｒを基準値に比較してその
良否が評価される。図３(c) は上記の検証のタイムチャ
ートを示す。ディスクの２回転中に、ヘッドをサーボ制
御して任意の＃Ｎのシリンダをシークし、その＃１のデ
ータＴR に対するＳｖを読出してポジション信号Ｓｐを
発生し、つづく１回転によりＳｖの位置ズレ量Δｒが算
出されて検証される。ついでディスクをさらに３回転
し、同一シリンダの＃２のデータＴRに対する上記のサ
ーボシークと検証がなされ、以下同様に＃３以下のデー
タＴR が順次に検証される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の検証方
法においては、１個のデータＴR に対してディスクの３
回転を必要とし、そのうちの２回転はサーボシークに当
てられる。元来このような方法は、サーボ面サーボ方式
（１枚のディスクをサーボ情報専用としてサーボＴR を
設定し、各データ面を制御する方式）に対して開発され
たもので、サーボＴR の数が比較的に小数の場合には問
題が小さい。しかし、データ面サーボ方式においては各
ＴR にサーボ情報Ｓｖが設定され、さらに最近における
高密度化によりＴR の数が増加しているため、上記の方
法では全データＴR に対する検証にかなりの時間がかか
り、検査効率が低いことが欠点である。これに対して、
サーボ制御を停止してシリンダをシークし、ヘッド群を
固定した状態で検証する方法としても、各サーボ情報の
位置ズレを検証することができる筈である。これにより
各データＴR に対するシーク移動が省略されてディスク
の回転数が低減され、検証時間を短縮することが可能と
なる。ただし、この場合はヘッド群が所定の位置を正し
くシークするために、なんらかの手段を併用することが
望ましい。この発明は以上に鑑みてなされたもので、デ
ータ面サーボ方式の各データ面に対して、ヘッド群のサ
ーボ制御を停止し、レーザ測長器の位置情報を併用して
シリンダを正確にシークし、各データＴR に対するサー
ボ情報の検証時間を短縮する方法を提供することを目的
とする。
法においては、１個のデータＴR に対してディスクの３
回転を必要とし、そのうちの２回転はサーボシークに当
てられる。元来このような方法は、サーボ面サーボ方式
（１枚のディスクをサーボ情報専用としてサーボＴR を
設定し、各データ面を制御する方式）に対して開発され
たもので、サーボＴR の数が比較的に小数の場合には問
題が小さい。しかし、データ面サーボ方式においては各
ＴR にサーボ情報Ｓｖが設定され、さらに最近における
高密度化によりＴR の数が増加しているため、上記の方
法では全データＴR に対する検証にかなりの時間がかか
り、検査効率が低いことが欠点である。これに対して、
サーボ制御を停止してシリンダをシークし、ヘッド群を
固定した状態で検証する方法としても、各サーボ情報の
位置ズレを検証することができる筈である。これにより
各データＴR に対するシーク移動が省略されてディスク
の回転数が低減され、検証時間を短縮することが可能と
なる。ただし、この場合はヘッド群が所定の位置を正し
くシークするために、なんらかの手段を併用することが
望ましい。この発明は以上に鑑みてなされたもので、デ
ータ面サーボ方式の各データ面に対して、ヘッド群のサ
ーボ制御を停止し、レーザ測長器の位置情報を併用して
シリンダを正確にシークし、各データＴR に対するサー
ボ情報の検証時間を短縮する方法を提供することを目的
とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するサーボ情報の検証方法であって、上記のサーボ
ライタに対して、ヘッド群の位置を測定するレーザ測長
器を設け、検証において、ヘッド群に対するサーボ制御
を停止する。メモリに記憶されている所定の位置または
間隔データと、レーザ測長器の位置情報とを制御回路に
入力し、制御回路によりＶＣＭを駆動してヘッド群を所
定の位置または間隔をシーク移動し、各シリンダの位置
にそれぞれ停止する。各停止位置において各シリンダの
第１のデータトラックに対するサーボ情報を読み出して
ポジション信号を発生し、これより各シリンダの位置ズ
レ量を求める。位置ズレ量が許容値以内のシリンダに対
して、その各データトラックに対する各サーボ情報の検
証を順次に行う。位置ズレ量が許容値を越えたシリンダ
に対して、その位置ズレデータを制御回路に入力してヘ
ッド群をシーク移動し、位置ズレ量を０に補正して各デ
ータトラックに対する上記の検証を行うものである。
達成するサーボ情報の検証方法であって、上記のサーボ
ライタに対して、ヘッド群の位置を測定するレーザ測長
器を設け、検証において、ヘッド群に対するサーボ制御
を停止する。メモリに記憶されている所定の位置または
間隔データと、レーザ測長器の位置情報とを制御回路に
入力し、制御回路によりＶＣＭを駆動してヘッド群を所
定の位置または間隔をシーク移動し、各シリンダの位置
にそれぞれ停止する。各停止位置において各シリンダの
第１のデータトラックに対するサーボ情報を読み出して
ポジション信号を発生し、これより各シリンダの位置ズ
レ量を求める。位置ズレ量が許容値以内のシリンダに対
して、その各データトラックに対する各サーボ情報の検
証を順次に行う。位置ズレ量が許容値を越えたシリンダ
に対して、その位置ズレデータを制御回路に入力してヘ
ッド群をシーク移動し、位置ズレ量を０に補正して各デ
ータトラックに対する上記の検証を行うものである。
【０００７】
【作用】上記の検証方法においては、所定の位置または
間隔データとレーザ測長器の位置情報とが制御回路に入
力し、制御回路に駆動されたＶＣＭにより、ヘッド群が
所定の距離または間隔をシーク移動して各シリンダの位
置にそれぞれ停止する。各停止位置において各シリンダ
の第１のデータトラックに対するサーボ情報を読出して
ポジション信号を発生し、これにより各シリンダの位置
ズレ量が求められる。これが許容値以内のシリンダに対
しては、その各データトラックに対するサーボ情報の検
証を順次に行う。また、位置ズレ量が許容値を越えたシ
リンダに対しては、位置ズレデータを制御回路に入力し
てヘッド群をシーク移動し、位置ズレ量を０に補正して
各データトラックに対するサーボ情報の検証が行われ
る。以上においては、ディスクの１回転中に、ヘッドの
シーク移動とサーボ情報の読出し、およびポジション信
号の発生がなされ、つぎの１回転において位置ズレ量が
算出され、必要な場合にはこれが補正され、つづく１回
転ごとに各データトラックに対するサーボ情報が順次に
検証されるので、従来３回転を必要とした各データトラ
ックに対する検証が１回転で済み、検証時間が著しく短
縮される。
間隔データとレーザ測長器の位置情報とが制御回路に入
力し、制御回路に駆動されたＶＣＭにより、ヘッド群が
所定の距離または間隔をシーク移動して各シリンダの位
置にそれぞれ停止する。各停止位置において各シリンダ
の第１のデータトラックに対するサーボ情報を読出して
ポジション信号を発生し、これにより各シリンダの位置
ズレ量が求められる。これが許容値以内のシリンダに対
しては、その各データトラックに対するサーボ情報の検
証を順次に行う。また、位置ズレ量が許容値を越えたシ
リンダに対しては、位置ズレデータを制御回路に入力し
てヘッド群をシーク移動し、位置ズレ量を０に補正して
各データトラックに対するサーボ情報の検証が行われ
る。以上においては、ディスクの１回転中に、ヘッドの
シーク移動とサーボ情報の読出し、およびポジション信
号の発生がなされ、つぎの１回転において位置ズレ量が
算出され、必要な場合にはこれが補正され、つづく１回
転ごとに各データトラックに対するサーボ情報が順次に
検証されるので、従来３回転を必要とした各データトラ
ックに対する検証が１回転で済み、検証時間が著しく短
縮される。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例を示し、(a) は概
略のブロック構成図、(b) は概略のフローチャート、
(c) はタイムチャートである。図(a) の構成は、前記し
た図３(a) と同一の制御回路４に対してレーザ測長部５
を付加したもので、レーザ測長部はレーザ測長器51とヘ
ッド31に取り付けられたミラー52よりなり、レーザビー
ムＬによりヘッド31またはヘッド群３の位置が測定され
る。メモリ44には第１のシリンダの位置データと、各シ
リンダのピッチ間隔を示す間隔データとを予め記憶して
おく。
略のブロック構成図、(b) は概略のフローチャート、
(c) はタイムチャートである。図(a) の構成は、前記し
た図３(a) と同一の制御回路４に対してレーザ測長部５
を付加したもので、レーザ測長部はレーザ測長器51とヘ
ッド31に取り付けられたミラー52よりなり、レーザビー
ムＬによりヘッド31またはヘッド群３の位置が測定され
る。メモリ44には第１のシリンダの位置データと、各シ
リンダのピッチ間隔を示す間隔データとを予め記憶して
おく。
【０００９】図１(a) の構成に対する各部の動作を説明
すると、まずヘッド31より制御回路42へのサーボループ
をカットしてヘッド群３のサーボ制御を停止する。ＭＰ
Ｕ43によりメモリ44より読出した第１シリンダの位置デ
ータと、レーザ測長部５よりのヘッド群３の位置情報と
を制御回路42に与え、その制御によりＶＣＭ41を駆動し
てヘッド群３を第１シリンダまでシーク移動する。以上
の動作をここでは便宜上、レーザシークとよぶこととす
る。ディスクの１回転中に、レーザシークを行い、第１
シリンダの第１データＴR に対する各Ｓｖを読出してポ
ジション信号発生器45に入力し、各Ｓｖをサンプリング
してポジション信号Ｓｐを発生する。つづく１回転中に
ＳｐをＭＰＵに取り込んで位置ズレ量Δｒを算出する。
Δｒの許容値をＫとし、ΔｒがＫ以下のときは、つづく
１回転ごとに第１以下の各データＴR に対する検証が順
次に行われる。もしΔｒがＫをこえたときは、Δｒのデ
ータを制御回路42に渡してＶＣＭ41を駆動し、ヘッド群
３をシーク移動してΔｒを０に補正し、補正されたシー
ク位置をレーザ測長部５によりチェックして各データＴ
R に対する検証がなされる。以上の第１シリンダの検証
が終了すると、メモリ44よりシリンダの間隔データを読
出して制御回路42に与え、レーザ測長器51による位置情
報とにより、ヘッド群を第２以下の各シリンダの位置に
順次にシーク移動し、これらの各データＴRに対して上
記と同様の検証がなされる。
すると、まずヘッド31より制御回路42へのサーボループ
をカットしてヘッド群３のサーボ制御を停止する。ＭＰ
Ｕ43によりメモリ44より読出した第１シリンダの位置デ
ータと、レーザ測長部５よりのヘッド群３の位置情報と
を制御回路42に与え、その制御によりＶＣＭ41を駆動し
てヘッド群３を第１シリンダまでシーク移動する。以上
の動作をここでは便宜上、レーザシークとよぶこととす
る。ディスクの１回転中に、レーザシークを行い、第１
シリンダの第１データＴR に対する各Ｓｖを読出してポ
ジション信号発生器45に入力し、各Ｓｖをサンプリング
してポジション信号Ｓｐを発生する。つづく１回転中に
ＳｐをＭＰＵに取り込んで位置ズレ量Δｒを算出する。
Δｒの許容値をＫとし、ΔｒがＫ以下のときは、つづく
１回転ごとに第１以下の各データＴR に対する検証が順
次に行われる。もしΔｒがＫをこえたときは、Δｒのデ
ータを制御回路42に渡してＶＣＭ41を駆動し、ヘッド群
３をシーク移動してΔｒを０に補正し、補正されたシー
ク位置をレーザ測長部５によりチェックして各データＴ
R に対する検証がなされる。以上の第１シリンダの検証
が終了すると、メモリ44よりシリンダの間隔データを読
出して制御回路42に与え、レーザ測長器51による位置情
報とにより、ヘッド群を第２以下の各シリンダの位置に
順次にシーク移動し、これらの各データＴRに対して上
記と同様の検証がなされる。
【００１０】図(b) のフローチャートにより、上記の検
証手順を説明する。まずヘッド群３のサーボ制御を停止
し、プログラムに対してシリンダの番号Ｎ＝１を設定
し、＃１のシリンダをレーザシークする。ついで＃
１シリンダの＃１データＴRに対するＳｖよりポジショ
ン信号Ｓｐを発生し、Ｓｐより位置ズレ量Δｒが算出
される。Δｒ≦Ｋのとき（のＹＥＳ）は、ディスク
の１回転ごとに各データＴR のＳｖが順次に検証される
。もしΔｒ＞Ｋのとき（ＮＯ）はΔｒを０に補正して
チェックし、ルーチンはステップに移行して各デー
タＴR に対する検証がなされる。次に、シリンダの番号
Ｎに１が加えられて(10)、ステップに戻り、上記と同
様な手順により＃２シリンダの各データＴR に対する検
証がなされ、最終の＃Ｎmax のシリンダが検証されると
終了する。
証手順を説明する。まずヘッド群３のサーボ制御を停止
し、プログラムに対してシリンダの番号Ｎ＝１を設定
し、＃１のシリンダをレーザシークする。ついで＃
１シリンダの＃１データＴRに対するＳｖよりポジショ
ン信号Ｓｐを発生し、Ｓｐより位置ズレ量Δｒが算出
される。Δｒ≦Ｋのとき（のＹＥＳ）は、ディスク
の１回転ごとに各データＴR のＳｖが順次に検証される
。もしΔｒ＞Ｋのとき（ＮＯ）はΔｒを０に補正して
チェックし、ルーチンはステップに移行して各デー
タＴR に対する検証がなされる。次に、シリンダの番号
Ｎに１が加えられて(10)、ステップに戻り、上記と同
様な手順により＃２シリンダの各データＴR に対する検
証がなされ、最終の＃Ｎmax のシリンダが検証されると
終了する。
【００１１】図１(c) のタイムチャートにより検証に必
要なディスクの回転数を説明する。ディスクの第１回転
目でヘッド群３が＃ＮのシリンダをレーザシークしてＳ
ｖを読出し、これよりＳｐが発生し、第２回転目におい
てＳｐよりΔｒが算出され、必要な場合にはこれが０に
補正され、つづく第３回転目以下で、１回転ごとに＃１
〜＃２ｎ（２ｎはデータ面の数）のデータＴR に対する
Ｓｖが順次に検証される。
要なディスクの回転数を説明する。ディスクの第１回転
目でヘッド群３が＃ＮのシリンダをレーザシークしてＳ
ｖを読出し、これよりＳｐが発生し、第２回転目におい
てＳｐよりΔｒが算出され、必要な場合にはこれが０に
補正され、つづく第３回転目以下で、１回転ごとに＃１
〜＃２ｎ（２ｎはデータ面の数）のデータＴR に対する
Ｓｖが順次に検証される。
【００１２】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明によるサ
ーボ情報の検証方法においては、ディスクの１回転中
に、ヘッド群によるシリンダのシークと、データトラッ
クのサーボ情報の読出し、およびポジション信号の発生
がなされ、つぎの１回転においてポジション信号よりシ
リンダの位置ズレ量が算出され、必要な場合にはこれが
補正され、つづく１回転ごとに各データトラックに対す
るサーボ情報が順次に検証され、このような手順が各シ
リンダに対してなされるもので、従来３回転を必要とし
た各データトラックの検証が１回転で済むので、検証時
間が著しく短縮されてサーボライタの稼働効率の向上に
寄与する。
ーボ情報の検証方法においては、ディスクの１回転中
に、ヘッド群によるシリンダのシークと、データトラッ
クのサーボ情報の読出し、およびポジション信号の発生
がなされ、つぎの１回転においてポジション信号よりシ
リンダの位置ズレ量が算出され、必要な場合にはこれが
補正され、つづく１回転ごとに各データトラックに対す
るサーボ情報が順次に検証され、このような手順が各シ
リンダに対してなされるもので、従来３回転を必要とし
た各データトラックの検証が１回転で済むので、検証時
間が著しく短縮されてサーボライタの稼働効率の向上に
寄与する。
【図１】 この発明の一実施例を示し、(a) は概略のブ
ロック構成図、(b)はフローチャート、(c) はタイムチ
ャートである。
ロック構成図、(b)はフローチャート、(c) はタイムチ
ャートである。
【図２】 データ面サーボ方式を説明するもので、(a)
はディスクパッケージとヘッド群３、(b) は各データ面
に設定されるトラック（ＴR)と各セクタ（Ｓｅｃ）、
(c) は各セクタに設定されるサーボ情報Ｓｖとその詳細
をそれぞれ示す図である。
はディスクパッケージとヘッド群３、(b) は各データ面
に設定されるトラック（ＴR)と各セクタ（Ｓｅｃ）、
(c) は各セクタに設定されるサーボ情報Ｓｖとその詳細
をそれぞれ示す図である。
【図３】 従来のサーボ情報の検証方法を説明するもの
で、(a) は概略のブロック構成図、(b) はポジション信
号とこれによるデータトラックの位置ズレの算出方法の
説明図、(c) はタイムチャートである。
で、(a) は概略のブロック構成図、(b) はポジション信
号とこれによるデータトラックの位置ズレの算出方法の
説明図、(c) はタイムチャートである。
１…ディスクパッケージ、１-1, １-2, 〜１-n…磁気デ
ィスク、ディスク、２…スピンドルモータ、３…ヘッド
群、31…磁気ヘッド、ヘッド、32…支持体、４…制御
部、41…ボイスコイル（ＶＣＭ）、42…制御回路、43…
マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、44…メモリ、45…ポジ
ション信号発生器 ５…レーザ測長部、51…レーザ測長器、52…ミラー、ｎ
…ディスクの枚数、ｍ…セクタ数、ＴR …トラック、Ｓ
ｅｃ…セクタ、Ｓｖ…位置決めサーボ情報、Ｓｐ…ポジ
ション信号、Ｍ…ポジション信号の平均値、Δｒ…サー
ボ情報の位置ズレ量。
ィスク、ディスク、２…スピンドルモータ、３…ヘッド
群、31…磁気ヘッド、ヘッド、32…支持体、４…制御
部、41…ボイスコイル（ＶＣＭ）、42…制御回路、43…
マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、44…メモリ、45…ポジ
ション信号発生器 ５…レーザ測長部、51…レーザ測長器、52…ミラー、ｎ
…ディスクの枚数、ｍ…セクタ数、ＴR …トラック、Ｓ
ｅｃ…セクタ、Ｓｖ…位置決めサーボ情報、Ｓｐ…ポジ
ション信号、Ｍ…ポジション信号の平均値、Δｒ…サー
ボ情報の位置ズレ量。
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の磁気ディスクによりディスクパッ
ケージを構成し、該各磁気ディスクの表面と裏面の各ト
ラックの各セクタに対して、磁気ヘッド群により位置決
め用のサーボ情報を設定するサーボライタにおいて、前
記磁気ヘッド群の位置を測定するレーザ測長器を設け、
前記磁気ヘッド群に対するサーボ制御を停止し、メモリ
に記憶された所定の位置または間隔データと、前記レー
ザ測長器の位置情報とを制御回路に入力し、該制御回路
によりＶＣＭを駆動して前記磁気ヘッド群を所定の位置
または間隔をシーク移動し、前記各シリンダの位置にそ
れぞれ停止し、該各停止位置において前記各シリンダの
第１のデータトラックに対する前記サーボ情報を読み出
してポジション信号を発生し、該ポジション信号より前
記各シリンダの位置ズレ量を求め、該位置ズレ量が許容
値以内の前記シリンダに対して、当該シリンダの各デー
タトラックに対する前記各サーボ情報の検証を順次に行
い、該位置ズレ量が該許容値を越えた前記シリンダに対
して、該位置ズレデータを前記制御回路に入力して前記
ヘッド群をシーク移動し、該位置ズレ量を０に補正して
当該シリンダの各データトラックに対する前記検証を行
うことを特徴とする、位置決めサーボ情報の検証方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21623291A JPH0541050A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 位置決めサーボ情報の検証方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21623291A JPH0541050A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 位置決めサーボ情報の検証方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0541050A true JPH0541050A (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=16685351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21623291A Pending JPH0541050A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 位置決めサーボ情報の検証方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0541050A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007272493A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Nec Corp | コンピュータシステム、データの正常性確認方法、及び、プログラム |
-
1991
- 1991-08-02 JP JP21623291A patent/JPH0541050A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007272493A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Nec Corp | コンピュータシステム、データの正常性確認方法、及び、プログラム |
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